標準解讀

《YS/T 84-2006 光譜分析用銥基體》相較于《YS/T 84-1994》，在內容上進行了多方面的更新和補充，具體包括：

  • 在適用范圍方面，《YS/T 84-2006》明確了標準適用于光譜分析中作為參考物質或校準物使用的銥基體材料。相比1994年的版本，新版本更加強調了材料的應用場景及其重要性。

  • 對于技術要求，《YS/T 84-2006》增加了對銥純度的具體規定，并且細化了關于雜質元素含量的最大限值要求。此外，還新增了一些之前未被納入考量的微量成分檢測項目，如某些稀有金屬元素等。

  • 在試驗方法部分，《YS/T 84-2006》引入了更加先進的分析技術和儀器設備來測定銥基體中的化學組成。這不僅提高了測試精度，也使得整個過程更為高效準確。

  • 檢驗規則方面，《YS/T 84-2006》調整了抽樣方案，采用了更科學合理的隨機抽樣方法；同時對于不合格品的處理方式給出了明確指導。

  • 標志、包裝、運輸及貯存章節內，《YS/T 84-2006》提供了詳細的標識信息說明以及安全防護措施建議，確保產品在整個供應鏈過程中得到有效保護。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替
  • 2006-05-25 頒布
  • 2006-12-01 實施
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文檔簡介

ICS77.120.99YSH68中華人民共和國有色金屬行業標準YS/T84-2006代YS/T84-1004光譜分析用缽基體Basisiridiumasspectralanalysis2006-05-25發布2006-12-01實施中華人民共和國國家發展和改革委員會發布

YS/T84-2006前本標準是對YS/T84—1994《光譜分析用鐵基體》的修訂。本標準與YS/T84—1994相比，主要有如下變動：-需要測定的雜質元素由原標準規定的15個增加到16個,新增加元素為Zn.-對原標準的試驗方法進行了細化。本標準自實施之日起,同時代替YS/T84—1994。本標準由全國有色金屬標準化技術委員會提出并歸口本標準由貴研鉑業股份有限公司負責起草，本標準主要起草人：譚文進、石紅、柴湖軍、劉文。本標準由全國有色金屬標準化技術委員會負責解釋。本標準所代替標準的歷次版本發布情況為：-YB1707-78；YS/T84-1994.

YS/T84-2006光譜分析用欽基體范圍本標準規定了光譜分析用鐵基體的要求、試驗方法、檢驗規則和標志、包裝、運輸、存本標準適用于光譜分析純度為99.9%～99.99%的鑲時所用鑲基體規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本標準.然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T1419—2004海綿鉑GB/T1422—2004鐵粉要求31化學成分3.1.1依基體的化學成分應符合表1的規定表1化學成分SM-Ir99.995鐵含量不小干99.9950.00010.0000500.0001.0001花0.000050.00002成質.00002分0.00005一質0.00005量分不大干0.000050.00005數0.00005.000020.0o002.0001Zn0.00005雜質總量：

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