ICS33100

L06.

中華人民共和國國家標準

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

電磁兼容試驗和測量技術

全電波暗室中的輻射發射和抗擾度測量

ElectromaneticcomatibilitEMC—Testinand

gpy()g

measurementtechniques—Radiatedemissionsandimmunity

measurementsinfullanechoicroomsFARs

y()

[IEC61000-4-22:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—

Part4-22:Testingandmeasurementtechniques—Radiatedemissions

andimmunitymeasurementsinfullyanechoicrooms(FARs),IDT]

2017-12-29發布2018-07-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

應用測量的被測量

4FAR………………3

輻射抗擾度試驗的被測量

4.1…………3

輻射發射測量的被測量

4.2……………3

場地確認校準程序

5FAR/………………3

概述

5.1…………………3

場地確認校準的配置

5.2FAR/………………………3

試驗設備和設施的基本特性

5.3………………………7

概述

5.3.1……………7

試驗空間

5.3.2………………………7

寬帶天線

5.3.3………………………7

天線的連接電纜

5.3.4………………7

試驗臺桌

5.3.5/………………………7

轉臺

5.3.6……………7

天線極化自動變換器

5.3.7…………7

吸波材料布置

5.3.8…………………7

確認程序所確定的量的定義

5.4FAR…………………7

確認時的取樣位置

5.5FAR……………8

確認程序

5.6FAR………………………9

概述

5.6.1……………9

配置類型的確認

5.6.21……………10

配置類型的確認

5.6.32……………10

配置類型的確認

5.6.43……………10

配置類型的確認

5.6.54……………11

所有配置類型的C和sC的計算

5.6.6dBdB,…………11

確認要求

5.7……………11

試驗布置

6…………………12

附錄規范性附錄輻射抗擾度試驗

A()…………………15

附錄規范性附錄輻射發射測量

B()……………………19

附錄資料性附錄有關系統轉換系數和一次性完成的發射確認抗擾度校準方法的背景知識

C()/…22

附錄資料性附錄測量不確定度

D()……………………24

參考文獻

……………………36

Ⅰ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

圖類型的確認校準框圖

11/……………4

圖類型的確認校準框圖

22/……………4

圖類型的確認校準框圖

33/……………5

圖類型的確認校準框圖

44/……………5

圖用于確認的取樣點的位置示意圖

5FAR……………9

圖臺式設備的試驗布置示例

6…………12

圖臺式設備的試驗布置示例俯視圖

7…………………13

圖落地式設備的試驗布置示例

8………………………13

圖落地式設備的試驗布置示例俯視圖

9………………14

圖抗擾度試驗中d的定義

A.1mea………………………16

圖發射測量d的定義

B.1meat……………19

圖發射測量影響因素的例子

D.1………………………24

圖對抗擾度試驗方法有影響的因素示例

D.2…………30

表不同類型配置所必備的基本測量儀器

1………………6

表確認準則

2FAR………………………11

表中頻率范圍的輻射發射測量的測量設備和設施的不確定度

D.1FAR30MHz~1000MHz…25

表中頻率范圍的輻射發射測量的測量設備和設施的不確定度

D.2FAR1GHz~18GHz………26

表中頻率范圍的抗擾度試驗電平設定的測量設備和設施的不

D.3FAR30MHz~1000MHz

確定度

……………………30

表中頻率范圍的抗擾度試驗電平設定的測量設備和設施的不確定度

D.4FAR1GHz~18GHz……32

Ⅱ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

前言

電磁兼容試驗和測量技術為電磁兼容系列標準目前已發布的國家標準包括

GB/T17626《》。:

電磁兼容試驗和測量技術抗擾度試驗總論

GB/T17626.1—2006;

電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗

GB/T17626.2—2006;

電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗

GB/T17626.3—2016;

電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

GB/T17626.4—2008;

電磁兼容試驗和測量技術浪涌沖擊抗擾度試驗

GB/T17626.5—2008();

電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度

GB/T17626.6—2008;

電磁兼容試驗和測量技術供電系統及所連設備諧波諧間波的測量和

GB/T17626.7—2017、

測量儀器導則

;

電磁兼容試驗和測量技術工頻磁場抗擾度試驗

GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗和測量技術脈沖磁場抗擾度試驗

GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗和測量技術阻尼振蕩磁場抗擾度試驗

GB/T17626.10—1998;

電磁兼容試驗和測量技術電壓暫降短時中斷和電壓變化的抗擾度

GB/T17626.11—2008、

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術振鈴波抗擾度試驗

GB/T17626.12—2013;

電磁兼容試驗和測量技術交流電源端口諧波諧間波及電網信號的

GB/T17626.13—2006、

低頻抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術電壓波動抗擾度試驗

GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗和測量技術閃爍儀功能和設計規范

GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗和測量技術共模傳導騷擾抗擾度試驗

GB/T17626.16—20070Hz~150kHz;

電磁兼容試驗和測量技術直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗

GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗和測量技術阻尼振蕩波抗擾度試驗

GB/T17626.18—2016;

電磁兼容試驗和測量技術橫電磁波波導中的發射和抗擾度

GB/T17626.20—2014(TEM)

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術混波室試驗方法

GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗和測量技術全電波暗室中的輻射發射和抗擾度測量

GB/T17626.22—2017;

電磁兼容試驗和測量技術傳導騷擾保護裝置的試驗方法

GB/T17626.24—2012HEMP;

電磁兼容試驗和測量技術三相電壓不平衡抗擾度試驗

GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗和測量技術工頻頻率變化抗擾度試驗

GB/T17626.28—2006;

電磁兼容試驗和測量技術直流電源輸入端口電壓暫降短時中斷和

GB/T17626.29—2006、

電壓變化的抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術電能質量測量方法

GB/T17626.30—2012;

電磁兼容試驗和測量技術主電源每相電流大于的設備的電壓

GB/T17626.34—201216A

暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗

、。

本部分為的第部分

GB/T1762622。

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗和測量技術全

IEC61000-4-22:2010《4-22:

電波暗室中的輻射發射和抗擾度測量

(FAR)》。

Ⅲ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

本部分做了下列編輯性修改

:

為與現有標準系列一致將標準名稱改為電磁兼容試驗和測量技術全電波暗室中的輻射

———,《

發射和抗擾度測量

》。

本部分由全國無線電干擾標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC79)。

本部分起草單位工業和信息化部電子工業標準化研究院中國計量科學研究院中國電力科學研

:、、

究院上海電器科學研究院工業和信息化部電子第五研究所東南大學航天集團所國家無線電

、、、、203、

監測中心陜西海泰電子有限責任公司

、。

本部分主要起草人陳俐謝鳴崔強朱文立孟東林李妮周忠元馬蔚宇葉暢郭恩全

:、、、、、、、、、、

鄭軍奇王文儉

、。

Ⅳ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

電磁兼容試驗和測量技術

全電波暗室中的輻射發射和抗擾度測量

1范圍

的本部分涉及電子和或電氣設備的輻射發射和輻射抗擾度的測量規定了在全電波

GB/T17626/,

暗室內進行的輻射發射和輻射抗擾度的試驗程序

(FAR)。

注依據本部分是供相關產品委員會使用的電磁兼容基礎標準如導則所述產品委員

:GB/Z18509,,GB/Z18509,

會負責確定對其產品類標準的適用性及其分委員會例如

EMC,TC77/SAC/TC246、CISPR/SAC/TC79(,

已準備好與產品委員會在標準制定和修訂的合作中一起來確定特定試驗在具體產品中的

SAC/SC7)EMC

作用

。

本部分規定了在同一個全電波暗室進行輻射發射測量與輻射抗擾度試驗時的通用確認程序受試

、

設備的試驗布置要求以及全電波暗室測量方法詳見附錄和附錄

(EUT)(AB)。

作為電磁兼容基礎測量標準本部分對應用于具體裝置或系統的抗擾度試驗電平或發射限值不做

,

具體規定其主要目標是為國內相關產品委員會提供常規測量程序而針對產品的具體要求和試驗條件

,,

由相應的產品委員會來規定

。

本部分的方法適用于