第一部分射線檢測

是非題

原子序數Z等于原子核中的質子數量。

為了使原子呈中性，原子核中的質子數必須等于核外的電子數。

當原子核內的中子數改變時，它就會變為另一種元素。

當一個原子增加一個質子時，仍可保持元素的種類不變。

原子序數相同而原子量不同的元素，我們稱它為同位素。

不穩定同位素在衰變過程中，始終要輻射Y射線。

1.7不同種類的同位素，放射性活度大的總是比放射性活度小的具有更高的輻射劑量。（）

1.8放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量變為原來的一半所需要的時間。（）

1.9各種Y射線源產生的射線均是單能輻射。（）

1.10a射線和P射線雖然有很強的穿透能力，但由于對人體輻射傷害太大，所以一般不用

于工業探傷。（）

111將元素放在核反應堆中受過量中子轟擊，從而變成人造放射性同位素，這一過程稱為

“激活”。（）

1.12與其他放射性同位素不同，CS137是原子裂變的產物，在常溫下呈液態，使用前須防止泄漏污染。

1.13與Irl92相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰變常數人也更小一些。

1.14射線能量越高，傳播速度越快，例如Y射線比X射線傳播快。（）

1.15X射線或丫射線強度越高，其能量就越大。（）

1.16X射線或丫射線是以光速傳播的微小的物質粒子。（）

1.17當x射線經過2個半價層后，其能量僅僅剩下最初的1/4。（）

1.18如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序數比缺陷的原子序數小一半時，缺陷在底片

上所成的象是白斑。（）

1.19標識X射線具有高能量，那是由于高速電子同靶原子核相碰撞的結果。（）

1.20連續X射線是高速電子同靶原子的軌道電子相碰撞的結果。（）

1.21X射線的波長與管電壓有關。（）

1.22X射線機產生X射線的效率比較高，大約有95%的電能轉化為X射線的能量。（）

1.23一種同位素相當與多少千伏或兆伏能力的X射線機來做相同的工作，這種關系叫做同位素的當量能。

1.24同能量的Y射線和X射線具有完全相同的性質。（）

1.25X射線的強度不僅取決于X射線機的管電流而且還取決于X射線機的管電壓。

1.26與G60相對，Csl37發出的Y射線能量較低，半衰期較短。（）

1.27光電效應中光子被完全吸收，而康普頓效應中光子未被完全吸收。（）

1.28能量為300KeV的光子與原子相互作用，使一軌道電子脫離50KeV結合能的軌道，

且具有50KeV動能飛出，則新光子的能量是200KeV。（）

1.29光電效應的發生幾率隨原子序數的增大而增加。（）

1.30光電子又稱為反沖電子。（）

1.31隨著入射光子能量的增大，光電吸收系數迅速減少，康普頓衰減系數逐漸增大。

1.32當射線能量在1.02MeV至lOMeV區間，與物質相互作用的主要形式是電子對效應。

1.33連續X射線穿透物質后，強度減弱，線質不變。（）

1.34射線通過材料后，其強度的9/10被吸收，該厚度即稱作1/10價層。（）

1.35當射線穿過三個半價層后，其強度僅剩下最初的1/8。（）

1.36連續X射線的有效能量是指穿透物質后，未被物質吸收的能量。所以穿透厚度越大，有效能量越小。

1.37C..60和Irl92射線源是穩定的同位素在核反應堆中俘獲中子而得到的，當射線源經過幾個半衰期后,

將其放在核反應堆中激活，可重復使用。（)

1.38X射線和丫射線都是電磁輻射，而中子射線不是電磁輻射。（）

1.39放射性同位素的當量能總是高于起平均能。（）

1.40X射線與可見光本質上的區別僅僅是振動頻率不同。（）

1.41高速電子與靶原子的軌道電子相撞發出X射線，這一過程稱作韌致輻射。（）

1.42連續X射線的能量與管電壓有關，與管電流無關。（）

1.43連續X射線的強度與管電流有關，與管電壓無關。（）

1.44標識X射線的能量與管電壓、管電流均無關，僅取決于靶材料。（）

1.45X射線與丫射線的基本區別是后者具有高能量，可以穿透較厚物質。（）

1.46采取一定措施可以使射線照射范圍限制在一個小區域，這樣的射線稱為窄束射線。

1.47對鋼、鋁、銅等金屬材料來說，射線的質量吸收系數值總是小于線吸收系數值。

1.48原子核的穩定性與核內中子數有關，核內中子數越小，核就越穩定。（）

1.49經過一次B衰變，元素的原子序數Z增加1,而經過一次a衰變，元數的原子序數Z將減少2。

1.50放射性同位素衰變常數越小，意味著該同位素半衰期越長。（）

1.51在管電壓、管電流不變的前提下，將X射線管的靶材料由鋁改為鑄，所發生的射線強

度會增大。（）

1.52在工業射線探傷中，使膠片感光的主要是連續譜X射線，標識譜X射線不起什么作用。

1.53Irl92射線與物質相互作用，肯定不會發生電子對效應。（）

1.54高能X射線與物質相互作用的主要形式之一是瑞利散射。（）

1.55連續X射線穿透物質后，強度減弱，平均波長變短。（）

2.1X光管的有效焦點總是小于實際焦點。（）

2.2X射線機中的焦點尺寸，應盡可能大，這樣發射的X射線能量大，同時也可防止靶過份受熱。

2.3X射線管中電子的速度越小，則發生的射線能量也就越小。（）

2.4由于X射線機的電壓峰值（KVP）容易使人誤解，所以X射線機所發出的射線能量用電壓的平均值表

示。（）

2.5全波整流X射線機所產生射線的平均能比半波整流X射線機所產生的平均能高。

2.6移動式X射線機只能室內小范圍移動，不能到野外作業。（）

2.7移動式X射線機有油冷和氣冷兩種絕緣介質冷卻方式。（）

2.8相同千伏值的金屬陶瓷管和玻璃管，前者體積和尺寸小于后者。（）

2.9“變頻”是減小X射線機重量的有效措施之一。（）

2.10放射性同位素的比活度越大，其輻射強度也就越大。（）

2.11適宜探測厚度100mm以上鋼試件Y源的是Co60,透宜探測厚度20nlm以卜.鋼試件的Y源是Irl92。

2.12黑度定義為阻光率的常用對數值。（）

2.13底片黑度D=l,即意味著透射光強為入射光強的十分之一、（）

2.14ISO感光度100的膠片，達到凈黑度2.0所需的曝光量為100戈瑞。（）

2.15能量較低的射線較更容易被膠片吸收，引起感光，因此，射線透照時防止散射線十分重要。

2.16用來說明管電壓、管電流和穿透厚度關系曲線稱為膠片特性曲線。（）

2.17膠片達到一定黑度所需的照射量（即倫琴數）與射線質無關。（）

2.18同一膠片對不同能量的射線具有不同的感光度。（）

2.19比活度越小，即意味著該放射性同位素源的尺寸可以做得更小。（）

2.20膠片灰霧度包括片基年固有密度和化學灰霧密度兩部分。（）

2.21非增感型膠片反差系數隨黑度的增加而增大，而增感型膠片反差系數隨黑度增加的增大而減小。

2.22在常用的100KV-400KVX射線能量范圍內，鉛箔增感屏的增感系數隨其厚度的增大而減小。

2.23對X射線。增感系數隨射線能量的增高而增大。但對Y射線來說則不是這樣，例如，

鉆60的增感系數比鉞192低。（）

2.24對X射線機進行“訓練”的目的是為了排出絕緣油中的氣泡。（）

2.25X和丫射線的本質是相同的，但Y射線來自同位素，而X射線來自于一個以高壓加速電子的裝置。

2.26在任何情況下，同位素都有優于X射線設備，這是由于使用它能得到更高的對比度和清晰度。

2.27對于某一同位素放射源，其活度越大，則所發出的射線強度也越大。（）

2.28將一張含有針孔的鉛板放于X射線管和膠片之間的中間位置上，可以用來測量中心射線的強度。

2.29相同標稱千伏值和毫安值的X射線機所產生的射線強度和能量必定相同。（）

2.30所謂“管電流”就是流過X射線管燈絲的電流。（）

2.31放射源的比活度越大，其半衰期就月短。（）

2.32膠片對比度與射線能量有關，射線能量越高，膠片對比度越小。（）

2.33膠片特性曲線的斜率用來度量膠片的對比度。（）

2.34從實際應用的角度來說，射線的能量對膠片特性曲線形狀基本上不產生影響。

2.35寬容度大的膠片其對比度必然低。（）

2.36顯影時間延長，將會使特性曲線變陡，且在坐標上的位置向左移。（）

2.37膠片特性曲線在坐標上的位置向左移，意味著膠片感光速度越小。（）

2.38與一般膠片不同，X射線膠片雙面涂布感光乳劑層，其目的是為了增加感光速度和黑度。

2.39“潛象”是指在沒有強光燈的條件下不能看到的影象。（）

2.40嵌增感屏除有增感作用外，還有減少散射線的作用，因此在射線能穿透的前提下，應盡量選用較厚

的鉛屏。（）

2.41透照不銹鋼焊縫，可以使用碳金屬絲象質計。（）

2.42透照鈦焊縫，必須使用鈦金屬絲象質計。（）

2.43透照銀基合金焊縫時使用碳素鋼象質計，如果底片上顯示的線徑編號剛剛達到標準規定值，則該底

片的實際靈敏度肯定達不到標準規定的要求。（）

2.44因為鉛箔增感屏的增感系數高于熒光增感屏，所以得到廣泛使用。()

2.45膠片鹵化銀粒度就是顯影后底片的顆粒度。()

2.46梯噪比高的膠片成像質量好。()

2.47膠片系統分類的主要依據是膠片感光速度和梯噪比。()

3.1影象顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小。()

3.2象質計靈敏度L5%,就意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被檢出。

3.3使用較低能量的射線可得到較高的主因對比度。()

3.4射線照相時，若干伏值提高，將會使膠片對比度降低。()

3.5一般來說，對厚度差較大的工作，應使用較高能量射線透照，其目的是降低對比度，增大寬容度。

3.6增大曝光量可提高主因對比度。（）

3.7當射線的有效量增加到大約250KV以上時，就會對底片顆粒度產生明顯影響。

3.8增大最小可見對比度△Dmin,有助于識別小缺陷。()

3.9射線照相主因對比度與入射線的能譜有關，與強度無關。()

3.10用增大射源到膠片距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。()

3.11減小幾何不清晰度的途徑之一，就是使膠片盡可能地靠近工件。()

3.12利用陽極側射線照相所得到的底片的兒何不清晰度比陰極側好。()

3.13膠片的顆粒越粗，則引起的兒何不清晰度就越大。()

3.14使用￥射線源可以消除幾何不清晰度。()

3.15增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度，但同時會引起固有不清晰度增大。

3.16膠片成象的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。()

3.17對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因數。()

3.18膠片對比度和主因對比度均與工件厚度變化引起的黑度差有關。()

3.19使用較低能量的射線可提高主因對比度，但同時會降低膠片對比度。（）

3.20膠片的顆粒度越大，固有不清晰度也就越大。（）

3.21顯影不足或過度，會影響底片對比度，但不會影響顆粒度。（）

3.22實際上由射線能量引起的不清晰度和顆粒度是同一效應的不同名稱。（）

3.23當缺陷尺寸大大小于幾何不清晰度尺寸時，影象對比度會受照相幾何條件的影響。

3.24可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。

3.25如果信噪比不夠，即使增大膠片襯度，也不可能識別更小的細節影像。（）

3.26散射線只影響主因對比度，不影響膠片對比度。（）

3.27底片黑度只影響膠片對比度，與主因對比度無關。（）

3.28射線的能量同時影響照相的對比度、清晰度和顆粒度。（）

3.29透照有余高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指是能保證焊縫部位和母材部位得到相同角質計

靈敏度顯示的黑度值。（）

3.30由于最小可見對比度△Dmin隨黑度的增大而增大，所以底片黑度過大會對缺陷識別產生不利的影

響。（）

3.31底片黑度只影響對比度，不影響清晰度。（）

3.32試驗證明，平板試件照相，底片最佳黑度值大約在2.5左右。（）

3.33固有不清晰度是由于使澳化銀感光的電子在乳劑層中有一定穿越行程而造成的。

3.34底片能夠記錄的影象細節的最小尺寸取決于顆粒度。（）

3.35對有余高的焊縫照相，應盡量選擇較低能量的射線，以保證焊縫區域有較高的對比度。

3.36對比度修正系數。值與缺陷的截面形狀有關，例如裂紋的截面形狀與象質計金屬絲不同，

兩者的。值也不同。（）

3.37由于底片上影象信噪比隨曝光量的增加而增大，所以增加曝光量有利于缺陷影象識別。

3.38射線照相的信噪比與膠片梯噪比具有不同含義。（）

4.1按照“高靈敏度法”的要求，300KVX射線可透照鋼的最大厚度大約是40mm。

4.2Y射線照相的優點是射線源尺寸小，且對厚度工作照相曝光時間短。（）

4.3選擇較小的射線源尺寸dr,或者增大焦距值F,都可以使照相Ug值減小。（）

4.4欲提高球罐內壁表面的小裂紋檢出率，采用源在外的透照方式比源在外的透照方式好。

4.5環焊縫的各種透照方式中，以源在內中心透照周向曝光法為最佳方式。（）

4.6無論采用哪一種透照方式，一次透照長度都隨著焦距的增大而增大。（）

4.7所謂“最佳焦距”是指照相幾何不清晰度Ug與固有不清晰度Ui相等時的焦距值。

4.8已知銅的等效系數甲加=1.5,則透照同樣厚度的鋼和銅時，后者的管電壓應為前者的1.5倍。

4.9對有余高的焊縫進行透照，熱影響區部位的散射比要比焊縫中心部位大得多。

4.10源在內透照時，搭接標記必須放在射源側。（）

4.11背散射線的存在，會影響底片的對比度。通常可在工件和膠片之間放置一個嵌字B來驗證背散射線

是否存在。（）

4.12不論采用何種透照布置，為防止漏檢，搭接標記均應放在射線源側。（）

4.13由于“互易定律實效”采用熒光增感屏時，根據曝光因子公式選擇透照參數可能會產生較大誤差。

4.14當被透工件厚度差較大時，就會有“邊蝕散射”發生。（）

4.15在源和工件之間放置濾板來減少散射線的措施對Y射線并不適用。（）

4.16使用“濾板”可增大照相寬容度，但濾板最好是放在工件和膠片之間。（）

4.17在源和工件之間放置濾板減少散射線的措施對于平板工件照相并不適用。（）

4.18在實際工作中正常使用的焦距范圍內，可以認為焦距對散射比沒有影響。（）

4.19采用平靶周向X射線機對環焊縫作內透中心法周向曝光時，有利于檢出橫向裂紋，但不利于檢出縱

向裂紋。（）

4.20采用源在外單壁透照方式，如K值不變，則焦距越大，一次透照長度晨越大。

4.21采用雙壁單影法透照時，如保持K值不變，則焦距越大，一次透照長度L,就越小。

4.22用單壁法透照環焊縫時，所用搭接標記均應放在射源側工件表面，以免端部缺陷漏

檢。（）

4.23對某一曝光曲線，應使用同一類型的膠片，但可更換不同的X射線機。（）

4.24使用Y射線曝光曲線時，首先應知道射線源在給定時間的活度。（）

4.25如果已知等效系數，用X射線曝光曲線來代替丫射線曝光曲線，也可能求出曝光參

數。（）

4.26小徑管射線照相采用垂直透照法比傾斜透照法更有利于檢出根部未熔合。

4.27增大透照厚度寬容度最常用的辦法是適當提高射線能量。（）

4.28對尺寸很小的缺陷，其影象的對比度不僅與射線能量有關，而且與焦距有關。

4.29材料的種類影響散射比，例如給定能量的射線在鋼中的散射比要比在鋁中大得多。

4.30在常規射線照相檢驗中，散射線是無法避免的。（）

4.31環縫雙壁單影照相，搭接標記應放在膠片側，底片的有效評定長度是底片I:兩搭接標記之間的長

度。（）

4.32縱焊縫雙壁單影照相，搭接標記應放在膠片側，底片的有效評定長度就是兩搭接標記之間的長。

4.33小徑管雙壁透照的要點是選用較高管電壓，較低曝光量，其目的是減小底片反差，擴大檢出區域。

4.34射線照相實際透照時很少采用標準允許的最小焦距值。（）

5.1顯影十膠片上的AgBr被還原成金屬銀，從而使膠片變黑。（）

5.2對曝光不足的底片，可采用增加顯影時間或提高顯影溫度的方法來增加底片黑度，從而獲得符合要

求的底片。（）

5.3膠片在顯影液中顯影時，如果不進行任何攪動，則膠片上每一部位都會影響緊靠在它們下方部位的

顯影。（）

5.4定影液有兩個作用，溶解未曝光的AgBr和堅膜作用。（）

5.5所謂“通透時間”就是指膠片從放入定影液到乳劑層變為透明的這段時間。

5.6減少底片上水跡的方法是溫膠片快速干燥。（）

5.7膠片表面起網狀皺紋可能是膠片處理溫度變化急劇而引起的。（）

5.8沖洗膠片時，只要使用安全燈，膠片上就不會出現灰霧。（）

5.9顯影液中如果過量增加碳酸鈉，在底片上會產生反差降低的不良后果。（）

5.10使用被劃傷的鉛箔增感屏照相，底片上會出現與劃傷相應的清晰的黑線。

5.11膠片上靜電花紋的產生是由于射線管兩端的電壓過高的原因。（）

5.12射線底片上產生亮的月牙形痕跡的原因可能是曝光前使膠片彎曲。（）

5.13射線底片上產生黑的月牙形痕跡的原因可能是曝光后使膠片彎曲。（）

5.14如果顯影時間過長，有些未曝光的AgBr也會被還原，從而增大了底片灰霧。

5.15顯影液中氫離子濃度增大，則顯影速度減慢，故借助于堿使顯影液保持一定PH值。

5.16定影液的氫離子濃度越高，定影能力就越強。（）

5.17膠片未曝光部分變為透明時，即說明定影過程已經完成。（）

5.18因為鐵不耐腐蝕且容易生銹，所以不能用鐵制容器盛放顯影液。（）

5.19溪化鉀除了抑制灰霧的作用外，還有增大反差的作用。（）

5.20顯影時攪動不僅能夠使顯影速度加快，還有提高反差的作用。（）

5.21所謂“超加和性”是指米吐爾和菲尼酮配合使用，顯影速度大大提高的現象。（）

6.1由于射線照相存在影象放大現象，所以底片評定時，缺陷定量應考慮放大的影響。

6.2各種熱裂紋只發生在焊縫上，不會發生在熱影響區。（）

6.3形狀缺陷不屬于無損檢測檢出范疇，但對于目視檢查無法進行的場合和部位，射線照相應對形狀缺

陷，例如內凹、燒穿、咬邊等，評級。（）

7.1暗室內的工作人員在沖洗膠片的過程中，會受到膠片上的衍生的射線照射，因而白血球也會降低。

7.2一個射線工作者懷疑自己處在高輻射區域，驗證的最有效方法是看劑量筆上的讀數是否也增

加。

7.3熱釋光膠片劑量計和袖珍劑量筆的工作原理均基于電離效應。（）

7.4照射量單位“倫琴”只使用X射線或丫射線，不能用于中子射線。（）

7.5當X或丫射源移去以后工件不再受輻射作用，但工件本身仍殘留極低的輻射。

7.6即使劑量相同，不同種類輻射對人體傷害是不同的。（）

7.7小劑量，低劑量率輻射不會發生隨機性損害效應。（）

7.8只要嚴格遵守福射防護標準關于劑量當量限值的規定，就可以保證不發生輻射損傷。

7.9從X射線機和丫射線的防護角度來說，可以認為1戈瑞=1希沃特。（）

7.10焦耳/千克是劑量當量單位，庫侖/千克是照射量單位。（）

7.11劑量當量的國際單位是希沃特，專用單位是雷姆，兩者的換算關系是1希沃特=100雷姆。

7.12X射線比丫射線更容易被人體吸收，所以X射線對人體的傷害比丫射線大。

7.13當照射量相同時，高能X射線比低能X射線對人體的傷害力更大一些。（）

8.1與電子回旋加速器相比，直線加速器能量更高，束流更大，焦點更小。（）

8.2寬容度大是高能X射線照相的優點之一。（）

8.3加速器照相一般選擇較大的焦距，其目的是減小幾何不清晰度，提高靈敏度。

8.4中子兒乎不具有使膠片漠化銀感光的能力。（）

8.5中子照相的應用之一是用來檢查航空材料蜂窩結構的粘接質量。（）

8.6中子對鋼鐵材料的穿透力很強，因此常用它來檢測厚度超過100mm的對接焊縫的焊接缺陷。

8.7高能X射線照相的不清晰度主要是固有不清晰度，幾何不清晰度的影響幾乎可以忽略。

8.8射線實時成像檢驗系統的圖像容易得到較高的對比度，但不容易得到較好的清晰度。

8.9象素的多少決定了射線實時成像系統圖像識別細節的能力。（）

8.10在高能射線照相中，增感屏的增感作用主要靠前屏。（）

10.1按ASME規范要求，透照雙面焊縫的使用孔型象質計，應在象質計下放墊板，墊板厚度應為上下焊縫

余昌之和。（）

10.2在ASME規范中，100%照相和局部抽查的焊縫中允許的條件夾渣尺寸是不一樣的。

（）

選擇題

1.1原子的主要組成部分是（）.

A.質子、電子、光子B.質子、重子、電子

C.光子、電子、X射線1）.質子、中子、電子

1.2電磁波的頻率（f）,速度（c）和波長（人）之間的關系可用（）表示。

A.f=X?cB.c=f,X

C.X=f?cD.X=f/c

1.3原子核的質子數等于（）o

A.中子數B.原子序數

C.光子數1）.原子量

1.4質子和中子的區別是中子沒有（

A.電荷B.質量

C.白旋D.半衰期

1.5當幾種粒子和射線通過空氣時，其電離效應最高的是（）。

A.a粒子B.&粒子

C.中子1）.X和Y射線

在射線探傷中應用最多的三種射線是（

A.X射線，Y射線和中子射線B.a射線、8射線和Y射線

C.X射線，Y射線和6射線C.X射線，Y射線和a射線

原子核外電子能級量最高的是（

A.外殼層B.中間殼層

C.內殼層D.以上均不是

1.8同位素是指（）?

A.質量數相同而中子數不同的元素；

B.質量數相同而質子數不同的元素；

C.中子數相同而質子數不同的元素；

D.質子數相同而質量數不同的元素。

1.9X射線、丫射線和a粒子有一個共同點，即它們都是（）。

A.均質粒子輻射B.電磁輻射

C.微波輻射D.電離輻射

1.10在射線檢驗中采用的能量范圍（約100KeVo-10MeV）射線穿過鋼鐵強度衰減的最主要

原因是（）o

A.光電效應B.湯姆遜效應

C.康普頓效應D.電子對效應

1.11光子能量的數學表達式是（）。

A.E=h/vB.E=X/he

C.E=hv1）.E=hv2

1.12強度為I的單色射線通過厚度為AX的材料后，強度減弱AI,其關系式為

△I=UIAX,此式表示下列哪種現象（）。

A.光電效應B.康普頓效應

C.吸收D.半價層厚度

1.13通常所說的200KVX射線指（）。

A.最大能量為0.2MeV的“白色”X射線

B.平均能量為0.2MeV的連續射線

C.能量為0.2MeV的連續射線

D.有效能量為0.2MeV的連續射線

1.14單色射線是指（）.

A.標識X射線B.工業探傷Y源產生的射線

C.用來產生高對比度的窄束射線D.由單一波長的電磁波組成的射線

1.15在一般的工業探傷中，射線與物質相互作用時，主要產生的二個效應是（

A.光電效應和電子對效應B.光電效應和康普頓散射

C.康普頓散射和電子對效應D.康普頓散射和電離

1.16當光子與物質相互作用時，光子將部分能量用于逐出軌道電子，且剩余的能量變為電子的動能，這

就是（）.

A.康普頓散射B.光電效應

C.電子對效應D.電離

1.17當光子與物質相互作用時，光子的波長增加，方向改變，這是由于（）的結果。

A.光電效應B.康普頓散射

C.湯姆遜散射1）.電子對產生

1.18康普頓散射的特征是（）

A.產生光電子B.產生俄歇電子

C.產生反沖電子D.產生正負電子

1.19光電效應的特征是（

A.產生光電子B.發射標識X射線

C.發射二次電子D.以上都是

1.20已知某單能射線在鋼中的半價層為3mm,則該射線在鋼中的吸收系數為（）.

A.0.231cmB.2.31cm'

C.2.079cmD.0.00231mm'

1.21射線通過物質時的衰減取決與（）o

A.物質的原子序數、密度和厚度B.物質的楊氏模量

C.物質的泊松比D.物質的晶粒度

1.22窄束和寬束的區別是（）?

A.窄束是指散射和未散射的射線均達到檢測器,而寬束是指只有未散射的射線到達檢測器

B.窄束是指只有未散射的射線到達檢測器，而寬束是指散射和未散射的射線均到達檢測器。

C.窄束和寬束區別在于源尺寸大小不同。

D.窄束和寬束區別在于照射場大小不同。

1.23散射線的主要成份是低能電磁輻射，它是由光子在哪一過程中減弱而產生的

（

A.光電過程B.康普頓過程

C.電子對過程D.電離過程

1.24從X射線管中發射出的射線包括（）。

A.連續X射線B.標識X射線

C.I?射線D.A和B

1.25連續X射線穿透厚工件時，有何特點？（）?

A.第二半價層小于第一半價層；B.第二半價層等于第泮價層；

C.第二半價層大于第泮價層；I）.第二半價層與第?半價層關系不確定

1.26當射線波長一定時，下列哪種物質的u最大？（）

A.FeB.AlC.TiD.Cu

1.27產生X射線的一般方法是在高速電子的運動方向上設置一個障礙物，使高速電子在這

個障礙物上突然減速，這個障礙物被叫（）.

A.陽極B.陰極C.靶I）.燈絲

1.28X射線的穿透能力取決與（

A.毫安B.千伏C.曝光時間D.焦點尺寸

1.29Y射線的穿透能力取決于（

A.源的尺寸B.源的種類C.曝光時間D.焦點尺寸

1.30當施加于X射線管兩端的管電壓不變，管電流增加時，則（).

A.產生的X射線波長不變,強度不變:

B.產生的X射線波長不變,強度增加;

C.產生的X射線波長不變,強度減少;

D.產生的X射線波長增加,強度不變。

1.31X射線機的管電流不變，管電壓減小時,則X射線將會發生（）

A.強度不變，波長減小B.強度不變，波長增大

C.波長減小，強度減小D.波長增大，強度減小

1.32X射線管所產生的連續X射線的強度與管電壓的關系是（）。

A.強度與管電壓成正比B.強度與管電壓成反比

C.波長減小，強度減小D.強度與管電壓平方成反比

1.33活度為80Ci、平均能量為1.66MeV的同位素源，經過3個半衰期后，其平均能量為

（）.

A.0.008MeVB.0.22MeV

C.0.33MeVD.1.66MeV

1.34放射性同位素衰變時，原子核衰變方式通常是（）?

A.粒子發射B.K俘獲

C.裂變D.A和B

1.35韌致輻射是指高速運動的電子同靶相碰撞時，與靶的什么相互作用而放也電子的能

量，產生連續X射線的？（

A.自由電子B.原子核的質子或中子

C.殼層電子D.院子核外庫侖場

1.36放射性元素Co60轉變為Ni60的過程是一次（

A.a衰變B.8衰變C.Y衰變D.K俘獲

1.37以下關于光電效應的敘述，哪一條是錯誤的（）

A.光電效應發生幾率隨光子能量的增大而減小；

B.光電效應發生幾率隨材料的原子序數增大而增大；

C.光電效應過程中除產生光電子外，有時還會產生反沖電子；

D.光電效應發射出的電子的能量肯定小于入射光子的能量。

1.38以下關于康普頓效應的敘述，哪一條是錯誤的（〉

A.散射光子的波長肯定小于入射光子;

B.反光子與散射光子能沖電子的能量為入射量之差;

C.散射角a越大，散射光子能量越小；

D.康普頓效應發生兒率隨入射光子能量增大而減小。

1.39某放射性同位素的衰變常數為0.005371天，則其半衰期為（)

A.186天B.129天C.53天D.537天

1.40下列幾種材料中，射線衰減系數較大的是（）

A.銅B.鋁C.鐵D.碳

1.41以F關于瑞利散射的敘述，哪一條是錯誤的（）

A.瑞利散射是相干散射的?種;

B.瑞利散射不改變光子能量，只改變光子的運動方向；

C.瑞利散射的發生幾率隨原子序數的增大而減小：

D.瑞利散射的發生幾率隨光子能量的增大而急劇減小。

1.42射線照相難以檢出的缺陷是（）

A.未焊透和裂紋B.氣孔和未熔合

C.夾渣和咬邊I）.分層和折疊

1.43射線照相法對哪一種焊接方法不適用。（）

A.氣焊、電渣焊B.氣體保護焊、埋弧自動焊

C.手工電弧焊、系離子弧焊D.摩擦焊、釬焊

1.44以下哪些材料的熔化焊對接焊縫適宜使用射線照相法檢測（）

A.鋼和不銹鋼B.鈦和鈦合金

C.鋁和鋁合金1）.以上都適宜

1.45以下關于射線照相特點的敘述，哪些是錯誤的（）

A.判定缺陷性質、數量、尺寸比較準確

B.檢測靈敏度受材料晶粒度的影響較大

C.成本較高，檢測速度不快

D.射線對人體有傷害

2.1管電壓、管電流不變，將X射線管陽極由銅換成鴇，產生X射線線質如何變化？

()

A.邊硬B.變軟C.不變D.不一定

2.2X射線管的陽極靶最常用的材料是（)o

A.銅B.鴇C.鍍D.銀

2.3軟射線X射線管的窗口材料一般是（)o

A.銅B.鴇C.鍍D.銀

2.4X射線機技術性能指標中，焦點尺寸是?項重要指標，焦點尺寸是指（）.

A.靶的幾何尺寸B.電子束的直徑

C.實際焦點尺寸D.有效焦點尺寸

2.5在條件允許的情況下，焦點尺寸應盡可能的小，其目的是（）。

A.減小設備體枳B.提高清晰度

C.增加能量密度D.節省合金材料

2.6X射線管中轟擊靶產生X射線的高速電子的數量取決于（）0

A.陽極靶材料的原子序數；B.陰極靶材料的原子序數;

C.燈絲材料的原子序數：D.燈絲的加熱溫度。

2.7下列哪一特征，不是X射線管的靶材料所要求的（

A.高原子序數B,高熔點

C.高熱傳導率D.高質量吸收系數

2.8當兩臺相同型號的X射線機的千伏值和毫安值均相同時，則（