標準解讀

《GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定 俄歇電子能譜法》是一項國家標準,規定了采用俄歇電子能譜技術對硅酸鹽材料中的微顆粒鐵進行化學態分析的方法。該標準適用于研究和工業領域中對于硅酸鹽材料內微量鐵元素存在形式的研究。

根據標準內容,首先明確了實驗所需的主要儀器設備包括但不限于:俄歇電子能譜儀及其配套的數據處理系統。此外,還詳細描述了樣品制備的過程,指出應將待測樣品研磨至足夠細小,并通過適當的手段固定于樣品臺上以保證測試過程中樣品位置穩定不變。

在測試條件方面,《GB/T 36533-2018》給出了推薦使用的加速電壓范圍、束斑大小以及掃描模式等參數設置建議;同時也強調了為了獲得準確可靠的測量結果,操作人員需按照制造商提供的指南正確校準儀器,并定期檢查其性能狀態。

數據處理部分介紹了如何從原始光譜中提取有用信息,比如通過比較不同能量下的峰強度來判斷鐵的存在形式(如Fe^2+或Fe^3+)。同時,也提到了可能遇到的一些干擾因素及相應解決辦法,確保最終得到的數據具有較高的可信度。


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....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2018-07-13 頒布
  • 2019-06-01 實施
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GB/T 36533-2018硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定俄歇電子能譜法_第1頁
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文檔簡介

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T36533—2018

硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定

俄歇電子能譜法

Determinationofthechemicalstateofmicro-ironinsilicate—

Augerelectronspectroscopy

2018-07-13發布2019-06-01實施

國家市場監督管理總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T36533—2018

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

方法原理

4…………………1

樣品制備

5…………………1

樣品荷電效應控制

5.1…………………1

樣品超薄切片

5.2………………………2

樣品安裝

5.3……………2

分析步驟

6…………………3

能量標校正

6.1…………………………3

采集標準圖譜

6.2………………………3

分析結果的表述

7…………………………6

全譜

7.1…………………6

窄譜

7.2…………………7

鐵元素化學態的識別

7.3………………7

含量計算

7.4……………8

報告測量結果

7.5………………………8

附錄資料性附錄硅酸鹽中單質納米鐵化學態的判定

A()……………9

附錄資料性附錄硅酸鹽中鐵的不同化學態判定

B()…………………10

參考文獻

……………………11

GB/T36533—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國微束標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準負責起草單位清華大學中國科學院地球化學研究所

:、。

本標準主要起草人姚文清吳焱學楊立平李雄耀徐同廣李展平王雅君歐陽自遠朱永法

:、、、、、、、、。

GB/T36533—2018

硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定

俄歇電子能譜法

1范圍

本標準規定了硅酸鹽中微顆粒鐵的識別及其含量測量的俄歇電子能譜方法

。

本標準適用于以上微顆粒鐵的測量

30nm。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學分析詞匯

GB/T22461—2008

俄歇電子能譜分析方法通則

GB/T26533—2011

表面化學分析高分辨俄歇電子能譜儀元素和化學態分析用能量標校準

GB/T29731—2013

表面化學分析俄歇電子能譜和射線光電子能譜實驗測定的相對靈敏

GB/T30702—2014X

度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

表面化學分析分析樣品的制備和安裝方法指南

GB/T30815—2014

表面化學分析俄歇電子能譜數據記錄與報告的規范要求

GB/T32565—2016(AES)

表面化學分析俄歇電子能譜荷電控制與校正方法報告的規范要求

GB/T32998—2016

3術語和定義

界定的術語和定義適用于本文件

GB/T22461—2008。

4方法原理

俄歇電子能譜基本原理依據中第章的定義

GB/T26533—20114。

5樣品制備

51樣品荷電效應控制

.

含有單質鐵微細顆粒的硅酸鹽樣品制備可采用超薄切片機或者聚焦離子減薄系統等儀器對樣品

,

切片得到微細顆粒的橫截面再進行俄歇電子能譜儀分析安裝樣品時要盡量使樣品與樣品臺有良好

,。

的電接觸

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