中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

JJG343—2012

光滑極限量規(guī)

PlainLimitGauges

2012-03-20發(fā)布2012-09-20實(shí)施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJG343—2012

光滑極限量規(guī)檢定規(guī)程??

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ofPlainLimitGauges

歸口單位全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會

:

主要起草單位遼寧省計量科學(xué)研究院

:

參加起草單位廣東省計量科學(xué)研究院

:

本規(guī)程委托全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋

JJG343—2012

本規(guī)程主要起草人

:

石作德遼寧省計量科學(xué)研究院

()

張明遼寧省計量科學(xué)研究院

()

張瑜遼寧省計量科學(xué)研究院

()

參加起草人

:

張勇廣東省計量科學(xué)研究院

()

JJG343—2012

目錄

引言………………………

(Ⅱ)

范圍……………………

1(1)

引用文件………………

2(1)

術(shù)語和計量單位………………………

3(1)

光滑極限量規(guī)………………………

3.1(1)

概述……………………

4(1)

計量性能要求…………

5(2)

測量面的表面粗糙度………………

5.1(2)

量規(guī)的形位誤差……………………

5.2(2)

量規(guī)的尺寸…………

5.3(3)

通用技術(shù)要求…………

6(5)

計量器具控制…………

7(5)

檢定條件……………

7.1(5)

檢定項(xiàng)目……………

7.2(6)

檢定方法……………

7.3(6)

檢定結(jié)果的處理……………………

7.4(9)

檢定周期……………

7.5(9)

附錄光滑塞規(guī)直徑尺寸測量結(jié)果的不確定度評定報告…………

A(10)

附錄校對塞規(guī)直徑尺寸測量結(jié)果的不確定度評定報告…………

B(14)

附錄量規(guī)的代號使用規(guī)則尺寸公差帶及其位置……………

C、、(18)

附錄孔和軸的基本公差數(shù)值………

D(19)

附錄全形塞規(guī)尺寸測量示例………

E(24)

附錄檢定證書檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息及格式…………………

F/(25)

Ⅰ

JJG343—2012

引言

光滑極限量規(guī)的編寫遵守國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)

JJG343《》JJF1002—2010《

則的規(guī)定以通用計量術(shù)語及定義幾何量測

》,JJF1001—2011《》、JJF1130—2005《

量設(shè)備校準(zhǔn)中的不確定度評定指南光滑極限量規(guī)技術(shù)條件

》、GB/T1957—2006《》、

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范極限與配合第部分公差偏

GB/T1800.1—2009《(GPS)1:、

差和配合的基礎(chǔ)為基礎(chǔ)和依據(jù)對光滑極限量規(guī)進(jìn)行修訂的本

》,JJG343—1996《》。

規(guī)程替代光滑極限量規(guī)與光滑極限量規(guī)相比

JJG343—1996《》,JJG343—1996《》,

除編輯性修改外主要技術(shù)性變化如下

:

引用了光滑極限量規(guī)技術(shù)條件中光滑極限量規(guī)的定

———GB/T1957—2006《》

義見

(3.1);

引用了光滑極限量規(guī)技術(shù)條件中對光滑極限量規(guī)尺

———GB/T1957—2006《》

寸的技術(shù)要求見表

(2);

刪減了對硬度的技術(shù)要求

———;

全形塞規(guī)的圓度環(huán)規(guī)的圓度母線直線度卡規(guī)測量面的平面度卡規(guī)測量

———、,,,

面的平行度統(tǒng)一定義為量規(guī)的形位誤差見

(5.2);

修訂了對量規(guī)的形狀和位置誤差的技術(shù)要求見

———(5.3);

增加了對校對塞規(guī)的技術(shù)要求見

———(5.3);

增加了光滑塞規(guī)直徑尺寸測量結(jié)果的不確定度評定報告見附錄

———(A);

增加了校對塞規(guī)直徑尺寸測量結(jié)果的不確定度評定報告見附錄

———(B);

增加了量規(guī)的代號使用規(guī)則尺寸公差帶及其位置見附錄

———、、(C);

增加了孔和軸的基本公差數(shù)值見附錄

———(D);

增加了檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息及格式見附錄

———(F)。

光滑極限量規(guī)的歷次版本發(fā)布情況為

JJG343—1996《》:

光滑極限量規(guī)

———JJG343—1984《》。

Ⅱ

JJG343—2012

光滑極限量規(guī)檢定規(guī)程

1范圍

本規(guī)程適用于孔與軸基本尺寸至公差等級級至級的校對工

500mm、IT6IT16、

作光滑極限量規(guī)的首次檢定后續(xù)檢定和使用中檢查

、。

2引用文件

本規(guī)程引用下列文件

:

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范極限與配合第部分公

GB/T1800.1—2009(GPS)1:

差偏差和配合的基礎(chǔ)

、

光滑極限量規(guī)技術(shù)條件

GB/T1957—2006

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)程凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)程

,()。

3術(shù)語和計量單位

通用計量術(shù)語及定義光滑極限量規(guī)技

JJF1001—2011《》、GB/T1957—2006《

術(shù)條件中界定的及以下術(shù)語和定義適用于本規(guī)程

》。

光滑極限量規(guī)

3.1plainlimitgauges

具有以孔或軸的最大極限尺寸或最小極限尺寸為公稱尺寸的標(biāo)準(zhǔn)測量面能反映控

,

制被檢孔或軸邊界條件的無刻線長度測量器具

。

4概述

光滑極限量規(guī)以下簡稱量規(guī)主要分為塞規(guī)環(huán)規(guī)和卡規(guī)三大類

(“”)、。

塞規(guī)是用于孔徑檢驗(yàn)的光滑極限量規(guī)其測量面為外圓柱面球面等其中塞規(guī)