微電子概論（第3版）課件6-7-3 工藝與器件模擬及統計分析-統計分析_第1頁
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IntroductiontoMicroelectronicsThirdEdition《微電子概論》（第3版）郝躍賈新章史江一6.7.3統計分析6.7工藝與器件仿真及統計分析目錄6.7.2器件仿真6.7.1工藝仿真1.集成電路的統計模擬集成電路工藝過程是不確定的，波動的，工藝參數統計上符合正態分布規律。表征參數分散性的特征參數為：中心值和容差集成電路統計模擬：又稱成品率分析，是分析由于元器件參數中心值及容差分布模擬電路響應的分散情況。響應未超出容許范圍，則為成品1.集成電路的統計模擬工藝統計模擬分析：由工藝條件中心值及容差模擬工藝參數結果的分散性器件統計模擬：由工藝參數中心值及容差模擬器件特性的分散性蒙特卡洛分析：在給定器件參數容差的統計分布規律的情況下，用偽隨機數產生器件參數的隨機抽樣序列，對這些隨機抽樣序列進行直流、交流小信號和瞬態分析，通過分析結果估算電路性能的中心值、方差以及合格率、成本等2.集成電路的統計設計針對器件容差的容忍性設計①以成品率為目標的統計設計成品率決定因素：中心值、容差。兩種優化方法：中心值優化法——固定容差，求中心值使得成品率最高容差優化法——固定中心值，求容差使得成品率滿足要求2.集成電路的統計設計②以成本為目標的統計設計一般情況下，提高成品率和降低成本的目標是一致的。但如果降低容差提高成品率的過程中付出的代價超過了成品率提升帶來的收益，則會導致成本提高，此時

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