標準解讀
GB/T 6352-1998《半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第一篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三極閘流晶體管空白詳細規(guī)范》相較于GB 6352-1986版本,在多個方面進行了更新與調整。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
首先,標準編號從GB變更為GB/T,意味著該標準由強制性國家標準轉變?yōu)橥扑]性國家標準,反映了國家對于此類技術文件管理方式的變化。
其次,在結構上,新版標準采用了國際電工委員會(IEC)的相應標準框架,使得內容更加系統(tǒng)化、國際化,便于與其他國家和地區(qū)的技術文檔進行對接。
再者,針對產品規(guī)格和技術要求,新標準增加了對某些特定性能參數(shù)的規(guī)定,并提高了部分原有指標的要求,如反向阻斷電壓、正向平均電流等關鍵電氣特性。此外,還細化了測試條件及方法,以確保檢測結果的一致性和準確性。
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- 正在執(zhí)行有效
- 1998-11-17 頒布
- 1999-06-01 實施




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GB/T 6352-1998半導體器件分立器件第6部分:閘流晶體管第一篇100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三極閘流晶體管空白詳細規(guī)范-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS31.080.20L43中華人民共和國國家標準GB/T6352.1998idttIEC747-6-1:1989QC750110半導體器件分立器件第6部分:閘流晶體管第一篇100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三極閘流晶體管空白詳細規(guī)范SemiconductordevicesDiscretedevicesPart6:ThyristorsSection0neBlankdetailspecificationforeblockingreversetriodeethyristorsambient,uptoorcase-rated,100A1998-11-17發(fā)布1999-06-01實施國家質量技術監(jiān)督局發(fā)布
GB/T6352—1998前本規(guī)范等同采用IEC747-6-1:1989《半導體器件分立器件100A以下環(huán)境或管殼額定的反向阻斷三極閘流品體管空白詳細規(guī)范》。本規(guī)范是GB/T6352—1986的修訂版本規(guī)范與GB/T6352—1986的主要差別是;在第4章中增加了電流與溫度的降額曲線;調整了引用總規(guī)范及分規(guī)范的標準號。徐除非另有規(guī)定,本規(guī)范第8章中引用的條號對應于GB/T4589.1一1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》(IEC747-10:1984)的條號,測試方法引自GB/T15291—1994《半導體分立器件和集成電路第6部分:閘流晶體管》(IEC747-6:1983);試驗方法引自GB/T4937-—1995《半導體器件機械和氣候試驗方法》(IEC749:1984)。本規(guī)范由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本規(guī)范由全國半導體器件標準化技術委員會歸口本規(guī)范由電子工業(yè)部標準化研究所負責起草本規(guī)范主要起草人:于志賢、楊志丹、顧康麟
GB/T6352--1998IEC前言1)IEC(國際電工委員會)在技術問題上的正式決議或協(xié)議,是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的,對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2)這些決議或協(xié)議,以推薦標準的形式供國際上使用.并在此意義上為各國家委員會所認可。3)為了促進國際上的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準,IEC標準與相應國家標準之間的差異,應盡可能在國家標準中指明。本標準由IEC第47技術委員會(半導體器件)制訂。本標準是100A以下環(huán)境或管殼額定的反向阻斷三極閘流晶體管空白詳細規(guī)范本標準文本以下列文件為依據(jù):六個月法表決報告47(C096047(C0)1010表決批準本標準的所有資料均可在上表所列的表決報告中查閱。本標準封面上的QC號是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ)的規(guī)范號。本標準中引用的其他IEC標準:IEC68-2-17:1978基本環(huán)境試驗程序第2部分:試驗,試驗Q:密封IEC191-2:1966半導體器件的機械標準化第2部分:尺寸(在修訂中)IEC747-6:1983半導體器件分立器件第6部分:閘流品體管IEC747-10:1984半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范JEC747-11:1985半導體器件第11部分:分立器件分規(guī)范IEC749:1984華導體器件機械和氣候試驗方法
中華人民共和國國家標準半導體器件分立器件第6部分:閘流晶體管第一篇_100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三極閘流晶體管空白詳細規(guī)范idiIEc7476-1:1985SemiconductordevicesQC.750110代替GB/T6352-1986DiscretedevicesPart6:ThyristorsSectionOne-Blankdetailspecificationforreverseblockingtriodethyristorsambientorcase-rated.upto100A引言本空白詳細規(guī)范規(guī)定了制定100A以下(含100A)環(huán)境或管殼額定的反向阻斷三極閘流晶體管(包括快速型)詳細規(guī)范的基本原則,制定該范圍內的所有詳細規(guī)范應盡可能與本空白詳細規(guī)范相一致.本空白詳細規(guī)范是與GB/T4589.1-1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》IEC747-10:1984)和GB/T12560一1990《半導體器件分立器件分規(guī)范》IEC747-11:1985)有關的一系列空白詳細規(guī)范中的一個。要求資料下列所要求的各項內容,應列入規(guī)定的相應的空欄內。詳細規(guī)范的識別:「1授權起草詳細規(guī)范的國家標準機構的名稱L2JIECQ詳細規(guī)范號。L37總規(guī)范號和分規(guī)范號以及年代號【41詳細規(guī)范號、發(fā)布日期和國家體系要求的更多的資料。器件的識別:L57器件型號、「6典型結構和應用資料。如果設計一種器件滿足若干應用,則應在詳細規(guī)范中指出。這些應用的特性、極限值和檢驗要求均應予以滿足。如果器件對靜電敏感.或含有害物質,例如氧化皺.則應在詳細規(guī)范中附加注意事項。L7外形圖和(或)引用有關的外形標準。【87質量評定類別。L9能在各器件型號之間比較的最重要特性的
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