工程實驗力學工程實驗力學1第10章全息干涉法10.1激光全息照相

10.2全息干涉位移測量

10.3測量振動的全息干涉術

10.4全息光彈的兩次曝光法

10.5實驗設備和實驗技術

第10章全息干涉法10.1激光全息照相

10.2全息干210.1激光全息照相10.1.1激光全息照相原理

10.1.2全息圖的類型10.1激光全息照相10.1.1激光全息照相原理

10.310.1.1激光全息照相原理圖10-1全息圖的形成及其衍射光波10.1.1激光全息照相原理圖10-1全息圖的形成及其衍410.1.1激光全息照相原理圖10-2小狗模型全息照片再現后用不同角度拍攝(觀測)的像10.1.1激光全息照相原理圖10-2小狗模型全息照片再510.1.2全息圖的類型1)按記錄時參考光與物光所成的角度分類，有同軸全息圖和離軸全息圖。

2)按所記錄物光的特點分類，可分為菲涅耳全息圖、夫瑯和費全息圖(傅里葉變換全息圖)。

3)按記錄介質的厚度分類，有平面全息圖和體積全息圖。

4)按透過率函數的特點分類，有振幅型和相位型兩類，而相位型又可以分為表面浮雕型和折射率型兩種。

5)按記錄時物和照明的特點，可分為透射型和反射型。

6)按所顯示的再現像的特征，有像面全息、彩虹全息、360°合成全息和真彩色全息等。10.1.2全息圖的類型1)按記錄時參考光與物光所成的角度610.1.2全息圖的類型圖10-3菲涅耳全息圖的記錄與再現過程

a)記錄b)再現10.1.2全息圖的類型圖10-3菲涅耳全息圖的記錄與再710.2全息干涉位移測量1)對被測物體表面不需要做光學處理，可以獲得任何材料、任何形狀、任何表面的位移狀況。

2)同時得出任意方向的位移矢量的三個分量，是一個三維的方法，而邁克爾遜干涉法得到的是法向位移。

3)對于光學元件的質量和調試方面也沒有經典干涉儀那樣嚴格。

4)精度高。

5)可得到在靜載、振動、動載、沖擊和受熱等工作條件下表面各點的位移場或應變場。

6)多重干涉，一張全息圖上可以重疊記錄很多圖像，并能同時再現。10.2全息干涉位移測量1)對被測物體表面不需要做光學處理810.2全息干涉位移測量10.2.1兩次曝光法

10.2.2實時法

10.2.3三維位移場的分析

10.2.4條紋定域問題

10.2.5位移測量中的幾個問題10.2全息干涉位移測量10.2.1兩次曝光法

10.2910.2.1兩次曝光法1.位移信息的記錄

2.再現像的波前分析

3.相位差與位移量的關系分析10.2.1兩次曝光法1.位移信息的記錄

2.再現像的波前101.位移信息的記錄圖10-4記錄位移信息的光路圖1.位移信息的記錄圖10-4記錄位移信息的光路圖112.再現像的波前分析1)當φ-φ0=2nπ時，n=0,±1,±2,…,為亮條紋，n為亮條紋級次，位移為零點處在0級條紋上。

2)當φ-/2=π時，n=0,±1,±2,…，為暗條紋，n稱為暗條紋級次。2.再現像的波前分析1)當φ-φ0=2nπ時，n=0,±1,122.再現像的波前分析圖10-5全息干涉法再現時的光路2.再現像的波前分析圖10-5全息干涉法再現時的光路133.相位差與位移量的關系分析圖10-6物體變形前后的位移

與相位差的關系3.相位差與位移量的關系分析圖10-6物體變形前后的位移

143.相位差與位移量的關系分析圖10-7四邊固支方板受中心集中載荷時

兩次曝光后再現的全息圖3.相位差與位移量的關系分析圖10-7四邊固支方板受中心集1510.2.2實時法1.光路布置

2.再現波前分析

3.條紋的解釋10.2.2實時法1.光路布置

2.再現波前分析

3.條紋163.條紋的解釋1)不易使感光處理后的全息底版精確復位。

2)條紋的對比度差，不及兩次曝光法的條紋清晰。3.條紋的解釋1)不易使感光處理后的全息底版精確復位。

2)1710.2.3三維位移場的分析1)條紋定位法(FL法)1966年由K.A.Haines和B.P.Hildebrand提出。

2)條紋計數法(FC法)1967年由E.B.Aleksandrov及A.M.Bonch-Bruevich提出。

3)零級條紋法(ZF法)1968年由A.E.Ennos提出。

4)等傾干涉法1968年由J.W.C.Gates和迂內順平(J.Tsujiuchi)提出。

1.零級條紋法(ZF)的計算方法

2.條紋計數法(FC法)的計算方法10.2.3三維位移場的分析1)條紋定位法(FL法)19181.零級條紋法(ZF)的計算方法圖10-8用三張全息圖分析位移矢量1.零級條紋法(ZF)的計算方法圖10-8用三張全息圖分析192.條紋計數法(FC法)的計算方法解此線性代數方程組即可求得dx，dy，dz和d。2.條紋計數法(FC法)的計算方法解此線性代數方程組即可求得2010.2.4條紋定域問題1)剛體面內平移，條紋在無限遠處。

2)垂直表面移動，條紋在無限遠處。

3)當物體旋轉或變形的一般情況時，條紋定域在物表面前或后。

4)當物體繞在其本身平面內的軸旋轉時，條紋是與旋轉軸平行的平行線，且定域在物體表面。10.2.4條紋定域問題1)剛體面內平移，條紋在無限遠處。2110.2.4條紋定域問題圖10-9成像系統的光路圖10.2.4條紋定域問題圖10-9成像系統的光路圖2210.2.4條紋定域問題10.2.4條紋定域問題2310.2.4條紋定域問題10.2.4條紋定域問題2410.2.4條紋定域問題圖10-10再現像的幾何分析10.2.4條紋定域問題圖10-10再現像的幾何分析2510.2.4條紋定域問題圖10-11剛體位移的條紋照片

a)作平面內移動的剛體的兩次曝光全息圖，在物體表面看不到條紋

b)在透鏡焦平面上看到的由剛體平移產生的條紋

c)在透鏡焦平面上看到的由剛體垂直移動產生的條紋10.2.4條紋定域問題圖10-11剛體位移的條紋照片

2610.2.5位移測量中的幾個問題1.剛體位移

2.大變形和高變形梯度

3.測量精度問題10.2.5位移測量中的幾個問題1.剛體位移

2.大變形和272.大變形和高變形梯度1)條紋補償，給一個相反方向的已知剛體位移。

2)像平面全息圖法，小區域放大。

3)差分干涉法，瞬時、兩次記錄。2.大變形和高變形梯度1)條紋補償，給一個相反方向的已知剛體283.測量精度問題1)部分誤差是由測量本身帶來的，如對方向、小級次條紋的測量、條紋讀數誤差等技術而引入的問題。

2)因測量系統的布置所帶來的誤差。

①單張全息圖中，由于全息圖的尺寸有限，因此觀察方向的改變是不大的，幾乎是平行的。很小的讀數誤差也會引起很大的位移誤差。多張全息圖法應使k1、k2、k3的夾角較大且不共面。已有人用線性代數的方法做了估計，為了減少誤差，可以采用多張全息圖多方向觀察，再用最小二乘法處理。

②一般稱入射角與反射角的夾角平分線方向的向量為靈敏度向量，當安排光路系統時，若事先做好分析，盡可能使位移向量與靈敏向量一致，則可以大大提高位移測量的精度。3.測量精度問題1)部分誤差是由測量本身帶來的，如對方向、小293.測量精度問題③由于條紋定域問題而不清晰的條紋，應采用小孔徑透鏡成像。

④物與全息圖的距離應合適，否則對每一點，照明激光的入射角和全息干板的接收角不同。3.測量精度問題③由于條紋定域問題而不清晰的條紋，應采用小3010.3測量振動的全息干涉術10.3.1概述

10.3.2時間平均法

10.3.3頻閃法10.3測量振動的全息干涉術10.3.1概述

10.3.3110.3.1概述用全息干涉法測量物體的振動，最早是Powell和Stetron在1965年提出的。經過幾十年的努力，研究者們提出了適用于各種不同情況和各具特點的方法，已達十幾種之多，可以說，在全息振動分析方面，一套比較完整的方法已經基本形成。全息測振和全息照相、全息干涉測位移法一樣，對物體表面無特殊要求，測量是非接觸式的。10.3.1概述用全息干涉法測量物體的振動，最早是Powe3210.3.2時間平均法1.一次曝光時間平均法

2.二次曝光時間平均法

3.實時時間平均法10.3.2時間平均法1.一次曝光時間平均法

2.二次曝光331.一次曝光時間平均法(1)振動信息的記錄對做穩態周期振動的物體，用比物體振動周期大得多的曝光時間進行記錄，這樣獲得的全息圖，在參考光束的照射下，可以給出附有干涉條紋的原物體像，這些干涉條紋帶有物體振幅的信息，這種振動的記錄方法就叫做時間平均法。

(2)干涉條紋的分析為了便于說明問題，我們通過對一受橫向正弦振動的板的振動的記錄，來分析一次曝光時間平均法中條紋與物體振幅的關系。1.一次曝光時間平均法(1)振動信息的記錄對做穩態周期振動34(1)振動信息的記錄圖10-12周邊固支板受橫向正弦振動(1)振動信息的記錄圖10-12周邊固支板受橫向正弦振動35(2)干涉條紋的分析(2)干涉條紋的分析36(2)干涉條紋的分析圖10-13一次曝光法光強的貝塞爾函數分布圖(2)干涉條紋的分析圖10-13一次曝光法光強的貝塞爾函372.二次曝光時間平均法圖10-14二次曝光法光強的分布圖2.二次曝光時間平均法圖10-14二次曝光法光強的分布圖3810.3.3頻閃法1.共振狀態的正確判斷

2.三維振動狀態振幅的計算

3.振動時相位的測定10.3.3頻閃法1.共振狀態的正確判斷

2.三維振動狀態391.共振狀態的正確判斷圖10-15測振動模態時激振和監測系統1.共振狀態的正確判斷圖10-15測振動模態時激振和監測系403.振動時相位的測定圖10-16汽車輪輻不同振動模態的全息條紋圖3.振動時相位的測定圖10-16汽車輪輻不同振動模態的全息4110.4全息光彈的兩次曝光法10.4.1簡介

10.4.2光路安排和紀錄過程

10.4.3波前分析10.4全息光彈的兩次曝光法10.4.1簡介

10.4.4210.4.1簡介全息光彈性是全息干涉法在光彈性中的應用。受力物體由透明雙折射材料制成,運用全息干涉法,可以獲得主應力和的信息。在光彈性中采用的全息干涉法,最常用的是兩次曝光法。10.4.1簡介全息光彈性是全息干涉法在光彈性中的應用。受4310.4.2光路安排和紀錄過程圖10-17全息光彈性的光路圖

a)記錄光路b)再現光路10.4.2光路安排和紀錄過程圖10-17全息光彈性的光4410.4.3波前分析1.兩次曝光

2.再現像的光強分析

3.等和線條紋的分離10.4.3波前分析1.兩次曝光

2.再現像的光強分析

3453.等和線條紋的分離(1)用兩種模型材料法分離條紋比較方便易行的方法是使用光學不靈敏材料用兩次曝光法單獨獲得等和線，而等差線用光學靈敏材料一次曝光獲得。

(2)用旋光法分離條紋在定量計算中，用兩種材料制作模型是不方便的，采用旋光法，可以將在兩次曝光法得到的同時呈現的等和線條紋與等差線條紋進行分離，因此是更理想的方法，不過缺點是要求更多的設備和更復雜的光路調試。3.等和線條紋的分離(1)用兩種模型材料法分離條紋比較方便463.等和線條紋的分離圖10-18圓環對徑受壓等和線與

等差線混合條紋圖3.等和線條紋的分離圖10-18圓環對徑受壓等和線與

等差47(2)用旋光法分離條紋圖10-19旋光法分離條紋的光路圖

1—外腔激光器2—快門3—分光鏡4—1/4波片5—擴束鏡

6—準直徑7—受力模型8—旋光元件9—全反鏡

10—全息底片11—輸出透鏡12—屏幕(2)用旋光法分離條紋圖10-19旋光法分離條紋的光路圖

48(2)用旋光法分離條紋圖10-20對徑受壓全息光彈條紋圖

a)等和線b)等差線(2)用旋光法分離條紋圖10-20對徑受壓全息光彈條紋圖4910.5實驗設備和實驗技術10.5.1實驗設備

10.5.2實驗技術10.5實驗設備和實驗技術10.5.1實驗設備

10.55010.5.1實驗設備1.防震臺

2.激光器

3.主要光學元件

4.記錄材料10.5.1實驗設備1.防震臺

2.激光器

3.主要光學元511.防震臺圖10-21邁克爾遜干涉儀測試的光路1.防震臺圖10-21邁克爾遜干涉儀測試的光路522.激光器(1)He-Ne激光器是全息技術中最常用的激光器。

2.激光器(1)He-Ne激光器是全息技術中最常用的激光器532.激光器圖10-22激光器振蕩及輸出2.激光器圖10-22激光器振蕩及輸出542.激光器圖10-23激光輸出橫模類型2.激光器圖10-23激光輸出橫模類型552.激光器圖10-24調整激光器出光示意圖2.激光器圖10-24調整激光器出光示意圖56表10-1常用氣體激光器的一般性能表10-1常用氣體激光器的一般性能表10-1常用氣體激光器的一般性能表10-1常用氣體激光57表10-2氣體激光的主要波長表10-2氣體激光的主要波長表10-2氣體激光的主要波長表10-2氣體激光的主要波長583.主要光學元件(1)準直鏡與擴束鏡要采用通光直徑大的透鏡作為準直鏡，焦距要盡量地短。

(2)分光鏡由于全息照相中物光與參考光的光強要求一定的比例，而在拍攝不同物體時往往由于物體透明度或反光率不同，光場大小也不一樣，因此需要很方便地調節分光鏡，以達到合適的光強比。

(3)快門激光器的功率愈大，全息片的感光速度愈快，照相曝光時間就愈短。

(4)曝光表為了測取參考光與物光的光強比，并決定照相曝光時間，可以用一只硅光電池作為光接收器，將光能轉換為電能。3.主要光學元件(1)準直鏡與擴束鏡要采用通光直徑大的透鏡593.主要光學元件(5)加載裝置全息實驗需要在加載前、后進行兩次曝光以獲得信息。

(6)針孔濾波器在用顯微物鏡擴束時，由于塵埃等原因，擴束后的光帶有斑點、圓環等噪聲會影響照片質量。3.主要光學元件(5)加載裝置全息實驗需要在加載前、后進行60(1)準直鏡與擴束鏡圖10-25擴束鏡與準直鏡的匹配(1)準直鏡與擴束鏡圖10-25擴束鏡與準直鏡的匹配61表10-3常用全息干板性能一覽表表10-3常用全息干板性能一覽表表10-3常用全息干板性能一覽表表10-3常用全息干板性6210.5.2實驗技術1.光強比的選擇

2.底片沖洗

3.反拍及復制10.5.2實驗技術1.光強比的選擇

2.底片沖洗

3.反63工程實驗力學工程實驗力學64第10章全息干涉法10.1激光全息照相

10.2全息干涉位移測量

10.3測量振動的全息干涉術

10.4全息光彈的兩次曝光法

10.5實驗設備和實驗技術

第10章全息干涉法10.1激光全息照相

10.2全息干6510.1激光全息照相10.1.1激光全息照相原理

10.1.2全息圖的類型10.1激光全息照相10.1.1激光全息照相原理

10.6610.1.1激光全息照相原理圖10-1全息圖的形成及其衍射光波10.1.1激光全息照相原理圖10-1全息圖的形成及其衍6710.1.1激光全息照相原理圖10-2小狗模型全息照片再現后用不同角度拍攝(觀測)的像10.1.1激光全息照相原理圖10-2小狗模型全息照片再6810.1.2全息圖的類型1)按記錄時參考光與物光所成的角度分類，有同軸全息圖和離軸全息圖。

2)按所記錄物光的特點分類，可分為菲涅耳全息圖、夫瑯和費全息圖(傅里葉變換全息圖)。

3)按記錄介質的厚度分類，有平面全息圖和體積全息圖。

4)按透過率函數的特點分類，有振幅型和相位型兩類，而相位型又可以分為表面浮雕型和折射率型兩種。

5)按記錄時物和照明的特點，可分為透射型和反射型。

6)按所顯示的再現像的特征，有像面全息、彩虹全息、360°合成全息和真彩色全息等。10.1.2全息圖的類型1)按記錄時參考光與物光所成的角度6910.1.2全息圖的類型圖10-3菲涅耳全息圖的記錄與再現過程

a)記錄b)再現10.1.2全息圖的類型圖10-3菲涅耳全息圖的記錄與再7010.2全息干涉位移測量1)對被測物體表面不需要做光學處理，可以獲得任何材料、任何形狀、任何表面的位移狀況。

2)同時得出任意方向的位移矢量的三個分量，是一個三維的方法，而邁克爾遜干涉法得到的是法向位移。

3)對于光學元件的質量和調試方面也沒有經典干涉儀那樣嚴格。

4)精度高。

5)可得到在靜載、振動、動載、沖擊和受熱等工作條件下表面各點的位移場或應變場。

6)多重干涉，一張全息圖上可以重疊記錄很多圖像，并能同時再現。10.2全息干涉位移測量1)對被測物體表面不需要做光學處理7110.2全息干涉位移測量10.2.1兩次曝光法

10.2.2實時法

10.2.3三維位移場的分析

10.2.4條紋定域問題

10.2.5位移測量中的幾個問題10.2全息干涉位移測量10.2.1兩次曝光法

10.27210.2.1兩次曝光法1.位移信息的記錄

2.再現像的波前分析

3.相位差與位移量的關系分析10.2.1兩次曝光法1.位移信息的記錄

2.再現像的波前731.位移信息的記錄圖10-4記錄位移信息的光路圖1.位移信息的記錄圖10-4記錄位移信息的光路圖742.再現像的波前分析1)當φ-φ0=2nπ時，n=0,±1,±2,…,為亮條紋，n為亮條紋級次，位移為零點處在0級條紋上。

2)當φ-/2=π時，n=0,±1,±2,…，為暗條紋，n稱為暗條紋級次。2.再現像的波前分析1)當φ-φ0=2nπ時，n=0,±1,752.再現像的波前分析圖10-5全息干涉法再現時的光路2.再現像的波前分析圖10-5全息干涉法再現時的光路763.相位差與位移量的關系分析圖10-6物體變形前后的位移

與相位差的關系3.相位差與位移量的關系分析圖10-6物體變形前后的位移

773.相位差與位移量的關系分析圖10-7四邊固支方板受中心集中載荷時

兩次曝光后再現的全息圖3.相位差與位移量的關系分析圖10-7四邊固支方板受中心集7810.2.2實時法1.光路布置

2.再現波前分析

3.條紋的解釋10.2.2實時法1.光路布置

2.再現波前分析

3.條紋793.條紋的解釋1)不易使感光處理后的全息底版精確復位。

2)條紋的對比度差，不及兩次曝光法的條紋清晰。3.條紋的解釋1)不易使感光處理后的全息底版精確復位。

2)8010.2.3三維位移場的分析1)條紋定位法(FL法)1966年由K.A.Haines和B.P.Hildebrand提出。

2)條紋計數法(FC法)1967年由E.B.Aleksandrov及A.M.Bonch-Bruevich提出。

3)零級條紋法(ZF法)1968年由A.E.Ennos提出。

4)等傾干涉法1968年由J.W.C.Gates和迂內順平(J.Tsujiuchi)提出。

1.零級條紋法(ZF)的計算方法

2.條紋計數法(FC法)的計算方法10.2.3三維位移場的分析1)條紋定位法(FL法)19811.零級條紋法(ZF)的計算方法圖10-8用三張全息圖分析位移矢量1.零級條紋法(ZF)的計算方法圖10-8用三張全息圖分析822.條紋計數法(FC法)的計算方法解此線性代數方程組即可求得dx，dy，dz和d。2.條紋計數法(FC法)的計算方法解此線性代數方程組即可求得8310.2.4條紋定域問題1)剛體面內平移，條紋在無限遠處。

2)垂直表面移動，條紋在無限遠處。

3)當物體旋轉或變形的一般情況時，條紋定域在物表面前或后。

4)當物體繞在其本身平面內的軸旋轉時，條紋是與旋轉軸平行的平行線，且定域在物體表面。10.2.4條紋定域問題1)剛體面內平移，條紋在無限遠處。8410.2.4條紋定域問題圖10-9成像系統的光路圖10.2.4條紋定域問題圖10-9成像系統的光路圖8510.2.4條紋定域問題10.2.4條紋定域問題8610.2.4條紋定域問題10.2.4條紋定域問題8710.2.4條紋定域問題圖10-10再現像的幾何分析10.2.4條紋定域問題圖10-10再現像的幾何分析8810.2.4條紋定域問題圖10-11剛體位移的條紋照片

a)作平面內移動的剛體的兩次曝光全息圖，在物體表面看不到條紋

b)在透鏡焦平面上看到的由剛體平移產生的條紋

c)在透鏡焦平面上看到的由剛體垂直移動產生的條紋10.2.4條紋定域問題圖10-11剛體位移的條紋照片

8910.2.5位移測量中的幾個問題1.剛體位移

2.大變形和高變形梯度

3.測量精度問題10.2.5位移測量中的幾個問題1.剛體位移

2.大變形和902.大變形和高變形梯度1)條紋補償，給一個相反方向的已知剛體位移。

2)像平面全息圖法，小區域放大。

3)差分干涉法，瞬時、兩次記錄。2.大變形和高變形梯度1)條紋補償，給一個相反方向的已知剛體913.測量精度問題1)部分誤差是由測量本身帶來的，如對方向、小級次條紋的測量、條紋讀數誤差等技術而引入的問題。

2)因測量系統的布置所帶來的誤差。

①單張全息圖中，由于全息圖的尺寸有限，因此觀察方向的改變是不大的，幾乎是平行的。很小的讀數誤差也會引起很大的位移誤差。多張全息圖法應使k1、k2、k3的夾角較大且不共面。已有人用線性代數的方法做了估計，為了減少誤差，可以采用多張全息圖多方向觀察，再用最小二乘法處理。

②一般稱入射角與反射角的夾角平分線方向的向量為靈敏度向量，當安排光路系統時，若事先做好分析，盡可能使位移向量與靈敏向量一致，則可以大大提高位移測量的精度。3.測量精度問題1)部分誤差是由測量本身帶來的，如對方向、小923.測量精度問題③由于條紋定域問題而不清晰的條紋，應采用小孔徑透鏡成像。

④物與全息圖的距離應合適，否則對每一點，照明激光的入射角和全息干板的接收角不同。3.測量精度問題③由于條紋定域問題而不清晰的條紋，應采用小9310.3測量振動的全息干涉術10.3.1概述

10.3.2時間平均法

10.3.3頻閃法10.3測量振動的全息干涉術10.3.1概述

10.3.9410.3.1概述用全息干涉法測量物體的振動，最早是Powell和Stetron在1965年提出的。經過幾十年的努力，研究者們提出了適用于各種不同情況和各具特點的方法，已達十幾種之多，可以說，在全息振動分析方面，一套比較完整的方法已經基本形成。全息測振和全息照相、全息干涉測位移法一樣，對物體表面無特殊要求，測量是非接觸式的。10.3.1概述用全息干涉法測量物體的振動，最早是Powe9510.3.2時間平均法1.一次曝光時間平均法

2.二次曝光時間平均法

3.實時時間平均法10.3.2時間平均法1.一次曝光時間平均法

2.二次曝光961.一次曝光時間平均法(1)振動信息的記錄對做穩態周期振動的物體，用比物體振動周期大得多的曝光時間進行記錄，這樣獲得的全息圖，在參考光束的照射下，可以給出附有干涉條紋的原物體像，這些干涉條紋帶有物體振幅的信息，這種振動的記錄方法就叫做時間平均法。

(2)干涉條紋的分析為了便于說明問題，我們通過對一受橫向正弦振動的板的振動的記錄，來分析一次曝光時間平均法中條紋與物體振幅的關系。1.一次曝光時間平均法(1)振動信息的記錄對做穩態周期振動97(1)振動信息的記錄圖10-12周邊固支板受橫向正弦振動(1)振動信息的記錄圖10-12周邊固支板受橫向正弦振動98(2)干涉條紋的分析(2)干涉條紋的分析99(2)干涉條紋的分析圖10-13一次曝光法光強的貝塞爾函數分布圖(2)干涉條紋的分析圖10-13一次曝光法光強的貝塞爾函1002.二次曝光時間平均法圖10-14二次曝光法光強的分布圖2.二次曝光時間平均法圖10-14二次曝光法光強的分布圖10110.3.3頻閃法1.共振狀態的正確判斷

2.三維振動狀態振幅的計算

3.振動時相位的測定10.3.3頻閃法1.共振狀態的正確判斷

2.三維振動狀態1021.共振狀態的正確判斷圖10-15測振動模態時激振和監測系統1.共振狀態的正確判斷圖10-15測振動模態時激振和監測系1033.振動時相位的測定圖10-16汽車輪輻不同振動模態的全息條紋圖3.振動時相位的測定圖10-16汽車輪輻不同振動模態的全息10410.4全息光彈的兩次曝光法10.4.1簡介

10.4.2光路安排和紀錄過程

10.4.3波前分析10.4全息光彈的兩次曝光法10.4.1簡介

10.4.10510.4.1簡介全息光彈性是全息干涉法在光彈性中的應用。受力物體由透明雙折射材料制成,運用全息干涉法,可以獲得主應力和的信息。在光彈性中采用的全息干涉法,最常用的是兩次曝光法。10.4.1簡介全息光彈性是全息干涉法在光彈性中的應用。受10610.4.2光路安排和紀錄過程圖10-17全息光彈性的光路圖

a)記錄光路b)再現光路10.4.2光路安排和紀錄過程圖10-17全息光彈性的光10710.4.3波前分析1.兩次曝光

2.再現像的光強分析

3.等和線條紋的分離10.4.3波前分析1.兩次曝光

2.再現像的光強分析

31083.等和線條紋的分離(1)用兩種模型材料法分離條紋比較方便易行的方法是使用光學不靈敏材料用兩次曝光法單獨獲得等和線，而等差線用光學靈敏材料一次曝光獲得。

(2)用旋光法分離條紋在定量計算中，用兩種材料制作模型是不方便的，采用旋光法，可以將在兩次曝光法得到的同時呈現的等和線條紋與等差線條紋進行分離，因此是更理想的方法，不過缺點是要求更多的設備和更復雜的光路調試。3.等和線條紋的分離(1)用兩種模型材料法分離條紋比較方便1093.等和線條紋的分離圖10-18圓環對徑受壓等和線與

等差線混合條紋圖3.等和線條紋的分離圖10-18圓環對徑受壓等和線與

等差110(2)用旋光法分離條紋圖10-19旋光法分離條紋的光路圖

1—外腔激光器2—快門3—分光鏡4—1/4波片5—擴束鏡

6—準直徑7—受力模型8—旋光元件9—全反鏡

10—全息底片11—輸出透