ICS7104099

CCSG.04.

中華人民共和國國家標準

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

微束分析用于波譜和能譜分析的

粉末試樣制備方法

Microbeamanalysis—Methodofspecimenpreparationforanalysisof

generalpowdersusingWDSandEDS

ISO207202018IDT

(:,)

2021-12-31發布2022-07-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

縮略語

4……………………1

試樣制備方法

5……………1

導電性處理

6………………6

附錄資料性壓強對壓片射線強度影響的實例

A()X…………………7

附錄資料性顆粒尺寸對壓片射線強度影響的實例

B()X……………8

參考文獻

………………………9

Ⅰ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

。

本文件等同采用微束分析用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法

ISO20720:2018《》。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位中國地質科學院礦產資源研究所核工業北京地質研究院中國科學院地質與地

:、、

球物理研究所

。

本文件主要起草人陳振宇范光毛騫

:、、。

Ⅲ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

引言

雖然電子探針和掃描電鏡在粉末分析中廣泛應用但也存在一些困難特別是在

(EPMA)(SEM),,

單個顆粒分析的情況下如

,:

試樣制備過程中的顆粒團聚

a);

試樣的固定尤其是當存在少量細小顆粒用于表面分析或截面分析時

b),;

具有核殼結構的小顆粒的橫截面制備

c)-;

在顆粒表面對電子束敏感的情況下保護顆粒表面不受電子束輻照損傷

d),;

在電子輻照下對試樣荷電的中和以防止粉末由于電荷排斥而飛濺或分散

e),;

當產生射線的體積大于粉末顆粒時定性定量分析結果的解釋

f)X,、。

在分析粉末元素組成的情況下試樣制備也會影響分析結果因為顆粒聚集體或團聚體中的粗糙

,,

度空隙空間可以影響射線強度

、X。

為了克服這些困難對顆粒分析的試樣制備進行標準化是非常重要的

,。

Ⅳ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

微束分析用于波譜和能譜分析的

粉末試樣制備方法

1范圍

本文件規定了使用安裝在電子探針或掃描電鏡上的能譜儀或波譜儀

(EPMA)(SEM)(EDS)

分析粉末中的顆粒時的試樣制備方法根據分析目的和顆粒尺寸對粉末顆粒試樣的制備方法

(WDS)。,

進行了分類

。

本文件適用于粒徑范圍在的無機物顆粒

100nm~100μm。

本文件不適用于一些特殊應用如法醫分析或痕量分析

,。

2規范性引用文件

本文件沒有規范性引用文件

。

3術語和定義

本文件沒有需要界定的術語和定義

。

4縮略語

下列縮略語適用于本文件

。

能譜儀

EDS:(energy-dispersiveX-rayspectrometer)

能譜術

EDX:(energy-dispersiveX-rayspectroscopy)

能譜法

(energy-dispersiveX-rayspectrometry)

電子探針顯微分析

EPMA:(electronprobemicroanalysis)

電子探針顯微分析儀

(electronprobemicroanalyzer)

掃描電子顯微術

SEM: