標準解讀

《GB/T 15078-2008 貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法》相比于其前版《GB/T 15078-1994 貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法》,主要在以下幾個方面進行了更新和調整:

  1. 適用范圍擴展:2008版標準可能對適用的貴金屬電觸點材料類型或應用領域進行了更詳細的分類或擴展,以適應技術發(fā)展和市場需求的變化。

  2. 測試方法和技術規(guī)范更新:鑒于電子測量技術的進步,新標準可能引入了更精確、高效的測量技術和設備要求,比如改進的測試電路設計、更嚴格的測試環(huán)境控制標準或是新的數(shù)據(jù)處理方法,以提高測量結果的準確性和重復性。

  3. 術語和定義的修訂:為了與國際標準接軌或反映行業(yè)最新共識,2008版標準可能對一些關鍵術語和定義進行了修訂或增補,確保了標準語言的清晰度和專業(yè)性。

  4. 安全和環(huán)保要求:隨著對安全生產(chǎn)和環(huán)境保護意識的增強,新標準可能加入了相關的安全操作規(guī)程和環(huán)保要求,指導企業(yè)在進行接觸電阻測量時減少對環(huán)境的影響和保障操作人員的安全。

  5. 質量控制和校準程序:為確保測量結果的可靠性,2008版標準可能強化了對測量設備的校準要求和質量控制流程,包括規(guī)定了更詳細的校準周期、校準方法及記錄保持等。

  6. 數(shù)據(jù)處理和報告格式:考慮到數(shù)據(jù)分析和信息交流的需求,新標準或許更新了數(shù)據(jù)處理規(guī)則和測試報告的編制要求,使得測試結果的表達更加標準化、規(guī)范化,便于跨機構間的數(shù)據(jù)比對和交流。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替,建議下載現(xiàn)行標準GB/T 15078-2021
  • 2008-03-31 頒布
  • 2008-09-01 實施
?正版授權
GB/T 15078-2008貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法_第1頁
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文檔簡介

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犎68

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜15078—2008

代替GB/T15078—1994

貴金屬電觸點材料接觸電阻

的測量方法

犜犲狊狋犻狀犵犿犲狋犺狅犱犳狅狉犮狅狀狋犪犮狋狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲狅犳狆狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾狊

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20080331發(fā)布20080901實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜15078—2008

前言

本標準代替GB/T15078—1994《貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法》。

本標準與原標準相比,主要變化如下:

———用于測量裝置的直流電源、電位器、可調電阻,采用直流恒流源替代,優(yōu)化了測量線路;

———試樣的表面清潔處理更合理、科學。

本標準由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出。

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。

本標準由貴研鉑業(yè)股份有限公司負責起草。

本標準由昆明貴研金峰科技有限公司參加起草。

本標準主要起草人:吳慶偉、黃韶華、馬駿、朱武勛。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T15078—1994。

犌犅/犜15078—2008

貴金屬電觸點材料接觸電阻

的測量方法

1范圍

本標準規(guī)定了貴金屬及其合金電觸點材料(靜態(tài))接觸電阻的測量方法。

本標準適用于貴金屬及其合金電觸點材料接觸電阻的測量。其他金屬及合金電觸點材料也可參照

使用。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。

GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則

3術語和定義

本標準采用下列定義。

3.1

靜態(tài)接觸狊狋犪狋犻犮犮狅狀狋犪犮狋

觸點相互靜止接觸、無連續(xù)性的離合動作。

3.2

收縮電阻犮狅狀狊狋狉犻犮狋犻狅狀狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

電流通過接觸面時,因電流線急劇收縮而產(chǎn)生的電阻增量。

3.3

膜電阻犿犲犿犫狉犪狀犲狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

觸點表面膜所產(chǎn)生的電阻。

3.4

接觸電阻犮狅狀狋犪犮狋狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

電流通過觸點時在接觸處產(chǎn)生的電阻。它是收縮電阻與膜電阻之和。

3.5

體積電阻犫狌犾犽狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

觸點材料自身的電阻。其數(shù)值與材料的電阻率和幾何尺寸有關。

3.6

探頭狆狉狅犫犲

測量試樣接觸電阻的一種

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