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二、電工電子實(shí)驗(yàn)(II)課程安排注:帶*號(hào)的頁碼為教材下冊(cè)周實(shí)驗(yàn)名稱實(shí)驗(yàn)要求51.?dāng)?shù)字電路實(shí)驗(yàn)概述2.連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)模擬*P146講課軟件仿真81.譯碼器電路P144J42.周期信號(hào)頻譜分析*P14274138硬件實(shí)現(xiàn)軟件仿真9數(shù)據(jù)選擇電路P144J22.基本門電路P138J1,P140Y374151/153硬件實(shí)現(xiàn)門電路硬件實(shí)現(xiàn)101.觸發(fā)電路P148J22.可編程器件的應(yīng)用及數(shù)子系統(tǒng)設(shè)計(jì)7474硬件實(shí)現(xiàn)講課1現(xiàn)在是1頁\一共有42頁\編輯于星期六11動(dòng)態(tài)顯示電路P146T1XC95108+硬件實(shí)現(xiàn)12可編程器件應(yīng)用*P215XC95108實(shí)現(xiàn)13移位寄存電路P153J3計(jì)數(shù)與分頻電路
一片194和其它器件74161硬件實(shí)現(xiàn)141.存儲(chǔ)器的應(yīng)用*P214T12.數(shù)模混合電路的設(shè)計(jì)
EEPROM實(shí)現(xiàn)
講課
151.數(shù)模轉(zhuǎn)換電路*P222J1
2.可編程器件應(yīng)用及數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)硬件+95108實(shí)現(xiàn)
17小型數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)周實(shí)驗(yàn)內(nèi)容實(shí)驗(yàn)要求注:帶*號(hào)的頁碼為教材下冊(cè)2現(xiàn)在是2頁\一共有42頁\編輯于星期六數(shù)字單元電路實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識(shí)一、實(shí)驗(yàn)箱數(shù)電實(shí)驗(yàn)部分3現(xiàn)在是3頁\一共有42頁\編輯于星期六實(shí)驗(yàn)箱電源單電源加“+12V”,雙電源加“±12V”以萬用表測(cè)量值為準(zhǔn)!電源輸出接口電源開關(guān)如果電源指示燈滅,可能的原因有:A、外接電源錯(cuò)誤;B、電源輸出短路;C、內(nèi)部電源損壞。左上角4現(xiàn)在是4頁\一共有42頁\編輯于星期六實(shí)驗(yàn)箱電源標(biāo)注“+5V”的插孔已經(jīng)和電源的“+5V”連接。標(biāo)注“GND”和“地”的插孔已經(jīng)和電源的“GND”連接。右半部分布5現(xiàn)在是5頁\一共有42頁\編輯于星期六實(shí)驗(yàn)箱信號(hào)源使用前需短接右下部6現(xiàn)在是6頁\一共有42頁\編輯于星期六邏輯電平顯示邏輯電平顯示:輸入高電平:發(fā)光二極管亮輸入低電平:發(fā)光二極管滅。不能用于測(cè)量電路中電平的高低!需要測(cè)量時(shí)請(qǐng)用萬用表或示波器。中上部7現(xiàn)在是7頁\一共有42頁\編輯于星期六數(shù)碼管顯示4位動(dòng)態(tài)顯示:數(shù)據(jù)信號(hào)“DCBA”高電平有效,數(shù)碼管從左到右依次為W1~W4,低電平有效。使用前需短接中上部1位靜態(tài)顯示:數(shù)據(jù)端高電平有效,公共端已連接。8現(xiàn)在是8頁\一共有42頁\編輯于星期六點(diǎn)陣顯示5×7點(diǎn)陣顯示:L1—L5,H1—H7輸入高電平有效。使用前需短接右上角9現(xiàn)在是9頁\一共有42頁\編輯于星期六數(shù)字電路接線區(qū)數(shù)字集成電路接線區(qū)提供:40腳鎖緊座1個(gè),20腳DIP插座1個(gè),16腳DIP插座4個(gè),14腳DIP插座3個(gè)。“+5V”和“GND”之間接有0.1uF電容。左中部右中部10現(xiàn)在是10頁\一共有42頁\編輯于星期六外接儀器接線柱兩側(cè)連接外部?jī)x器:信號(hào)發(fā)生器示波器毫伏表等11現(xiàn)在是11頁\一共有42頁\編輯于星期六實(shí)驗(yàn)箱使用注意事項(xiàng)(1)外部12V直流電源接入實(shí)驗(yàn)箱時(shí),必須檢查電壓值和極性無誤。實(shí)驗(yàn)中暫不用電源時(shí),只需將實(shí)驗(yàn)箱上的“電源開關(guān)”關(guān)斷,不必關(guān)斷外部的直流電源。(2)合上“電源開關(guān)”后應(yīng)檢查電源指標(biāo)燈是否點(diǎn)亮,如果使用了負(fù)電源則還應(yīng)檢查負(fù)電源的指標(biāo)燈,當(dāng)電源指示燈不亮?xí)r,應(yīng)查明原因。12現(xiàn)在是12頁\一共有42頁\編輯于星期六(3)將集成電路插入插座時(shí),必須將將集成電路的缺口朝左且管腳與插座對(duì)準(zhǔn),如果管腳出現(xiàn)歪斜則應(yīng)先將管腳用鑷子校正,然后再插入插座。否則,將造成集成電路管腳與接線插座旁的管腳號(hào)標(biāo)注不一致或遺漏管腳。(4)起拔集成電路時(shí),應(yīng)該用起子或鑷子從集成器件與插座之間插入,將器件輕輕地并保持平衡撬出。否則,極易將集成電路的管腳弄彎或損壞。實(shí)驗(yàn)箱使用注意事項(xiàng)13現(xiàn)在是13頁\一共有42頁\編輯于星期六數(shù)字單元電路實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識(shí)二、TTL集成電路使用常識(shí)(一)實(shí)驗(yàn)室使用的TTL集成電路
TTL:晶體管-晶體管邏輯電路
74LS×××或74HC×××74:民品54:軍品×××數(shù)字序號(hào)LS:低功耗肖特基TTL,靜態(tài)功耗大,扇出能力較強(qiáng)。HC:高速CMOS系列,靜態(tài)功耗低,扇出能力較弱。教材《電工電子實(shí)驗(yàn)技術(shù)(上冊(cè))》P88~P90有詳細(xì)介紹14現(xiàn)在是14頁\一共有42頁\編輯于星期六(二)TTL數(shù)字集成電路使用規(guī)則1、管腳常用TTL數(shù)字集成電路的管腳排列可查《電工電子實(shí)驗(yàn)手冊(cè)》P84~P94,并附有功能表。使用時(shí)請(qǐng)注意:A.管腳圖中半圓形符號(hào)在左側(cè),必須將集成電路背部(印有字符)的缺口也朝左時(shí)管腳圖中的管腳編號(hào)才與集成電路實(shí)際管腳編號(hào)一致,否則,將造成兩種管腳號(hào)標(biāo)注不一致。1615141312111091234567874LS16115現(xiàn)在是15頁\一共有42頁\編輯于星期六B.通常集成電路背部(印有字符)的缺口朝左時(shí),左下腳為1腳、左上腳為最大腳號(hào)(也是接電源的Vcc腳)、右下腳為接電源GND腳。在大多數(shù)電路原理圖中不畫出Vcc腳和GND腳,實(shí)際使用時(shí),必須在左上腳與右下腳間接入5V直流電源,且不可接錯(cuò)極性。TTL數(shù)字集成電路使用規(guī)則16現(xiàn)在是16頁\一共有42頁\編輯于星期六2、TTL工作電源TTL器件對(duì)電源電壓要求很嚴(yán),電源電壓(Vcc與GND之間)為+5±0.5V,超過這個(gè)范圍將損壞器件或功能不正常。TTL電路的靜態(tài)電流相當(dāng)可觀,應(yīng)使用穩(wěn)定的、內(nèi)阻小的穩(wěn)壓電源,并要求有良好的接地。TTL器件的浪涌電流流進(jìn)電源,其電源內(nèi)阻會(huì)產(chǎn)生電壓尖峰,這在電路系統(tǒng)中可以產(chǎn)生較大的干擾。因此有必要在電源接入端接幾十μF的電容作低頻濾波,每隔5~10個(gè)集成電路在電源和地之間加一個(gè)0.01μF~0.1μF的電容作高頻濾波。17現(xiàn)在是17頁\一共有42頁\編輯于星期六3、管腳連接中須注意的問題輸出腳輸出端決不允許直接接+5V電源或接地。除集電極開路輸出和三態(tài)輸出電路外,輸出端不允許并聯(lián)使用,否則引起邏輯混亂,甚至損壞器件。輸出高電平VOH>2.5V,輸出低電平VOL<0.4V輸入腳所有輸入端的輸入電壓的允許范圍為+5V~-0.7V。若大于上限值,多發(fā)射極晶體管的發(fā)射結(jié)可能擊穿;低于下限值時(shí),襯底結(jié)可能導(dǎo)通。這些都將影響電路正常工作,甚至損壞器件。18現(xiàn)在是18頁\一共有42頁\編輯于星期六正常工作情況下輸入高電平5V>VIH>2.5V,輸入低電平0V<VIL<0.8V所有輸入端應(yīng)按邏輯要求接入電路,不要懸空處理,否則易受干擾,破壞邏輯功能。與門和與非門的多余輸入端應(yīng)接高電平或并聯(lián)使用(當(dāng)前級(jí)驅(qū)動(dòng)能力較強(qiáng))。或門、或非門,多余輸入端應(yīng)接低電平或接地。控制腳(置“0”、置“1”、使能等)控制腳不能懸空不用,都應(yīng)根據(jù)功能要求連接相應(yīng)電平/管腳/信號(hào)。管腳連接中須注意的問題19現(xiàn)在是19頁\一共有42頁\編輯于星期六(三)數(shù)字電路調(diào)測(cè)教材《電工電子實(shí)驗(yàn)技術(shù)(上冊(cè))》P115~P127有詳細(xì)介紹1、靜態(tài)測(cè)試靜態(tài)測(cè)試就是用人工的方法逐步改變輸入變量,同時(shí)測(cè)試相應(yīng)的輸出。這種方法速度慢,一旦送入輸入并保持變量后,被測(cè)電路在測(cè)試過程中不發(fā)生變化,故稱其為靜態(tài)測(cè)試法。這種測(cè)試方法適用于驗(yàn)證中、小規(guī)模集成電路的好壞和測(cè)試輸出輸入變量不多、狀態(tài)不多的邏輯電路。20現(xiàn)在是20頁\一共有42頁\編輯于星期六(1)組合電路的靜態(tài)測(cè)試用靜態(tài)法測(cè)試組合電路時(shí),實(shí)驗(yàn)箱的K1~K8提供所需輸入邏輯電平,分別由K1~K8自復(fù)鍵控制,每按一次鍵,輸出電平在“1”或“0”之間轉(zhuǎn)換一次。電路的輸出信號(hào)送實(shí)驗(yàn)箱上L1~L8,與它們對(duì)應(yīng)連接的8個(gè)發(fā)光二極管(被測(cè)輸出信號(hào)為高電平)或不亮(被測(cè)輸出信號(hào)為“0”或“高阻”)。按照電路的真值表或功能表依次改變輸入邏輯電平并逐項(xiàng)核實(shí)輸出狀況即可完成靜態(tài)測(cè)試。21現(xiàn)在是21頁\一共有42頁\編輯于星期六靜態(tài)測(cè)試時(shí)輸入信號(hào)是逐個(gè)改變的,輸入變化很慢,顯示的輸出信號(hào)是輸入電平穩(wěn)定后的情況。與實(shí)際工作時(shí)的輸入變化速度不同。所以,靜態(tài)測(cè)試的條件與實(shí)際工作的條件不同,測(cè)試結(jié)果與實(shí)際情況也可能不同。尤其是當(dāng)輸入信號(hào)變化很快時(shí),如果電路因器件延遲而產(chǎn)生了“競(jìng)爭(zhēng)”或“冒險(xiǎn)”現(xiàn)象,由于“競(jìng)爭(zhēng)”或“冒險(xiǎn)”產(chǎn)生的“毛刺”是非常窄的脈沖,用發(fā)光二極管是無法顯示出來的。靜態(tài)測(cè)試不能測(cè)出電路的“競(jìng)爭(zhēng)”或“冒險(xiǎn)”。組合電路的靜態(tài)測(cè)試22現(xiàn)在是22頁\一共有42頁\編輯于星期六(2)時(shí)序電路的靜態(tài)測(cè)試法時(shí)序電路的靜態(tài)測(cè)試法與組合電路測(cè)試相似。但是,時(shí)序電路的輸入信號(hào)對(duì)電路的影響不但有邏輯電平的高低,且很多時(shí)序電路是靠輸入信號(hào)的前沿或后沿來觸發(fā)的,所以,測(cè)試時(shí)序電路時(shí),對(duì)邊沿有要求的輸入端必須輸入一個(gè)脈沖信號(hào),以便得到需要的前沿或后沿。實(shí)驗(yàn)箱上提供了單脈沖信號(hào),K9為單脈沖輸出信號(hào),靜態(tài)輸出為“0”,每按一次K9鍵。對(duì)應(yīng)插孔輸出一個(gè)脈寬為50ms的單個(gè)矩形脈沖。一般將此單脈沖信號(hào)作為時(shí)序電路的CP信號(hào)。23現(xiàn)在是23頁\一共有42頁\編輯于星期六(3)靜態(tài)測(cè)試注意事項(xiàng)由于時(shí)序電路的輸出狀態(tài)較多,如一個(gè)16位計(jì)數(shù)器共有216=65536種狀態(tài)值,若要一一測(cè)試顯然是不可能的。遇到這種情況時(shí),一般可將一個(gè)16位計(jì)數(shù)器分為兩個(gè)8位計(jì)數(shù)器分別進(jìn)行測(cè)試,每一個(gè)8位計(jì)數(shù)器的輸出狀態(tài)有28=256個(gè),兩個(gè)計(jì)數(shù)器共有512個(gè),當(dāng)兩個(gè)計(jì)數(shù)器測(cè)試均正常時(shí)再將兩個(gè)計(jì)數(shù)器合為一個(gè),這時(shí),主要測(cè)試第8位計(jì)數(shù)滿后向第9位的進(jìn)位情況,如果進(jìn)位正常,則可以認(rèn)為整個(gè)計(jì)數(shù)器正常。如果能在設(shè)計(jì)時(shí)就將電路狀態(tài)進(jìn)行劃分,則可以給測(cè)試帶來很大的方便。設(shè)計(jì)時(shí)將數(shù)字電路劃分為若干模塊,是數(shù)字電路可測(cè)性設(shè)計(jì)的一個(gè)重要方法。24現(xiàn)在是24頁\一共有42頁\編輯于星期六2、動(dòng)態(tài)測(cè)試靜態(tài)測(cè)試的測(cè)試效率較低,而且電路的某些與動(dòng)態(tài)特性相關(guān)的邏輯現(xiàn)象(如“冒險(xiǎn)”、“競(jìng)爭(zhēng)”)難以測(cè)出。動(dòng)態(tài)測(cè)試可以彌補(bǔ)靜態(tài)測(cè)試的不足。動(dòng)態(tài)測(cè)試:測(cè)試用的輸入信號(hào)是一個(gè)自動(dòng)產(chǎn)生并且不斷變化的邏輯電平值,輸出信號(hào)也是一個(gè)不斷變化的邏輯電平值,整個(gè)測(cè)試始終處于變動(dòng)狀態(tài),故稱這種測(cè)試方法為動(dòng)態(tài)測(cè)試。25現(xiàn)在是25頁\一共有42頁\編輯于星期六(1)組合電路的動(dòng)態(tài)測(cè)試法組合電路動(dòng)態(tài)測(cè)試法的思路是采用窮舉法。即由合適的信號(hào)源事先編輯好一組測(cè)試碼,該組測(cè)試碼涵蓋了輸入信號(hào)所有狀態(tài)組合。實(shí)驗(yàn)時(shí),該信號(hào)源自動(dòng)順序輸出該組測(cè)試碼,同時(shí)用示波器觀測(cè)輸入與輸出波形的關(guān)系,兩者的關(guān)系應(yīng)該符合真值表要求。26現(xiàn)在是26頁\一共有42頁\編輯于星期六(2)組合電路的動(dòng)態(tài)測(cè)試注意事項(xiàng)示波器一般只有雙蹤,測(cè)試多個(gè)波形關(guān)系時(shí)有一些特定的操作要求,一般需用邏輯分析儀。如果輸出端F的波形不正常,可以逐個(gè)寫出信號(hào)傳輸路徑中各個(gè)門電路輸出端的真值表,用示波器測(cè)量各點(diǎn)波形并與真值表對(duì)照。如果與真值表不符,即可判斷出故障所在。由于示波器的屏幕較小,分辨率也有限,可顯示的信號(hào)長(zhǎng)度有限,如果輸入信號(hào)數(shù)量較多,信號(hào)序列較長(zhǎng)(如8個(gè)輸入信號(hào)的測(cè)試序列長(zhǎng)達(dá)28=256個(gè)),而示波器上最多能顯示出幾十個(gè)信號(hào)周期的長(zhǎng)度,這種情況正是數(shù)字電路的測(cè)試難點(diǎn)所在。因此,在測(cè)試長(zhǎng)序列信號(hào)時(shí),一般要采用數(shù)字式存儲(chǔ)示波器或邏輯分析儀。27現(xiàn)在是27頁\一共有42頁\編輯于星期六(3)時(shí)序電路的動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)序電路動(dòng)態(tài)測(cè)試一般要求提供一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)CP,CP由實(shí)驗(yàn)箱上的連續(xù)脈沖信號(hào)提供,用示波器觀測(cè)各個(gè)被測(cè)點(diǎn)的波形。有一些時(shí)序電路不但需要時(shí)鐘信號(hào),而且需要多種控制信號(hào)。例如,移位寄存器等電路除需要時(shí)鐘外還需要置數(shù)控制、位移控制、加減計(jì)數(shù)方式控制等多種輸入信號(hào),如果也用窮舉法產(chǎn)生所有控制功能端的組合測(cè)試信號(hào),則會(huì)使測(cè)試碼非常長(zhǎng),以致用示波器無法觀測(cè)一個(gè)完整的測(cè)試序列信號(hào)。28現(xiàn)在是28頁\一共有42頁\編輯于星期六(4)時(shí)序電路動(dòng)態(tài)測(cè)試的注意事項(xiàng)當(dāng)時(shí)序電路的數(shù)據(jù)控制等外部輸入信號(hào)較多時(shí),用窮舉法提供動(dòng)態(tài)測(cè)試信號(hào)比較困難。應(yīng)采用靜態(tài)與動(dòng)態(tài)相結(jié)合的方法,即用靜態(tài)方式給出某些輸入的數(shù)據(jù)和控制信號(hào)(如置數(shù)、位移控制等),在給定的各種控制狀態(tài)進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試。當(dāng)需要用示波器同時(shí)顯示兩個(gè)波形時(shí),應(yīng)正確選擇示波器的“觸發(fā)信源”,應(yīng)選用周期最長(zhǎng)的(邊沿最少)一路信號(hào)作為內(nèi)觸發(fā)信源,并調(diào)節(jié)電平旋鈕。通常這樣就可正確穩(wěn)定地顯示出兩個(gè)被測(cè)波形。29現(xiàn)在是29頁\一共有42頁\編輯于星期六(四)數(shù)電實(shí)驗(yàn)常見故障的分析和排除這里所說的常見故障不包括因設(shè)計(jì)不當(dāng)產(chǎn)生的邏輯功能錯(cuò)誤(因設(shè)計(jì)不當(dāng)產(chǎn)生的邏輯功能錯(cuò)誤應(yīng)修改設(shè)計(jì)方案)。一般數(shù)字電路常見故障有:斷路故障短路故障集成電路芯片故障。30現(xiàn)在是30頁\一共有42頁\編輯于星期六1、斷路故障斷路故障是指連線(包括信號(hào)線、傳輸線、測(cè)試線、焊點(diǎn)、連接點(diǎn))斷路產(chǎn)生的故障。這類故障產(chǎn)生的現(xiàn)象比較明顯,一般顯現(xiàn)出相關(guān)點(diǎn)無規(guī)律的電平,例如:芯片電源連接端無電壓;信號(hào)輸入端無脈沖電壓等等。檢查這類故障的方法是用“0”、“1”判斷法,如設(shè)線路通為“1”,斷為“0”。操作時(shí)可用萬用表、邏輯筆或者示波器(配合測(cè)試信號(hào))從源頭沿一定路徑逐段查尋,不難發(fā)現(xiàn)故障點(diǎn)。31現(xiàn)在是31頁\一共有42頁\編輯于星期六2、短路故障短路故障是指連線或連線點(diǎn)短路造成電路出現(xiàn)異常的現(xiàn)象。例如:電源正端和地短路會(huì)造成電源電壓為零;局部邏輯線混連,會(huì)出現(xiàn)邏輯混亂錯(cuò)誤。有的短路故障比較隱蔽,需要耐心仔細(xì)分析和耐心尋找才能發(fā)現(xiàn)。最常用查找短路故障的方法是:將電路斷電后用萬用表的歐姆檔測(cè)電阻值,若發(fā)現(xiàn)電路中無直接電氣連接的兩節(jié)點(diǎn)之間電阻值為零(或極小),可判為短路。32現(xiàn)在是32頁\一共有42頁\編輯于星期六3、集成電路芯片故障集成電路芯片故障是指集成電路芯片的功能不正常。這類故障的特點(diǎn)或是:集成電路燙手;集成電路電源端的電壓過低;芯片的輸入端有規(guī)定的邏輯電平而輸出沒有正確的邏輯電平。通過用手觸摸,或是測(cè)量電源管腳的直流電壓,或是輸入邏輯信號(hào)進(jìn)行測(cè)試就可發(fā)現(xiàn)故障點(diǎn)或可疑點(diǎn)。之后,更換可疑集成電路芯片,再測(cè)電路進(jìn)行判斷。由于芯片的管腳折斷或折彎而未能插入實(shí)驗(yàn)板引起的故障往往體現(xiàn)在芯片的邏輯功能不能實(shí)現(xiàn),這種故障需要進(jìn)行仔細(xì)查找才能找到。33現(xiàn)在是33頁\一共有42頁\編輯于星期六當(dāng)懷疑芯片壞了時(shí),對(duì)于SSI或功能簡(jiǎn)單的MSI,可以通過測(cè)試它的邏輯功能,迅速做出判斷。檢查時(shí),一般需要將被查對(duì)象從電路中分離出來,即將其輸入、輸出同其他電路斷開,再根據(jù)其邏輯功能進(jìn)行檢查。例如,檢查一個(gè)多輸入“與非”門,當(dāng)其輸入全“1”時(shí),輸出應(yīng)為“0”;如果有一個(gè)輸入端為“0”,則輸出為“1”。通過檢查如果不符合上述情況,就說明該門已經(jīng)損壞。又例如,在檢查8選1數(shù)據(jù)選擇器時(shí)(使能端確已接好),使地址輸入分別為000~111,看輸出是否分別與D0~D7相同,即可做出判斷。對(duì)于復(fù)雜的MSI或LSI,可以用專用的集成電路測(cè)試儀來進(jìn)行測(cè)試。集成電路芯片故障34現(xiàn)在是34頁\一共有42頁\編輯于星期六4、檢查電路的一般方法對(duì)于組合電路,主要檢查輸入、輸出信號(hào)之間的邏輯關(guān)系是否能得到實(shí)現(xiàn)。對(duì)于時(shí)序電路,應(yīng)首先檢查時(shí)鐘信號(hào)是否加上,以及是否滿足電路對(duì)時(shí)鐘的要求(時(shí)鐘脈沖頻率、高低電平、上升下降時(shí)間等);再查使能端、清零端、置位端(不能懸空,避免引入干擾)是否按要求接好。然后按照電路的邏輯功能,分別檢查各級(jí)電路的輸入、輸出關(guān)系引腳,用示波器(置DC偶合)看電壓是否正常。35現(xiàn)在是35頁\一共有42頁\編輯于星期六在檢查電路時(shí),應(yīng)按照電路的邏輯功能進(jìn)行推理分析,一步步縮小故障范圍,最后找出故障加以排除。這樣查錯(cuò)的方法,比盲目地反復(fù)檢查布線要迅速、可靠得多。對(duì)于有故障的多級(jí)電路,為了減少調(diào)測(cè)工作量,可先把可疑的范圍分作兩個(gè)區(qū),通過檢測(cè),判定前后兩個(gè)部分究竟哪一部分有故障;然后再將有故障的部分繼續(xù)進(jìn)行對(duì)分檢測(cè),直到找出故障為止。檢查電路的一般方法36現(xiàn)在是36頁\一共有42頁\編輯于星期六對(duì)于CMOS電路要預(yù)防鎖定效應(yīng)。CMOS電路特有一種失效模式——鎖定效應(yīng),也稱作可控硅效應(yīng),這是器件的固有的故障現(xiàn)象。其原因是由于器件內(nèi)部存在正反饋。消除了正反饋形成條件,即可預(yù)防鎖定效應(yīng)。正反饋形成條件可能是下述情況之一:輸入信號(hào)電壓高于VDD或者低于VSS;用手觸摸輸入引腳;加直流信號(hào)和脈沖信號(hào)的順序不正確。斷開電源,稍后重加電源并糾正錯(cuò)誤的操作方法可消除鎖定效應(yīng)檢查電路的一般方法37現(xiàn)在是37頁\一共有42頁\編輯于星期六在實(shí)驗(yàn)中完全不出故障是不可能的。要求我們做到:實(shí)驗(yàn)前準(zhǔn)備充分,實(shí)驗(yàn)時(shí)操作細(xì)心,將故障減少到最低限度。出現(xiàn)故障時(shí)應(yīng)開動(dòng)腦筋,自覺應(yīng)用所學(xué)知識(shí),仔細(xì)分析,認(rèn)真檢查,積累經(jīng)驗(yàn),不斷提高解決問題的
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