第二講單偏光鏡下透明礦物的光性特征●單偏光鏡的裝置及其特點●礦物的邊緣和貝克線●礦物的形態●糙面、突起和閃突起●解理和解理夾角的測定●顏色、多色性和吸收性（1）對光，準焦，校正中心（2）只用下偏光鏡（拉出AA，不用試板，不用勃氏鏡，不加聚光鏡）（3）PP振動方向要平行東西向一、單偏光鏡的裝置●單偏光鏡的裝置及其特點下偏光振動方向的校正？入射光經下偏光鏡轉變為單偏光入射光振動方向與礦片光率體某一半徑平行，不產生雙折射，此時反映礦片該方向的光學性質入射光偏光與礦片光率體兩半徑斜交，產生雙折射，觀察到的是兩偏光同時通過礦片的綜合性質二、特點若通過均質體或非均質體垂直光軸礦片，不發生雙折射,光率體切面為圓切面A1=A0sinα,α=90°,即A1//PP,A1=A0,A2=0

A2=A0cosα,α=0°,即A2//PP,A1=0,A2=A0

不發生雙折射，此時觀察到的是振動方向平行該半徑方向的偏光透過礦片時所表現出的光學性質

光率體橢圓半徑與PP交角不同，兩偏光振幅發生變化，故觀察到的礦物光學性質隨之而異，旋轉物臺，礦物光學性質是變化的1如果是均質體或非均質體垂直光軸礦片，光率體切面為圓切面，不發生雙折射，折射率等于圓半徑。2偏光方向與非均質體礦片的光率體橢圓長、短半徑之一平行時，不改變原來的振動方向，折射率值等于該半徑的長度。3偏光方向與非均質體礦片的光率體橢圓長、短半徑之一斜交時，發生雙折射，分解成振動方向平行光率體橢圓長、短半徑的兩條偏光。其折射率值分別等于橢圓長、短半徑。單偏光鏡下可觀測礦物的光學性質有礦物的外表特征：礦物的形態、解理礦物對光波吸收有關的性質：顏色、多色性、吸收性與礦物折射率大小有關的光學性質：突起、貝克線、糙面、邊緣、突起、色散效應礦物的邊緣：礦物的輪廓貝克線：礦物邊緣一條比較明亮的細線

紅柱石顆粒的邊緣●礦物的邊緣和貝克線NnNn貝克線礦物邊緣當兩種不同的介質（如礦物與樹膠）接觸時，在界面上透射光產生折射、反射和全反射等現象，引起光的聚斂和分散，在光聚斂處形成一條較明亮的細線，稱為貝克線，分散處則為較黑暗的邊緣，稱礦物邊緣。1）成因★邊緣和貝克線的成因及貝克線移動規律注意

無論兩礦物如何接觸，光線總是折向折射率較大的礦物一側N1N2N1N2思考：比較N1與N2的大小N1N2N2N1●礦物的形態礦物的切面形態●查明礦物的單體形態●判斷切面方位●確定礦物的自形程度礦物的單體形態和集合體形態●粒狀●纖維狀●鱗片狀●放射狀●球粒狀●交生狀●生物形態針狀的矽線石以及纖維狀的矽線石集合體柱狀的矽線石蛇紋石片狀集合體透閃石柱狀、纖維狀集合體包裹在長石中自形的榍石自形的黑云母●糙面、突起和閃突起●糙面、糙面的成因及影響糙面的因素●突起及突起等級●閃突起及其能見度突起指視域中礦片的厚度感覺，由礦片邊緣線的粗細、濃淡等引起●突起的高低邊緣線愈粗黑，突起愈高（即顯得愈厚）礦片和樹膠折射率相差愈大，邊緣線就愈粗黑●突起的正負負突起—礦物折射率<樹膠折射率，部分礦物具有正突起—礦物折射率>樹膠折射率，多數礦物具有●突起正負的判別負突起—下降載物臺，貝克線向樹膠方向移動正突起—下降載物臺，貝克線向礦片內移動下降載物臺貝克線移向樹膠負突起下降載物臺貝克線移向礦物正突起突起正負的判別藍線偏向高折射率一側黃線偏向低折射率一側洛多奇尼科夫色散●突起等級的劃分與判別突起等級貝克線移動礦物折射率范圍代表礦物示意圖●閃突起：旋轉物臺，礦片突起高低有變化碳酸鹽礦物和白云母具有高負突起移向樹膠<1.48螢石低負突起移向樹膠1.48--1.54正長石低正突起移向礦物1.54—1.60石英中正突起移向礦物1.60—1.66角閃石、磷灰石高正突起移向礦物1.66—1.78輝石、十字石極高正突起移向礦物>1.78簾石、石榴石貝克線的移動是指下降載物臺的時候糙面指礦片表面坑凹不平的視覺感覺，似皮革表面一樣，通常突起愈高的礦物糙面愈明顯低突起礦物糙面不顯著中正突起礦物有時可見糙面高突起礦物糙面很顯著正極高突起：邊緣很寬、很黑，糙面極顯著N:>1.78石榴子石橄欖石正高突起：邊緣粗黑，糙面顯著N:1.66~1.78輝石正高突起：邊緣粗黑，糙面顯著N:1.66~1.78石英正低突起：邊緣很細，糙面不顯著N：1.54～1.60條紋長石負低突起：邊緣很細，糙面不顯著N：1.48～1.54螢石負高突起：邊緣粗黑，糙面顯著N：<1.48方解石的閃突起No=1.658,Ne=1.486方解石的閃突起No=1.658,Ne=1.486●解理和解理夾角的測定●解理紋及其能見度解理紋能見度取決三因素：（1）礦物的解理性質（2）礦物的切面方向（3）礦物與樹膠的折射率差●解理的等級及其特征極完全解理完全解理不完全解理●解理夾角的測定測定步驟●解理紋及其能見度

★解理：解理是指礦物受外作用后沿一定結晶學方向裂成光滑平面的性質

★解理紋：在顯微鏡下見到的是礦物解理面與薄片平面的交線，即解理紋

★解理紋的成因：N礦與N樹膠的差異

★解理紋能見度取決三因素：（1）礦物的解理性質（2）礦物的切面方向：切面法線與解理面的交角α

（3）礦物與樹膠的折射率差

●

礦物解理的性質，有解理的礦物才能看到解理

●

礦物與樹膠折射率之差，差別愈大，解理愈容易見到

●薄片平面與解理縫間的夾角，夾角愈近90°，解理愈清晰dDα解理顯示寬度D=d/cosα，D大于實際寬度d，α愈大，解理愈不清晰●

解理可見臨界角：解理縫與薄片平面法線間的夾角(α)大到一定程度時，解理將不可見，此時的夾角α稱解理可見臨界角解理紋能見度取決三因素

解理的等級及其特征■極完全解理：解理紋均勻平直、連續而且貫穿整個晶體、密度大。如黑云母、白云母的解理

■完全解理：解理紋均勻平直，但不完全連續，有的解理紋斷開，解理紋之間的間距較大。如角閃石、輝石、長石等礦物的解理

■不完全解理：解理紋斷斷續續，解理紋總體上顯得不平直，解理紋之間的間距很寬。如橄欖石等礦物解理夾角的測定測定步驟（1）選擇同時垂直兩組解理面的切面：兩組解理都很清晰，且相對最細，上升或者下降栽物臺，解理跡線不向一旁移動（2）將選好的切面置于視域中心，并使任意兩組解理紋交點與十字絲交點重合（3）旋轉物臺（4）旋轉物臺（5）計算解理