ICS

17.040.30

CCS

N51

中華人民共和國國家標準

GB/T44223—2024

納米技術動態光散射法

粒度分析儀技術要求

Nanotechnologies—Technicalrequirementsfordynamiclight

scatteringparticlesizeanalyzers

2024-07-24發布2025-02-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T44223—2024

目次

前言

·····································································································

Ⅲ

1

范圍

··································································································

1

2

規范性引用文件

······················································································

1

3

術語和定義

···························································································

1

4

工作原理和結構

······················································································

2

5

技術要求

······························································································

3

6

正常工作條件

·························································································

5

7

檢驗項目和試驗方法

·················································································

5

附錄A（資料性）

粒度標準樣品

······································································

7

附錄B（資料性）

樣品制備方法

······································································

8

參考文獻

··································································································

9

Ⅰ

GB/T44223—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規則》的規

定起草。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。

本文件由中國科學院提出。

本文件由全國納米技術標準化技術委員會（SAC/TC279）歸口。

本文件起草單位：國家納米科學中心、中國計量科學研究院、北京市科學技術研究院分析測試研究

所（北京市理化分析測試中心）、珠海真理光學儀器有限公司、丹東百特儀器有限公司、華南師范大

學、濟南微納顆粒儀器股份有限公司、珠海歐美克儀器有限公司、合肥鴻蒙標準技術研究院有限公司、

廣州特種承壓設備檢測研究院、上海思百吉儀器系統有限公司、冷能（廣東）科技有限公司、中國計量

大學、山東理工大學、北京信立方科技發展股份有限公司、成都精新粉體測試設備有限公司、安泰科技

股份有限公司、安東帕（上海）商貿有限公司、中國合格評定國家認可中心、北京粉體技術協會、中國

顆粒學會。

本文件主要起草人：朱曉陽、高潔、劉俊杰、黃鷺、高原、張福根、董青云、寧輝、韓鵬、任飛、

沈興志、竇曉亮、尹宗杰、黎小宇、劉斌、于明州、劉偉、牛亞偉、周已欣、李艷萍、宋緒東、肖歷、

徐彥、王寧、周素紅、韓秀芝。

Ⅲ

GB/T44223—2024

納米技術動態光散射法

粒度分析儀技術要求

1范圍

本文件給出了動態光散射法粒度分析儀的原理，規定了其性能、電源電壓適應性、環境適應性、安

全性、機械結構、試驗條件等技術要求，描述了其準確性、重復性的試驗方法。

本文件適用于測量納米級及亞微米級顆粒的平均粒徑、粒徑分布等參數的粒度分析儀的試驗、檢

測、運行和維護。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文

件,僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本

文件。

GB/T29022—2021粒度分析動態光散射法（DLS）

GB/T30544.6—2016納米科技術語第6部分：納米物體表征

JJG1104—2015動態光散射粒度分析儀

3術語和定義

GB/T29022—2021、GB/T30544.6—2016界定的以及下列術語和定義適用于本文件。

3.1

平均流體動力學粒徑averagehydrodynamicdiameter

xDLS

反映粒度分布中值的流體動力學直徑。

注1：平均粒徑直接測定，既可以不計算粒徑分布，也可以從光強加權分布、體積加權分布或數量加權分布，以及

擬合（轉換）的密度函數中計算得到。顆粒平均粒徑的確切意義與計算方法相關。

注2：累積量法給出散射光強加權的諧平均粒徑，有時也稱為Z均粒徑。

注3：根據ISO9276?2，算術、幾何、諧平均值也可以從粒度分布計算得到。

注4：由密度函數（線性坐標）和變換的密度函數（對數坐標）計算得到的平均值可能會有顯著差異（見

ISO9276?1）。

注5：xDLS與顆粒形狀和散射矢量（進而與探測角度、激光波長和懸浮液介質的折射率）相關。

注6：又稱平均粒徑。

[來源：GB/T29022—2021，3.2]

3.2

多分散指數polydispersityindex；PI

用于描述粒度分布寬度的