ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標準GB/T17554.1—2006代替GB/T17554-1998識別卡測試方法第1部分：一般特性測試Identificationcards-Testmethods-Part1:Generalcharacteristicstests(ISO/IEC10373-1:1998.MOD)2006-03-14發布2006-07-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T17554.1一2006三前言范圍2規范性引用文件3術語和定義4測試方法的默認條款5測試方法5.1卡卡翹曲5.2：卡的尺寸5.3剝離強度5.4耐化學性5.5在溫度和濕度條件下卡尺寸的穩定性和翹曲5.6帖連或并塊5.7彎曲韌性5.8動態彎曲應力（彎曲特性）5.9動態扭曲應力(扭曲特性)5.10可燃性5.11阻光度5.12紫外線5.13X射線5.14靜磁場5.15字符凸印的起伏高度5.16抗熱度15

GB/T17554.1—2006GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分：-第1部分：一般特性測試第第2部分：磁條卡第第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備第4部分：無觸點集成電路卡第5部分：光記憶卡第6部分：接近式卡第7部分：鄰近式卡本部分為GB/T17554的第1部分.修改采用國際標準ISO/IEC10373-1：1998《識別卡測試方法第1部分：一般特性測試》英文版)。本部分與ISO/IEC10373-1:1998相比,存在如下少量技術性差異：根據新版識別卡物理特性標準，本部分增加了5.16“抗熱度測試方法”本部分與GB/T17554—1998相比主要變化如下：a增加了5.16*抗熱度測試方法”；b）刪除了第6章“帶觸點的集成電路卡”本部分由中華人民共和國信息產業部提出本部分由中國電子技術標準化研究所歸口。本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所本部分主要起草人：馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩本部分從實施之日起，同時替代GB/T17554—1998《識別卡測試方法》。

GB/T17554.1—2006識別卡測試方法第1部分：一般特性測試T范圍本標準規定了符合GB/T14916-2006所定義的識別卡特性的一些測試方法。每一測試方法交叉引用一個或多個基礎標準.這些基礎標準可以是GB/T14916.也可以是一個或多個定義了應用在識別卡應用的信息存儲技術的補充標準，注1：接收標準不包含在本部分中，而是在以上提及的國家標準中注2：本部分描述的若干測試方法預期可單獨進行。規定的卡不要求順序地通過所有測試本部分定義了為一種或多種卡技術所共用的測試方法。GB/T17554的其他部分定義了專有技術的測試方法。2規范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17554的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T131-1993機械制圖表面粗糙度符號、代號及其注法（eqvISO1302：1992）GB/T1690—1992硫化橡膠耐液體實驗方法(neqISO1817:1985)GB/T3922-1995紡織品耐汗演色牢度實驗方法(eqvISO105/E04:1994)GB/T11500—1989攝影透射密度測量的兒何條件(neqISO5-2:1985)GB/T14916-2006識別卡物理特性（ISO/IEC7810:2003.IDT)GB/T17552—1998識別卡：金融交易卡(idtISO/IEC7813:1995)GB/T16649.1-2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第1部分：物理特性(ISO/IEC7816-1:1998.MOD)GB/T10125—1997人造氣氰腐蝕試驗鹽霧試驗(eqvISO9227：1990）GB/T17553.1—1998識別卡無觸點集成電路卡第1部分:物理特性(idtISO/IEC10536-1:1992）GB/T17550.3—1998識別卡光記憶卡線性記錄方法第3部分：光屬性和特性(idtISO/IEC11694-3：1995)ISO/IEC7811-1:1995識別卡：記錄技術：第1部分：凸印ISO/IEC7811-2:1995識別卡記錄技術第2部分：