標準解讀

《GB/T 26071-2010 太陽能電池用硅單晶切割片》這一標準主要針對用于制造太陽能電池的硅單晶切割片的質量和技術要求進行了詳細規定。該文件涵蓋了硅片的基本參數、外觀質量、幾何尺寸及其偏差、電學性能等多個方面的要求。

對于基本參數，標準中明確了不同規格硅片的厚度范圍、直徑大小等關鍵指標；在外觀質量部分，則對硅片表面缺陷如劃痕、裂紋等做出了限制性描述，以確保材料的一致性和可靠性。此外，還特別指出了關于邊緣完整性的具體要求，防止因邊角損傷影響后續加工或使用效果。

幾何尺寸及其允許偏差方面，《GB/T 26071-2010》給出了精確數值，并且根據不同應用場景設定了相應等級的標準，便于生產企業根據實際需求選擇合適的規格進行生產。同時，考慮到硅片在運輸及儲存過程中可能遇到的問題，也提出了包裝與標識的相關指導原則，保證產品從出廠到最終用戶手中的全過程安全無損。

電學性能是評價太陽能電池用硅單晶切割片好壞的重要依據之一，《GB/T 26071-2010》對此也有明確規定，包括但不限于電阻率、少數載流子壽命等關鍵參數，旨在通過這些物理量來間接反映材料內部結構的純凈度以及潛在光電轉換效率。

最后，在檢驗規則章節里，標準提供了詳細的抽樣方法和測試程序，確保每一批次的產品都能達到既定的技術規范要求。這不僅有利于提高產品質量控制水平，也為買賣雙方提供了公平公正的交易基礎。


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  • 2011-01-10 頒布
  • 2011-10-01 實施
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文檔簡介

ICS29045

H80.

中華人民共和國國家標準

GB/T26071—2010

太陽能電池用硅單晶切割片

Mono-crystallinesiliconascutslicesforphotovoltaicsolarcells

2011-01-10發布2011-10-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T26071—2010

前言

本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會歸口

(SAC/TC203/SC2)。

本標準起草單位萬向硅峰電子股份有限公司上海九晶電子材料股份有限公司西安隆基硅材料

:、、

股份有限公司洛陽鴻泰半導體有限公司無錫尚德太陽能電力有限公司江西賽維太陽能有限

、、、LDK

公司杭州海納半導體有限公司

、。

本標準主要起草人樓春蘭鄭輝蔣建國張群社孫世龍黃笑容王飛堯段育紅朱興萍方強

:、、、、、、、、、、

汪貴發余俊軍袁文強金虹

、、、。

Ⅰ

GB/T26071—2010

太陽能電池用硅單晶切割片

1范圍

本標準規定了太陽能電池用硅單晶切割片簡稱硅片的技術要求試驗方法檢驗規則和標志包

()、、、

裝運輸貯存及質量證明書與訂貨單內容

、、。

本標準適用于直拉法制備的地面太陽能電池用硅單晶切割片

(CZ/MCZ)。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

非本征半導體材料導電類型測試方法

GB/T1550

硅鍺單晶電阻率測定直排四探針法

GB/T1552、

半導體單晶晶向測定方法

GB/T1555

計數抽樣檢驗程序第部分按接收質量限檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T2828.11:(AQL)

半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測定非接觸渦流法

GB/T6616

硅片厚度和總厚度變化測試方法

GB/T6618

硅片翹曲度非接觸式測試方法

GB/T6620

硅片徑向電阻率變化的測量方法

GB/T11073

硅片直徑測量方法

GB/T14140

半導體材料術語

GB/T14264

太陽電池用硅單晶

GB/T25076

硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法

GB/T26068

3術語

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T14264。

31

.

線痕sawmarks

在線切割過程中產生于硅片表面的切割痕跡

。

4要求

41產品分類

.

硅片按導電類型分為型型兩種類型按外形可分為準方形和圓形兩種

p、n;。

42規格

.

準方形硅片按其邊長分為或由供需雙方商定規格

125mm×125mm、156mm×156mm,。

圓形硅片按直徑或對角線長度尺寸分為?

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