標準解讀
《GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法》是中國國家標準之一,旨在為俄歇電子能譜儀的性能測試與校準提供一套標準化的方法。該標準適用于實驗室環境下使用的各種類型的俄歇電子能譜儀,包括但不限于掃描型和非掃描型設備。
本文件詳細規定了對俄歇電子能譜儀進行檢測時需要考慮的關鍵參數及其相應的測量方法,如能量分辨率、空間分辨率、穩定性等,并明確了每項指標的具體要求。通過這些規定的執行,可以確保儀器在不同實驗室之間具有可比性,從而提高科學研究的質量與可靠性。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。
....
查看全部
- 現行
- 正在執行有效
- 2017-12-29 頒布
- 2018-11-01 實施





文檔簡介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國國家標準
GB/T35158—2017
俄歇電子能譜儀檢定方法
VerificationmethodforAugerelectronspectrometers
2017-12-29發布2018-11-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布
中國國家標準化管理委員會
GB/T35158—2017
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規范性引用文件
2…………………………1
縮略語和符號
3……………1
縮略語
3.1………………1
符號
3.2…………………1
方法原理與系統構成
4……………………4
方法原理
4.1……………4
系統構成
4.2……………4
計量單位與技術指標
5……………………4
計量單位
5.1……………4
技術指標
5.2……………5
檢定環境
6…………………6
外觀要求
6.1……………6
安裝場所要求
6.2………………………6
電源
6.3…………………6
環境溫度與濕度
6.4……………………6
檢定項目與方法
7…………………………6
能量標檢定
7.1…………………………6
強度標檢定
7.2…………………………24
橫向分辨率檢定
7.3……………………31
離子槍檢定
7.4…………………………40
荷電控制與校正檢定
7.5………………50
報告檢定結果
8……………55
檢定周期
9…………………55
參考文獻
……………………56
Ⅰ
GB/T35158—2017
前言
本標準按照給出的規則起草
GB/T1.1—2009。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標準起草單位廈門大學清華大學
:、。
本標準起草人姚文清岑丹霞張增明徐建劉芬王水菊
:、、、、、。
Ⅲ
GB/T35158—2017
引言
俄歇電子能譜儀廣泛用于材料的實驗性和常規性表面與界面分析為納米尺度的表面分析
(AES),
儀器我國目前有多家公司幾十臺不同型號的該類儀器由于沒有合適的檢定方法的綜合性國家標
。。
準儀器的能量標強度標濺射速率橫向分辨率等各項性能標準不統一因此需要制定檢定方法的國
,、,、,
家標準以實現獲取的譜圖數據的科學性和可比性這對于促進我國光電信息能源及新材料等相關領
,,、
域的科技與產業的發展很有意義
。
Ⅳ
GB/T35158—2017
俄歇電子能譜儀檢定方法
1范圍
本標準規定了俄歇電子能譜儀的檢定方法
(Augerelectronspectrometer)。
本標準適用于激發源為電子束且帶有濺射清潔用離子槍的俄歇電子能譜儀
,。
2規范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
表面化學分析濺射深度剖析用層狀膜系為參考物質的優化方法
GB/T20175—2006
表面化學分析射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標的線性
GB/T21006—2007X
表面化學分析俄歇電子能譜和射線光電子能譜橫向分辨率的測定
GB/T28632—2012X
表面化學分析俄歇電子能譜譜儀強度標的重復性和一致性
GB/T29558—2013
表面化學分析高分辨俄歇電子能譜儀元素和化學態分析的能量標校準
GB/T29731—2013
表面化學分析中等分辨率俄歇電子能譜儀元素分析的能量標校準
GB/T29732—2013
表面化學分析俄歇電子能譜荷電控制與校正方法報告的規范要求
GB/T32998—2016
表面化學分析深度剖析和深度剖析時離子束對準方法及相應的
ISO16531:2013AESXPS
電流或電流密度測量
(Surfacechemicalanalysis—Depthprofiling—Methodsforionbeamalignment
andtheassociatedmeasurementofcurrentorcurrentdensityfordepthprofilinginAESandXPS)
表面化學分析深度剖析濺射深度剖析時使用多層薄膜測定射線光電子能
ISO17109:2015X
譜俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射速率的方法
、(Surfacechemicalanalysis—Depthprofiling—Methodfor
sputterratedeterminationinX-rayphotoelectronspectroscopy,Augerelectronspectroscopyandsecondary-io
溫馨提示
- 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經授權,嚴禁復制、發行、匯編、翻譯或網絡傳播等,侵權必究。
- 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數字商品的特殊性,一經售出,不提供退換貨服務。
- 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質量問題。
最新文檔
- 機器人機械臂工作原理
- 農機拖板轉讓合同樣本
- 古建筑駁岸施工方案
- 樹皮收購方案范本
- 內墻油漆合同樣本
- 人工探管施工方案
- 京東店鋪運營合同樣本
- 保溫門窗采購合同標準文本
- 倫敦就業合同標準文本
- 培養學生團隊合作精神的活動計劃
- 隨班就讀學生個人檔案
- 硫磺安全技術說明書MSDS
- 公司治理中的法律風險防范資料
- 2017年10月自考00015英語二試卷及答案
- 《母雞》課件 王崧舟 千課萬人 (圖片版不可編輯)
- 國開電大《工程數學(本)》形成性考核作業5答案
- 13、試生產開停工方案
- 暖通工程設備吊裝施工方案
- JJG 109-2004百分表式卡規
- GB/T 5597-1999固體電介質微波復介電常數的測試方法
- 新疆旅游景點大全課件
評論
0/150
提交評論