1、品質檢驗標準 品質部: 程善舟(Leo Cheng) 討 論 時間:2005年08月25日(18:30-20:30)cnshu 擁有龐大的管理資料庫 講義大綱 1.根本內容紹(3-15)2.恆忻【品質檢驗標準】介紹(16-77)cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質 檢 驗 標 準 意義: 產品品質標準的建立,為企業提供了以下說明:1. 減少合約之品質糾紛2. 為對外品質保證提供了依據3. 使品檢任務有據可依4. 使制造者明確品質要求5. 其他品質標準之參考依據cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質 檢 驗 標 準標準之適度性 產品品質標準首先要建立在買方認同的基礎上,根據公司實際生產條件而定

2、,一個適度的品質標準,應有利於不斷提高公司生產技術程度和管理程度.即品質標準應略高於公司現行條件可達到的程度.但不宜過高,以免浪費資源.同時,所制訂的標準必須有客觀依據,不可盲目臆斷,必要時,可采取破壞性試驗獲得標準數據.cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質 檢 驗 標 準品質允收標準定義: 所謂允收標準: (AQL: Acceptable Quality Level)是客方認定可以接受的不良品/率之品質標準,供方的產品不良品/率低於此標準則允收,反之則拒收或退貨. cnshu 擁有龐大的管理資料庫根本名詞與符號批 凡具有一樣來源，且在一樣的條件下產生所得到一群一樣規格的產品，可為一批，亦可

3、給予一個名字叫 製造批 ，而一個製造批可分為幾個檢驗批 ，但須防止將一個以上的製造批合併為 檢驗批 。檢驗批檢驗批構成之目的乃是便利抽樣計劃之進行，依其 批量 大小照 抽樣計劃 抽出樣本加以檢驗，再按照抽樣檢驗的原則來斷定這個檢驗批能否允收批量批量是指每個檢驗批內製品單位的數量，其符號以 N 表示。樣本樣本是從檢驗批中所抽取一個以上的單位製品所組成的，樣本中的各個樣品均須隨機且具代表性，而不考慮它的品質好壞的情況抽出。樣本中所含的製品單位的數目稱樣本數或樣本大小，其符號以 n 表示。cnshu 擁有龐大的管理資料庫合格斷定數 斷定一批產品能否合格或不合格的基準不良數謂之合格斷定數，其符號以 C

4、 AC表示。(斷定批為合格時，樣本內容許含有之最高不良品個數，以AC或C表示之。)不合格斷定數(斷定批為不合格時，樣本內所含之最少不良品個數，以Re表示之。)缺點製品單位其品質特性不符合契約所規定的規格、圖樣、購買說明書等的要求者謂之缺點，其符號用 d 表示。缺點普通可分為:(1)嚴重缺點(Critical defect) 凡有危害製品的運用者或攜帶者的生命或平安之缺點謂之嚴重缺點。(2)主要缺點(Major defect) 製品單位的運用性能不能達到所期望之目的，或顯著的減低其實用性 質的缺點謂之主要缺點。(3)次要缺點(Minor defect) 實際上不影響製品的運用目的之缺點謂之次要缺

5、點。cnshu 擁有龐大的管理資料庫 抽樣檢驗(Sampling lnspection)係由美國貝爾電話研討的H.F.Dodge及H.G.Romig所創始，是用少數樣本去判斷一批製品的良窳。抽樣檢驗雖然並非絕對可靠，但近代統計學的發展已使抽樣理論與實用方法幾乎趨於完備，使此等方法具有高度的可靠性及經濟價值。因此，抽樣檢驗方法在今日工商業界，實成為不可短少的工具。抽樣檢驗的由來cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗計劃的分類計數值抽樣檢驗計劃 規準型、選別型、調整型計數值抽樣檢驗計劃 規準型、調整型cnshu 擁有龐大的管理資料庫三種抽樣檢驗計劃1.規準型抽樣檢驗計劃 此種抽樣計劃的精神在兼顧

6、買賣雙方之利益和損失即規定雙方的冒險率及為一定之數字(普通取 =5%， =10%) 。2.選別型抽樣檢驗計劃 通常在抽樣檢驗時不合格批均斷定為退貨，但在選別型抽樣計劃中規定凡被判不合格批則全數剔選，且將不良品以良品補足而以允收，此種抽樣方式在長期連續幾批抽驗後，允收批的品質將比原作業平質為佳，如此可保證驗收批的平均品質，僅適用於非破壞性檢驗。3.調整型抽樣檢驗計劃 調整型抽樣計劃規定，依過去檢驗結果，假設送驗批品質良好即減少檢驗樣本，反之則添加樣本或減少合格斷定數(加嚴檢驗) 。此方法須有連續批送驗時方可應用。 (單獨批無法調整其檢驗量)。 cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗的方式單次抽

7、樣方式: 從批量N中隨機抽取含n個之樣本，如發現樣本中有c個或c個以下不良品時，則判斷該批產品為合格。這種只抽驗一次就可判斷一批產品合格與否的檢驗方式稱為單次檢驗方式。雙次抽樣方式: 從批量N中隨機抽取第一次樣本n1件，其中不良品數為d1，則：d1c1時，判斷該產品為合格d1r1時，判斷該產品為不合格r1表拒收斷定數c1d1r1時作第二次抽樣第二次抽取樣本n2件，其中不良品數為d2，則：d1d2c2時，判斷該產品為合格d1d2c2時，判斷該產品為不合格r1c2或r1c2或是檢驗方式不同而定多次抽樣檢驗方式:cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗的方式單次、雙次、多次抽樣檢驗之優劣點比較： 項

8、目單次雙次多次對產品品質的保證幾乎一樣對供應者心思上的影響 最差 中間 最好總檢驗費用 最少 中間 最多行政費用含訓練、人員、記錄及抽樣等 最少 中間 最多檢驗負荷的變異性 不變 變動 變動對每批製品品質估計之準確性 最差 中間 最好對製程平均數估計之決策速度 最快 較慢 最慢對檢驗人員及設備之運用率 最正確 較差 較差cnshu 擁有龐大的管理資料庫MIL-STD-105E樣本代碼表電 性 採 用外 觀 採 用從左向右,樣本愈來愈大cnshu 擁有龐大的管理資料庫MIL-STD-105E抽樣方案表外觀電性從左向右,要求愈來愈嚴!MIL-STD-105E之轉換程序 正常檢驗轉換成加嚴檢驗時：當

9、實行正常檢驗時，如原來檢驗之連續2、3、4或5批中有2批被拒收，即可改用加嚴檢驗。l 加嚴檢驗轉換成正常檢驗時：當實施加嚴檢驗時，如原來檢驗之連續5批中被允收時，即可開始改用正常檢驗。l 正常檢驗改用減量檢驗時：正常檢驗之前10批，在正常檢驗時均已被允收，而且這10批中其不良品或缺點之總數，等於或小於抽樣表所列之數目者。l 減量檢驗轉換成正常檢驗：當施行減量檢驗時，如在原來檢驗中有一批被拒收，及改為正常檢驗。l 檢驗的終止：在原來加嚴檢驗時，假設沒有允收的連續批數，累積到5批，則本標準之允收程序即告終止。直到採取矯正措施後，才干恢復檢驗。例 知N=150，允收水準AQL=4.0不良率，普通檢驗

10、水準。求在多次、雙次、單次抽樣計劃下必須的平均抽樣檢驗數量。& 查附表，得代字F。單次抽樣查出樣本大小n=20，允收數Ac=2，拒收數Rc=3雙次抽樣查出樣本大小n1=13，Ac1=0，Rc1=3；n2=13，Ac2=3，Rc2=4多次抽樣略最多七次cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 1.目的 2. 適用範圍 3. 定義 4. 參考資料 5. 權責單位及職責 6. 作業內容 7. 作業流程圖 8. 附件品質檢驗標準 1、目的 建立公司品質標準，為相關單位、人員提供作業指南，確保產品標準切實有效地執行。2、適用範圍2.1 本標準適用於公司內一切物料、半廢品、廢品檢驗。2.1.1當客戶有

11、特別要求時，則遵照客戶要求作業; 當客戶未作特別 要求時，本標準即作為公司之通用 檢驗標準執行。2.1.2 當缺失無法用文字表達清楚時，可製作界限樣本及參照執行。cnshu 擁有龐大的管理資料庫cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 3、定義3.1 嚴重缺點: 凡是有危害制品運用者或攜帶者的生命或平安之缺點。3.2 主要缺點: 制品單位的運用性能不能達到所期望之目的，或顯著的減低其實用性質的缺點。3.3 次要缺點: 不影響制品的運用目的之缺點，如: 視覺上存在瑕玼。 品質檢驗標準 4、參考資料4.1【檢驗與測試作業程序】QP-QT-01。 4.2【不合格品控制造業程序】QP-QT-03。

12、4.3【MIL -STD-105E抽樣計劃】WI-QT-021。4.4 品質記錄總覽表。4.5 產品規格書、零組件承認書、SIP、SOP。5、權責單位及職責5.1 品質單位制定本標準。5.2 品質主管核準及督導執行本標準。 5.3 文管單位進行編號、受控發行本標準。5.4 檢驗單位負責執行本標準。品質檢驗標準 6、作業內容 作業內容 6.1抽樣檢驗及斷定 6.1.1 進料檢驗及斷定外觀：采用MIL-STD-105E LEVELAQL0.65%單次抽樣計劃之 標準進行檢驗及斷定尺寸：采用MIL-STD-105E LEVEL S-3 AQL0.25%單次抽樣計劃之標準進

13、行檢驗及斷定電性：采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 AQL0.25%單次抽樣計劃之標準進行檢驗及斷定破壞性試驗：采用10 pcs /批進行抽樣檢驗，Ac=0 cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 6.1.2 製程檢驗及斷定.外觀：100%全檢 Ac=0 Re=1 執行.尺寸：采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 AQL0.25%單次抽樣計劃之標 準進行抽樣檢驗及斷定電性：依【廢品測試項目及抽樣標準】WI-EA-238 進行抽樣檢驗, Ac=0 Re=1 進行斷定 6.1.3 出貨檢驗及斷定

14、外觀：采用MIL-STD-105E LEVEL Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標準進行抽樣檢驗及斷定尺寸：采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標準進行抽樣檢驗及斷定電性：采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標準進行抽樣檢驗及斷定破壞性試驗：采用5 pcs /批，Ac=0 Re=1進行抽樣檢驗及斷定品質檢驗標準 6.2 檢驗狀態標示 檢驗前、中、後須作好狀態標示及隔離平安放置。6.3 檢驗記錄填6.3.1 檢驗人員按照相關文件進行外觀、尺寸、電性、

15、破壞性試驗 等檢 驗或進行實際裝配後，須將檢驗結果填寫在相應表單上(參閱【檢驗與測試作業程序】QP-QT-01)。 外觀檢驗時，在表單之外觀檢查項目欄中填寫檢驗內容和數量 尺寸電性破壞性試驗等檢測時，假設無不良各任選10pcs測試數據填寫在表單之相應欄位中，當有不良且不良個數小于或等于10pcs時，將不良數據全數填于表單之相應欄位中，當不良個數大10pcs時，則選10pcs數值偏向較大的填于表單之相應欄位中，并在表單之相應項目欄中填寫不良內容和數量 cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 6.4 檢驗記錄簽核 檢驗記錄在填寫完成后交上級主管簽核，在檢驗中發現

16、有異常狀況 時，其簽核須參照【不合格品控制造業程序】QP-QT-03執行。6.5 檢驗記錄管理 檢驗記錄須作好標識、儲存、保護，并在超過保管期限進行處理,檢驗記錄之保管期限參照品質記錄總覽表。6.6 不良斷定標6.6.1 原物料方面(詳見附件一)6.6.2 半廢品及廢品方面(詳見附件二) 7、作業流程圖 : 無品質檢驗標準 8、附件 :8.1 不良斷定標準之附件一: 原物料方面8.1.1磁棒 嚴重缺點：.1電氣物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形等嚴重不良。 主要缺點：.1外表有

17、影響產品生產、裝配之燒結不良點或附雜質；.2崩口：6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5 mm；.3崩口深度：6或以下的超過0.2 mm；6以上的超過0.3 mm；.4崩口個數超過1個, 非兩端面有崩口。 次要缺點：.1磁棒外表有斑痕髒污等外觀不良。 品質檢驗標準 8.1.2 RH磁芯嚴重缺點：.1電氣、物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數不符、孔堵塞等嚴重不良。主要缺點：.1外表有影響產

18、品生產、裝配燒結不良點、沙孔或附雜質；.2崩口尺寸超過1.0 mm，或線孔處崩口延至外邊緣；.3崩口深度超過0.5mm；.4崩口個數超過1個。次要缺點：.1外表斑痕髒污等外觀不良。品質檢驗標準 8.1.3 磁環嚴重缺點：.1電氣、物理性能不合格；.2塗層附著性不合格；.3規格尺寸不合格；.4斷裂、裂縫、破損、變形、露鐵芯、涂裝翻翹等嚴重不良；.5涂裝顏色不符合要求。 主要缺點：.1未塗裝品有影響產品生產、裝配之燒結

19、不良、外表沙孔或附雜質；.2崩口 未塗裝品外外表崩口尺寸: T30或以下規格超過0.5 mm，T30至T50規格超 過0.8 mm，T50至T90規格超過1.2mm，T90或以上規格超過1.5mm；.3崩口 未塗裝品內外表崩口尺寸:T50或以下規格超過1.0 mm，T50至T90規格超過1.5mm，T90或以上規格超過2.0mm； cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 .4未塗裝品崩口深度超過0.5mm；.5未塗裝品崩口個數超過1個；.6已塗裝品有影響產品生產、裝配之外表脫漆、毛刺等塗裝不良；.7已塗裝

20、品外表有凹痕: T50或以下規格超過1.2 mm，T50至T90規格超過2.0mm，T90或以上規格超過2.5mm；.8已塗裝品凹痕深度超過0.3mm；.9已塗裝品凹痕個數超過1個；.10磁環塗裝品經過含浸試驗后達不到要求。 次要缺點：.1已塗裝品同一批來料色澤不一;.2外表有斑痕髒污等外觀不良。品質檢驗標準 8.1.4 DR、SCH、BF、BL磁芯 嚴重缺點：.1電氣、物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3斷裂、裂縫、破損、變形、缺腳、反腳、腳鬆等嚴重

21、不良； 主要缺點：.1外表有影響產品生產、裝配之燒結不良點、沙孔或附雜質；.2崩口 外外表: 6或以下的超過0.8 mm；6以上的超過1.2 mm；內外表: 6或以下的超過1.0 mm；6以上的超過1.5 mm；.3崩口深度：6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5mm；.4崩口個數超過1個；.5 磁芯外表凹痕(塗裝良好): 6或以下的超過1.0 mm；6以上的超過1.5 mm；.6磁芯外表凹痕深度(塗裝良好)：6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5mm；cnshu 擁有龐大的管理資

22、料庫品質檢驗標準 .7外表凹痕個數超過 1個;.8針腳或貼片氧化發黑或上錫不良、針腳基部嚴重彎曲等； .9引腳封膠面低於接腳口平面，或6(或以下的)有孔徑、深度超過0.3mm之氣孔，或6以上的有孔徑、深度超過0.5mm之氣孔； .10附針腳的磁芯針腳拉力達不到資料承認書要求； .11可焊性達不到資料承認書要求 ; .12 DR涂裝品外表成毛刺,雜質 ; .13涂層不均勻,掉漆 ; .14接腳處少膠(膠低於接腳處平面) ;.15接腳處多膠(膠高度大於本身引腳線徑).8.1

23、.4.3 次要缺點:.1磁芯有髒污或引腳鍍層有黑點,有色斑,引腳彎曲等外觀不良。品質檢驗標準 8.1.5.磁套嚴重缺點:.1電氣.,物理性能不合格: .2規格尺寸不合格:.3斷裂,裂縫,破損,變形等嚴重不良:.主要缺點:.1外表有影響產品生產,裝配之燒結不良點,沙孔或附雜質;.2崩口: 外外表: 10或以下的超過0.3 mm；10以上的超過0.4 mm； 內外表: 10或以下的超過0.4 mm；10以上的超過0.5 mm.3崩口深度超過0.2mm; .4崩

24、口個數超過1個;.5已塗裝品外表有凹痕: 外外表: 10或以下的超過0.4 mm；10以上的超過0.5 mm； 內外表: 10或以下的超過0.5 mm；10以上的超過0.8 mm ;.6已塗裝品凹痕深度超過0.3mm； cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 .7已塗裝品凹痕個數超過1個；.次要缺點;.1磁套有髒污或有色斑等外觀不良.8.1.6 SD等鍍銀品 嚴重缺點:.1電氣、物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3斷裂、裂縫、破損、變形等嚴重不良；8.1.6.

25、2 主要缺點:.1外表有影響產品生產、裝配之燒結不良點、沙孔或附雜質；.2崩口: 外外表: 6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5 mm；內外表: 6或以下的超過0.5 mm；6以上的超過0.8 mm；.3崩口深度：6或以下的超過0.2 mm；6以上的超過0.3 mm；.4總崩口個數超過1個；品質檢驗標準 .5銀面平整度不良 (產品焊錫點或面離開程度面的最大距離大於0.10mm)；.6銀面擴散超過電極分隔區之1/4；.7銀面偏移至中心電極分隔區: 超過電極分隔區之1/5；.8

26、銀面偏離中心電極分隔區：超過電極分隔區之1/5；.9銀面垂流：超越其所在位置厚度之1/2；.10銀面剝落磨損和發黑等超過其所在面凸處接觸面積的10%；.11銀面焊錫後未達95%可靠上錫。.12磁芯本體電鍍面方向錯誤 次要缺點:.1來料附髒污或鍍銀面有小黑點小色斑等外觀不良。8.1.7 SC、ST磁芯 嚴重缺點:.1電氣、物理性能不合格； 品質檢驗標準 .2規格尺寸不合格；.3斷裂、裂縫、變形、生銹、接觸面帶刺、涂裝脫落等嚴重不良。 主要缺點:

27、.1外表有影響產品生產、裝配之燒結不良點、沙孔或附雜質；.2崩口：外外表 尺寸超過0.5mm, 內外表 尺寸超過0.8mm ;.3崩口深度超過0.3mm；.4磁芯崩口超過1個；.5已塗裝品外表有凹痕: 外外表 尺寸超過0.8mm, 內外表 尺寸超過1.0mm ;.6已塗裝品凹痕深度超過0.3mm；.7已塗裝品凹痕個數超過1個；.8磁環塗裝品經過含浸試驗后達不到要求。.9涂裝位露鐵芯或涂層附有超過0.2mm異物或毛刺；.10涂裝位有( 0.5mm以上 )冒油

28、、起泡等。cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 次要缺點:.1來料涂裝色澤不一；.2來料附髒污或色斑等外觀不良。8.1.8 TR磁芯 嚴重缺點:.1電氣、物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3斷裂、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴重不良。 主要缺點:.1外表有影響產品生產、裝配之繞結不良或附雜質；.2單個接觸面上崩口尺寸超過1.0mm；.3接觸面上總崩口尺寸超過1.5 mm，或崩口個數超過2個；.4單個非接觸面上崩口尺寸超

29、過1.5 mm，或崩口個數超過1個；.5非接觸面上總崩口尺寸超過2 mm，或單方向崩口個數超過2個； 品質檢驗標準 .6崩口深度超過0.5mm；.7整個磁芯崩口個數超過4個；.8磁芯內外表有影響裝配或超過所在面25%之漆模。 次要缺點:.1磁芯外表銹斑或其它有色斑痕髒污等外觀不良。8.1.9支架、基座、外殼等塑膠件 嚴重缺點:.1物理性能不合格；.2規格尺寸不合格；.3斷裂、破損、刮傷、壓傷、變形、缺腳、毛邊、腳位不符等嚴重不良； 主要缺點:

30、.1繞線區有凹痕、沙孔等；.2外表縮水尺寸超過0.1mm;縮水處超過三個;水口尺寸大於0.2mm;掛線柱缺損等; .3針腳氧化發黑或針腳基部彎曲等；cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 .4 BASE(支架,基座)的拉力達不資料承認要求；.5 BASE(支架,基座)的可焊性不良(須上錫均勻、外表光潔、可靠上錫面積達90%以上等)。.6 SMD BASE可焊性檢測依WI-QT-0.3 次要缺點;.1外表有毛刺或切口不平整等；.2外表有黑點斑痕髒污等外觀不良。8.

31、1.10繞組隔板嚴重缺點:.1材質不合格;.2規格尺寸不在合格;主要缺點:.1缺角、周圍切割不平;品質檢驗標準 次要缺點:.1外表有黑點斑痕髒污等外觀不良。8.1.11 漆包線(圓形) 嚴重缺點.1性能:【針孔測試】WI-QT-017 【耐壓測試】WI-QT-018 、【卷繞試驗】WI-QT-019、【可焊性檢測】WI-QT-016等不合格；.2規格尺寸不合格。 主要缺點:.1顏色不符合要求,線軸破損；8

32、.線徑不均勻有凹痕或漆皮有粒子缺陷排線亂或線頭被卡死變色刮傷露底色；.3多股線絞合不良或陳列線排線錯位等。 次要缺點:.1線扭結或外表有麻皮黑點斑痕等有色斑痕;品質檢驗標準 .2線皮上附灰塵髒污等外觀不良。8.1.12漆包線(扁平)嚴重缺點:.1性能不合格.2規格尺寸不合格.主要缺點:.1線徑不均或有毛刺及披鋒現象;.2線外表漆層不均勻有凹痕或漆皮有粒子缺點.線圈不緊密,刮傷,露底色;.3顏色不符合要求;

33、.次要缺點:.1線扭結或外表有麻皮黑點斑痕等有色斑痕;.2線圈外表附灰塵,髒污,有斑痕.8.1.13鍍錫線嚴重缺點:品質檢驗標準 .1性能尺寸不合格;主要缺點:.1外表刮傷.露銅,焊錫脫落,氧化發黑,外表錫粒;.2線徑不均;.3焊錫性不良(檢測依資料承認書). .次要缺點:.1線扭結或外表有黑點斑痕等有色斑痕;.2線皮上附灰塵髒污等外觀不良。8.1.14絕緣膠帶 嚴重缺點:

34、.1粘度試驗不良；.2規格尺寸不合格；.3型號顏色等不符合要求； 主要缺點:品質檢驗標準 .1脫膠、膠層分別刮痕邊緣毛邊等不良。 次要缺點:.1外表不平整色澤不一致有折皺灰塵污物等外觀不良。8.1.15套管 嚴重缺點:.1性能、規格尺寸不合格;.2型號顏色等不符合要求。 主要缺點:.1有糊膠開裂刮痕或針孔切口斜或毛邊等不良。 次要缺點:.1色澤不一致有折皺灰塵污物等外觀不良。8.1.15.

35、3.2印字的套管, 有字跡不明晰歪斜現象。8.1.16五金件 嚴重缺點:品質檢驗標準 .1型號材質不合格；.2規格尺寸不合格；.3剪切不良變形氧化發黑&生銹鍍層脫落或露底色等。 主要缺點:.1可焊性不良；.2外表刮痕披鋒裂紋。 次要缺點:.1外表不光潔色澤不一致有灰塵或污物等外觀不良。8.1.17包裝資料 嚴重缺點:.1型號材質不合格；.2規格尺寸不合格；.3絲印不正確。

36、主要缺點品質檢驗標準 .1變形、破損、皺折等；.2 絲印斷筆、不明晰、潮濕等。 次要缺點:.1異物附著、灰塵污物及刻畫等現象。8.1.18 麥頭、標簽、貼紙 嚴重缺點:.1 材質、規格尺寸。 主要缺點:.1顏色、內容不符。 次要缺點:.1 絲印斷筆、不明晰、異物灰塵污物附著。8.1.19化學品 嚴重缺點:.1 型號不符或已失效。品質檢驗標準 主要缺點:.1 包裝損壞或密封

37、不良好。 次要缺點:.1 標示不良(不明晰、損壞、不全)。8.1.20 焊料 嚴重缺點:.1 型號不符。 主要缺點:.1本體中含異物或殘渣過多。 次要缺點:.1 外表異物、殘渣附著。品質檢驗標準 8.2 不良斷定標準之附件二: 半廢品及廢品方面8.2.1 AP、APB、APU系列 嚴重缺點:.1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯; 固定圈數產品圈數錯;.3 產品進出引線相碰(臥式產品漆包膜完好無缺除外)

38、,相位錯。 主要缺點:.1 機械尺寸(角度)不在規格內..2 鐵芯、底座本體斷裂,裂縫;.3 鐵芯掉漆1處; .4 鐵芯外表有凹痕: T30或以下規格超過0.5 mm，T30至T50規格超過1.2 mm， T50至T90規格超過2.0mm，T90或以上規格超過2.5mm;.5 鐵芯凹痕深度超過0.3mm,或凹痕個數超過1處;.6 線傷、爆皮位於磁環內圈進出引腳上或匝間碰接處; 品質檢驗標準 .7 線傷、爆皮尺寸超本身線徑1半,并已氧化發黑;.8 產品2根相鄰繞線爆皮;8

39、.產品上有錫渣或錫珠;.10 冷焊、漏焊、焊錫不全;.11對點膠產品,出現膠少膠多,膠不干現象; .12 標記顏色或標簽內容、位置、方向等不符合承認書要求;.13加底座之產品,線圈未貼平底座,歪斜超過底座的尺寸範圍;.14 繞腳高度超出引腳定位面;.15 錫位與承認書要求不符;.16 引腳刮傷至露銅;.17 引腳漆包膜部份間隙有錫;.18引腳拉力強度不良(不能滿足資料承認要求)。.19 AP臥式產品插入模具後出現一邊起翹.cnshu 擁有龐大

40、的管理資料庫品質檢驗標準 次要缺點.1 引腳不平行(插入量具後,量具面與磁芯面不貼);.2 剝漆粗糙、引腳氧化、發黑、黃斑、黑點、少錫、PIN歪斜;.3 線圈與磁芯間隙超過一根本身線;.4 單層繞線產品外圈線交叉或重疊;.5 多圈產品外圈交叉或引腳處交叉或引出線有壓痕現象; .6 引腳明顯長短不一(產品SPEC中引腳長度尺寸一致時) 產品引腳長度公差在 1.0mm以上,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/4或以內; 產品引腳長度公差在 0.71.0mm之間,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/3

41、或 以內; 產品引腳長度公差為 0.6mm ,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/2或以內; 產品引腳長度公差在 0.6mm 以下,則引腳長度差不需作控制;.7 繞線上或剝漆接口處漆皮剝鬆發黑嚴重;.8 繞腳圈數不符:0.25mm以下線徑的產品繞腳圈數少於2TS; 品質檢驗標準 0.25mm0.45mm線徑的產品繞腳圈數少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產品繞腳圈數少於1TS;.9 繞腳方向錯或留尾;.10 套管過長或過短,明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊; .11 標記不明晰、偏斜或易脫落; .12 包膠

42、帶圈數不正確，接口鬆脫，毛邊; .13 底座燙傷、變形.崩口;.14 立式多線並繞產品,引腳從外磁芯面至內徑方向2/3處內有開裂現象;臥式多線 并繞產品,引腳從磁芯底面至磁芯頂部方向2/3處內有開裂現象,引腳端面開裂深度超過1mm;.15 繞線分布不良,引出線錯位(兩引腳在同一平面上的投影須有重疊部分);.16 裝配不良(磁芯繞線與基座偏位或傾斜,引線按規定位置引出等)。8.2.2 DR、DRU系列 嚴重缺點: cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質檢驗標準 .1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線

43、方向錯;斷線;.3 繞腳相位錯。 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;.2 磁芯斷裂、裂縫;.3 崩口: 6或以下的超過1.0 mm；6以上的超過1.5 mm；.4 崩口深度: 6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5mm；.5 總崩口個數超過2個;.6 焊錫過深(引腳錫位超過CORE下擺的1/2);.7 漏焊、冷焊、起結;.8 線傷、爆皮尺寸超本身線徑1半,并已氧化發黑; .9 裝配不良(如2DRUC的產品,組裝後會出現線圈與基座鬆脫

44、);品質檢驗標準 .10 針腳易鬆動或脫落(用繞線線徑做引腳的產品不需做拉力試驗) 2mmCORE之引腳拉力1.0公斤; 2mm3mm CORE之引腳拉力1.5公斤; 3mm6mm CORE之引腳拉力6mm 以上CORE之引腳拉力 2.5公斤..11 標記顏色或標簽內容、位置、方向等不符合承認書要求;.12 套管材質不良;.13 產品錫珠或錫渣附著。 次要缺點:.1 接腳處氣孔大小超過0.5mm;氣孔處可看見鐵芯本體;.2 0.25mm以下線徑的產品繞腳圈數少於2TS; 0.25mm0.45mm線

45、徑的產品繞腳圈數少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產品繞腳圈數少於1TS..3 繞腳方向錯或留尾線頭;品質檢驗標準 .4引腳明顯長短不一(產品SPEC中引腳長度尺寸一致時) 產品引腳長度公差在 1.0mm 以上,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/4或以內; 產品引腳長度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/3或以內; 產品引腳長度公差為 0.6mm ,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/2或以內; 產品引腳長度公差在 0.6mm 以下,則引腳長度差不需作控制;.5 線圈陳列不均勻,線打折;.6 引腳氧

46、化、發黑、焊錫粗糙、黃斑、黑點、包漆過長;.7 套管過長或過短,明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊;.8 引腳歪斜(插入冶具後產品定位點不能接觸對應冶具面);.9 標記不明晰、偏斜或易膠落;.10 線徑0.25mm之產品套管未包住磁芯端面處引出線;.11產品外表有異物附著.品質檢驗標準 8.2.3 AK、AKU系列 嚴重缺點:.1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯; 圈數錯. 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;.2 鐵芯斷裂或裂縫或線圈

47、鬆動;.3 單個崩口：6或以下的超過0.8 mm；6以上的超過1.5 mm；.4 多個崩口：6或以下的超過0.5 mm；6以上的超過1.0 mm；.5 崩口深度：6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5 mm；.6 崩口總個數超過2個。.7 錫珠、錫渣附著;.8 漏焊或焊錫不全; 品質檢驗標準 .9 產品線傷、爆皮尺寸:1.0mm或以下線傷、爆皮尺寸超過0.3mm,1.0mm以上線 傷、爆皮尺寸超過0.5mm;線傷超過2處或2處線傷相碰;.10 剝漆處漆包殘留或銅線剝傷; 8.

48、1 標記顏色或標簽內容、位置、方向等不符合承認書要求; .12 貼片類產品平整度尺寸超過0.1mm(特殊產品除外);.13 角度不符合要求; .14 引腳錫位不符合規格要求;.15 線圈兩端點膠太少(小於本身線徑的1/2); 次要缺點:.1 線圈交叉重疊;.2 線圈間隙超過本身線徑的1/4;.3 線圈,磁芯端面或引腳上附膠或附異物;.4引腳明顯長短不一(產品SPEC中引腳長度尺寸一致時) 產品引腳長度公差在 1.0mm 以上,則引腳長度差須管控在其長度公差

49、的1/4或以內; 品質檢驗標準 產品引腳長度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/3或以內; 產品引腳長度公差為 0.6mm ,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/2或以內; 產品引腳長度公差在 0.6mm 以下,則引腳長度差不需作控制;.5 點膠不均勻,多膠(大於本身線徑的外側);.6 引腳彎曲; 引腳鬆動;引腳明顯不平行;.7 線圈兩端顯露鐵芯目視明顯不均等;.8 剝漆處明顯凹凸不平;.9 引腳氧化、發黑、黃斑、黑點;.10 套管明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊;

50、.11 標記不明晰、偏斜或易脫落;.12 線圈末端一圈有凸起現象,使整個線圈不平整.8.2.4 AM系列嚴重缺點:品質檢驗標準 .1電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯、圈數錯。 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;.2 單個崩口：崩口尺寸超過1.0 mm，或線孔處崩口延至外邊緣；.3 多個崩口：崩口尺寸超過0.5 mm；.4 外外表有2 個以上崩口；.5 崩口深度超過0.5mm；.6 總崩口個數超過3個。.7 點膠位置錯;

51、 次要缺點:.1 引腳氧化、黑點;.2 線傷尺寸超過本身線徑的一半,并已氧化發黑;.3 引腳彎曲;品質檢驗標準 .4 多膠或少膠致線圈鬆動,零散膠附著;.5 底座明顯歪斜,異物附著、粗糙、毛邊;.6引腳明顯長短不一(產品SPEC中引腳長度尺寸一致時) 產品引腳長度公差在 1.0mm 以上,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/4或以內; 產品引腳長度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/3或以內; 產品引腳長度公差為 0.6mm ,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/2

52、或以內; 產品引腳長度公差在 0.6mm 以下,則引腳長度差不需作控制;8.2.5 TR系列 嚴重缺點:.1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線、配線錯、圈數錯、繞腳方向、相位錯。 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;品質檢驗標準 .2 磁芯斷裂、裂縫、影響裝配之變形;.3 鐵芯配套錯位面積超過相應接觸面的5%;.4 單個接觸面上崩口尺寸超過1.0mm；.5 接觸面上總崩口尺寸超過1.5 mm，或崩口個數超過2個；.6 單個非接觸面上崩口尺寸超過1.5 m

53、m，或崩口個數超過1個；.7 非接觸面上總崩口尺寸超過2 mm，或單方向崩口個數超過2個；.8 崩口深度超過0.5mm；.9 整個磁芯崩口個數超過4個；.10 焊錫最高處接觸線圈;.11 底座、線圈燙傷、錫珠、錫渣附著;.12 漏焊或冷焊或針腳端面氧化發黑; .13 膠帶繞圈錯，隔離膠帶層未完全將線組隔離;.14 針腳露銅、平整度不符;.15 針腳上附油污、易鬆動或脫落;品質檢驗標準 .16 點膠位置錯;.17 產品烘烤后磁芯易鬆動;8.2.

54、5.2.18 針腳易鬆動或脫落: 引腳拉力強度不能滿足資料承認要求;.19 標記顏色或標簽內容、位置、方向等不符合承認書要求. 次要缺點:.1 支架底座邊緣切口不平整;.2 引腳焊錫粗糙、氧化發黑、黃點、黑點;.3 膠帶粘貼不到位,合縫不整齊,毛邊,脫色;.4 線鬆、線打折或線圈陳列明顯不均勻;.5 點膠不均勻,多膠或少膠至易脫落或裂縫現象;.6 引腳彎曲或明顯不平行;.7 凡立水濃度不符合規格書要求,真空含浸后有氣泡產生;.8 異物附著;.

55、9 標簽明顯偏斜、毛邊、粗糙或粘合不緊。品質檢驗標準 8.2.6 AS、BC、BS系列 嚴重缺點: .1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線，繞線、繞腳方向錯、圈數錯; 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;.2 鐵芯本體斷裂,裂縫,脫落;.3 線傷超過本身線徑的一半,并已氧化發黑;線傷超過2處或線傷2處相碰;.4 BC產品鐵芯未貼平底座或線圈明顯偏離底座中心點;.5 基座有破損現象;.6 T30或以下規格崩口尺寸超過0.5 mm,或崩口2處或以上;8.2.

56、6.2.7 冷焊、漏焊、焊錫缺乏(低於90%上錫面積),焊錫錫位高於底座底部1.0 mm;.8 線圈上有錫珠、錫渣附著;.9 標記內容、顏色、位置不符合承認書要求;品質檢驗標準 .10 SMD類型(如:BS系列)產品引腳平整度尺寸超過0.1mm;.11 針腳易鬆動或脫落: 引腳拉力強度不能滿足資料承認要求;.12 點膠或凡立水不均勻,或多或少現象(如弘電AS的產品). 次要缺點:.1 線圈重疊、交叉;.2 引線入底座槽未垂直引出;.3 磁芯掉漆、披鋒;.4

57、 繞腳高腳(繞腳高於基座之定位面)、留尾線頭、交叉、重疊、線鬆,繞腳圈數不符: 0.25mm以下線徑的產品繞腳圈數少於2TS; 0.25mm0.45mm線徑的產品繞腳圈數少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產品繞腳圈數少於1TS;.5 引腳等焊錫面不光亮,、粗糙、發黃、氧化發黑; .6 基座外表燙傷高度大於1mm,起泡尺寸超過0.3 mm;.7引腳明顯長短不一(產品SPEC中引腳長度尺寸一致時)品質檢驗標準 產品引腳長度公差在 1.0mm 以上,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/4或以內; 產品引腳長度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長度差

58、須管控在其長度公差的1/3或以內; 產品引腳長度公差為 0.6mm ,則引腳長度差須管控在其長度公差的1/2或以內; 產品引腳長度公差在 0.6mm 以下,則引腳長度差不需作控制;.8 標記不明晰、有氣泡或垂流邊側、易脫落;.9 異物附著或錫渣附著。8.2.7 SD、SDR、LQ等系列 嚴重缺點: .1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線，繞線、繞腳方向、組合方向錯。 主要缺點:.1 機械尺寸不在規格內;.2 磁芯斷裂、裂痕;品質檢驗標準 .3 冷焊、漏焊、焊錫缺乏(低

59、於90%上錫面積),;或焊錫最高處延伸至繞線區;.4 線傷、爆皮尺寸超過本身徑的一半,并已氧化發黑;.5 單個崩口: 6或以下的超過1.0 mm；6以上的超過1.5 mm；.6 多個崩口: 6或以下的超過0.8 mm；6以上的超過1.2 mm ;.7 單面崩口個數超過2個；.8 崩口深度：6或以下的超過0.3 mm；6以上的超過0.5mm；.9 崩口總個數超過3個；.10 貼片面平整度超過0.1 mm(特殊以工程規定為準);.11 傾斜度超過0.3mm;.12 鍍銀品掉

60、銀兩處以上,側面銀垂流超過厚度的1/2,電極分隔區銀面擴散超過分隔 區寬度的1/3;.13 白點方向錯;.14 標記內容、顏色、位置不符合承認書要求;.15 線圈沒有點膠固定(SD43 & SD32除外,線徑小於或等於0.2mm之產品*只針對WURTH客戶的.); 品質檢驗標準 .12. 線圈附錫珠,錫渣; .13 銀面翻翹. 次要缺點:.1 線圈陳列不緊密、不均勻、線交叉;.2 引線未貼緊鍍銀面; .3 焊錫面發黃、氧化、發黑;.4 鍍銀面頂部接觸面上有