ICS29045

H82.

中華人民共和國國家標準

GB/T26071—2018

代替

GB/T26071—2010

太陽能電池用硅單晶片

Monocrystallinesiliconwafersforsolarcells

2018-09-17發布2019-06-01實施

國家市場監督管理總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T26071—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替太陽能電池用硅單晶切割片與相比主要

GB/T26071—2010《》。GB/T26071—2010,

技術變化如下

:

將標準名稱太陽能電池用硅單晶切割片修改為太陽能電池用硅單晶片見封面年

———《》《》(,2010

版的封面

);

修改了范圍中本標準適用性的描述見第章年版的第章

———(1,20101);

修改了電阻率測定引用標準替代了見第章年版的第章

———,GB/T1551GB/T1552(2,20102);

增加引用標準和

———GB/T6619、GB/T14844、GB/T30859、GB/T30860、GB/T30869YS/T28

見第章年版的第章

(2,20102);

刪除了線痕的定義見年版

———(20103.1);

增加了產品牌號的表示方法見

———(4.1);

將產品分類中按外形可分為準方形和圓形兩種修改為按外形可分為準方形和方形兩種

———“”“”,

標準中刪除了圓形分類及其要求增加了方形見年版的

,(4.2.2,20104.1);

產品尺寸由準方形硅片按其邊長分為修改為準方形

———“125mm×125mm、156mm×156mm”“

硅片按其邊長分為見

100.75mm、125.75mm、156Ⅰ、156Ⅱ、156Ⅲ、161.75mm、210.75mm”(

年版的

4.2.2,20104.2);

刪除了圓形硅片的尺寸增加了方形硅片按其尺寸可分為

———,“100.75mm、125.75mm、

的要求見年版的

156.75mm、210.75mm”(4.2.2,20104.2);

增加了理化性能即硅片的晶體完整性氧含量和碳含量應符合的規定如有

———,“、GB/T25076。

需要由供方提供各項檢驗結果見

,”(5.1);

增加了硅片厚度相對應的要求刪除了硅片厚度

———“130±15、140±15、150±15、170±20”;“220±

相對應的要求修改了翹曲度指標要求見年版的

20、240±20”;(5.2.1,20104.3.1);

修改了準方形硅片尺寸的要求見年版的

———(5.2.2,20104.3.2);

增加了方形硅片尺寸的要求見

———(5.2.3);

刪除了硅片的導電類型摻雜劑少數載流子壽命和晶體完整性應符合的規定

———“、、GB/T25076”

見年版的

(20104.3.3.1);

電學性能參數中的電阻率范圍下限由改為型型見

———0.5Ω·cmP0.2Ω·cm,N0.1Ω·cm(

年版的

5.3.2,20104.3.3.2);

修改了晶向偏離度的要求見年版的

———(5.4,20104.3.4);

修改了硅片線痕深度崩邊缺口的要求見年版的

———、、(5.5,20104.3.5);

修改了導電類型和晶向的檢查水平見表年版的表

———(6,20106)。

本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會與全國半導體設備和材料標準

(SAC/TC203)

化技術委員會材料分會共同提出并歸口

(SAC/TC203/SC2)。

本標準起草單位浙江省硅材料質量檢驗中心有研半導體材料有限公司泰州隆基樂葉光伏科技

:、、

有限公司蘇州協鑫光伏科技有限公司隆基綠能科技股份有限公司內蒙古中環光伏材料有限公司宜

、、、、

昌南玻硅材料有限公司有色金屬技術經濟研究院

、。

本標準主要起草人樓春蘭毛衛中鄒劍秋汪新華孫燕楊素心劉培東宮龍飛鄧浩李建弘

:、、、、、、、、、、

徐博許國華張軍

、、。

本標準所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T26071—2010。

Ⅰ

GB/T26071—2018

太陽能電池用硅單晶片

1范圍

本標準規定了太陽能電池用硅單晶片簡稱硅片的牌號及分類要求試驗方法檢驗規則標志

()、、、、、

包裝運輸貯存質量證明書和訂貨單或合同內容等

、、、()。

本標準適用于由直拉法制備的硅單晶加工成的準方形或方形硅片產品用于制作太陽能電池的襯

,

底片

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

非本征半導體材料導電類型測試方法

GB/T1550

硅單晶電阻率測定方法

GB/T1551

半導體單晶晶向測定方法

GB/T1555

計數抽樣檢驗程序第部分按接收質量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法非接觸渦流法

GB/T6616

硅片厚度和總厚度變化測試方法

GB/T6618

硅片彎曲度測試方法

GB/T6619

硅片翹曲度非接觸式測試方法

GB/T6