標準解讀
《GB/T 2423.27-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》相較于1981年版的標準,進行了多方面的更新與調整。首先,在標準的名稱上有所變化,新版更加明確地指出了試驗的具體類型,即“低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗”,這有助于使用者更準確地理解該標準的應用范圍。
其次,2005年的版本對試驗條件、設備要求以及操作步驟等做了更為詳細的規定。比如,對于溫度變化速率、濕度控制精度等方面提出了具體數值要求,并且增加了對試驗過程中監測點設置和數據記錄的要求,以確保試驗結果的一致性和可比性。
此外,新標準還加強了安全防護措施的內容,包括但不限于電氣安全、防火防爆等方面,旨在保障實驗人員的人身安全及環境保護。同時,針對不同類型的被試品(如敏感電子元件),也給出了相應的特殊處理建議,體現了更高的專業性和實用性。
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文檔簡介
ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.27-2005/IEC60068-2-39:1976代替GB/T2423.27—1981電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Part2:Testsmethods--TestZ/AMD:Combinedsequentialcold.lowairpressureanddampheattest(IEC60068-2-39:1976,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2:TestsTestZ/AMD:Combinedsequentialcold,lowairpressureanddampheattest,IDT)2005-08-26發布2006-04-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會
GB/T2423.27-2005/IEC60068-2-39:1976三次前言:·目的2試驗的一般說明3試驗設備的說明4試驗程序5預處理6初始檢測7條件試驗8最后檢測10相關規范應作出的信息·
GB/T2423.27-2005/IEC60068-2-39:1976本部分是GB/T2423《電工電子產品環境試驗》的一部分。本部分等同采用IEC60068-2-39:1976《基本環境試驗規程第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續綜合試驗》英文版)本部分技術內容與IEC60068-2-39:1976《基本環境試驗規程第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續綜合試驗》英文版)相同,編寫格式與表達方式符合GB/T1.1—2000和GB/T20000.2-2001的有關規定為便于使用,本部分對于IEC60068-2-39:1976作了下列編輯性修改:a)為了GB/T2423(電工電子產品環境試驗》各部分的名稱協調一致.本部分未完全采用IEC60068-2-39:1976的中文譯名.而改為《電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》:b)刪除了IEC60068-2-39:1976的前言。本部分發布實施后代替GB/T2423.27—1981《電工電子產品基本環境試驗規程武驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》。本部分與GB/T2423.27—1981相比主要變化如下:a)為了GB/T2423《電工電子產品環境試驗》各部分的名稱協調一致.本部分名稱改為《電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》;b)第1章“目的”和第2章“試驗的一般說明”的文字敘述與原來有所不同。本部分由中國電器工業協會提出。本部分由全國電工電子產品環境技術標準化技術委員會歸口本部分起草單位:信息產業部電子第五研究所本部分主要起草人:邱福來、張鋒。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:GB/T2423.27-1981
GB/T2423.27-2005/IEC60068-2-39:1976電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗目的本部分提供了由低溫、低氣壓和濕熱組成的標準環境試驗程序。首先低溫和低氣壓結合在一起.其次升溫,然后與濕熱條件結合在一起。本試驗應用了試驗A和試驗M。雖然未完全按照試驗D引人濕度,但用"Z/AMD"來表示本試驗最恰當和最具提示性,本試驗用于飛行器所使用的元器件和設備,特別是在非加熱和非增壓部位的元器件和設備2試驗的一般說明本試驗模擬飛行器升降期間,未增壓和溫度未控制的部位所遇到的環境條件。裝有彈性密封的非散熱元器件(例如帶插頭座的連接器)變冷時,會使密封件硬化和材料收縮,當周圍氣壓降低時這種密封可能損壞,造成內壓的損失。當飛行器降入潮濕大氣時而氣壓再升高時.低溫的元器件會遭受霜凍,潮濕大氣本身或融霜形成的游離水由于壓力差可進人元器件內,當密封件恢復正常彈性時.水分就留在元器件內。對于配有封蓋而又不帶排泄孔的非密封設備,同樣也可能發生積水現象試驗設備的說明3.1試驗箱應能使試驗樣品同時經受試驗A和試驗M分別規定的嚴醋范圍的低溫和低氣壓,在1h內能從極冷條件升到30℃~35C。在升溫且同時保持相當恒定的低氣壓期間,試驗箱在裝有試驗樣品的工作空間應具有加濕或導入水汽的裝置。3.2由于本試驗有水氣進入.并常導致絕緣電阻下降,因此試驗樣品的引線穿過試驗箱壁時應無破損或交連.并氣密密封。為此連接試驗樣品的引線本身應具有適當的尺寸和絕緣。3.3如果試驗樣品有運動的零部件,它們的運動可能會由于試驗樣品內部結冰而受到阻礙,那么試驗箱應具有監測這種運動的電子或機械裝置武驗程序試驗樣品的引線應和任何相連的密封裝配在一起.并應按3.2的規定具有適當的尺寸和絕緣。試驗樣品應按相關規范的規定以正常的工作狀態安裝在箱內。4.2當試驗樣品是帶插頭座的連接器時,除非相關規范另有規定.它們應處于插接狀態。此外相關規范還應說明多路連接器是全部還是部分通路需要接線。4.3如果相關規范要求試驗樣品在試驗期間或試驗結束
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