標準解讀

《GB/T 11297.9-2015 熱釋電材料介質損耗角正切tanδ的測試方法》與之前的版本《GB/T 11297.9-1989》相比,主要在以下幾個方面進行了更新和調整:

  1. 技術內容的更新:新版標準依據當前熱釋電材料的技術發展和測試技術的進步,對測試原理、設備要求、測試條件及步驟等核心內容進行了修訂,以確保測試方法的準確性和適用性。

  2. 測試精度提升:為適應高精度測量需求,2015版標準可能引入了更嚴格的誤差控制標準和校準程序,旨在提高測試結果的重復性和準確性。

  3. 儀器設備要求:鑒于科技進步,新標準對測試所用的儀器設備性能提出了新的要求,可能包括但不限于更高的頻率范圍、更精確的測量功能以及數據處理能力的增強,以符合現代實驗技術的標準。

  4. 測試程序的優化:對測試程序進行了優化,可能包括簡化操作流程、明確關鍵步驟的執行細節,以及增加對測試環境控制的具體指導,從而幫助用戶更有效地進行測試。

  5. 安全規范的加強:考慮到實驗室安全的重要性,新標準可能加入了更多關于操作安全、樣品處理及廢棄物處置的規定,以保障實驗人員的安全和環境保護。

  6. 術語和定義的完善:根據行業發展的需要,2015版標準對相關專業術語和定義進行了修訂或增補,使得標準的表述更加清晰、統一,便于讀者理解。

  7. 標準化引用文件更新:為了保持與其他現行標準的一致性,新標準更新了參考文獻和引用標準清單,確保所有引用均為最新有效版本。


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....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2015-12-31 頒布
  • 2016-07-01 實施
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GB/T 11297.9-2015熱釋電材料介質損耗角正切tanδ的測試方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31020

L90.

中華人民共和國國家標準

GB/T112979—2015

代替.

GB/T11297.9—1989

熱釋電材料介質損耗角正切tanδ的

測試方法

Testmethodfordielectrictangentoflossangleofpyroelectricmaterials

2015-12-31發布2016-07-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

中華人民共和國

國家標準

熱釋電材料介質損耗角正切tanδ的

測試方法

GB/T11297.9—2015

*

中國標準出版社出版發行

北京市朝陽區和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區三里河北街號

16(100045)

網址

:

服務熱線

:400-168-0010

年月第一版

20162

*

書號

:155066·1-52306

版權專有侵權必究

GB/T112979—2015

.

前言

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替熱釋電材料介質損耗角正切δ的測試方法本部分與

GB/T11297.9—1989《tan》。

相比主要技術變化如下

GB11297.9—1989,:

修改了適用的頻率范圍見第章

———(1);

修改了試樣尺寸要求見第章年版

———(6,19893.2);

增加了測量引線的要求見第章

———(7);

修改了頻率最大允許誤差見第章年版

———(7,19894.2);

修改了δ值的測量最大允許誤差見第章年版

———tan(7,19894.1);

修改了試樣處理見年版

———(8.1,19895.1);

增加了先將樣品盒放入恒溫器內再將樣品夾具接入樣品盒內和通過儀器的開路和短路校

———“,”

準直接測得試樣的介質損耗角正切δ見

,tan[8.2b)~f)]。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出

本部分由工業和信息化部電子工業標準化研究院歸口

本部分起草單位中國科學院上海硅酸鹽研究所

:。

本部分主要起草人姚春華曹菲董顯林王根水王永齡

:、、、、。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T11297.9—1989。

GB/T112979—2015

.

熱釋電材料介質損耗角正切tanδ的

測試方法

1范圍

本部分規定了熱釋電陶瓷晶體和有機材料在范圍的介質損耗角正切δ的測

、100Hz~100kHztan

量方法

本部分適用于測量鈦酸鉛鋯鈦酸鉛鈦酸鍶鋇鉭鈧酸鉛等熱釋電陶瓷材料和鈮鎂酸鉛鉭酸鋰

、、、、、

三甘氨酸硫酸鹽族等熱釋電晶體材料的介質損耗角正切δ也適用于測量其他類似陶瓷晶體及有

tan,、

機熱釋電材料的介質損耗角正切δ

tan。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

紅外探測材料中半導體光電材料和熱釋電材料常用名詞術語

SJ/T11067

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

SJ/T11067。

31

.

介質損耗dielectricloss

任何電介質包括熱釋電材料在交變電場作用下由于發熱而產生的電能損耗

()。

4測量原理

衡量這種損耗大小的因子是δ稱為介質損耗角δ的正切值是一個無量綱物理量介質損耗

tan,(),。

角δ表示為有功功率P與無功功率Q的比值見式

()()(),(1)。

P

δ=

tanQ…………(1)

介質損耗角正切δ的測量和計算方法有兩種等效電路圖分別表示這兩種等效電路及其矢

(tan),1

量圖解

由圖可見并聯損耗角正切可表示為式

1,(2):

I

δ=R=1

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