標準解讀

《GB/T 36474-2018 半導體集成電路 第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器(DDR3 SDRAM)測試方法》是中國國家標準之一，旨在為DDR3 SDRAM的性能和功能測試提供一套標準化的方法。該標準涵蓋了從物理層到協議層等多個方面的測試要求，確保了不同制造商生產的DDR3 SDRAM產品之間具有良好的互操作性和一致性。

標準中詳細定義了多種測試項目及其對應的測試條件，包括但不限于電氣特性、時序參數、溫度范圍等關鍵指標。對于每一種測試項目，都給出了具體的測試環境設置指南，如電源電壓水平、信號擺幅、負載電容值等，以及推薦使用的測試設備類型或配置建議。此外，還明確了測試過程中應遵循的操作流程與步驟，比如初始化序列執行、模式寄存器設置、讀寫操作驗證等環節的具體實施方式。

針對DDR3 SDRAM特有的技術特點，如突發長度、預充電延遲時間、激活至預充電最短周期等，本標準也特別制定了相應的測試方案，以確保這些復雜功能能夠得到準確無誤地評估。同時，考慮到實際應用中可能出現的各種異常情況，標準還提供了故障檢測與定位的相關指導原則，幫助測試人員快速識別并解決潛在問題。


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....

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  • 2018-06-07 頒布
  • 2019-01-01 實施
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GB/T 36474-2018半導體集成電路第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器(DDR3 SDRAM)測試方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS31200

L56.

中華人民共和國國家標準

GB/T36474—2018

半導體集成電路

第三代雙倍數據速率同步動態隨機

存儲器DDR3SDRAM測試方法

()

Semiconductorintegratedcircuit—

Measuringmethodsfordoubledatarate3synchronousdynamicrandomaccess

memorDDR3SDRAM

y()

2018-06-07發布2019-01-01實施

國家市場監督管理總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T36474—2018

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

一般要求

4…………………2

通則

4.1…………………2

功能驗證的一般要求

4.2………………2

電參數測試的測試向量

4.3……………2

電參數測試的示波器

4.4………………2

測試環境

4.5……………2

詳細要求

5…………………3

功能驗證

5.1……………3

時鐘

5.2…………………3

讀數據參數

5.3…………………………6

寫數據參數

5.4…………………………8

電源電流I數據管腳的電源電流I

5.5(DD)/(DDQ)……………………11

Ⅰ

GB/T36474—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC78)。

本標準起草單位中國電子技術標準化研究院西安紫光國芯半導體有限公司上海高性能集成電

:、、

路設計中心武漢芯動科技有限公司成都華微電子科技有限公司

、、。

本標準主要起草人孔憲偉殷夢迪尹萍巨鵬錦高專劉建明

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T36474—2018

半導體集成電路

第三代雙倍數據速率同步動態隨機

存儲器DDR3SDRAM測試方法

()

1范圍

本標準規定了半導體集成電路第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器功能驗

(DDR3SDRAM)

證和電參數測試的方法

。

本標準適用于半導體集成電路領域中第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器

(DDR3SDRAM)

功能驗證和電參數測試

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導體器件集成電路第部分數字集成電路

GB/T17574—19982:

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

。

31

.

被測器件deviceundertestDUT

;

測試過程中的被測對象

。

32

.

自動測試系統automatictestequipmentATE

;

集成化的集成電路測試專用系統自動測試系統配有多路電源數字測試通道及專用的測試軟件

。,

開發環境

。

33

.

工程評估板evaluationboardEVB

;

用于功能驗證的測試用工程評估板工程評估板支持處理器基本功能和擴展功能配備輸入輸出

。,

端口并留有必要的測試接口

,

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