1、過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章液位：容器中液體介質的高低液位：容器中液體介質的高低料位：容器中固體物質的堆積高度料位：容器中固體物質的堆積高度界面：兩種密度不同液體介質的分界面的高度界面：兩種密度不同液體介質的分界面的高度2.5 物位檢測及儀表物位檢測及儀表 物位測量在工業生產中具有重要的地位。例如物位測量在工業生產中具有重要的地位。例如蒸汽鍋爐運行時，如果汽包水位過低，就會危及鍋蒸汽鍋爐運行時，如果汽包水位過低，就會危及鍋爐的安全，造成嚴重事故。爐的安全，造成嚴重事故。2.5.1概述概述 物位的含義包括：物位的含義包括：過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 物位

2、測量儀表可分為下列幾種類型。物位測量儀表可分為下列幾種類型。1. 靜壓式物位測量靜壓式物位測量 利用液體或物料對某定點產生的壓力隨液位利用液體或物料對某定點產生的壓力隨液位高度而變化的原理而工作。高度而變化的原理而工作。2浮力式物位測量浮力式物位測量 利用浮子所受的浮力隨液位高度而變化的原利用浮子所受的浮力隨液位高度而變化的原理工作。理工作。3. 電氣式物位測量電氣式物位測量 利用敏感元件將物位的變化轉換為電量參數利用敏感元件將物位的變化轉換為電量參數的變化，而得知物位。的變化，而得知物位。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章4. 核輻射式物位測量核輻射式物位測量 利用核輻射線穿透

3、物料時，核輻射線的透射利用核輻射線穿透物料時，核輻射線的透射強度隨物質層的厚度而變化的原理進行測量。強度隨物質層的厚度而變化的原理進行測量。5. 聲學式物位測量聲學式物位測量 測量超聲波在物質中傳播時間的長短，據此測量超聲波在物質中傳播時間的長短，據此可測出物位?？蓽y出物位。6. 光學式物位測量光學式物位測量 利用光波在傳播中可被不同的物質界面遮斷利用光波在傳播中可被不同的物質界面遮斷和反射的原理測量物位。和反射的原理測量物位。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章靜壓式液位變送器靜壓式液位變送器浮球液位變送器浮球液位變送器浮球液位變送器浮球液位變送器靜壓式液位變送器靜壓式液位變送器

4、過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章電容式物位變送器電容式物位變送器超聲波物位變送器超聲波物位變送器過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 p1= H g + p2 p = p1-p2= H g 式中：式中： H液位高度；液位高度； 介質密度；介質密度； g重力加速度。重力加速度。p2p12.5.2差壓式液位變送器差壓式液位變送器 利用測量容器底部和頂部的壓差測液位。利用測量容器底部和頂部的壓差測液位。2.5.2.1 測量原理測量原理 設容器上部空間為干燥氣體，其壓力為設容器上部空間為干燥氣體，其壓力為p2，下，下部取壓點壓力為部取壓點壓力為p2 ，則：，則：過程控制系統

5、與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章若被測容器是敞口的，則氣相壓力為大氣壓，若被測容器是敞口的，則氣相壓力為大氣壓，只需將差壓變送器的負壓室通大氣，或用壓力變送只需將差壓變送器的負壓室通大氣，或用壓力變送器、或用壓力表即可測量。因為壓力變送器和壓力器、或用壓力表即可測量。因為壓力變送器和壓力表都是測量與大氣壓之差。表都是測量與大氣壓之差。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.5.2.2零點遷移零點遷移 理想測量條件下，液位理想測量條件下，液位H=0時，變送器的輸入壓時，變送器的輸入壓差信號差信號P=0，差壓變送器的輸出為零點信號，差壓變送器的輸出為零點信號4mA。零點是對齊的：零

6、點是對齊的： H0時，時， p = H g =0， I0=4mA 應用時，由于差壓變送應用時，由于差壓變送器安裝的實際情況限制，測器安裝的實際情況限制，測量零點很難對齊，需要對差量零點很難對齊，需要對差壓變送器的零點進行遷移。壓變送器的零點進行遷移。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章p = p1-p2 = ( h1 2g + H 1g + p0 ) ( h2 2g + p0 ) = H 1g - ( h2- h1) 2g1、負遷移、負遷移 如圖所示，變送器和容器之間用隔離罐隔離時：如圖所示，變送器和容器之間用隔離罐隔離時： 當當 H =0時，時， p = - ( h2 - h1)

7、 2g 此時，變送器應輸此時，變送器應輸出出4mA以下，但變送器以下，但變送器的輸出只能是的輸出只能是420mA 過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章v 零點遷移的方法是，另加零點遷移的方法是，另加 ( h2- h1) 2g 信號，信號，抵抵消消( h2- h1) 2g的影響。使：的影響。使：H =0 時，時， p =0Hp0I/mAp420I/mAp420Hp0遷移前遷移前遷移后遷移后過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2、正遷移、正遷移 有時變送器不能和容器底部安裝在同一水平面有時變送器不能和容器底部安裝在同一水平面上。如圖所示，有：上。如圖所示，有：P = Hg

8、hg H=0 時，時，P =hgHp0I/mAp420過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章遷移的目的：遷移的目的： 使變送器輸出的起點與被測量起點相對應。使變送器輸出的起點與被測量起點相對應。遷移同時改變了測量范圍的上下限，相當于測遷移同時改變了測量范圍的上下限，相當于測量范圍向正方向或負方向的平移。量范圍向正方向或負方向的平移。此時需要遷移此時需要遷移hgHp0Hp0過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 例如，某差壓變送器的測量范圍為例如，某差壓變送器的測量范圍為050MPa，對應輸出從對應輸出從4mA變化到變化到20mA，這是無遷移的情況，這是無遷移的情況，如圖如圖

9、2.57中曲線中曲線a所示。若因安裝的原因：所示。若因安裝的原因：H=0時，時， P=10 MPa，則需負遷移。則需負遷移。H=0時，時， P=10 MPa，則需正遷移。則需正遷移。無遷移無遷移負遷移負遷移正遷移正遷移-1050cab2040I0/mAP/MPa-10過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.5.2.3用法蘭式差壓變送器測量液位用法蘭式差壓變送器測量液位 在測量含有結晶顆粒、有腐蝕性、粘度大、易凝在測量含有結晶顆粒、有腐蝕性、粘度大、易凝固等液體液位時，引壓管線可能被腐蝕、被堵塞?？晒痰纫后w液位時，引壓管線可能被腐蝕、被堵塞?？墒褂眉痈綦x膜盒的法蘭式差壓變送器。使用加

10、隔離膜盒的法蘭式差壓變送器。 插入式法蘭插入式法蘭平法蘭平法蘭過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.5.3電容式物位變送器電容式物位變送器 利用電容器的極板之間介質變化時，電容量也利用電容器的極板之間介質變化時，電容量也相應變化的原理測物位?？蓽y量液位、料位和兩種相應變化的原理測物位?？蓽y量液位、料位和兩種不同液體的分界面。不同液體的分界面。測量原理測量原理圓柱形電容器的電容量為圓柱形電容器的電容量為dDLCln=2 2LDd為介電系數為介電系數過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章H = 0時：時：H0時：時：C =dD2HlndD2(L-H)0lndD2H(-0 )

11、C = C C0ln=設空氣的介電系數為設空氣的介電系數為0，被測物料的介電系數為被測物料的介電系數為dD2L0C0ln= kHLDd0H 電容的變化量電容的變化量與液位成正比。與液位成正比。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章02.5.3.1液位的檢測液位的檢測 對非導電介質液位的測量，用雙電極式。對導電對非導電介質液位的測量，用雙電極式。對導電介質液位測量，金屬容器的外壁即是電容的外電極。介質液位測量，金屬容器的外壁即是電容的外電極。2.5.3.2料位的檢測料位的檢測 和導電介質液位測量一樣，用單電極式。和導電介質液位測量一樣，用單電極式。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表

12、第第2章章 測量電容量可用交流電橋，也可用其他方法測測量電容量可用交流電橋，也可用其他方法測定。例如充放電法。定。例如充放電法。 如圖所示，用振蕩器給液位電容如圖所示，用振蕩器給液位電容Cx加上幅度和加上幅度和頻率恒定的矩形波。若矩形波的周期頻率恒定的矩形波。若矩形波的周期T遠大于充放遠大于充放電回路的時間常數，則每個周期都有電荷電回路的時間常數，則每個周期都有電荷 Q=CxE對對Cx 充放電，二極管將充電和放電電流檢波，可用充放電，二極管將充電和放電電流檢波，可用微安表測得平均電流。微安表測得平均電流。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 可見，充電可見，充電(或放電或放電)的平

13、均電流的平均電流與液位電容成正比，微安表的讀數可與液位電容成正比，微安表的讀數可反映液面的高低。反映液面的高低。 EfCTECIxx 流過微安表的平均電流為：流過微安表的平均電流為：式中，式中，E矩形波電壓幅度，矩形波電壓幅度，f 矩形波頻率矩形波頻率過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.5.4 超聲波液位計超聲波液位計利用超聲波在液體中傳播有較好的方向性，利用超聲波在液體中傳播有較好的方向性，且傳播過程中能量損失較少，遇到分界面時能反且傳播過程中能量損失較少，遇到分界面時能反射的特性，可用回聲測距的原理，測定超聲波發射的特性，可用回聲測距的原理，測定超聲波發射后遇液面反射回來的

14、時間，以確定液面的高度。射后遇液面反射回來的時間，以確定液面的高度。vtH21 若速度若速度v為已知常數，便可測為已知常數，便可測時間時間 t 算出液面高度算出液面高度H。 v超聲波在液體超聲波在液體中的傳播速度中的傳播速度過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 若測料位，則超聲波若測料位，則超聲波物位計安裝在容器頂部。物位計安裝在容器頂部。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.6 成分檢測及儀表成分檢測及儀表 所謂成分，是指在多種物質的混合物中某一所謂成分，是指在多種物質的混合物中某一種物質所占的比例。種物質所占的比例。 在生產中經常需要在線實時檢測物料的成分。在生產

15、中經常需要在線實時檢測物料的成分。例如在鍋爐燃燒控制中，必須根據煙道氣的含氧量例如在鍋爐燃燒控制中，必須根據煙道氣的含氧量變化，隨時調節助燃空氣的供給量，以獲得最高的變化，隨時調節助燃空氣的供給量，以獲得最高的熱效率。熱效率。 成分檢測項目繁雜，此處只介紹幾種在過程成分檢測項目繁雜，此處只介紹幾種在過程控制中常用的成分檢測儀表?？刂浦谐Ｓ玫某煞謾z測儀表。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 2 P2 空空 氣氣 1 P1 煙煙 氣氣鉑電極鉑電極 ZrO2O2-O2-O2-O2-O2-EE 在固態電解質氧化鋯在固態電解質氧化鋯（ZrO2）中摻入一定比例的）中摻入一定比例的氧化鈣（氧化

16、鈣（CaO）或氧化釔）或氧化釔（Y2O3）時，四價鋯的電子）時，四價鋯的電子被二價鈣或三價釔所置換，被二價鈣或三價釔所置換，形成氧離子空穴。在氧化鋯形成氧離子空穴。在氧化鋯兩側各燒結一層多孔的鉑電兩側各燒結一層多孔的鉑電極，就構成氧濃差電池。極，就構成氧濃差電池。 過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 氧化鋯測氧原理可歸結為氧化鋯測氧原理可歸結為 “氧濃差電池氧濃差電池”的形成的形成過程。氧化鋯外側為被測煙氣，氧含量約為過程。氧化鋯外側為被測煙氣，氧含量約為46，其，其氧分壓為氧分壓為P1，氧濃度為，氧濃度為1；內側為參比氣體，如空氣，；內側為參比氣體，如空氣，氧含量氧含量20.8

17、，其氧分壓為，其氧分壓為P2，氧濃度為，氧濃度為2。E 2 P2 空空 氣氣 1 P1 煙煙 氣氣O2-O2-O2-O2-O2-當溫度達當溫度達600以上時，空以上時，空穴型氧化鋯就成為良好的穴型氧化鋯就成為良好的氧離子導體。氧氣能夠以氧離子導體。氧氣能夠以離子形式從濃度高的一側離子形式從濃度高的一側向濃度低的一側擴散。向濃度低的一側擴散。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 氧分子從鉑電極處得到電子成為氧離子進入氧氧分子從鉑電極處得到電子成為氧離子進入氧化鋯空穴，高氧側鉑電極失去電子而帶正電?；喛昭ǎ哐鮽茹K電極失去電子而帶正電。 O2+4e2O2- 還原反應還原反應 當氧離子

18、通過氧化鋯到達當氧離子通過氧化鋯到達低氧側時，氧離子將電子還給低氧側時，氧離子將電子還給鉑電極變成氧分子進入煙氣，鉑電極變成氧分子進入煙氣，低氧側鉑電極因得到電子而帶低氧側鉑電極因得到電子而帶負電。負電。 2O2-O2+4e 氧化反應氧化反應 2 P2 空空 氣氣 1 P1 煙煙 氣氣O2-O2-O2-O2-O2-E過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章式中：式中：R 氣體常數；氣體常數；F 法拉弟常數；法拉弟常數；n 一個氧分子攜帶電子數（一個氧分子攜帶電子數（n4）；）；T 氣體絕對溫度；氣體絕對溫度；P1、P2 被測氣體與參比氣體的氧分壓。被測氣體與參比氣體的氧分壓。 根據根據

19、Nernst方程，氧濃差電勢方程，氧濃差電勢E可以表示為：可以表示為：21PRTE=lnnFP 2 P2 空空 氣氣 1 P1 煙煙 氣氣O2-O2-O2-O2-O2-E過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 由于在混合氣體中，某氣體組的分壓力和總壓由于在混合氣體中，某氣體組的分壓力和總壓力之比與容積成分（即濃度）成正比，力之比與容積成分（即濃度）成正比，有：有： 111PVPV222PVPV 代入代入Nernst方程，氧濃差方程，氧濃差電勢電勢E為為 2 P2 空空 氣氣 1 P1 煙煙 氣氣O2-O2-O2-O2-O2-E2211PRTRTE=lnlnnFPnF可見，氧濃差電勢是

20、煙氣含氧量可見，氧濃差電勢是煙氣含氧量1的單值函數。的單值函數。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 1、溫度、溫度T恒定在恒定在600以上。為此，可在氧化鋯探以上。為此，可在氧化鋯探頭內安裝加熱器。頭內安裝加熱器。2、空氣的氧含量恒定。為此，探頭空氣口可安裝、空氣的氧含量恒定。為此，探頭空氣口可安裝 空氣泵，以保證探頭內空氣新鮮，含量等于空氣泵，以保證探頭內空氣新鮮，含量等于20.8 3、參比氣體與被測氣體壓力相等，才能用濃度來、參比氣體與被測氣體壓力相等，才能用濃度來代替氧分壓。代替氧分壓。 此外，此外，E與與1呈非線性關系，必須經線性化電呈非線性關系，必須經線性化電路處理。路

21、處理。21R TE=lnnF 關系穩定的必要條件是：關系穩定的必要條件是：過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 2.6.1.2 傳感器結構傳感器結構1、抽吸定溫式、抽吸定溫式 氧化鋯探頭帶有加熱裝置氧化鋯探頭帶有加熱裝置和測溫元件。將被測氣體加熱和測溫元件。將被測氣體加熱到定值溫度，以便準確測量。到定值溫度，以便準確測量。煙氣煙氣過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2、直插補償式、直插補償式 如果被測氣體溫度達如果被測氣體溫度達 560以上，則氧化鋯探以上，則氧化鋯探頭不設加熱裝置，直接安裝在煙道內。但要裝測溫頭不設加熱裝置，直接安裝在煙道內。但要裝測溫元件，測被測氣體

22、溫度，以便在后級電路中對溫度元件，測被測氣體溫度，以便在后級電路中對溫度變化進行補償。變化進行補償。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.6.2 2.6.2 氣相色譜分析儀氣相色譜分析儀色譜分析法是近年來獲得迅速發展的一種分色譜分析法是近年來獲得迅速發展的一種分離分析技術，其特點是分離能力強，分析靈敏度離分析技術，其特點是分離能力強，分析靈敏度高、速度快和樣品用量少。高、速度快和樣品用量少。例如分析石油產品時，一次可分離分析一百例如分析石油產品時，一次可分離分析一百多種組分；在分析超純氣體時，可鑒定出多種組分；在分析超純氣體時，可鑒定出1ppm（ppm為濃度單位，表示百萬分之為濃

23、度單位，表示百萬分之），甚至），甚至01ppb（ppb表示十億分之一）的組分；因此，表示十億分之一）的組分；因此，目前被廣泛應用于石油、化工、電力、醫藥、食目前被廣泛應用于石油、化工、電力、醫藥、食品等生產及科研中。品等生產及科研中。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章植物色素植物色素+ +石油醚石油醚石油醚石油醚色譜分析法得名于色譜分析法得名于1906年年把溶有植物色素的石油醚把溶有植物色素的石油醚倒入裝倒入裝有碳酸鈣吸附劑豎直玻璃管中有碳酸鈣吸附劑豎直玻璃管中再倒入純的石油醚幫助它自由流下再倒入純的石油醚幫助它自由流下 看到分離開的一層層不同顏色的譜帶看到分離開的一層層不同顏色

24、的譜帶碳酸鈣對不同的植物碳酸鈣對不同的植物色素吸附能力不同色素吸附能力不同固定相固定相移動相移動相碳碳酸酸鈣鈣吸吸附附劑劑2.6.2.12.6.2.1色譜分析原理色譜分析原理過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章這種分離分析方法被稱為色層分析法或色譜這種分離分析方法被稱為色層分析法或色譜分析法。分析法。凡移動相是液態的稱為液相色譜，移動相凡移動相是液態的稱為液相色譜，移動相是氣態的稱為氣相色譜。是氣態的稱為氣相色譜。隨著檢測技術的發展，隨著檢測技術的發展，色譜分析法色譜分析法被擴展到被擴展到無色物質的分離，分離后各組分的檢測也不再限于無色物質的分離，分離后各組分的檢測也不再限于用肉眼

25、觀察顏色，所以用肉眼觀察顏色，所以“色譜色譜”這個名字漸漸失去這個名字漸漸失去了它原來的含義。因為分離方法仍是原來的原理，了它原來的含義。因為分離方法仍是原來的原理，所以至今仍使用這個歷史名稱。所以至今仍使用這個歷史名稱。實用的氣相色譜儀由色譜柱、檢測器及載氣、實用的氣相色譜儀由色譜柱、檢測器及載氣、采樣等輔助裝置組成。采樣等輔助裝置組成。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章色譜柱色譜柱 一般的一般的色譜柱色譜柱，是在直徑約，是在直徑約36mm、長約長約14m的玻璃或金屬細管中，填裝固體吸附劑顆粒構的玻璃或金屬細管中，填裝固體吸附劑顆粒構成。稱為固定相。常用的固體吸附劑有氧化鋁、硅

26、成。稱為固定相。常用的固體吸附劑有氧化鋁、硅膠、活性炭、分子篩等。膠、活性炭、分子篩等。 用氫、氮、空氣等用氫、氮、空氣等作作“載氣載氣”，運載被分，運載被分析樣氣通過固定相。載析樣氣通過固定相。載氣和被分析樣氣稱為移氣和被分析樣氣稱為移動相。動相。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章分離過程分離過程 設樣氣中有設樣氣中有A、B、C三種不同的成分。三種不同的成分。從色譜柱分離從色譜柱分離原理可知，被分析的原理可知，被分析的樣氣應當是脈沖式輸樣氣應當是脈沖式輸入，在載氣的推動下入，在載氣的推動下通過色譜柱。在流動通過色譜柱。在流動的過程中，吸附性小的過程中，吸附性小的成分前進速度快，

27、的成分前進速度快，C、B、A各組分依各組分依次從色譜柱流出。次從色譜柱流出。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 樣氣中樣氣中A、B、C三種不同的成分，經色譜柱分離三種不同的成分，經色譜柱分離后，依次進入檢測器。檢測器輸出隨時間變化的曲后，依次進入檢測器。檢測器輸出隨時間變化的曲線稱為色譜流出曲線或色譜圖，線稱為色譜流出曲線或色譜圖， 色譜圖上色譜圖上三個峰的面積三個峰的面積（或高度）分（或高度）分別代表相應組別代表相應組分在樣品中的分在樣品中的濃度大小。濃度大小。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.6.2.2 2.6.2.2 檢測器檢測器 檢測器的作用是將由色譜柱

28、分離開的各組分進檢測器的作用是將由色譜柱分離開的各組分進行定量的測定。行定量的測定。從理論上說，各組分與載氣的任何從理論上說，各組分與載氣的任何物理或化學性質的差別都可作為檢測的依據。但使物理或化學性質的差別都可作為檢測的依據。但使用最多的是熱導式檢測器和氫火焰電離檢測器。用最多的是熱導式檢測器和氫火焰電離檢測器。熱導式檢測器熱導式檢測器氫火焰電離檢測器氫火焰電離檢測器過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章如下表列出在如下表列出在0時，以空氣導熱系數為基準時，以空氣導熱系數為基準的一些氣體的相對導熱系數值。的一些氣體的相對導熱系數值。 q例：熱導式檢測器的工作原理例：熱導式檢測器的工

29、作原理熱導式檢測器就是一臺氣體分析儀。根據不同熱導式檢測器就是一臺氣體分析儀。根據不同種類的氣體具有不同的熱傳導能力的特性，通過導種類的氣體具有不同的熱傳導能力的特性，通過導熱能力的差異來分析氣體的組分和含量。熱能力的差異來分析氣體的組分和含量。 過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 熱導式檢測器主要由熱導池和檢測電橋構成。熱導式檢測器主要由熱導池和檢測電橋構成。 熱導池是用銅塊或不銹鋼做成的均勻導熱體。熱導池是用銅塊或不銹鋼做成的均勻導熱體。內設測量室和參比室，四根鉑絲被置于其中，內設測量室和參比室，四根鉑絲被置于其中，R1、R3裝在測量室中，裝在測量室中， R2、R4裝在參比室

30、中構成電橋。裝在參比室中構成電橋。 熱電阻通電后熱電阻通電后發熱，其散熱快慢發熱，其散熱快慢取決于周圍氣體的取決于周圍氣體的導熱能力，而氣體導熱能力，而氣體的導熱能力取決于的導熱能力取決于氣體的組分。氣體的組分。純載氣純載氣樣氣樣氣過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章純載氣純載氣樣氣樣氣 電阻絲產生的熱量只能通過周圍氣體傳至熱導池電阻絲產生的熱量只能通過周圍氣體傳至熱導池四壁，再通過銅塊向外傳導。銅塊很厚，導熱能力很四壁，再通過銅塊向外傳導。銅塊很厚，導熱能力很均勻，測量室和參比室的溫度差異只能是由被測氣體均勻，測量室和參比室的溫度差異只能是由被測氣體和參比氣體的導熱系數不同造成。

31、和參比氣體的導熱系數不同造成。 測量室通入測量室通入從色譜柱來的由從色譜柱來的由載氣推動著的樣載氣推動著的樣氣，參比室內通氣，參比室內通入純載氣。入純載氣。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章當色譜柱出來的載氣不含樣氣分離組分時，兩個當色譜柱出來的載氣不含樣氣分離組分時，兩個測量室內的氣體都是載氣，四個熱電阻的散熱條件相測量室內的氣體都是載氣，四個熱電阻的散熱條件相同，溫度也相同，則電阻值也相同。同，溫度也相同，則電阻值也相同。當色譜柱出來的載氣中含有樣氣分離組分時，流當色譜柱出來的載氣中含有樣氣分離組分時，流過測量室的氣體的導熱系數發生變化，過測量室的氣體的導熱系數發生變化，純載

32、氣純載氣樣氣樣氣 熱電阻熱電阻R1、R3和的和的R2、R4散散熱條件不同，溫熱條件不同，溫度也不同，則電度也不同，則電阻值也不同。阻值也不同。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 檢測器測量電路由熱電阻檢測器測量電路由熱電阻R1、R3和和R2、R4構成構成電橋。調節電橋。調節RS使電橋的供電電流達到要求值。當色使電橋的供電電流達到要求值。當色譜柱出來的載氣不含樣氣分離組分時，調節譜柱出來的載氣不含樣氣分離組分時，調節R0使電使電橋處于平衡狀態。橋處于平衡狀態。 V0 =0 當色譜柱出來的載氣中含有樣氣分離組分時，當色譜柱出來的載氣中含有樣氣分離組分時，電橋失去平衡。電橋失去平衡。

33、V0 0 載氣中分離組分濃度載氣中分離組分濃度越大，電橋輸出信號就越大，電橋輸出信號就越大，經放大、記錄下越大，經放大、記錄下的色譜峰值就越高。的色譜峰值就越高。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.6.2.3 2.6.2.3 載氣及進樣裝置載氣及進樣裝置 從色譜柱的分離原理可知，被分析的樣氣應該從色譜柱的分離原理可知，被分析的樣氣應該是脈沖式的定量輸入。進一次樣氣，分析一次。進是脈沖式的定量輸入。進一次樣氣，分析一次。進樣時間周期應足夠長，以保證各組分從色譜柱流出樣時間周期應足夠長，以保證各組分從色譜柱流出時不重疊。時不重疊。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章六通

34、切換閥有六通切換閥有“取樣取樣”和和“分析分析”兩種位置，受兩種位置，受定時裝置控制。當閥處于定時裝置控制。當閥處于“取樣取樣”位置時，閥內氣路位置時，閥內氣路按紅線接通。樣氣與載氣的通路分別為：樣氣經預處按紅線接通。樣氣與載氣的通路分別為：樣氣經預處理裝置連續通過取樣管，隨時準備被取出分析；載氣理裝置連續通過取樣管，隨時準備被取出分析；載氣經減壓穩流后，經參比室通入色譜柱，再經測量室放經減壓穩流后，經參比室通入色譜柱，再經測量室放空?？?。這時，這時，參比參比室和測量室室和測量室都是載氣，都是載氣，檢測器輸出檢測器輸出信號為零。信號為零。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 當六通

35、切換閥轉到當六通切換閥轉到“分析分析”位置，閥內藍線氣位置，閥內藍線氣路導通。路導通。載氣推動留在定量取樣管中的樣氣進入色載氣推動留在定量取樣管中的樣氣進入色譜柱，經分離后，各組分在載氣的攜帶下先后通過譜柱，經分離后，各組分在載氣的攜帶下先后通過檢測器的測量室。檢測器根據測量室與參比室中氣檢測器的測量室。檢測器根據測量室與參比室中氣體導熱系數的差別，產生輸出色譜圖。體導熱系數的差別，產生輸出色譜圖。 過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 2.6.3 紅外線氣體分析儀紅外線氣體分析儀根據不

36、同的組分對不同波長的紅外線具有選擇性根據不同的組分對不同波長的紅外線具有選擇性吸收的特征制成?？蓽y量吸收的特征制成?？蓽y量CO、CO2、NH3、甲烷、乙、甲烷、乙炔、乙醇、乙烯、乙烷、丙烯、丙烷等的含量。炔、乙醇、乙烯、乙烷、丙烯、丙烷等的含量。使用范圍寬，不僅可以分析氣體，也可分析溶液，使用范圍寬，不僅可以分析氣體，也可分析溶液，且靈敏度較高，反應迅速，有著廣泛的應用。且靈敏度較高，反應迅速，有著廣泛的應用。2.6.3.1 工作原理工作原理紅外線是指波長為紅外線是指波長為0.84 400m之間之間的不可見電的不可見電磁波，在工業紅外線分析儀中，使用的紅外線波長一磁波，在工業紅外線分析儀中，使

37、用的紅外線波長一般在般在125m之間。之間?？梢姽饪梢姽庾贤饩€紫外線紅外線紅外線過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章 實驗證明，除氦、氖、實驗證明，除氦、氖、氬等單原子惰性氬等單原子惰性氣體及氫、氣體及氫、氧、氮、氯等具有對稱結氧、氮、氯等具有對稱結構的雙原子氣體外，大部構的雙原子氣體外，大部分多原子氣體如分多原子氣體如CO、CO2、CH4（甲烷）等，對（甲烷）等，對125m波長范圍的紅外線都波長范圍的紅外線都有強烈的選擇性吸收的特有強烈的選擇性吸收的特性。如圖，性。如圖，CO對波長為對波長為4.55m的紅外線具有強烈的紅外線具有強烈的吸收作用。的吸收作用。CH4過程控制系統與儀表

38、過程控制系統與儀表 第第2章章根據朗伯根據朗伯-貝爾定律，當光通過吸收介質時，其貝爾定律，當光通過吸收介質時，其強度隨介質的濃度和厚度按指數規律衰減。強度隨介質的濃度和厚度按指數規律衰減。cleII 0 式中：式中： I0 射入時的光強；射入時的光強； I 透出時的光強；透出時的光強； l 介質厚度；介質厚度； c 吸收介質的濃度；吸收介質的濃度； 吸收系數吸收系數 紅外線氣體分析儀就是根據這一定律，測某波紅外線氣體分析儀就是根據這一定律，測某波長紅外線的透射強度。從波長光強被吸收的程度，長紅外線的透射強度。從波長光強被吸收的程度，推知該組分在混合氣中的濃度。推知該組分在混合氣中的濃度。過程控制系統與儀表過程控制系統與儀表 第第2章章2.6.3.2 2.6.3.2 儀表結構儀表結構用強度恒定的紅外線照射厚度確定的混合用強度恒定的紅外線照射厚度確定的混合氣體氣體薄層，測量透射出來的某波長紅外線的強度。薄層，測量透射出來的某波長紅外線的強度。 用碳化硅白熾燈作為光源產生紅外線，經反用碳化硅白熾燈作為光源產生