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文檔簡介
..WORD文檔下載可編輯專業資料整理分享通用電子元件進料檢驗規范〔一貼片元件檢驗規范<電容,電阻,電感>1.目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件〔電容,電阻,電感…之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5.參考文件《LCR數字電橋操作指引》《數字萬用表操作指引》檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAMarking錯或模糊不清難以辨認不可接受;來料品名錯,或不同規格的混裝,均不可接受;本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超過0.5mm2,且未露出基質,可接受;否則不可接受;Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;目檢10倍以上的放大鏡檢驗時,必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內.LCR測試儀數字萬用表檢驗時,必須佩帶靜電帶。二極管類型檢測方法LED選擇數字萬用表的二極管檔,正向測量,LED需發出與要求相符的顏色的光,而反向測量不發光;否則該二極管不合格。注:有標記的一端為負極。其它二極管選擇數字萬用表的二極管檔,正向測量,讀數需小于1,而反向測量讀數需無窮大;否則該二極管不合格。注:有顏色標記的一端為負極。備注抽樣計劃說明:對于CHIP二極管,執行抽樣計劃時來料數量以盤為單位,樣本數也以盤為單位;從抽檢的每盤中取3~5pcs元件進行檢測;AQL不變。檢驗方法見"LCR數字電橋測試儀操作指引"和"數字萬用表操作指引"。〔二插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5.參考文件《LCR數字電橋操作指引》、《數字電容表操作指引》。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數量檢驗MA實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.極性等標記符號印刷不清,難以辨認不可接受;b.電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可接受;c.本體變形,破損等不可接受;d.Pin生銹氧化,均不可接受。目檢可焊性檢驗MAa.Pin上錫不良,或完全不上錫不可接受。<將PIN沾上現使用之合格的松香水,再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收>實際操作每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性尺寸規格檢驗MAa.外形尺寸不符合規格要求不可接受。卡尺若用于新的Model,需在PCB上對應的位置進行試插電性檢驗MA電容值超出規格要求則不可接受。用數字電容表或LCR數字電橋測試儀量測〔三晶體類檢驗規范1.目的作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5.參考文件《數字頻率計操作指引》檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數量檢驗MA實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.字體模糊不清,難以辨認不可接受;b.有不同規格的晶體混裝在一起,不可接受;元件變形,或受損露出本體等不可接受;Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa.晶體不能起振不可接受;b.測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位和數字頻率計電性檢測方法晶體檢測方法32.768KHz16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應位置插上待測晶體,再接通電源開機;在正常開機后,用調試好的數字頻率計測量晶體,看測量的頻率是否在規格范圍內,若不能開機或測量值不在規格范圍內,則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應位置插上待測晶體、CPU、內存條等,再接通電源開機,看能否正常開機顯示;在正常開機顯示后,用調試好的數字頻率計測量晶體,看測量的頻率是否在規格范圍內,若不能開機顯示或測量值不在規格范圍內,則該晶體不合格。〔四三極管檢驗規范1.目的作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5.參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數量檢驗MA實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受;b.來料品名錯,或不同規格的混裝,均不可接受;c.本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超過0.5mm2,且未露出基質,可接受;否則不可接受;e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗時,必須佩帶靜電帶。1.目的作為IQC人員檢驗。2.適用范圍適用于本公司所有之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5.參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數量檢驗MA實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAMarking錯或模糊不能辯認;塑料與針腳不能緊固連接;c.塑料體破損,體臟,變形,明顯色差,劃傷,縮水;d.過錫爐后塑料體外觀變色,變形,脫皮;e.針腳擰結,彎曲,偏位,缺損,斷針或缺少;f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g.針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗MAPIN上錫不良,或完全不上錫,均不可接受;<將零件腳插入現使用之合格松香水內,全部浸潤,再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收>實際操作每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性安裝檢驗MAa.針腳不能與標準PCB順利安裝;b.針腳露出機板長度小于0.5mm或大于2.0卡尺針腳露出機板長度的標準為0.5mm~2.0mm1.目的作為C人員檢驗CABLE類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.允收水準〔AQL嚴重缺點<CR>:0;主要缺點<MA>:0.4;次要缺點<MI>:1.5;5參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數量檢驗MAa.數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受;b.料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發黃或其它電鍍不良;b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破〔斷裂、異色等不良;c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不可接受;d.排線與支架等組裝不牢,易松脫;e.標識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯;f.排線接頭的顏色不符合規格要求;g.排線表面的絲印錯.1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處,看有無松脫現象參考MechanicalDrawingofCable尺寸檢驗MAa.長度不符合規格要求不可接受.卷尺尺寸參考/
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