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文檔簡介
1、數(shù)字移相的高精度脈寬測量系統(tǒng)及其FPGA實現(xiàn) :脈寬測量 數(shù)字移相 脈沖計數(shù)法 FPGA 在測量與儀器儀表領(lǐng)域,經(jīng)常需要對數(shù)字信號的脈沖寬度進行測量。這種測量通常采用脈沖計數(shù)法,即在待測信號的高電平或低電平用一高頻時鐘脈沖進行計數(shù),然后根據(jù)脈沖的個數(shù)計算待測信號寬度,如圖1所示。待測信號相對于計數(shù)時鐘通常是獨立的,其上升、下降沿不可能正好落在時鐘的邊沿上,因此該法的最大測量誤差為一個時鐘周期。例如采用80MHz的高頻時鐘,最大誤差為12.5ns。 提高脈沖計數(shù)法的精度通常有兩個
2、思路:提高計數(shù)時鐘頻率和使用時幅轉(zhuǎn)換技術(shù)。時鐘頻率越高,測量誤差越小,但是頻率越高對芯片的性能要求也越高。例如要求1ns的測量誤差時,時鐘頻率就需要提高到1GHz,此時一般計數(shù)器芯片很難正常工作,同時也會帶來電路板的布線、材料選擇、加工等諸多問題。時幅轉(zhuǎn)換技術(shù)雖然對時鐘頻率不要求,但由于采用模擬電路,在待測信號頻率比較高的情況下容易受噪聲干擾,而且當(dāng)要求連續(xù)測量信號的脈寬時,電路反應(yīng)的快速性方面就存在一定問題。 區(qū)別于以上兩種方法,本文提出另一種利用數(shù)字移相技術(shù)提高脈寬測量精度的思路并使用FPGA芯片實現(xiàn)測試系統(tǒng)。 1 測
3、量原理 所謂移相是指對于兩路同頻信號,以其中一路為參考信號,另一路相對于該參考信號做超前或滯后的移動形成相位差。數(shù)字移相通常采用延時方法,以延時的長短來決定兩數(shù)字信號間的相位差,本文提出的測量原理正是基于數(shù)字移相技術(shù)。如圖2所示,原始計數(shù)時鐘信號CLK0通過移相后得到CLK90、CLK180、CLK270,相位依次相差90°,用這四路時鐘信號同時驅(qū)動四個相同的計數(shù)器對待測信號進行計數(shù)。設(shè)時鐘頻率為f,周期為T,四個計數(shù)器的計數(shù)個數(shù)分別為m1、m2、m3和m4,則最后脈寬測量值為: w=(m1+m2+m3+m4)/
4、4×T (1) 可以看到,這種方法實際等效于將原始計數(shù)時鐘四倍頻,以4f的時鐘頻率對待測信號進行計數(shù)測量,從而將測量精度提高到原來的4倍。例如原始計數(shù)時鐘為80MHz時,系統(tǒng)的等效計數(shù)頻率則為320MHz,如果不考慮各路計數(shù)時鐘間的相對延遲時間誤差,其測量的最大誤差將降為原來的四分之一,僅為3.125ns。同時,該法保證了整個電路的最大工作頻率仍為f,避免了時鐘頻率提高帶來的一系列問題。 2 系統(tǒng)實現(xiàn) 系統(tǒng)實現(xiàn)的最關(guān)鍵部分是保證送入各計數(shù)器的時鐘相對延遲精度,即要保證計數(shù)時鐘之
5、間的相位差。由于通常原始時鐘頻率已經(jīng)相對較高(通常接近100MHz),周期在1020ns之間,因此對時鐘的延遲時間只有幾ns,使用普通的延遲線芯片無法達到精度要求;同時為了避免電路板內(nèi)芯片間傳送延遲的影響,保證測試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性和柔性。本文采用現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)來實現(xiàn)所提出的測量方法。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖3所示。晶振產(chǎn)生原始輸入時鐘,通過移相計數(shù)模塊后得到脈寬的測量值,測量結(jié)果送入FIFO緩存中,以加快數(shù)據(jù)處理速度,最后通過PCI總線完成與計算機的數(shù)據(jù)傳輸。邏輯控制用來協(xié)調(diào)各模塊間的時序,保證系統(tǒng)的正常運行。為提高測試系統(tǒng)的靈活性和方便性,系統(tǒng)建立了內(nèi)部寄存器,通過軟件修改寄存器的值可以
6、控制測試系統(tǒng)的啟動停止,選擇測量高電平或低電平等。移相計數(shù)模塊、FIFO緩沖以及邏輯控制均在FPGA芯片內(nèi)實現(xiàn),芯片使用XILINX公司的SpartanII系列。 SpartanII系列是一款高性能、低價位的FPGA芯片,其最高運行頻率為200MHz,這里選用其中的XC2S15-6(-6為速度等級)。芯片提供了四個高精度片內(nèi)數(shù)字延遲鎖定環(huán)路(Delay-Locked Loop,即DLL),可以保證芯片內(nèi)時鐘信號的零傳送延遲和低的時鐘歪斜(Clock Skew);同時可以方便地實現(xiàn)對時鐘信號的常用控制,如移相、倍頻、分頻等。在HDL程序設(shè)計中,可以使用符號CL
7、KDLL調(diào)用片內(nèi)DLL結(jié)構(gòu),其管腳圖如圖4所示。主要管腳說明如下: CLKIN:時鐘源輸入,其頻率范圍為25100MHz。 CLKFB:反饋或參考時鐘信號,只能從CLK0或CLK2X反饋輸入。 CLK?眼0|90|180|270?演:時鐘輸出,與輸入時鐘同頻,但相位依次相差90°。其內(nèi)部定義了屬性DUTY_CYCLE_CORRECTION,可以用來調(diào)整時鐘的占空比,值為FALSE時,輸出時鐘占空比和輸入時鐘一致,值為TRUE時將占空比調(diào)整為50%。
8、60; CLK2X:時鐘源倍頻輸出,且占空比自動調(diào)整為50%。 CLKDV:時鐘源分頻輸出,由屬性 CLKDV_DIVIDE控制N分頻,N可以為1.5、2、2.5、3、4、5、8或16。 LOCKED:該信號為低電平時,表示延遲鎖相環(huán)DLL還沒有鎖定信號,上述輸出時鐘信號未達到理想信號;當(dāng)變?yōu)楦唠娖綍r,表示鎖相環(huán)已經(jīng)完成信號鎖定,輸出時鐘信號可用。若時鐘源輸入頻率大于60MHz,則系統(tǒng)鎖定時間大約需20s。 利用DLL功能可以非常快速方便地構(gòu)建移相計數(shù)模塊,實現(xiàn)本文前面介紹的測量方法。移
9、相計數(shù)模塊結(jié)構(gòu)如圖5所示。原始時鐘通過CLKDLL處理后得到的相位依次相差90°的四路時鐘輸出為CLK0、CLK90、CLK180和CLK270,它們分別作為四個相同的16位計數(shù)器的計數(shù)時鐘,待測信號連接計數(shù)器的使能端,同時控制四個計數(shù)器的啟動和停止。有了各計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果,再通過加法器得到累加的計數(shù)個數(shù),最后計算出信號脈寬值。 3 仿真和精度分析 圖6給出了FPGA芯片內(nèi)部布線后用Modelsim進行仿真的結(jié)果。在RESET后就啟動移相計數(shù)模塊,開始對待測信號進行測量,完成一次測量后產(chǎn)生READY信號,同時輸出
10、測量結(jié)果,以供后續(xù)部分使用。仿真的結(jié)果證明測試系統(tǒng)達到設(shè)計目標(biāo)。 下面進一步對系統(tǒng)做深入的誤差分析。造成系統(tǒng)測量脈寬誤差的來源主要有系統(tǒng)原理誤差TS、時鐘相移誤差TP和信號延遲誤差Td以及計數(shù)時鐘抖晃TC,如圖7所示。 由前所述,當(dāng)80MHz晶振時鐘輸入時,系統(tǒng)原理誤差TS=3.125ns。時鐘相移誤差為從CLKDLL中出來的四路時鐘信號之間本身的相位偏移,根據(jù)芯片提供的參數(shù),其最大TP為200ps。計數(shù)時鐘抖晃是指從CLKDLL中輸出的時鐘信號本身周期的偏差,其最大TC為60ps。由于計數(shù)的時鐘周期數(shù)較多,故平均后其對整
11、個系統(tǒng)的測量誤差影響可以忽略不計。 信號延遲誤差即為由于芯片內(nèi)部各信號傳輸延遲不一致而造成的四個計數(shù)器計數(shù)的同步誤差。為分析該誤差情況,用ISE 5.1提供的Timing Analyzer程序?qū)﹃P(guān)鍵路徑做進一步的時間分析,得到的結(jié)果如表1所示。 表1 各信號到計數(shù)器的延遲分析(單位:ns) 計數(shù)器1 計數(shù)器2 計數(shù)器3 計數(shù)器4 計數(shù)時鐘延遲CLK0|90|180|270 3.294 3.562 3.640 3.149 待測信號延遲 3.962 4.665 4.843 4.767 時鐘相
12、對信號延遲 0.668 1.103 1.203 1.618 延遲誤差Td Td=1.618-0.668=0.950 表中第一欄為從CLKDLL中出來的計數(shù)時鐘到各自計數(shù)器的延遲時間,第二欄為用來控制計數(shù)器啟動停止的HF信號到四個計數(shù)器的時間。由于需要的是各計數(shù)時鐘間相對延遲時間,故第三欄給出時鐘相對于HF信號到計數(shù)器的延遲,即為第一欄和第二欄的差值。由此得出信號延遲誤差Td=0.950ns。 故有系統(tǒng)測量誤差為: =TS+TP+Td=4.275ns (2) 即脈寬測量最大誤差為±4.275ns。與脈沖計數(shù)法比較,同樣的80MHz時鐘輸入,最大測量誤差減小到原來的34.2%。 本文在數(shù)字移相技術(shù)的基礎(chǔ)上設(shè)計了一種高精度的脈寬測量系統(tǒng),使測量精度相對于脈沖計數(shù)法提高了多倍。若需進一步提高這種方法的測量精度,可以通過以下兩個方面進行改進:(1)繼續(xù)提高晶振頻率,尋求速
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