ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T122731—2017

代替.

GB/T12273—1996

有質(zhì)量評定的石英晶體元件

第1部分總規(guī)范

:

uartzcrstalunitsofassessedualit—Part1Genericsecification

Qyqy:p

(IEC60122-1:2002,MOD)

2017-05-31發(fā)布2017-12-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

有質(zhì)量評定的石英晶體元件

第1部分總規(guī)范

:

GB/T12273.1—2017

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20176

*

書號

:155066·1-56243

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T122731—2017

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

總則

1………………………1

范圍

1.1…………………1

規(guī)范性引用文件

1.2……………………1

優(yōu)先順序

1.3……………2

術(shù)語和一般要求

2…………………………3

通則

2.1…………………3

術(shù)語和定義

2.2…………………………3

優(yōu)先額定值和特性

2.3…………………14

標(biāo)志

2.4…………………17

質(zhì)量評定程序

3……………17

總則

3.1…………………17

初始制造階段

3.2………………………18

結(jié)構(gòu)相似元件

3.3………………………18

分包

3.4…………………18

制造商批準(zhǔn)

3.5…………………………18

批準(zhǔn)程序

3.6……………18

能力批準(zhǔn)程序

3.7………………………19

鑒定批準(zhǔn)程序

3.8………………………19

試驗程序

3.9……………19

篩選要求

3.10…………………………19

返工和返修

3.11………………………20

放行批證明

3.12………………………20

放行有效期

3.13………………………20

延期放行

3.14…………………………20

不檢查的參數(shù)

3.15……………………20

試驗和測量程序

4…………………………20

通則

4.1…………………20

替代的試驗方法

4.2……………………20

測量準(zhǔn)確度

4.3…………………………20

標(biāo)準(zhǔn)試驗條件

4.4………………………21

外觀檢驗

4.5……………21

尺寸檢驗和規(guī)檢程序

4.6………………21

Ⅰ

GB/T122731—2017

.

電氣試驗程序

4.7………………………21

機(jī)械和環(huán)境試驗程序

4.8………………23

耐久性試驗程序

4.9……………………27

附錄規(guī)范性附錄耐久性試驗

A()………………………28

附錄資料性附錄本部分與相比的結(jié)構(gòu)變化情況

B()IEC60122-1:2002…………31

附錄資料性附錄本部分與技術(shù)性差異及其原因

C()IEC60122-1:2002…………33

Ⅱ

GB/T122731—2017

.

前言

有質(zhì)量評定的石英晶體元件分為如下幾個部分

GB/T12273《》:

第部分總規(guī)范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分標(biāo)準(zhǔn)外形和引出端連接

———3:;

第部分分規(guī)范能力批準(zhǔn)

———4:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范能力批準(zhǔn)

———4.1:;

第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———5:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———5.1:。

本部分為的第部分

GB/T122731。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第部分總規(guī)

GB12273—1996《1:

范本部分與相比除編輯性修改外主要變化如下

》。GB/T12273—1996,:

標(biāo)準(zhǔn)編號根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)不同部分進(jìn)行了調(diào)整

———;

標(biāo)準(zhǔn)名稱由石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范改為有質(zhì)量評定的石英晶體元

———《》《

件第部分總規(guī)范

1:》;

根據(jù)電子元器件質(zhì)量認(rèn)證的通用規(guī)定修正了上一版中引用文件的條款

———,;

用環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)代替對應(yīng)的它們在本部分的引用中無技術(shù)性

———GB/T2423IEC60068,

差異

;

增加了壓電諧振器等效電路所用符號匯總見表各個特征頻率的定義符號及表達(dá)式匯總

———(1),、

見表各種壓電石英晶體元件電容比最小值見表串聯(lián)諧振頻率與各個特征頻率的近

(2),(3),

似數(shù)學(xué)表達(dá)式動態(tài)參數(shù)的數(shù)學(xué)表達(dá)式見表

,(4);

增加了阻抗電抗與頻率的對應(yīng)關(guān)系圖見圖增加了導(dǎo)納圓圖見圖

———、(2),(3);

在頻率和諧振電阻的測量中增加了網(wǎng)絡(luò)分析法的引用見

———(4.7.1);

增加了試驗測量方法的引用見

———DLD(4.7.2)。

本部分使用重新起草法修改采用有質(zhì)量評定的石英晶體元件第部分總規(guī)

IEC60122-1:2002《1:

范并將的修訂件作為附錄

》,IEC49/1015/CDIEC60122-1:20021A。

本部分與相比結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化附錄中給出了章條編號對照情況一覽表

IEC60122-1:2002,,B。

本部分與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過在其外側(cè)頁邊空白

IEC60122-1:2002,

位置的垂直單線進(jìn)行了標(biāo)識附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表

(|)。C。

本部分還作了下列編輯性修改

:

增加了第章懸置段的標(biāo)題總則

———IEC60122-1:20023“3.1”;

刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的參考文獻(xiàn)

———。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會北京晨晶電子有限公司工業(yè)和信息化部

:、、

電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

。

Ⅲ

GB/T122731—2017

.

本部分主要起草人章怡韓雪飛姜連生薛超

:、、、。

本部分所代替規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB12273—1990、GB/T12273—1996。

Ⅳ

GB/T122731—2017

.

有質(zhì)量評定的石英晶體元件

第1部分總規(guī)范

:

1總則

11范圍

.

的本部分規(guī)定了采用能力批準(zhǔn)程序或鑒定批準(zhǔn)程序評定質(zhì)量的石英晶體元件的試驗

GB/T12273

方法和通用要求

。

12規(guī)范性引用文件

.

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-

2-1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-

2-2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗

GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗交變濕熱

GB/T2423.4—20082:Db:(12h+

循環(huán)

12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.5—19952:Ea:(idt

IEC60068-2-27:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則碰撞

GB/T2423.6—19952:Eb:(idt

IEC60068-2-29:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗自由跌落

GB/T2423.8—19952:Ed:(idt

IEC60068-2-32:1990)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗