標準解讀
《GB/T 5080.6-1996 設備可靠性試驗 恒定失效率假設的有效性檢驗》與《GB 5080.6-1985》相比,在內容和結構上進行了調整。主要變化包括:
- 標準編號從GB變更為GB/T,表明該標準性質由強制性國家標準轉變為推薦性國家標準。
- 對于術語定義部分進行了更新和完善,增加了對一些關鍵概念的解釋說明,使得文檔更加易于理解。
- 在方法論方面,《GB/T 5080.6-1996》細化了恒定失效率假設有效性檢驗的具體步驟和技術要求,提供了更詳細的指導原則,增強了其實用性和操作性。
- 引入了新的統計分析工具和技術,比如使用不同的置信水平來評估設備或系統的性能指標,提高了測試結果的準確度和可靠性。
- 增加了案例研究或示例章節,通過具體實例展示如何應用本標準進行實際操作,有助于讀者更好地理解和掌握相關知識。
- 針對試驗報告的內容及格式提出了明確的要求,確保了不同機構之間試驗結果的一致性和可比性。
這些改變反映了技術進步以及行業需求的變化,旨在提高設備可靠性試驗的標準性和科學性。
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- 現行
- 正在執行有效
- 1996-09-09 頒布
- 1997-05-01 實施




文檔簡介
ICS21.020元05中華人民共和國國家標準GB/T5080.6-1996idtIEC605-6:1989設備可靠性試驗恒定失效率假設的有效性檢驗EquipmentreliabilitytestingTestsforthevalidityofaconstantfailurerateassumption1996-09-09發布1997-05-01實施國家技術監督局發布
GB/T5080.6-1996前GB5080.6—85是等同采用國際標準IEC605-6:1989《設備可靠性試驗第6部分:恒定失效率假設的有效性檢驗》編制而成的。經原國家標準局批準于1986年1月1日發布實施。幾年來此標準未作過修改。1989年7月,IEC/TC56發布了對IEC605-6標準的第一次修訂本,該出版物僅對IEC605-6:1989的表1%分布數值表中的部分數據作了修改。本次GB5080.6—85的修訂就是以此為依據,對標準提供的表1元(")數值表部分數據作了同樣的修改,并對個別文字敘述也作了一些修訂,以使其內容更趨準確及便于理解。本標準自實施之日起代替GB5080.6—85。本標準由全國電子產品可靠性與維修性標準化技術委員會提出本標準由電子工業部標準化研究所歸口。本標準起草單位:電子工業部五所、本標準主要起草人:李新祥,廖小雄,莊文青。
GB/T5080.6-1996IEC前言1)在技術問題上IC的正式決定或認可是由各技術委員會作出的,它將代表各國家委員會的意見,對于所涉及到的問題盡可能達成一個一致的國際性意見。2)委員會提供本、推薦文本適用于國際應用,并已被各國家委員會所接受。3)為了促進國際的統一,IEC希望所有國家委員會應就本國條件的許可,盡量采用IC推薦的文本為本國標準。在IC推薦文本與相應的本國標準之間存在的任何差異,應盡可能地給子清楚的說明。本標準修訂由IECTC56:可靠性與維修性技術委員會負責制定本修訂文本基于如下文件:2個月程序表決報告56(C014156(C0)147詳細信息可參見上述表決報告
中華人民共和國國家標準設備可靠性試驗GB/T5080.6--1996恒定失效率假設的有效性檢驗idtrec605-6.1989代替GB5080.6-85Equipmentreliabilitytesting-Testsforthevalidityofaconstantfailurerateassumption范圍本標準規定了對恒定失效率假設(即壽命服從指數分布假設)作統計有效性檢驗的方法,并推薦了在假設被拒絕后所采取的措施2引言通常,在以恒定失效率假設為前提作出可常性驗證試驗或測定試驗的結論之前,應先用本標準規定的檢驗法對恒定失效率假設作出檢驗。有效性檢驗應在可靠性試驗結束時,利用試驗中所有觀察到的關聯失效數據來實施必須認識到有效性檢驗是具有統計性質的,并且給出的結果是與拒絕真實假設的某個小的風險值相聯系的。本標準中檢驗法的顯著性水平設計在10%,即當假設為真時,拒絕假設的風險值為10%。本標準給出了適用于不同失效數的兩種檢驗法,每種檢驗法隨著觀察的失效數愈多就愈靈敏.在觀察的關聯失效數不滿三個就終止可靠性試驗的場合,例如允許失效數為0、1或2的驗證試驗·并且由于經濟、時間或其他原因不允許繼續試驗時,則接受恒定失效率假設,不必作有效性檢驗。如如果為了進一步得到信息延長試驗超出可靠性驗證試驗的判定點,利用所有數據所作的有效性檢驗的結果只能用于獲取信息的目的,附加的數據不應影響已作出的判定3符號與定義本標準所用的符號如下::與關聯失效數有關的參數。當有效性檢驗實施時刻與第,次失效出現的時刻相同時,-—1:否則=7;:每個區間中的關聯失效的期望數;M:受試產品的總數;·,:第個區間中觀察的關聯失效數;→:關聯失效總數;了:直至第次失效時的累積關聯試驗時間;T:直至最后一次失效時的累積關聯試驗時間;T
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