標準解讀

GB/T 19502-2004是一項中國國家標準，全稱為《表面化學分析 輝光放電發射光譜方法通則》。該標準規定了使用輝光放電發射光譜法（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry, GD-OES）對固體材料表面及亞表層化學成分進行分析時的方法原理、儀器要求、樣品制備、測量程序、數據處理以及結果報告等內容。以下是該標準的主要內容概述：

  1. 范圍：明確了標準適用的范圍，即使用GD-OES技術對金屬及其合金、半導體材料等固體表面以及一定深度范圍內的元素含量進行定性和定量分析。

  2. 術語和定義：對輝光放電、發射光譜、背景校正等關鍵術語給出了明確的定義，幫助用戶理解標準中的專業詞匯。

  3. 引用文件：列出了實施本標準時需要參考的其他相關標準和文獻，確保測試方法的一致性和可比性。

  4. 原理：闡述了GD-OES的基本工作原理，即在低氣壓下，通過輝光放電產生的等離子體使樣品表面或亞表層的原子或離子激發至高能態，當這些粒子返回到基態時會發射出特征光譜，通過對這些光譜的檢測和分析來確定樣品中元素的種類和含量。

  5. 儀器要求：詳細描述了進行GD-OES分析所必需的儀器設備的性能指標，包括放電室、光譜儀、數據處理系統等組成部分的技術要求。

  6. 樣品制備：規定了樣品的選取、預處理、形狀和尺寸要求，以確保分析結果的準確性和重復性。

  7. 測量程序：包括了從樣品安裝、放電條件設置、光譜采集到測量過程中的質量控制措施，確保測試過程標準化。

  8. 數據處理：介紹了光譜數據的基線校正、干擾校正、定量分析方法（如內標法、外標法）等處理步驟。

  9. 結果報告：規范了測試結果應包含的信息，如樣品描述、測試條件、檢測限、不確定度評估及最終的元素含量等，確保報告的完整性和透明度。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 19502-2023
  • 2004-04-30 頒布
  • 2004-12-01 實施
?正版授權
GB/T 19502-2004表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則_第1頁
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GB/T 19502-2004表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS71.040.50G04中華人民共和國國家標準GB/T19502—2004/ISO14707:2000表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則Surfacechemicalanalysis-Glowdischargeopticalemissionspectrometry（GD-0SE)一Introductiontouse(ISO14707:2000,IDT)2004-04-30發布2004-12-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布中國國家標準化管理委員會

GB/T19502-2004/ISO14707:2000次前言引言1范圍2規范性引用文件3術語和定義……4原理5儀器5.1輝光放電發射光源5.2光學單元··…·：：：5.3光電檢測器和測量裝置6，分析步驃6.1檢定6.2測定附錄A（規范性附錄)安全

GB/T19502-2004/ISO14707:2000前本標準等同采用ISO14707:2000《表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則》本標準在實施應用中應同時引用ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法》等相關的技術標準。本標準的附錄A為規范性附錄本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口本標準負責起草單位：寶山鋼鐵股份有限公司。本標準主要起草人：張毅、陳英穎、沈電洪、張志穎。

GB/T19502-2004/IS014707:2000輝光放電發射光譜法（GD-OES)用于測定固體樣品的化學成分,它既可以進行體材分析.也可以進行深度部析。體材分析時,對樣品中元素含量在深度方向上的變化認為是可以忽略的；而深度部析的主要目的通常是要獲得濃度隨深度變化的信息。輝光放電發射光譜法深度部面的厚度范圍從幾個納米到一百微米左右。與任何一種儀器分析方法一樣,輝光放電發射光譜分析的質量主要取決于如何使儀器處于最佳狀態和如何正確地使用儀器。為確保輝光放電發射光譜分析的質量，應遵循本標準所提供的方法通則。

GB/T19502-2004/IS014707:2000表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則1范圍本標準為采用輝光放電發射光譜法進行體材分析和深度部析提供了方法通則。這里所討論的方法通則僅限于剛性的固體樣品的分析，不包括粉末、氣體或溶液的分析。結合將來其他特定的標準方法.本方法通則應能夠實現儀器的規范管理和測量條件的控制。盡管在近年來有不同類型的輝光放電發射光源問世.但本通則中仍以Grimm型光源為例。這是因為考慮到目前在用的輝光放電光譜儀絕大多數采用Grimm型光源。應該明確的是,本通則包含的條款同樣適用于其他類型(如Marcus型)的光源.Grimm型光源僅作為一個實例。2規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法（MetalliccoatingsMeasurementofcoatingthickness-X-rayspectrometricmethods)ISO5725-1:1994測量方法和結果的準確度(真值和精度）第一部分：基本原理和定義(Accura-cy(truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part1:Generalprinciplesanddefinitions）測量方法和結果的準確度(真值和精度）1SO5725-2:1994）第二部分：標準測量方法重復性和再現性測定的基本方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part2:Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod）ISO5725-3:1994測量方法和結果的準確度(真值和精度）第三部分：標準測量方法精密度的中位測量（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part3:lntermediatemeasuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod)1SO5725-4:1994測量方法和結果的準確度(真值和精度）第四部分：標準測量方法真值測定的基木方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresultsPart4:Basicmethodsforthedeterminationofthetruenessofastandardmeasurementmethod)1SO6955:1982分析光譜學方法火焰發射、原子吸收和原于熒光詞匯（Analyticalspectro-seopiemcthods-Flameemissionsatomicabsorption.andatomicfl

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