1、福建正閩鋼圈制造有限公司統計過程控制作業指導書(SPC編號：JS-WI-003版本： A/0編制： 蔣可能審核： 高書輝批準：1目的提供SPC的使用準則及步驟，并說明使用方法，以便在運用控制圖時能夠正確地決定、檢討控制界限與進行控制圖的判讀。2范圍X-R 控制圖、P控制圖、Cpk （制程能力指數）的運用管理。3 定義3.1 計量值特性凡產品的品質特性以實際量測方式取得的特性稱為計量特性，例如重長等。3.2 計數值特性凡產品的品質特性不連續，不易或不能以實際量測方式取得，只能間斷取值的特性,例如不合格數、不良品率等。4職責4.1 相關部門：SPC的運用與維持。4.2 工程部：SPC勺使用的規劃。

2、5作業指導5.1 控制圖使用規劃及選擇原則5.1.1 使用規劃由QA及工程部根據各制造工序影響因素及質量影響因素，結合成 本及效益，全面規劃需采取控制圖控制的工序和產品特性。5.1.2 選擇原則5.1.2.1 計量值特性選用X-R控制圖。5.1.2.2 計數值特性選用P控制圖。5.2 控制圖繪制、使用步驟5.2.1 首次使用控制圖的作業程序5.2.1.1 決定須控制的特性。5.2.1.2 搜集25組數據。5.2.1.3 計算中心線（平均值）及控制上、下限。5.2.1.4 繪制控制圖。5.2.1.5 檢查是否有超出控制界限的點5.2.1.6 將這些超出控制界限的資料剔除并重新計算中心線（平均值）

3、及控制上、下限。5.2.1.7 決定控制圖的中心線（平均值）及控制上、下限。5.2.2 現場使用控制圖的作業程序5.2.2.1 在新的控制圖紙劃出控制圖的中心線（平均值）及控制上、下限。5.2.2.2 依規定的抽樣頻率及抽樣數，并將所得資料記錄于控制圖上，且依所使用的控制圖種類進行計算。5.2.2.3 將計算結果描點于控制圖上。5.2.2.4 控制圖判讀及異常控制圖糾正/預防措施5.2.2.5 檢討控制界限5.2.2.5.1 當完成一張控制圖時，根據控制圖圖紙上的資料重新計算中心線（平均值）及控制上、下限。計算時須剔除超出控制界的資料。1.1.2 .2比較計算前后之中心線（平均值）及控制上、下

4、限。1.1.3 .3若無重大差異時在新的控制圖紙延用計算前的中心線（平均值）1.1.4 .4若有明顯的差異時，可在新的控制圖紙使用計算后的控制中心線（平均值）及控制上、下限。5.3 控制圖判讀原則及異常控制圖的糾正/預防措施5.3.1 正常之控制圖其各點的動態為：5.3.1.1 多數的點集中在中心線附近。5.3.1.2 少數的點落在控制界限附近（但未超出控制界限）。5.3.1.3 各點的分布呈隨機狀態，無任何規則可循。5.3.2 異常控制圖的判讀5.3.2.1 任何超出控制限的點5.3.2.2 連續7個點在中心線之上或之下5.3.2.3 連續7個點上升或下降5.3.2.4 任何其它明顯的非隨機

5、圖形，如 2/3的描點應落在控制限1/3的中間區域，描點成規則形狀。5.3.3 異常之控制圖的糾正/預防措施5.3.3.1 出現任何超出控制界限的點，都應提請相關單位進行原因分析，并采取糾正措施。5.3.3.2 對于連續7個點在中心線之上或之下，或連續 7個點上升或下降，或其它明顯非隨 機圖形，都應提請相關部門分析原因，留意趨勢采取相應預防措施。5.3.3.3 如相關責任部門無視不良現象的存在或長期行動無效果，必要時發出糾正/預防措施要求書要求其改善。5.4 X R控制圖的使用方法X R越制圖是以控制平均值（X控制圖）與全距（R控制圖）的方式達到管制的目的。5.4.1 決定樣本數5.4.1.1

6、 使用X R控制圖的樣本數（n）以2 5個為適當，但不要超過10個為宜5.4.1.2 樣本數一經決定后必須在使用時固定不變。5.4.2 平均值與全距的計算5.4.2.1 平均值（X）=各組內數據的和一樣本數。5.4.2.2 全距_（R）=各組內的最大值最小值。5.4.3 X 控制圖與R控制圖之中心線與控制上、下限的計算公式。5.4.3.1 X 控制圖之中心線與控制上、下限的計算公式：中心線c反=文=各組平均的總廂+組數管制上限UC0 =為A2巨度中A2請依樣本數n查系繳表管制下限LCLX=X A2R5.4.3.2 R 控制圖之中心線與控制上、下限的計算公式：中心線 CLR - R =各組全距的

7、總和+組數=平均全距管制上限UCLR = D而|其中M請依樣本數n查系數表）管制下限LCLR = D3R 其中口3請依樣本數n查系數表）5.4.3.3 X R控制圖的系數表N2345678910A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31D21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.785.5 P控制圖的使用方法P控制圖是以控制不良率的方式達到控制的目的。5.5.1 決定樣本數5.5.1.1 使用P控制圖的樣本數（n）以能夠發

8、現1-5個不良品最為適當，樣本數的決定公 式為：7 1 此時平均不良率P可從過去資料得知,5.5.1.2 若未決定樣本數，導致控制下限小于 0,則下限取005.5.2 控制圖的控制界限必須依控制上、下限公式計算，若樣本改變時，以實際樣本數代入。5.5.3 P控制圖之中心線及控制上、下限的計算公式:中心線CLP = R=算，平均不良率管制上限UCLP= P * 3回國J其中樣本數nl依實際的樣本數代入 Jnl管制下限LCLP=P-3 而訪nl5.6制程能力指數Cpk使用規劃5.6.1工程部根據各制造過程或工序影響以及質量特性，全面規劃需進行制程能力控制的制程或工序并明確相應的Cpk值。5.6.2

9、制程能力指數 5.6.1.1使用制程能力指數時，應依統計學的原則，同時衡量制程中的集中（平均）與分數（變異）狀況，以確實掌握制程品質特性。5.6.1.2 Cpk值、Cpk等級、不合格率及相應措施關系列表如下衡量 等級Cpk值Cpk等級不良率（P）相應措施A2.0（含以 上）>6P< 0.000000002本公司的優勢，需要時配合 控制圖控制。B1.672.0>5P< 0.00000057希望制程能夠達到的水準， 應考慮配合控制圖進行控制C1.331.67>4P< 0.00006產品可免檢，但應考慮配合 控制圖控制。D1.01.33>3P< 0.0

10、027制程有改善空間，要改善并 可采取抽樣的方式檢驗產品E0.671.0>2P< 0.0455制程應進行專案改善并考慮 設置檢查站，確認唯肩合格 的批才可進入下TW程。F0.330.67<2P> 0.3174制程很差，應考慮實施全檢5.6.3 制程能力指數運用的前提5.6.3.1 所使用的規格上下限依內部或客戶要求。5.6.3.2 如客戶另有特定制程指數值要求時，另和客戶協商。5.6.3.3 指數計算的結果可能因抽樣誤差而有所差異，使用時掌握其等級，并采取適當措施即可。5.6.4 制程能力指數的計算5.6.4.1 符號說明USL表示規格上限。LSL:表示規格下限。X :表示所搜集或抽樣資料的平均。：表示自所搜集或抽樣資料中所推算（估計）的標準差。5.6.4.2 制程能力指數計算公式Cpk :相對于規格同時表示制程集中與變異的指數