1、,.一、 1、數值孔徑（NA）：是物鏡前透鏡與被檢物體之間介質的折射率（n）和半孔徑角（）的正弦之乘積，即 NA= nsin 。2、分辨率： 樣品上相應的兩個物點間距離?r ，定義為透鏡能分辨的最小距離，也就是透鏡的分辨本領，即分辨率。3、放大率 M:物鏡放大率和目鏡放大率的乘積，即顯微鏡的總的放大率。4、有效放大率 :顯微鏡放大倍率的極限即有效放大倍率。二、光學顯微鏡的像差分哪幾種，如何消除球差？1)球差；2）色像差；3）色域彎曲消除球差的措施：可采用組合透鏡作為物鏡進行矯正，此外還可以在使用顯微鏡時適當調節孔徑光闌，控制入射光束的粗細，讓一束細光通過透鏡的中心部位，從而把球像差減小到最低限

2、度。三、什么是阿貝成像原理？請用作圖的方式表示之。定義：平行光束受到具有周期性特征物體的散射作用形成衍射譜，各級衍射波通過干涉重新在像平面上形成反映物體特征的像。四、物像與物體的相似性是由什么因素決定的？直射光和衍射光，物像是由直射光和衍射光互相干涉形成的，不讓衍射光通過就不能成像，參與成像的衍射斑點越多，物像與物體的相似性越好。1.僅僅反映樣品表面形貌信息的物理信號是（B）A 背散射電子 ; B 二次電子 ; C 吸收電子 ; D透射電子 ;2.在掃描電鏡中，下列二次電子像襯度最亮的區域是（B ）A 和電子束垂直的表面 ;B和電子束成 30°的表面 ;C 和電子束成 45°

3、;的表面吸收電子 ; D和電子束成 60°的表面 ;3. 可以探測表面 1nm層厚的樣品信息的物理信號是（D ）A 背散射電子 ; B吸收電子 ; C特征 X射線 ; D ;俄歇電子二、判斷題：1、掃描電鏡的物鏡與透射電鏡的物鏡是一致的。（ ）2、掃描電鏡的分辨率主要取決于物理信號而不是衍射效應和球差。（ ）;.,.3、掃描電鏡的襯度分形貌襯度和成分襯度兩種。（）4、掃描電鏡具有大的景深，所以它可以用來進行斷口形貌的分析觀察。（）三、填空題：掃描電子顯微鏡1、 . 電子束與固體樣品相互作用可以產生二次電子、 背散射電子、 俄歇電子、透射電子、 特征 X 射線 、 連續 X 射線等物理

4、信號。2、. 掃描電鏡的放大倍數是顯像管中電子束在熒屏上的掃描寬帶與電子光學系統中電子束在樣品上的掃描寬度的比值。在襯度像上，顆粒、凸起是亮襯度，而裂紋、凹坑則是暗襯度。3、. 分辨率最高的物理信號是俄歇電子為 0.4 nm，分辨率最低的物理信號是連續 X 射線為5000 nm 。4、 掃描電鏡的分辨率通常是指二次電子的分辨率。5、 掃描電鏡常用的信號是二次電子和 背散射電子。6、 電子束與輕元素的作用體積呈梨形，與重元素的作用體積呈半球形。TEM：透射電子顯微鏡SEM：掃描電子顯微鏡STM：掃描隧道顯微鏡四、 1用一句話概括掃描電鏡的工作原理。光柵掃描，逐點成像2、 掃描電鏡的電子光學系統包

5、括哪幾部分？電子槍，電磁透鏡，光闌，掃描系統和樣品室3、簡述掃描電鏡的基本結構及成像特點。掃描電鏡主要由電子光學系統、信號收集及圖像顯示和記錄系統、真空系統和電源系統三部分組成。成像特點 : 1)立體感； 2 ）放大倍數連續可調一、填空題：1.衍射發生的充要條件是：晶體強度（） 加 滿足布拉格方程。2.倒易矢量的方向是對應正空間晶面的法線方向，倒易矢量的長度等于對應晶面間距的倒數。3.只要倒易陣點落在厄瓦爾德球面上，就表示該晶面組 hkl 滿足 布拉格方程條件，能發生;.,.衍射。4.物相分析的三種手段分別是X 射線衍射、電子衍射和中子衍射三種，其中常用的兩種是X 射線衍射和高能電子衍射，它們

6、對應的分析儀器分別是X 射線衍射儀 和 電子衍射儀。5.產生 X 射線衍射的散射基元時內層電子，電子衍射的散射基元是原子核。6.有一倒易矢量 g*=2a*+2b*+c*,與它對應的正空間晶面是（221 ）。二、綜合題：1. 簡述厄瓦爾德圖解晶面發生衍射的具體作圖步驟。答： 對于單晶體，先畫出倒易點陣確定原點位置O。以倒易點陣原點為起點，沿x 射線入射反方向前進1/ 距離，找到厄瓦爾德球的球心O1 ( 晶體的位置）以1/ 為半徑作球，得到厄瓦爾德球。所有落在厄瓦爾德球的倒易點對應的晶面組均可參與衍射。2. 什么是系統消光？答：由于原子在晶胞中的位置不同而引起的某些方向上衍射線的消失稱為系統消光。

7、不同的晶體點陣的系統消光規律也各不相同。它所逆循的衍射規律即為結構因子。3. 根據結構因子的理論，推導三種立方結構晶體出現衍射面的規律。（要求按照晶面距由大到小的順序排列）答：面間距由大到小排列（110 ）、（ 220）、（ 211）、（ 220）、（ 310）4. 根據干涉函數的含義，討論納米材料在做衍射分析時，其衍射強度和衍射峰寬度會有什么特點？;.,.答：稱為干涉函數，是晶粒散射波強度和晶胞散射波強度的比值，描述晶粒尺寸的大小對散射波強度的影響。函數的主極大值等于沿a 方向的晶胞數的平方。主峰有強度范圍與晶體大小有關，晶體沿a 軸方向越薄，衍射極大值的峰寬越大。5. 為什么說 X 射線衍

8、射束的強度與晶胞中的原子位置和種類有關？6. 在多晶體的衍射強度公式中：指出多晶體、多重性因子、吸收因子、溫度因子的作用項，其中的G 和 F 是什么因子？這個公式對于電子衍射是否適用，若不適用，應該做哪些改進？答：7. 做出下列點陣的倒易點陣。8.當波長為 的 X 射線在晶體上發生衍射時，相鄰兩個（hkl ）晶面衍射線的波程差是多少？相鄰兩個HKL干涉面的波程差又是多少？答： 立方結構：（100）（ 110 ） （111 ）（ 123）100 110 1111 1/2 1/3面心立方：密排面（111）密排方向 110;.,.體心立方：（110 ） 1119. 何謂倒易矢量？它的基本性質是什么？

9、答：與正點陣相同，由倒易點陣基矢A、 B、C 可以定義倒易點陣矢量G=hA+kB+lC(h、k 、l 為整數 ) ，具有以上形式的矢量稱為倒易點陣矢量。性質：矢量的方向代表晶面的法線方向，矢量的長度代表晶面間距的倒數。10. “一束 X 射線照射一個原子列，只有鏡面反射方向才有可能產生衍射線”，此種說法是否正確？答：不正確。因為一束X 射線照射一個原子列上，原子列上每個原子受迫都會形成新的X 射線源向四周發射與入射光波長一致的新的X 射線，只要符合光的干涉條件，不同點光源間發出的X 射線都可產生干涉和衍射。鏡面反射，其光程差為0，是特殊情況。12. -Fe 屬立方晶系，點陣參數 a=0.286

10、6nm，如用 CuKX 射線（ =0.2291mm）照射，試求（ 110 ）、（200 ）、（ 211）可能發生衍射的掠射角。- -13. 證明（ 1 1 0 ）、（ 1 2 1 ）（ 3 2 1 ）晶面屬于 111 晶帶。14. 解釋短波限和物質吸收限的物理意義。 為何某物質的 K 系特征譜有 K、K 而其 K 系吸收限只有一個？K 、K 的波長和強度有什么不同？濾波片濾去的是哪種X 射線？答：短波限是連續X 射線中波長最短的X 射線，吸收限是X 射線與物質相互作用時，物質吸收系數隨 X 射線波長的減小而減小，但當 X 射線的能量與物質某一電子層的電離能相當時，吸收系數急劇升高，這時吸收系數

11、突變點對應的 X 射線波長稱為吸收限 。;.,.1.用 CuKX 射線攝得的Ni 3Al 徳拜相上共有十條衍射線，其對應 角為： 21.89 °、 25.55 °、 37.59 °、45.66 °、 48.37 °、 59.46 °、 69.64 °、 74.05 °、 74.61 °，已知Ni 3Al為立方晶系，試確定其晶體類型并標定指數。2. 如何操作 TEM使其從成像方式轉變為衍射方式？答： 透射電鏡是通過中間鏡來實現成像模式和衍射模式轉換的。 當中間鏡物面取在物鏡的像面上時，則將圖像進一步放大，為

12、 TEM的成像操作；當中間鏡散焦，物鏡取在物鏡后焦面，衍射譜放大，即轉變為衍射方式。3.有一多晶電子衍射花樣為六道同心圓環，其半徑分別是：8.42nm、 11.88 nm 、14.52 nm 、16.84 nm 、18.88 nm 、20.49 nm ，相機常數L=17.00mm ?，請標定衍射花樣并求晶格常數。4. 什么是景深、焦長， TEM的景深和焦長有什么特點 ?答：景深：焦點前后的一個距離范圍內所有物點所成的圖像符合分辨率要求，可以成清晰的圖像。或在保持清晰度的前提下，物平面沿鏡軸可以移動的距離。焦長：在保持清晰度的前提下，像平面沿鏡軸可以移動的距離。景深大，焦長長。5. 在 X 射線

13、衍射曲線中，單晶體衍射花樣的22連比sin 連比有什么規律，透射電鏡多晶體的衍射半徑R又有什么規律。6. 在衍射花樣中，如何確定兩種物質是簡單的物理混合還是發生了化學反應？;.,.7. PDF卡片的中文名稱是什么，從卡片中可以得到哪些有用信息？答：粉末衍射卡片1)面間距和相對強度；5)所用實驗條件；2) 最強衍射線的面間距和相對強度；6)物相的結晶學數據；3) 試樣的最大面間距和相對強度；7 ）物相的光學性質數據；4) 物相的化學式和名稱；8）化學分析、試樣來源、分解溫度、轉變點、熱處理、實驗溫度等；9）面間距、相對強度和干涉指數。8. 物相分析分哪兩種？以 X 射線衍射分析為例，說明物相定性

14、分析的步驟是什么？答: 定性分析、定量分析1、 根據 X 射線的衍射譜，確定各衍射線的d 值及相對強度。2、 根據試樣的成分及有關工藝條件，或參考文獻，初步確定試樣可能含有的物相。3、 按物相的英文名稱，從字順索引中找出相應的卡片號，依此找出相應卡片。4、將實驗測得的面間距和相對強度，與卡片上的值一一對比，如果吻合，則待分析試樣含有該卡片所記載的物相。 5、同理，可將其它物相一一定出。9. 在作衍射分析實驗時，選擇陽極靶和濾波片的原則是什么？答：陽極靶的選擇：Z 靶 Z 樣+1或Z靶 Z 樣濾波片的選擇：Z 靶<40，Z 濾 =Z 靶 1Z靶>40， Z 濾 =Z 靶 210.X

15、射線分哪兩種？連續X 射線的短波限、強度與什么因素有關？舉例說明特征X 射線的命名原則。答：連續 x 射線、特征x 射線連續譜短波限只與管壓有關，其強度由光子的能量hv 和光子的數目n 兩個因素決定命名原則：主字母代表終態，下標代表層序差1， 2。 , 例如 K ：LK， K：MK11.衍射分析的三種常用實驗方法是什么？XRD和 TEM常用的方法是哪種？答：勞埃法、轉動晶體法、粉末照相法粉末照相法12. 德拜相機相片的三種裝法是什么，各有和優缺點？在衍射膠片上如何區分高角區和低角區？答 : 正裝法、反裝法、偏裝法。正裝法部分衍射線條記錄不全；反裝法衍射線條幾乎全部可記錄；和反裝法有相同的優點，

16、衍射線條幾乎可全部記錄。Ka 譜線由波長不同的Ka1 和 Ka2 兩個譜線組成，兩個譜線;.,.是分開的，低角區分開程度小，疊成一條線，高角區開始明顯分成兩條線，角度越高，分得越大。13. XRD衍射儀的四個組成部分是什么？其典型的掃描方法有哪兩種？答：1、X 射線測角儀2 、 X 射線測角儀3、輻射探測器4、輻射探測電路連續掃描法，步進掃描法14. 透射電鏡的結構組成包括那幾部份？其中投影鏡的作用是什么？答:由電子光學系統，真空系統及電源與控制系統三部分組成。投影鏡的作用：把經中間鏡放大或（縮小）的像（或電子衍射花樣）進一步放大，并投影到光屛上。15. 透射電鏡的襯度像分幾種，在襯度中如何區

17、分輕重元素和衍射與非衍射的晶面？答 :質厚襯度、衍射襯度、相位襯度、原子序數襯度1、在質厚襯度中，重元素比輕元素散射能力強，成像時被散射出光闌以外的電子也越多；試樣越厚，對電子的吸收越多。2、晶粒A 與入射束不成布拉格角，不產生衍射，透射束強度IA=I0 ；晶粒 B 與入射束滿足布拉格衍射，衍射束強度為I hkl ，透射束強度I B=I 0 -I hkl；如果讓透射束通過物鏡光闌，擋住衍射束，A 晶粒比 B 晶粒亮（明場象）；如果讓 hkl 衍射束通過物鏡光闌，擋住透射束，B 晶粒比 A 晶粒亮（暗場像）。17、熱分析（ thermal analysis）：在程序控制溫度條件下，測量物質的物理

18、性質隨溫度變化的函數關系的技術。18、（ 1）簡述差熱分析的原理。答：差熱分析 (DTA) ：在程序控制溫度條件下，測量樣品與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種熱分析方法。在實驗過程中，將樣品與參比物的溫差作為溫度或時間的函數連續記錄下來，就得到了差熱分析曲線。19、 DSC:差示掃描量熱法DTA：差熱分析TG：20、熱重法（ TG 或 TGA）：在程序控制溫度條件下，測量物質的質量與溫度關系的一種熱分析方法。其數學表達式為：W=f （T）或（ ）W為重量變化， T 是絕對溫度， 是時間。熱重法試驗得到的曲線稱為熱重曲線（即TG）。 TG 曲線以質量（或百分率%）為縱坐標，從上到下表示減少，以

19、溫度或時間作橫坐標，從左自右增加，試驗所得的TG曲線，對溫度或時間的微分可得到一階微商曲線DTG和二階微商曲線DDTG 。;.,.21、紅外光譜的基本原理：當紅外區輻射光子所具有的能量與分子振動躍遷至高能態，在振動時伴隨有偶極矩的改變者就吸收紅外光子，形成紅外吸收光譜。譜帶的三個特征：譜帶位置、譜帶強度、譜帶形狀22、基團振動和紅外光譜區域的關系：答： X H 伸縮振動區 （ 4000 2500cm-1）：飽和碳原子上的-C-H（小于 3000 ）甲基 2960，亞甲基 2930。不飽和碳原子上的=C-H（ C-H ）（大于 3000）。 -O-H 37003100 寬鈍。 -O-H 35003300 尖銳。叁鍵和累積雙鍵伸縮振動區(25002000cm-1) 。雙鍵伸縮振動區(1500200