ICS19.080K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.10—1996電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備InspectionmethodsforbasicparametersofenyironmentaltestingeguipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments1996-06-17發布1997-07-01實施國家技術監督局發布

GB/T5170.10-1996吉本標準是GB/T5170《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法》系列標準之一。本標準是由GB5170.10—85《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備》修訂而成。本標準與1985年發布的標準相比，技術內容主要有以下變化：明確本標準主要適用于環境試驗設備在使用期間的周期檢定，以區別產品的型式試驗：在檢定項目中，刪除了“工作室內壁與工作空間溫差”、"工作室內壁輻射系數"和“相對濕度”三個項目：-增加了"引用標準”一章;在“檢定用主要儀器”-章中，給出了儀器的精確度要求；-增加了“檢定條件”一章;一—對于溫度測量點數量，設備工作空間容積由“以1m2分界”改為“以2m2分界”,對于"大于2m2的設備”,溫度測量點由21點減少為15點；周期檢定試驗設備時，"溫度偏差”的測量時間縮短為30mia;在“數據處理"中，給出了“溫度偏差”和“氣壓偏差”的計算公式;-在綜合檢定溫度氣壓時,如果低氣壓值低于10kPa,則“溫度偏差”允許適當放寬；在“檢定結果處理”中，增加了“溫度場和氣壓場調整值以及設備儀表修正值的計算方法”并且對合格(限用)的范圍給予了必要的說明;-刪除了測量記錄表格。GB/T5170《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法》系列標準包括以下幾部分：（B/T5170.1電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法總則：GB/T5170.2電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法：溫度試驗設備；GB/T5170.5，電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法濕熱試驗設備：GB/T5170.8電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法鹽霧試驗設備；-GB/T5170.9電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法專太陽輻射試驗設備;-GB/T5170.10電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備;電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法GB/T5170.11腐蝕氣體試驗設備。本標準從生效之日起，同時代替GB5170.10—85.本標準由中華人民共和國電子工業部提出。本標準由電子工業部標準化研究所歸口本標準主要起草單位：電子工業部第五研究所本標準主要起草人：付文茹、謝建華、陳學進、王則燕、薛振夷。

中華人民共和國國家標準電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備GB/T5170.10-1996Inspectionmethodsforbasicparameters代替GB5170.10-85ofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments范范圍1.1本標準規定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數量及布放位置、檢定步驃、數據處理及檢定結果等內容。1.2本標準適用于對GB2423.21—91《電工電子產品基本環境試驗規程試驗M:低氣壓試驗方法》GB/T2423.25—92《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26-92《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設備的周期檢定2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T5170.1—1995電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備GB2423.21—91電工電子產品基本環境試驗規程試驗M:低氣壓試驗方法GB/T2423.25—92電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法GB/T2423.26—92電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合