1、Good is good, but better carries it.精益求精，善益求善。CSY實驗指導書-使用說明CSY系列傳感器系統實驗儀是用于檢測儀表類課程教學實驗的多功能教學儀器。其特點是集被測體、各種傳感器、信號激勵激、處理電路和顯示器于一體，可以組成一個完整的測試系統。通過實驗指導書所提供的數十種實驗舉例，能完成包含光、磁、電、溫度、位移、振動、轉速等內容的測試實驗。通過這些實驗，實驗者可對各種不同的傳感器及測量電路原理和組成有直觀的感性認識，并可在本儀器上舉一反三開發出新的實驗內容。實驗儀主要由實驗工作臺、處理電路、信號與顯示電路三部分組成。一、位于儀器頂部的實驗工作臺部分，左

2、邊是一副平行式懸臂梁，梁上裝有應變式、熱敏式、P-N結溫度式、熱電式和壓電加速度五種傳感器。平行梁上梁的上表面和下梁的下表面對應地貼有八片應變片，受力工作片分別用符號和表示。其中六片為金屬箔式片（BHF-350）。橫向所貼的兩片為溫度補償片，用符號和表示。片上標有“BY”字樣的為半導體式應變片，靈敏系數130。熱電式（熱電偶）：串接工作的兩個銅一康銅熱電偶分別裝在上、下梁表面，冷端溫度為環境溫度。分度表見實驗指導書。熱敏式：上梁表面裝有玻璃珠狀的半導體熱敏電阻MF-51，負溫度系數，25時阻值為810K。P-N結溫度式：根據半導體P-N結溫度特性所制成的具有良好線性范圍的溫度傳感器。壓電加速度

3、式：位于懸臂梁右部，由PZT-5雙壓電晶片，銅質量塊和壓簧組成，裝在透明外殼中。實驗工作臺左邊是由裝于機內的另一副平行梁帶動的圓盤式工作臺。圓盤周圍一圈所安裝有（依逆時針方向）電感式（差動變壓器）、電容式、磁電式、霍爾式、電渦流式五種傳感器。電感式（差動變壓器）：由初級線圈Li和兩個次級線圈L。繞制而成的空心線圈，圓柱形鐵氧體鐵芯置于線圈中間，測量范圍10mm。電容式：由裝于圓盤上的一組動片和裝于支架上的兩組定片組成平行變面積式差動電容，線性范圍3mm。磁電式：由一組線圈和動鐵（永久磁鋼）組成，靈敏度0.4V/m/s。霍爾式：HZ-1半導體霍爾片置于兩個半環形永久磁鋼形成的梯度磁場中，線性范圍

4、3mm。電渦流式：多股漆包線繞制的扁平線圈與金屬渦流片組成的傳感器，線性范圍1mm。光電式傳感器裝于電機側旁。兩副平行式懸臂梁頂端均裝有置于激振線圈內的永久磁鋼，右邊圓盤式工作臺由“激振I”帶動，左邊平行式懸臂梁由“激振II”帶動。為進行溫度實驗，左邊懸臂梁之間裝有電加熱器一組，加熱電源取自15V直流電源，工作時能獲得高于溫度30左右的升溫。以上傳感器以及加熱器、激振線圈的引線端均位于儀器下部面板最上端一排。實驗工作臺上還裝有測速電機一組及控制、調速開關。兩只測微頭分別裝在左、右兩邊的支架上。二、信號及顯示部分：位于儀器上部面板低頻振蕩器：130Hz輸出連續可調，Vp-p值20V，最大輸出電流

5、0.5A，Vi端插口可提供用作電流放大器。音頻振蕩器：0.4KHz10KHz輸出連續可調，Vp-p值20V，180、0為反相輸出，Lv端最大功率輸出0.5A。直流穩壓電源：15V，提供儀器電路工作電源和溫度實驗時的加熱電源，最大輸出1.5A。2V10V，檔距2V，分五檔輸出，提供直流信號源，最大輸出電流1.5A。12數字式電壓/頻率表：3位顯示，分2V、20V、2KHz、20KHz四檔，靈敏度50mV，頻率顯示5Hz20KHz。指針式直流毫伏表：測量范圍500Mv、50mV、5mV三檔，精度2.5%。三、處理電路：位于儀器下部面板電橋：用于組成應變電橋，面板上虛線所示電阻為虛設，僅為組橋提供插

6、座。R1、R2、R3為350標準電阻，WD為直流調節電位器，WA為交流調節電位器。差動放大器：增益可調比例直流放大器，可接成同相、反相、差動結構，增益1-100倍。光電變換器：提供紅外發射、接收、穩幅、變換，輸出模擬信號電壓與頻率變換方波信號。四芯航空插座上裝有光電轉換裝置和兩根多模光纖（一根接收，一根發射）組成的光強型光纖傳感器。電容變換器：由高頻振蕩、放大和雙T電橋組成。移相器：允許輸入電壓20Vp-p，移相范圍40（隨頻率有所變化）。相敏檢波器：極性反轉電路構成，所需最小參考電壓0.5Vp-p，允許最大輸入電壓20Vp-p。電荷放大器：電容反饋式放大器，用于放大壓電加速度傳感器輸出的電荷

7、信號。電壓放大器：增益5倍的高阻放大器。渦流變換器：變頻式調幅變換電路，傳感器線圈是三點式振蕩電路中的一個元件。溫度變換器：根據輸入端熱敏電阻值及P-N結溫度傳感器信號變化輸出電壓信號相應變化的變換電路。低通濾波器：由50Hz陷波器和RC濾波器組成，轉折頻率35Hz左右。使用儀器時打開電源開關，檢查交、直流信號源及顯示儀表是否正常。儀器下部面板左下角處的開關控制處理電路的15V工作電源，進行實驗時請勿關掉。指針式毫伏表工作前需對地短路調零，取掉短路線后指針有所偏轉是正常現象，不影響測試。請用戶注意，本儀器是實驗性儀器，各電路完成的實驗主要目的是對各傳感器測試電路做定性的驗證，而非工程應用型的傳

8、感器定量測試。各電路和傳感器性能建議通過以下實驗檢查是否正常：1應變片及差動放大器，參考附圖2進行單臂、半橋和全橋實驗，各應變片是否正常可用萬用表電阻檔在應變片兩端測量。各接線圖兩個節點間即為一實驗接插線，接插線可多根迭插，為保證接觸良好插入插孔后請將插頭稍許旋轉。2半導體應變片，進行半導體應變片直流半橋實驗。3熱電偶，按附圖4接線，加熱器接15V電源，另一端接地，觀察隨溫度升高熱電勢的變化。4熱敏式，按附圖5接線，進行“熱敏傳感器實驗”，電熱器加熱升溫，觀察隨溫度升高“V0”端輸出電壓變化情況，注意熱敏電阻是負溫度系數。5P-N結溫度式，進行P-N結溫度傳感器測溫實驗，注意電壓表2V檔顯示值

9、為絕對溫度T。6進行“移相器實驗”，用雙蹤示波器觀察兩通道波形。7進行“相敏檢波器實驗”，相敏檢波端口序數請參照附圖6，其中4端為參考電壓輸入端。8進行“電容式傳感器特性”實驗，接線參照附圖7。當振動圓盤帶動動片上下移動時，電容變換器V0端電壓應正負過零變化。9進行“光纖傳感器位移測量”，光纖探頭可安裝在原電渦流線圈的橫支架上固定，端面垂直于鍍鉻反射片，旋動測微頭帶動反射片位置變化，從“V0”端讀出電壓變化值。光電變換器“F0”端輸出頻率變化方波信號。測頻率變化時可參照“光纖傳感器轉速測試”步驟進行。10進行光電式傳感器測速實驗，VF端輸出的是頻率信號。11將低頻振蕩器輸出信號送入低通濾波器輸

10、入端、輸出端用示波器觀察，注意根據低通輸出幅值調節輸入信號大小。12進行“差動變壓器性能”實驗，檢查電感式傳感器性能，實驗前要找出次級線圈同名端，次級所接示波器為懸浮工作狀態。13進行“霍爾式傳感器直流激勵特性”實驗，接線參照附圖9，直流激勵信號絕對不能大于2V，否則一定會造成霍爾元件燒壞。14進行“磁電式傳感器”實驗，磁電傳感器兩端接差動放大器輸入端，用示波器觀察輸出波形，參見附圖12。15進行“壓電加速度傳感器”實驗，接線參見附圖13。此實驗與上述第12項內容均無定量要求。16進行“電渦流傳感器的靜態標定”實驗，接線參照圖11，其中示波器觀察波形端口應在渦流變換器的左上方，即接電渦流線圈處

11、，右上端端口為輸出經整流后的直流電壓。17如果儀器是帶微機接口和實驗軟件的，請參閱數據采集及處理說明。數據采集卡已裝入儀器中，其中A/D轉換是12位轉換器，無漏碼最大分辨率1/2048（即0.05%），在此范圍內的電壓值可視為容許誤差。所以建議在做小信號實驗（如應變電橋單臂實驗）時選用合適的量程，以正確選取信號。儀器后部的RS232接口請接計算機COM2口串行工作。否則計算機將收不到信號。儀器工作時需良好的接地，以減小干擾信號，并盡量遠離電磁干擾源。儀器的型號不同，傳感器種類不同，則檢查項目也會有所不同。上述檢查及實驗能夠完成則整臺儀器各部分均為正常。實驗時請非常注意實驗指導書中實驗內容后的“

12、注意事項”，要在確認接線無誤的情況下開啟電源，要盡量避免電源短路情況的發生，加熱時“15V”電源不能直接接入應變片、熱敏電阻和熱電偶。實驗工作臺上各傳感器部分如位置不太正確可松動調節螺絲稍作調整，以按下振動梁松手，各部分能隨梁上下振動而無碰擦為宜。附件中的稱重平臺是在實驗工作臺左邊的懸臂梁旁的測微頭取開后裝于頂端的永久磁鋼上方，環形圓片代替砝碼做稱重實驗。實驗開始前請檢查實驗連接線是否完好，以保證實驗順利進行。本實驗儀需防塵，以保證實驗接觸良好，儀器正常工作溫度040。目錄使用說明實驗內容（各型傳感器實驗儀按需選用）實驗一箔式應變片性能單臂電橋實驗二箔式應變片三種橋路性能比較實驗三箔式應變片的

13、溫度效應實驗四應變電路的溫度補償實驗五半導體應變片性能實驗六半導體應變片直流半橋測試系統實驗七箔式應變片與半導體應變片性能比較實驗八移相器實驗實驗九相敏檢波器實驗實驗十箔式應變片組成的交流全橋實驗十一激勵頻率對交流全橋的影響實驗十二交流全橋的應用振幅測量實驗十三交流全橋組成的電子秤實驗十四差動變壓器性能實驗十五差動變壓器零殘電壓的補償實驗十六差動變壓器的標定實驗十七差動變壓器的振動測量實驗十八差動螺管式電感傳感器位移測量實驗十九差動螺管式電感傳感器振幅測量實驗二十激勵頻率對電感傳感器的影響實驗二十一熱電式傳感器熱電偶實驗二十二熱敏式溫度傳感器測溫實驗實驗二十三PN溫度傳感器實驗二十四光纖位移傳

14、感器位移測量實驗二十五光纖傳感器轉速測量實驗二十六光電傳感器的應用光電轉速測試實驗二十七霍爾式傳感器的直流激勵特性實驗二十八霍爾式傳感器的交流激勵特性實驗二十九霍爾傳感器的應用振幅測量實驗三十霍爾傳感器的應用電子秤實驗三十一電渦流式傳感器的靜態標定實驗三十二被測材料對電渦流傳感器特性的影響實驗三十三電渦流式傳感器的振幅測量實驗三十四電渦流傳感器的稱重實驗實驗三十五電渦流傳感器電機測速實驗實驗三十六磁電式傳感器實驗三十七壓電加速度傳感器實驗三十八電容式傳感器特性實驗三十九力平衡式傳感器實驗四十雙平行梁的動態特性正弦穩態響應實驗四十一微機檢測與轉換數據采集處理實驗一箔式應變片性能單臂電橋一、實驗目

15、地：觀察了解箔式應變片的結構及粘貼方式。測試應變梁變形的應變輸出。比較各橋路間的輸出關系。二、實驗原理：本實驗說明箔式應變片及單臂直流電橋的原理和工作情況。應變片是最常用的測力傳感元件。當用應變片測試時，應變片要牢固地粘貼在測試體表面，當測件受力發生形變，應變片的敏感柵隨同變形，其電阻值也隨之發生相應的變化。通過測量電路，轉換成電信號輸出顯示。電橋電路是最常用的非電量電測電路中的一種，當電橋平衡時，橋路對臂電阻乘積相等，電橋輸出為零，在橋臂四個電阻R1、R2、R3、R4中，電阻的相對變化率分別為R1R1、R2R2、R3R3、R4R4，當使用一個應變片時，；當二個應變片組成差動狀態工作，則有；用

16、四個應變片組成二個差動對工作，且R1R2R3R4R，。由此可知，單臂，半橋，全橋電路的靈敏度依次增大。三、實驗所需部件：直流穩壓電源（4V檔）、電橋、差動放大器、箔式應變片、測微頭、（或雙孔懸臂梁、稱重砝碼）、電壓表。四、實驗步驟：1調零。開啟儀器電源，差動放大器增益置100倍（順時針方向旋到底），“、”輸入端用實驗線對地短路。輸出端接數字電壓表，用“調零”電位器調整差動放大器輸出電壓為零，然后拔掉實驗線。調零后電位器位置不要變化。如需使用毫伏表，則將毫伏表輸入端對地短路，調整“調零”電位器，使指針居“零”位。拔掉短路線，指針有偏轉是有源指針式電壓表輸入端懸空時的正常情況。調零后關閉儀器電源。

17、2按圖（1）將實驗部件用實驗線連接成測試橋路。橋路中R1、R2、R3、和WD為電橋中的固定電阻和直流調平衡電位器，R為應變片（可任選上、下梁中的一片工作片）。直流激勵電源為4V。4VRR24VR3R1WDV圖（1）測微頭裝于懸臂梁前端的永久磁鋼上，并調節使應變梁處于基本水平狀態。3確認接線無誤后開啟儀器電源，并預熱數分鐘。調整電橋WD電位器，使測試系統輸出為零。4旋動測微頭，帶動懸臂梁分別作向上和向下的運動，以水平狀態下輸出電壓為零，向上和向下移動各5mm，測微頭每移動0.5mm記錄一個差動放大器輸出電壓值，并列表。（或在雙孔懸臂梁稱重平臺上依次放上砝碼，進行上述實驗）。位移mm電壓V根據表中

18、所測數據計算靈敏度S，SXV，并在坐標圖上做出VX關系曲線。五、注意事項：1實驗前應檢查實驗接插線是否完好，連接電路時應盡量使用較短的接插線，以避免引入干擾。2接插線插入插孔時輕輕地做一小角度的轉動，以保證接觸良好，拔出時也輕輕地轉動一下拔出，切忌用力拉扯接插線尾部，以免造成線內導線斷裂。3穩壓電源不要對地短路。實驗二箔式應變片三種橋路性能比較一、實驗原理：說明實際使用的應變電橋的性能和原理。已知單臂、半橋和全橋電路的R分別為R/R、2RR、4RR。根據戴維南定理可以得出測試電橋的輸出電壓近似等于1/4ER，電橋靈敏度KuVRR，于是對應于單臂、半橋和全橋的電壓靈敏度度分別為1/4E、1/2E

19、和E.。由此可知，當E和電阻相對變化一定時，電橋及電壓靈敏度與各橋臂阻值的大小無關。二、實驗所需部件直流穩壓電源（4V檔）、電橋、差動放大器、箔式應變片、測微頭、（或雙孔懸臂梁、稱重砝碼）、電壓表。三、實驗步驟：1在完成實驗一的基礎上，不變動差動放大器增益和調零電位器，依次將圖（1）中電橋固定電阻R1、R2、R3換成箔式應變片，分別接成半橋和全橋測試系統。2重復實驗一中34步驟，測出半橋和全橋輸出電壓并列表，計算靈敏度。3在同一坐標上描出VX曲線，比較三種橋路的靈敏度，并做出定性的結論。四、注意事項：1應變片接入電橋時注意其受力方向，一定要接成差動形式。2直流激勵電壓不能過大，以免造成應變片自

20、熱損壞。3由于進行位移測量時測微頭要從零正的最大值，又回復到零，再負的最大值，因此容易造成零點偏移，因此計算靈敏度時可將正X的靈敏度與負的X的靈敏度分開計算。再求平均值，以后實驗中凡需過零的實驗均可采用此種方法。實驗三箔式應變片的溫度效應一、實驗目的：說明溫度變化對應變測試系統的影響。二、實驗原理：溫度變化引起應變片阻值發生變化的原因是應變片電阻絲的溫度系數及電阻絲與測試中的膨脹系數不同。由此引起測試系統輸出電壓發生變化。三、實驗所需部件：直流穩壓電源、電橋、差動放大器、電壓表、測微頭、加熱器、溫度計（可用儀器中的PN結溫度傳感器或熱電偶作測溫參考）。四、實驗步驟：1按圖（1）接線，開啟電源，

21、調整系統輸出為零。2記錄加熱前測試系統感受的溫度，點溫計可插入二片應變梁之間的加熱器當中。3開啟“加熱”電源，觀察測試系統輸出電壓隨溫度計升高而發生的變化。待電壓讀數基本穩定后記下電壓值。4求出溫度漂移值VT。五、注意事項：由于本儀器中所使用的BHF箔式應變片具有防自蠕變性能，因此溫度系數還是比較小的。實驗四應變電路的溫度補償一、實驗目的：由于溫度變化引入了測量誤差，因此實用測試電路中必須進行溫度補償。二、實驗原理：用補償片法是應變電橋溫度補償方法中的一種，如圖（2）所示。在電橋中，R1為工作片，R2為補償片，R1R2。當溫度變化時兩應變片的電阻變化R1與R2符號相同，數量相等，橋路如原來是平

22、衡的，則溫度變化后R1R4R2R3，電橋仍滿足平衡條件，無漂移電壓輸出，由于補償片所貼位置與工作片成90，所以只感受溫度變化，而不感受懸臂梁的應變。4VRR4VRRWDV差放電壓表R1R2R3R4V圖（2）圖（3）三、實驗所需部件：直流穩壓電源、電橋、差動放大器、電壓表、測微頭、加熱器、溫度計（可用儀器中的PN結溫度傳感器或熱電偶作測溫參考）。四、實驗步驟：1按圖（3）接好線路，圖中R和R分別為箔式工作片和補償片。2重復實驗三14步驟，求出接入補償片后系統的溫度漂移，并與實驗三的結果進行比較。五、注意事項：應正確選擇補償片。在面板的應變片接線端中，從左至右18對接線端分別是：1上梁半導體應變片

23、，2下梁半導體應變片。3.5上梁箔式應變工作片，4.6下梁。應變工作片，7.8上、下梁溫度補償片。電路中工作片與補償片應在同一應變梁上。實驗五半導體應變計性能一、實驗目的：說明半導體應變計的靈敏度和溫度效應。二、實驗原理：由于材料的阻值，則,當應變，靈敏度;對于箔式應變片，K箔12，主要是由形變引起。對于半導體應變計，K半（/）/,主要由電阻率變化引起。由于半導體材料的“壓阻效應”特別明顯，可以反映出很微小的形變，所以K半要大于K箔，但是受溫度影響大。2VRRWDVR2V圖（4）三、實驗所需部件：直流穩壓電源、電橋、差動放大器、半導體應變計、測微頭、電壓表、溫度計（可用儀器中的PN結溫度傳感器

24、或熱電偶作測溫參考）。四、實驗步驟：1按圖（4）接線，R是半導體應變計，另一臂電阻是電橋上固定電阻。開啟電源后預熱數分鐘。2按單臂電橋實驗步驟調整懸臂梁位置，調整系統輸出，用測微頭進行位移，記錄V，X數據，作出VX曲線，求出靈敏度。3重新調整測試系統輸出為零。用點溫計記錄加溫前的工作溫度T。4打開“加熱”，觀察隨溫度升高系統輸出電壓溫漂情況。待電壓穩定后測得溫升，求出系統的溫漂VT。五、注意事項：此實驗中直流激勵電壓只能用2V，以免引起半導體自熱。實驗六半導體應變計直流半橋測試系統一、實驗目的：通過實際運用的半導體半橋電路，與實驗五的半導體單臂電路進行性能比較。二、實驗所需部件：直流穩壓電源、

25、電橋、差動放大器、半導體應變計、測微頭、電壓表、溫度計（可用儀器中的PN結溫度傳感器或熱電偶作測溫參考）、加熱器。三、實驗步驟：1按圖（5）接線，電橋中R和R為半導體應變計。2按實驗五步驟測出V，X值，畫出VX曲線，求出靈敏度，測出溫度變化時的溫漂。2VRR2VRRWDV差放R圖（5）四、注意事項：此實驗的測試條件應與實驗五一致。實驗七箔式應變片與半導體應變片性能比較一、實驗目的：通過實驗比較兩種應變電路的靈敏度與溫度特性二、實驗所需部件：直流穩壓電源、差動放大器、箔式應變片、半導體應變片、測微頭、電壓表、加熱器、溫度計（可用儀器中的PN結溫度傳感器或熱電偶作測溫參考）。三、實驗步驟：1分別做

26、箔式單臂電橋和半導體式單臂電橋實驗，接線如圖（1）所示，直流激勵源為2V，差動放大器增益為100倍。調整系統，在相同的外部環境下分別測得兩組數據填入表格，求出靈敏度。位移Xmm靈敏度V半導體單臂V箔式單臂V半導體半橋V箔式半橋2將電橋中一固定電阻換成應變片，做箔式半橋和半導體半橋實驗，將測得的兩組數據分別填入表格，求出靈敏度。3在同一坐標上畫出四條VX曲線以作比較。4分別對箔式變片和半導體應變片加熱，測出兩種測試電路的溫漂，并進行比較。實驗結果以證實實驗五中對半導體應變片性能的分析。四、注意事項：進行上述實驗時激勵電壓，差動放大器增益、測微頭起始點位置等外部環境必須一致，否則就無可比性。實驗八

27、移相器實驗一、實驗目的：說明由運算放大器構成的移相電路的工作原理。R110KR410KR62KR510KR310KR210KV入V出C18800PWC2223652317移相器電路圖（6）二、實驗原理：圖（6）為移相電路示意圖。該電路的團環增益把拉普拉氏算符換成頻率域的參數，則得到：又改寫為在實驗電路中，常設定幅頻特性G（j）1,為此選擇參數R1=RF=10K由上,R=20K,則輸出幅度與頻率無關，閉路增益可簡化為：當R=2R1=2RRF時，G（j）1。由上式可以得到相頻特性表達式：由tg表達式和正切三角函數半角公式可以得到：因此可以得到相移為：電阻R可以在很寬的范圍內變化，當WRC很大時，相

28、移O，式中負號表示相位超前，如將電路中R和C互換位置，則可得到相位滯后的情況。如果阻容網絡Rc不變，則相移將隨輸入信號的頻率而改變。三、實驗所需部件：移相器、音頻振蕩器、雙線示波器。四、實驗步驟：1音頻振蕩器頻率、幅值旋鈕居中，將信號（0或180均可）送入移相器輸入端。2將雙線示波器兩測試線分別接移相器輸入輸出端，調整示波器，觀察波形。3調節移相器“移相”旋鈕，觀察兩路波形的相位變化。4改變音頻振蕩器頻率，觀察不同頻率時移相器的移相范圍。5根據移相器實際電路圖分析其工作原理。五、注意事項：因為本實驗儀中音頻信號由函數發生器產生，所以通過移相器后波形局部有些畸變，這不是儀器故障。實驗九相敏檢波器

29、實驗一、實驗目的：說明由施密特開關電路及運放組成的相敏檢波電路的原理。二、實驗原理：相敏檢波電路如圖（7）所示：圖中為輸入信號端，為輸出端，為交流參考電壓電輸入端，為直流參考電壓輸入。當、端輸入控制電壓信號時，通過差動放大器的作用使D和J處于開關狀態，從而把端輸入的正弦信號轉換成半波整流信號。23533V出R222KC1104R130KW51KR52K2R430KR330KV入765JD1圖（7）三、實驗所需部件：相敏檢波器、移相器、音頻振蕩器、直流穩壓電源、低通濾波器、電壓表、示波器。四、實驗步驟：1將音頻振蕩器頻率、幅度旋鈕居中，輸出信號（0或180均可）。接相敏檢波器輸入端。2將直流穩壓

30、電源2V檔輸出電壓（正或負均可）接相敏檢波器端。3示波器兩通道分別接相敏輸入、輸出端，觀察輸入、輸出波形的相位關系和幅值關系。4改變端參考電壓的極性，觀察輸入、輸出波形的相位和幅值關系。由此可以得出結論：當參考電壓為正時，輸入與輸出同相，當參考電壓為負時，輸入與輸出反相。5將音頻振蕩器0端輸出信號送入移相器輸入端，移相器的輸出端與檢敏檢波器的參考輸入端連接，相敏檢波器的信號輸入端接音頻0輸出。6用示波器兩通道觀察附加觀察插口、的波形。可以看出，相敏檢波器中整形電路的作用是將輸入的正弦波轉換成方波，使相敏檢波器中的電子開關能正常工作。7將相敏檢波器的輸出端與低通濾波器的輸入端連接，低通輸出端接數

31、字電壓表20V檔。8示波器兩通道分別接相敏檢波器輸入、輸出端。9適當調節音頻振蕩器幅值旋鈕和移相器“移相”旋鈕，觀察示波器中波形變化和電壓表電壓值變化，然后將相敏檢波器的輸入端改接至音頻振蕩器180輸出端口，觀察示波器和電壓表的變化。由上可以看出，當相敏檢波器的輸入信號與開關信號同相時，輸出為正極性的全波整流信號，電壓表指示正極性方向最大值，反之，則輸出負極性的全波整流波形，電壓表指示負極性的最大值。10調節移相器“移相”旋鈕，利用示波器和電壓表，測出相敏檢波器的輸入VPP值與輸出直流電壓的關系。11使輸入信號與參考信號的相位改變180，測出上述關系。輸入VPP（V）輸出Vo（V）五、注意事項

32、：檢敏檢波器最大輸入電壓VPP值為20V。實驗十箔式應變片組成的交流全橋一、實驗目的：本實驗說明交流激勵的四臂應變電橋的原理及工作情況。低通V12差放相敏檢波器電壓表05HKZ移相Lv5KHZRRRRWAWD圖（8）二、實驗原理：圖（8）是交流全橋的一般形式。當電橋平衡時，Z1Z4Z2Z3，電橋輸出為零。若橋臂阻抗相對變化為Z1Z1、Z2Z2、Z3Z3、Z4Z4，則電橋的輸出與橋臂阻抗的相對變化交流電橋工作時增大相角差可以提高靈敏度，傳感器最好是純電阻性或純電抗性的。交流電橋只有在滿足輸出電壓的實部和虛部均為零的條件下才會平衡。三、實驗所需部件：電橋、音頻振蕩器、差動放大器、移相器、相敏檢波器

33、、低通濾波器、電壓表、測微頭、示波器。四、實驗步驟：1按圖（8）接線，確認無誤后開啟電源，音頻振蕩器輸出幅度和頻率居中。2調節測微頭使梁處于水平位置，調節電橋直流調平衡電位器WD，使系統輸出基本為零。仔細調節交流調平衡電位器WA，使系統輸出為零。3用示波器觀察各環節波形，測量讀數，列表填入V、X值，作出VX曲線，求出靈敏度。五、注意事項：1欲提高交流全橋的靈敏度，可用示波器觀察相敏檢波器輸出端波形，若相敏檢波器輸出端波形脈動成份較大，則系統雖然可以調零，但靈敏度較低，提高靈敏度的方法是當系統初步調零后，再調節電橋中的WD電位器，使相敏檢波器輸出波形盡量平直，然后再調節移相器“移相”旋鈕和電橋中

34、WA旋鈕，使系統為零，這樣系統靈敏度會最高。2做交流全橋實驗時用指針式毫伏表可以比較直觀地看出應變梁在正、反向受力時系統輸出電壓的變化情況。實驗十一激勵頻率對交流全橋的影響一、實驗原理：由于交流電橋中的各種阻抗的影響，改變激勵頻率可以提高交流全橋的靈敏度和提高抗干擾性。二、實驗所需部件：電橋、音頻振蕩器、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器、電壓表、測微頭。三、實驗步驟：1接線、操作均按實驗十進行。2音頻振蕩器0端輸出信號，頻率從2KHZ10KHZ，接交流全橋，分別測出系統輸出電壓，列表填好V，X值，在同一坐標上做出VX曲線，比較靈敏度，并得出結論，該交流全橋工作在哪個頻率時較為合適。四

35、、注意事項：做上實驗時頻率改變音頻振蕩器幅值不變，否則無可此性。XmmV2K（V）V5K（V）V8K（V）V10K（V）實驗十二交流全橋的應用振幅測量一、實驗目的：說明交流激勵的交流全橋的應用。二、實驗原理：當梁受到不同的頻率信號激勵時，振幅不同，帶給應變片的應力不同，電橋輸出也不同。若激勵頻率和梁的固有頻率相同時，產生共振，此時電橋輸出為最大，根據這一原理可以找出梁的固有頻率。三、實驗所需部件：電橋、音頻振蕩器、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器、電壓表、測微頭、示波器。四、實驗步驟：1根據實驗十的電路接線，移開測微頭，調節電橋，使系統輸出為零，并使系統靈敏度最大。2將低頻振蕩器輸出

36、端接至“激振II”端，此時懸臂梁開始振動。3用示波器觀察差動放大器和低通濾波器的輸出波形，注意調節示波器的掃描時間，差動放大器輸出的是調幅波。4固定低頻振蕩器幅值旋鈕不變，電壓頻率表放2KHZ檔，接低頻振蕩器輸出端。調節低頻振蕩頻率，用示波器讀出系統最大振幅值，此時頻率表所示即為梁的固有頻率。五、注意事項：懸臂梁激振時振幅不宜太大，否則易造成應變片受損。實驗十三交流全橋組成的電子秤一、實驗目的：本實驗說明交流激勵的應變全橋的實際應用。二、實驗所需部件：音頻振蕩器、電橋、箔式應變片、差動放大器、移相器、相敏檢波器，低通濾波器，環形砝碼，稱重平臺。三、實驗步驟：1按實驗十接好線路，在懸臂梁頂端磁鋼

37、上放好稱重平臺，調節系統為零。2在稱重平臺上逐步加上砝碼進行標定，并將結果填入表格。W（g）V（V）3取走砝碼，在平臺上加一未知重量的物品，記下電壓表讀數。4根據坐標上WV曲線得知物品的大致重量。實驗十四差動變壓器性能一、實驗目的：了解差動變壓器的基本結構及原理，通過實驗驗證差動變壓器的基本特性。二、實驗原理：差動變壓器由銜鐵、初級線圈、次級線圈和線圈骨架等組成。初級線圈做為差動變壓器激勵用，相當于變壓器的原邊，次級線圈由兩個結構尺寸和參數相同的線圈反相串接而成，相當于變壓器的副邊。差動變壓器是開磁路，工作是建立在互感基礎上的。其原理及輸出特性見圖（9）R1LK1R3R2LoLoMaMbLv4

38、KHZ示波器第一通道第二通道圖（9）圖（10）三、實驗所需部件：差動變壓器、音頻振蕩器、測微頭、示波器。四、實驗步驟：1按圖（10）接線，差動變壓器初級線圈必須從音頻振蕩器LV端功率輸出，雙線示波器第一通道靈敏度500mv/格，第二通道10mv格。2音頻振蕩器輸出頻率4KHZ，輸出值VPP2V。3用手提壓變壓器磁芯，觀察示波器第二通道波形是否能過零翻轉，如不能則改變兩個次級線圈的串接端。4旋動測微頭，帶動差動變壓器銜鐵在線圈中移動，從示波器中讀出次級輸出電壓VPP值，讀數過程中應注意初、次級波形的相位關系。位移mm電壓V5仔細調節測微頭使次級線圈的輸出波形為最小，這就是零點殘余電壓。可以看出它

39、與輸入電壓的相位差約為2，是基頻分量。6根據表格所列結果，畫出Vop-pX曲線，指出線性工作范圍。五、注意事項：示波器第二通道為懸浮工作狀態。實驗十五差動變壓器零殘電壓的補償一、實驗目的：由于零殘電壓的存在會造成差動變壓器零點附近的不靈敏區，如此電壓經過放大器還會使放大器未級趨向飽和，影響電路正常工作，因此必須采用適當的方法進行補償。二、實驗原理：零殘電壓中主要包含兩種波形成份：1基波分量。這是由于差動變壓器二個次級繞組因材料或工藝差異造成等效電路參數（M、L、R）不同，線圈中的銅損電阻及導磁材料的鐵損，線圈中線間電容的存在，都使得激勵電流與所產生的磁通不同相。2高次諧波。主要是由導磁材料磁化

40、曲線非線性引起，由于磁滯損耗和鐵磁飽和的影響，使激勵電流與磁通波形不一致，產生了非正弦波（主要是三次諧波）磁通，從而在二次繞組中感應出非正弦波的電動勢。減少零殘電壓的辦法有：（1）從設計和工藝制做上盡量保證線路和磁路的對稱。（2）采用相敏檢波電路。（3）選用補償電路。三、實驗所需部件：差動變壓器、電橋、音頻振蕩器、示波器、差動放大器。5KHZ第一通道WDWAV-2VR圖（11）四、實驗步驟：1根據圖（11）接線。示波器第一通道500mv/格，第二通道1V格，差動放大器增益100倍，音頻LV端輸出VPP值2V。2調節測微頭帶動銜鐵在線圈中運動，使差動放大器輸出電壓最小，調整電橋網絡，使輸出更趨減

41、小。如果補償效果不好則可在電橋交流插口另并聯一個數f的電容。3提高示波器第二通道靈敏度，將零殘電壓波形與激勵電壓波形比較。五、注意事項：由于補償線路要求差動變壓器輸出必須懸浮，所以需用差動放大器將次級的雙端輸出轉換為單端輸出，以便示波器觀察。實驗十六差動變壓器的標定一、實驗目的：說明差動變器測試系統的組成和標定方法。二、實驗所需部件：差動變壓器、音頻振蕩器、電橋、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器、電壓表、示波表、測微頭。移相器12差放相敏低通電壓表音頻振蕩器WALVWDR圖（12）三、實驗步驟：1按圖（12）接線，差動放大器增益適度，音頻振蕩器LV端輸出5KHZ，VP-P值2V。2調

42、節電橋WD、WA電位器，調節測微頭帶動銜鐵改變其在線圈中的位置，使系統輸出為零。3旋動測微頭使銜鐵在線圈中上、下有一個較大的位移，用電壓表和示波器觀察系統輸出是否正負對稱。如不對稱則需反復調節銜鐵位置和電橋、移相器，做到正負輸出對稱。4旋動測微頭，帶動銜鐵向上5mm，向下5mm位移，每旋一周（0.5mm）記錄一電壓值并填入表格。位移mm電壓V四、注意事項：系統標定需調節電橋、移相器、銜鐵三者位置，需反復調節才能做到系統輸出為零并正負對稱。實驗十七差動變壓器的振動測量一、實驗目的：了解差動變壓器的實際應用。二、實驗所需部件：差動變壓器、音頻振蕩器、電橋、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器

43、、電壓表、示波器。三、實驗步驟：按圖（12）接線，調節好系統各部分。2低頻振蕩器接入“激振I”，使振動圓盤保持適當振幅。3維持低頻振蕩器輸出幅度不變，用示波器觀察低通濾波器的輸出，電壓頻率表2KHZ檔接低頻輸出端，改變振蕩頻率從5HZ30HZ，讀出Vop-p值，填入下表：f(HZ)56789101112131415182030Vop-p4根據實驗結果做出振動臺的振幅頻率特性曲線，指出自振頻率，并與實驗十二應變電橋所測結果做比較。四、注意事項：1儀器中兩副懸臂梁的固有頻率因尺寸不同而不同。2銜鐵位置可松開支架上小螺絲稍做上、下調節。實驗十八差動螺管式電感傳感器位移測量一、實驗原理：利用差動變壓器

44、的兩個次級線圈和銜鐵組成。銜鐵和線圈的相對位置變化引起螺管線圈電感值的變化。次級二個線圈必須呈差動狀態連接，當銜鐵移動時將使一個線圈電感增加，而另一線圈的電感減小。二、實驗所需部件：差動變壓器、音頻振蕩器、電橋、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器、電壓表、示波器、測微頭。三、實驗步驟：1差動變壓器二個次級線圈組成差動狀態，按圖（13）接線，音頻振蕩器LV端做為恒流源供電，差動放大器增益適度。差動變壓器的兩個線圈和電橋上的兩個固定電阻R組成電橋的四臂，電橋的作用是將電感變化轉換成電橋電壓輸出。2旋動測微頭使銜鐵在線圈中位置居中，此時LoLo，系統輸出為零。3當銜鐵上、下移動時，LoLo，

45、電橋失衡就有輸出，大小與銜鐵位移量成比例，相位則與銜鐵移動方向有關，銜鐵向上移動和向下移動時輸出波形相位相差約180，由于電橋輸出是一個調幅波，因此必須經過相敏檢波器后才能判斷電壓極性，以銜鐵位置居中為起點，分別向上、向下各位移5mm，記錄V，X值，做出VX曲線，求出靈敏度。移相器12差放音頻振蕩器LVR2低通檢波電壓表WDR3WALoLo圖（13）實驗十九差動螺管式電感傳感器振幅測量一、實驗目的：通過實驗說明利用差動螺管式電感傳感器可以進行較大動態范圍的測試。二、實驗所需部件：差動變壓器、音頻振蕩器、電橋、差動放大器、移相器、相敏檢波器、低通濾波器、電壓表、示波器。三、實驗步驟：1緊接實驗十

46、八，移開測微頭，微調銜鐵在支架上的位置，調節電橋電路，使系統輸出為零。2將低頻振蕩器輸出接到“激振I”上，給振動臺加一交變力，使振動臺能上下振動，用示波器觀察系統輸出波形是否對稱，如不對稱則需對電橋、移相器作些調整。3保持低頻振蕩器輸出幅值不變，改變激振頻率f，便可得到它的動態測試結果VPPf曲線如圖（14）FoF圖（14）四、注意事項：振動臺振動時的幅度可盡量大，但以與周圍各部件不發生碰擦為宜，以免產生非正弦振動。實驗二十激勵頻率對電感傳感器的影響一、實驗目的：說明在不同的激勵頻率影響下差動螺管式電感傳感器的不同特性。二、實驗所需部件：差動變壓器、電橋、音頻振蕩器、差動放大器、雙線示波器、測

47、微頭。差放R2R3LVLoLo示波器圖（15）三、實驗步驟：1按圖（15）接線，音頻振蕩器5KHZ幅值居中，差動放大器增益100倍。2裝上測微頭，調整銜鐵處于線圈中間位置，調節電橋使系統輸出為最小。3旋動測微頭，移動銜鐵，每隔1mm從示波器讀出VP-P值，填入表格XmmVP-P(V)4改變音頻振蕩器頻率，并重新調好零位，重復23步驟，將結果填入下表。X（mm）VP-P(V)f(Hz)1000200040006000800010K5根據所測數據在同一坐標上做出VX曲線，計算靈敏度，并做出靈敏度與頻率的關系曲線。由此可以看出，差動螺管式電感傳感器的靈敏度與頻率特性密切相關，在某一個特定頻率時，傳感

48、器最為靈敏，在其兩邊，靈敏度都有所下降，故測試系統中應選用這個激勵頻率。實驗二十一熱電式傳感器熱電偶一、實驗目的：觀察了解熱電偶的結構，熟悉熱電偶的工作特性，學會查閱熱電偶分度表。二、實驗原理：熱電偶的基本工作原理是熱電效應，當其熱端和冷端的溫度不同時，即產生熱電動勢。通過測量此電動勢即可知道兩端溫差。如固定某一端溫度（一般固定冷端為室溫或0），則另一端的溫度就可知，從而實現溫度的測量。本儀器中熱電偶為銅一康銅熱電偶。三、實驗所需部件：熱電偶、加熱器、差動放大器、電壓表、溫度計（自備）四、實驗步驟：1差動放大器雙端輸入接入熱電偶，打開電源，差動放大器增益放100倍，調節調零電位器，使差放增益為

49、零。2打開加熱器，差動放大器輸出如有微小變化，馬上調節調零電位器再度調零。3隨加熱器溫度上升，觀察差動放大器的輸出電壓的變化，待加熱溫度不再上升時，記錄電壓表讀數。4本儀器上熱電偶是由兩只銅康銅熱電偶串接而成，（CSY10B型實驗儀為一支K分度熱電偶），熱電偶的冷端溫度為室溫，放大器的增益為100倍，計算熱電勢時均應考慮進去。用溫度計讀出熱電偶參考端所處的室溫t1。E（t,to）=E（t,t1）+E（t1,to）實際電動勢測量所得電勢溫度修止電動勢式中E為熱電偶的電動勢，t為熱電偶熱端溫度，to為熱電偶參考端溫度為0，t1為熱電偶參考端所處的溫度。查閱銅康銅熱電偶分度表，求出加熱端溫度t。五、

50、注意事項：因為儀器中差動放大器放大倍數100倍，所以用差動放大器放大后的熱電勢并非十分精確，因此查表所得到的熱端溫度也為近似值。銅康熱電偶分度（自由端溫度0）工作端溫度0123456789de/dt（vu）00.00000.0390.0780.1160.1550.1940.2340.2730.3120.35238.6100.3910.4310.4710.5100.5500.5900.6300.6710.7110.75139.5200.7920.8320.8730.9140.9540.9951.0361.0771.1181.15940.4301.2011.2421.2841.3251.3671.

51、4081.4501.4921.5341.57641.3401.6181.6611.7031.7451.7881.8301.8731.9161.9582.00142.4502.0442.0872.1302.1742.2172.2602.3042.3472.3912.43543.0602.4782.5222.5662.6102.6542.6982.7432.7872.8312.87649.8703.9202.9653.0103.0543.0993.1443.1893.2343.2793.32544.5803.3703.4153.4913.5063.5523.5973.6433.6893.7353.

52、78145.3903.8273.8733.9193.9654.0124.0584.1054.1514.1984.24446.01004.2914.3384.3854.4324.4794.5294.5734.6214.6684.71546.8實驗二十二熱敏式溫度傳感器測溫實驗一、實驗原理：應用半導體材料制成的熱敏電阻具有靈敏度高，可以應用于各領域的優點，熱電偶一般測高溫線性較好，熱敏電阻則用于200以下溫度較為方便，本實驗中所用熱敏電阻為負溫度系數熱敏電阻。溫度變化時熱敏電阻阻值的變化導致運放組成的變換電路的輸出電壓發生相應變化。二、實驗所需部件：熱敏電阻、溫度變換器、電壓表、溫度計（可用儀器中

53、的PN結溫度傳感器或熱電偶作測溫參考）。三、實驗步驟：1觀察裝于懸臂梁上封套內的熱敏電阻，將熱敏電阻接入溫度變換器Rt端口，調節“增益”旋鈕，使加熱前電壓輸出Vo端電壓值盡可能大但不飽和。用溫度計測出環境溫度To并記錄。2將半導體點溫計探頭放入兩片應變梁之間的電加熱器上，打開加熱器，觀察點溫計的溫升和溫度變換器Vo端的輸出電壓的變化情況，每升溫1記錄一下電壓值，待電壓穩定后記下最終溫度T。To()Vo(V)根據表中數據作出VT曲線，求出靈敏度S。SVT3負溫度系數熱敏電阻的電阻溫度特性可表示為：RtRtoexpBn(1/T1/To)式中Rt、Rto分別為溫度T、To時的阻值，Bn為電阻常數，它

54、與材料激活能有關，一般情況下，Bn=20006000K，在高溫時使用，Bn值將增大。實驗二十三PN結溫度傳感器一、實驗原理：半導體P-N結具有非常良好的溫度線性。根據PN結特性表達公式可知，當一個PN結制成后，其反向飽和電流基本上只與溫度有關，根據這一原理制成的PN結溫度傳感器，可以直接顯示絕對溫度K，并且具有良好的線性精度。二、實驗所需部件：PN結溫度傳感器、溫度變換器、加熱器、電壓表、溫度計（自備）三、實驗步驟：1將PN結溫度傳感器接入溫度傳感器端，VT端接電壓表，開啟電源，電壓表2V檔顯示室溫的絕對溫度T，室溫T273。與溫度計顯示溫度進行比較。2打開加熱器，觀察隨溫度上升電壓表所示絕對

55、溫度變化，與放在加熱器上的溫度計所顯示的溫度進行比較。（溫度計因在塑套外與傳感器感受到的溫度是有差別的，實驗時請注意這一點）。四、注意事項：位數字電壓表必須2V檔，VT端輸出的小數點后三位數字即為絕對溫度值。實驗二十四光纖位移傳感器位移測量一、實驗原理：反射式光纖位移傳感器的工作原理如圖（16）所示，光纖采用Y型結構，兩束多模光纖一端合并組成光纖探頭，另一端分為兩束，分別作為接收光纖和光源光纖，光纖只起傳輸信號的作用。當光發射器發生的紅外光，經光源光纖照射至反射體，被反射的光經接收光纖至光電轉換元件將接收到的光信號轉換為電信號。其輸出的光強決定于反射體距光纖探頭的距離，通過對光強的檢測而得到位

56、移量。輸出電壓（V）位移01234567mm光源光纖接收光纖X反射體X圖（16）反射式光纖位移傳感器原理圖及輸出特性曲線二、實驗所需部件：光纖、光電轉換器、光電變換器、低頻振蕩器、示波器、電壓表、支架、反射片、測微頭。三、實驗步驟：1觀察光纖結構：本儀器中光纖探頭為半圓型結構，由數百根光導纖維組成，一半為光源光纖，一半為接收光纖。2將原裝電渦流線圈支架上的電渦流線圈取下，裝上光纖探頭，探頭對準鍍鉻反射片（即電渦流片）。3振動臺上裝上測微頭，開啟電源，光電變換器Vo端接電壓表。旋動測微頭，帶動振動平臺，使光纖探頭端面緊貼反射鏡面，此時Vo輸出為最小。然后旋動測微頭，使反射鏡面離開探頭，每隔0.2

57、5mm取一Vo電壓值填入下表，作出VX曲線。X00.250.50.751.01.251.51.752.02.252.52.753.03.253.53.754.0V得出輸出電壓特性曲線如圖(16)所示，分前坡和后坡，通常測量是采用線性較好的前坡。4振動實驗：將測微頭移開，振動臺處于自由狀態，根據VX曲線選取前坡中點位置裝好光纖探頭。將低頻振蕩器輸出接“激振I”，調節激振頻率和幅度，使振動臺保持適當幅度的振動（以不碰到光纖探頭為宜）。用示波器觀察Vo端電壓波形。并用電壓頻率表讀出振動頻率。四、注意事項：1光電變換器工作時Vo最大輸出電壓以2V左右為好，可通過調節增益電位器控制。實驗時請保持反射鏡片

58、的潔凈與光纖端面的垂直度。3工作時光纖端面不宜長時間直照強光，以免內部電路受損。4注意背景光對實驗的影響,光纖勿成銳角曲折。5每臺儀器的光電轉換器都是與儀器單獨調配的，請勿互換使用，光電轉換器應與儀器編號配對，以保證儀器正常使用。實驗二十五光纖傳感器轉速測量一、實驗原理：當光纖探頭與反射面的相對位置發生周期性變化；光電變換器輸出電量也發生相應的變化，經VF電路變換，成方波頻率信號輸出。二、實驗所需部件：光纖、光電變換器、測速電機及轉盤、電壓頻率表、示波器。三、實驗步驟：1繼實驗二十四，將光纖探頭轉一角度置于測速電機上方，并調整探頭高度使其距轉盤面1mm左右，光纖探頭以對準轉盤邊緣內3mm處為宜

59、。2光電變換器Fo端分別接電壓頻率表2KHZ檔和示波器DC檔。開啟電機開關，調節轉盤轉速，用示波器觀察輸出波形并讀出頻率。電機轉速Fo端方波頻率除以2（每周兩個方波信號）四、注意事項：1光纖探頭在支架上固定時應保持與轉盤面平行，切不可相擦，以免使光纖端面受損。電機開關平時應倒向左側，以保證穩壓電源正常工作。實驗時應避免強光直接照射轉盤盤面，以免造成測試誤差。實驗二十六光電傳感器的應用光電轉速測試一、實驗目的：了解光電開關的原理和應用。二、實驗原理：光電開關由紅外發射、接收及整形電路組成，為遮斷式工作方式。三、實驗所需部件：光電傳感器、光電變換器、測速電機及轉盤、電壓頻率表2KHZ檔、示波器。四

60、、實驗步驟：1光電傳感器“光電”端接光電變換器端，VF端接示波器和電壓頻率表2KHZ。安裝好光電傳感器位置，勿與轉盤盤面相擦。3開啟電源，打開電機開關，調節電機轉速。用示波器觀察光電轉換器VF端，并讀出波形頻率，與頻率表所示頻率比較。4電機轉速方波頻率25將一較強光源照射儀器轉盤上方，觀察測試方波是否正常。6由此可以得出結論，光電開關受外界影響較小，工作可靠性較高。實驗二十七霍爾式傳感器的直流激勵特性一、實驗目的：了解霍爾式傳感器的結構、工作原理，學會用霍爾傳感器做靜態位移測試。二、實驗原理：霍爾式傳感器是由兩個環形磁鋼組成梯度磁場和位于梯度磁場中的霍爾元件組成。當霍爾元件通以恒定電流時，霍爾