溫度循環(huán)與冷熱沖擊的區(qū)別_第1頁
溫度循環(huán)與冷熱沖擊的區(qū)別_第2頁
溫度循環(huán)與冷熱沖擊的區(qū)別_第3頁
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文檔簡介

1、想想他說的有道理,溫沖應(yīng)該是針對(duì)結(jié)構(gòu)性,工藝性的缺陷的測試,而溫 度變化是把器件缺陷暴露出來,當(dāng)然材料缺陷也可以發(fā)現(xiàn)。實(shí)踐中,溫度變化速度一般為5到10度每分鐘,低之變成了高低溫試驗(yàn), 高了我們稱為快速溫變,溫度變化呈線性,試驗(yàn)時(shí)間一般較長,短時(shí)間難以發(fā) 現(xiàn)產(chǎn)品缺陷溫沖一般規(guī)定變化時(shí)間在5min以內(nèi),指溫度點(diǎn)到達(dá)穩(wěn)定時(shí)耗的時(shí)間,溫度 變化不追求線性,只追求速度,一般過沖較大(我們不是2箱式的,是吹風(fēng)式 的),再有一個(gè)證據(jù)支持timex觀點(diǎn)的是,做高低溫循環(huán)試驗(yàn)有時(shí)候會(huì)通電工作, 做溫沖比較少。我們實(shí)驗(yàn)室是做電子產(chǎn)品的,不知道其他產(chǎn)品的試驗(yàn)方法溫度沖擊和溫度循環(huán)可以統(tǒng)稱為溫度變化試驗(yàn),IEC稱之

2、為change of temperature。溫度變化方式有兩種,一種是規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間,譬如兩箱法的溫度 沖擊箱,一種是規(guī)定溫變率,普通的溫濕度或快速溫變箱(又有人叫EES 箱)、甚至是HALT箱都可以實(shí)現(xiàn)特定的溫變率,好像沒有哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)界定多大的 溫變率才叫做溫度沖擊。我覺得叫啥不重要,關(guān)鍵是要分清兩種方法的試驗(yàn)?zāi)康?,或者說想針對(duì)什 么失效模式,通常而言,溫度沖擊針對(duì)元器件級(jí)或工藝;溫度循環(huán)針對(duì)整機(jī), 譬如容差檢驗(yàn)方面,16樓斑竹貼的東西就解釋得很好,大家不妨在實(shí)際工作中 嘗試下二者的區(qū)別,有啥心得了在到此跟大家分享。失效機(jī)理不一樣:1.溫度循環(huán)和溫度沖擊最大的區(qū)別是溫度變化率的大小區(qū)別。這就導(dǎo)

3、致了在不同溫度變化率的情況下,物質(zhì)的熱脹冷縮的性能區(qū)別。不同材料的CTE的能力不同,溫度變化太快的話,會(huì)對(duì)材料的保持力(金屬 鍵-李自健-共價(jià)鍵-范德華力,主要將來就是長程有序(晶體)和短程有序(塑料)產(chǎn) 生影響,一般晶格結(jié)構(gòu)的材料(金屬鍵-李自健-共價(jià)鍵-范德華力)失效機(jī)理是CTE,但 是非晶格結(jié)構(gòu)(范德華力)的材料(如塑料材料)不僅是CTE,還會(huì)由于溫度變化太 快產(chǎn)生的內(nèi)部由于短程有序的分子間力的劇烈變化的龜裂。畏久以來,溫度循璘輿溫度衡擎再就法上就一直沒有明碓的定羲,若以IEC 60068Part 2-14Change of temperature 的定羲又匾分舄 Test Na:Rap

4、id change of temperature with prescribed time of transition,Test Nb:Change of temperature with specified rate of change 以及 Test Nc:Rapid change of temperature. two-fluid-bath method.Test Na具i腆屠溫度彳重亍擎言式瞬air to air),Test Nb屠溫度循璘言式聊air to air), Test Nc亦屠溫度ffiMa,不同於Na是Nc是探用嬖槽式液憩衡擎.美罩規(guī) MIL-STD-810F Metho

5、d 503.4則定羲舄富溫度燮化率超遏10c/分金童 日寺定羲舄溫度彳重亍擎,IPC 9701則定羲富溫度燮化率=20c/分童日寺舄溫度循,20c/分 童日寺舄溫度衡擎言式.溫度循璘輿溫度衡擎使用寺檄輿走品型憩及走品生命遇期 所的任矜需求有瞬使用上需慎以免遏雁力(Over strress)造成走品%冬其一生 都不畬出現(xiàn)的失效的模式再言式中出現(xiàn)津寸於使用在汽卓引擎室及卓身外部的卓 雷走品在斡行可靠度,言登寺可考慮探用Liquid to Liquid的溫度彳重亍擎,日系瘢商葷寸 於PCB裸板(Bare board)亦俺向探用Liquid to Liquid的溫度彳重亍擎,至於SMT彳爰的 PCBA則大都以溫度循璘舄主要登方式才能充分登CTE效雁葷寸可靠度所走生 的影爵溫度循環(huán)試驗(yàn)Temperature Cycling Test溫度循環(huán)效應(yīng):喪失電性功能,潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用,焊點(diǎn)裂化、PCB脫層、結(jié)構(gòu)喪失 機(jī)械強(qiáng)度與塑性變形,玻璃與光學(xué)制品破裂,焊點(diǎn)裂錫,零件特性能退化,斷裂,移動(dòng) 件松弛,材料收縮膨脹,氣密與絕緣保護(hù)失效.1.環(huán)境模擬試驗(yàn)為主要目的,在試驗(yàn)應(yīng)用上以高/低溫緩慢變化為主。2.觀察焊點(diǎn)可靠度(SolderReliability)為主要目的,則以快速溫度變化為主,目前針對(duì)PCBA之無鉛焊

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