標準解讀

《GB/T 14032-1992 半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理》作為一項技術標準，為半導體集成電路數字鎖相環（PLL）的性能評估和測試提供了一套基本的指導原則。然而，您提供的對比要求中，《》部分似乎是空白，未指定與哪個具體的標準或版本進行比較。因此，直接對比該標準與其他特定標準的變更內容無法完成。

若旨在理解《GB/T 14032-1992》本身的核心內容和重要性，可以概述該標準涵蓋的關鍵點，但具體變更分析需要有明確的參照物。此標準詳細介紹了測試數字鎖相環時所應遵循的方法論，包括但不限于測試環境的設置、測試信號的要求、關鍵參數的測量方法（如鎖定時間、相位噪聲、頻率穩定性等），以及如何評估PLL的動態響應和穩定性等。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14032-1992半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理_第1頁
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JDg621.382L55中華人民共和國國家標準GB/T14032-92半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發布1993-08-01實施國家技術監督局發布

中華人民共和國國家標準半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理GB/T14032-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits本標準規定了半導體集成電路數字鎖相環(以下簡稱器件或數字鎖相環)電參數測試方法的基本原數字鎖相環與數字電路相同的靜態和動態參數測試可參照GB3834《半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》?？傄笕魺o特殊說明.測試期間，環境或參考點溫度偏離規定值的范圍應符合器件詳細規范的規定1.2測試期間，施于被測器件的電參量應符合器件詳細規范的規定1.3試期間，應避免外界干擾對測試精度的影響.測試設備引起的測試誤差應符合器件詳細規范的規定14被測器件與測試系統連接或斷開時，不應超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時,應按器件詳細規范規定的順序接通電源1.6；測試期間，被測器件應連接器件詳細規范規定的外圍電路和補償網絡。17若電參數值是由幾步測試的結果經計算而確定時，這些測試的時間間隔應盡可能短.1.8測試期間應避免因靜電感應而引起器件失效。2參數測試2.1動態功耗廠.。2.1.1目的測試器件動態工作時的功率。2.1.2測試原理圖P.測

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