標準解讀
《GB/T 17626.3-2016 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗》相比于《GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗》,主要在以下幾個方面進行了更新與調整:
-
范圍和適用性:2016版標準在適用范圍描述上更為明確,涵蓋了信息技術設備、家用電器、照明設備等多種產品,同時對測試方法的通用性和特定應用的指導性進行了增強。
-
術語和定義:新增和修訂了一些專業術語和定義,以更準確地反映當前電磁兼容領域的最新理解和要求,幫助用戶更好地理解標準內容。
-
試驗配置和方法:對試驗場地、試驗設備、以及測試布置的要求進行了細化和優化,如增加了對開闊試驗場地和屏蔽室使用條件的具體說明,改進了天線與被測設備(EUT)之間的距離確定方法,確保測試結果的一致性和可重復性。
-
試驗等級和嚴酷程度:調整了部分頻率范圍內的試驗等級和嚴酷等級,使之更加符合當前電子設備面臨的實際電磁環境,提高了測試的針對性和實用性。
-
測量和評估:更新了測量參數、評估指標和數據處理方法,引入了更先進的測量技術和數據分析要求,確保評估結果的準確性和科學性。
-
試驗報告:對試驗報告的內容和格式提出了更詳細的要求,強調了需要記錄的信息細節,便于結果的交流和追溯。
-
參考文獻:更新了參考文獻列表,納入了更多近期的相關國際標準和研究成果,為用戶提供最新的技術支持和理論依據。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。
....
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文檔簡介
ICS3310020
L06..
中華人民共和國國家標準
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.代替:
GB/T17626.3—2006
電磁兼容試驗和測量技術
射頻電磁場輻射抗擾度試驗
Electromagneticcompatibility—
Testingandmeasurementtechniques—
Radiatedradio-freuencelectromaneticfieldimmunittest
,qy,gy
[IEC61000-4-3:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—
Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—
Radiated,radio-frequency,electromagnetic
fieldimmunitytest,IDT]
2016-12-13發布2017-07-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布
中國國家標準化管理委員會
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
目次
前言…………………………
Ⅰ
范圍………………………
11
規范性引用文件…………………………
21
術語和定義………………
31
概述………………………
44
試驗等級…………………
54
一般試驗等級………………………
5.15
保護設備抵抗數字無線電話和其他射頻發射裝置的射頻輻射的試驗等級…
5.2()5
試驗設備…………………
65
試驗設施的描述……………………
6.16
場的校準……………
6.26
試驗布置…………………
79
臺式設備的布置……………………
7.110
落地式設備的布置…………………
7.210
布線…………………
7.310
人身攜帶設備的布置………………
7.410
試驗程序…………………
810
確認實驗室的有關條件……………
8.111
測試的實施…………………………
8.211
試驗結果的評定…………………………
912
試驗報告………………
1012
附錄資料性附錄保護設備抵抗數字無線電話射頻輻射的試驗調制方式的選擇原理………
A()()19
附錄資料性附錄場發射天線………………………
B()23
附錄資料性附錄電波暗室的應用…………………
C()24
附錄資料性附錄放大器非線性和校準方法的示例…………
D()6.226
附錄資料性附錄產品標準化專業委員會試驗等級選擇指南……
E()30
附錄資料性附錄試驗方法的選擇…………………
F()32
附錄資料性附錄環境描述…………
G()33
附錄規范性附錄頻率高于時的替代照射方法獨立窗口法………
H()1GHz(“”)37
附錄資料性附錄電場探頭的校準方法……………
I()40
附錄資料性附錄由試驗儀器引起的測量不確定度………………
J()53
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
前言
電磁兼容試驗和測量技術目前包括以下部分
GB/T17626《》:
電磁兼容試驗和測量技術抗擾度試驗總論
———GB/T17626.1—2006;
電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗
———GB/T17626.2—2006;
電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗
———GB/T17626.3—2016;
電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
———GB/T17626.4—2008;
電磁兼容試驗和測量技術浪涌沖擊抗擾度試驗
———GB/T17626.5—2008();
電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度
———GB/T17626.6—2008;
電磁兼容試驗和測量技術供電系統及所連設備諧波諧間波的測
———GB/T17626.7—2008、
量和測量儀器導則
;
電磁兼容試驗和測量技術工頻磁場抗擾度試驗
———GB/T17626.8—2006;
電磁兼容試驗和測量技術脈沖磁場抗擾度試驗
———GB/T17626.9—2011;
電磁兼容試驗和測量技術阻尼振蕩磁場抗擾度試驗
———GB/T17626.10—1998;
電磁兼容試驗和測量技術電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾
———GB/T17626.11—2008、
度試驗
;
電磁兼容試驗和測量技術振鈴波抗擾度試驗
———GB/T17626.12—2013;
電磁兼容試驗和測量技術交流電源端口諧波諧間波及電網信
———GB/T17626.13—2006、
號的低頻抗擾度試驗
;
電磁兼容試驗和測量技術電壓波動抗擾度試驗
———GB/T17626.14—2005;
電磁兼容試驗和測量技術閃爍儀功能和設計規范
———GB/T17626.15—2011;
電磁兼容試驗和測量技術共模傳導騷擾抗擾度
———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
試驗
;
電磁兼容試驗和測量技術直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗
———GB/T17626.17—2005;
電磁兼容試驗和測量技術橫電磁波波導中的發射和抗
———GB/T17626.20—2014(TEM)
擾度試驗
;
電磁兼容試驗和測量技術混波室試驗方法
———GB/T17626.21—2014;
電磁兼容試驗和測量技術傳導騷擾保護裝置的試驗
———GB/T17626.24—2012HEMP
方法
;
電磁兼容試驗和測量技術三相電壓不平衡抗擾度試驗
———GB/T17626.27—2006;
電磁兼容試驗和測量技術工頻頻率變化抗擾度試驗
———GB/T17626.28—2006;
電磁兼容試驗和測量技術直流電源輸入端口電壓暫降短時中
———GB/T17626.29—2006、
斷和電壓變化的抗擾度試驗
;
電磁兼容試驗和測量技術電能質量測量方法
———GB/T17626.30—2012;
電磁兼容試驗和測量技術主電源每相電流大于的設備的
———GB/T17626.34—201216A
電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗
、。
本部分為的第部分
GB/T176263。
本部分按照給出的規則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.3—2006《》。
與相比主要技術內容變化如下
GB/T17626.3—2006,:
Ⅰ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
第章術語和定義中刪除了原帶狀線和雜散輻射
———4,4.144.15;
第章合并原表和表為表與常規用途裝置數字無線電話和其他射頻發射裝置有關的
———5121、
試驗等級
;
保護設備抵抗數字無線電話和其他射頻發射裝置的射頻輻射的測試高頻范圍由
———5.2()2GHz
擴展至
6GHz;
第章修改了對功率放大器的要求
———6;
場校準中增加了完全照射部分照射和獨立窗口均勻場域的應用要求
———6.2、;
恒定場強校準法增加了步驟對測試系統的確認
———6.2.1j),;
恒定功率校準法增加了步驟對測試系統的確認
———6.2.2m),;
附錄場發射天線刪除了圓極化天線
———B;
刪除了原附錄中小室和帶狀線測試方法
———DTEM;
原附錄改為附錄并增加表
———IGG.3;
原附錄改為附錄
———HF;
原附錄改為附錄
———JH;
原附錄改為附錄
———KD;
原附錄和附錄合并為附錄
———FGE;
增加了附錄場強探頭的校準
———I;
增加了附錄試驗儀器引起的測量不確定度
———J。
本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗和測量技術
IEC61000-4-3:2010《(EMC)4-3:
射頻電磁場輻射抗擾度試驗
》。
與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下
:
電工術語電磁兼容
———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT];
電磁兼容試驗和測試技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾
———GB/T17626.6—2008
度
(IEC61000-4-6:2006,IDT)。
本部分由全國電磁兼容標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC246)。
本部分起草單位上海電器科學研究院上海市計量測試技術研究院上海工業自動化儀表研究院
:、、、
北京市醫療器械檢驗所東鑠檢測科技蘇州有限公司上海三基電子工業有限公司
、()、。
本部分主要起草人鄭軍奇劉媛龔增王英孟志平瀟瀟苑明聰葉瓊瑜壽建霞錢楓
:、、、、、、、、、。
本部分所代替標準的歷次版本發布情況為
:
———GB/T17626.3—1992、GB/T17626.3—1998、GB/T17626.3—2006。
Ⅱ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
電磁兼容試驗和測量技術
射頻電磁場輻射抗擾度試驗
1范圍
的本部分適用于電氣電子設備的電磁場輻射抗擾度要求規定了試驗等級和必要的
GB/T17626、,
試驗程序
。
本部分的目的是建立電氣電子設備受到射頻電磁場輻射時的抗擾度評定依據在本部分中給出
、。
的試驗方法描述了評估設備或系統抵抗一定環境的抗擾度的符合性方法
。
注1如所述本部分是供有關專業標準化技術委員會使用的基礎出版物同時在
:GB/Z18509,EMC。GB/Z18509
中規定有關專業標準化技術委員會負責確定此抗擾度測試標準是否適用如適用他們有責任確定適合的試
,,,
驗等級及性能判據全國電磁兼容標準化技術委員會及其分會與有關專業標準化技術委員會
。(SAC/TC246)
合作以評估對其產品的特定抗擾度試驗的試驗等級及性能判據
,。
本部分適用于防止所有發射源的射頻電磁場的抗擾度試驗
。
特別關注對防止數字無線電話和其他射頻發射裝置的射頻輻射
溫馨提示
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