1、材料(cilio)微區分析平臺平臺目前(mqin)擁有的儀器有：冷場發射掃描電鏡（CFSEM）、熱場發射(fsh)掃描電鏡（TFSEM）、S-520掃描電鏡（SEM）、電子探針（EPMA）、X射線粉末衍射儀（XRD）、X射線單晶衍射儀（SXRD）、微區X射線熒光光譜儀（- XRF）、以及冷凍干燥儀、臨界點干燥儀等配套的掃描電鏡制樣設備。可以進行各類材料表面形貌、微區結構和元素成分及材料的物相和結構分析等。平臺人員專業技術力量強，實力雄厚，在材料微區形貌結構、成分分析和物相、結構分析及其各類電鏡的維修等方面都具有豐富的經驗；平臺學術氣氛濃厚，承擔了國家自然科學基金和廣東省自然科學基金多項；平臺人

2、員精誠合作，改革創新，竭誠為校內外提供優質的服務。人員具體情況如下：姓名職務/職稱工作職責聯系電話電子郵箱趙文霞平臺主任/ 副研究員主持平臺全面工作/電子探針84115809 HYPERLINK mailto: 李陽研究員單晶數據處理84110195liyang223 許瑞梅實驗師冷場發射掃描電鏡、S-520掃描電鏡84110783 HYPERLINK mailto: 程小寧實驗師熱場發射掃描電鏡、S-520掃描電鏡84110783 HYPERLINK mailto: 徐艷高級工程師X射線粉末衍射儀、微區X射線熒光光譜儀84110782 HYPERLINK mailto: 馮小龍工程師X射線單

3、晶衍射儀、微區X射線熒光光譜儀84110782 HYPERLINK mailto: 梁超倫實驗師透射電鏡84110195 HYPERLINK mailto: 黃烘工程師透射電鏡84110195 HYPERLINK mailto: 張浩助理實驗師透射電鏡84110195zhhao26 熱場掃描電鏡/能譜/背散射 型 號：Quanta 400/INCA/HKL熱場發射(fsh)掃描電鏡/ X-射線(shxin)能譜儀/電子背散射衍射(ynsh)系統 (Thermal FE Environment Scanning Electron Microscope/ Energy Dispersive X-R

4、AY Spectrometer，EDS/ Electron Backscatter Diffraction，EBSD)生產廠家：荷蘭飛利浦FEI公司/ Oxford (英國牛津公司) / HKL (丹麥HKL公司，現屬于英國牛津公司)主要技術指標：1、電鏡的分辨率：2 nm 放大倍數：7 500,0002、掃描電鏡分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm 3、30kV透射掃描（STEM）分辨率：1.5nm；環境真空模式下30kV時，分辨率2.0nm4、能譜元素分析范圍：5B92U 5、EBSD空間分辨率(Al, 20kV): 0.1 m FEG SEM；角度分辨

5、率優于0.5度6、相鑒定功能：包括七大晶系，具有最大的相鑒定數據庫 應用范圍：Quanta 400 FEG場發射掃描電子顯微鏡是表面分析重要的表征工具之一，具有靈活先進的自動化操作系統。具有三種成像真空模式-高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以觀察分析各種類型的樣品。它可以對處理過的樣品和未處理的原始樣品提供微米、納米級表面特征的圖像和微觀分析數據。在生物學、地質、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他領域中得到日益廣泛的應用。本儀器還配有INCA X-射線能譜儀和EBSD背散射電子衍射系統，元素分析范圍為4Be92U，同時可進行晶體結構和取向分析。該儀器上是集多領域手段

6、于一體的顯微形貌、顯微成分、顯微結構和顯微織構的現代化顯微分析系統。樣品(yngpn)要求：各種類型的尺寸(ch cun)小于5cm5cm5cm（尺寸毫米(ho m)級為宜）的干燥固體樣品 聯系方式：020-84110783300kV 透射電子顯微鏡 型 號：Tecnai G2 F30 300 kV 透射電子顯微鏡生產廠家：美國FEI公司主要技術指標：1、加速電壓200 kV300 kV2、點分辨率（nm）0.203、線分辨率（nm）0.1024、信息限度（nm）0.145、TEM放大倍數范圍60 -1，000kx6、相機長度（mm）80 - 4，5007、最大衍射角度128、STEM HAA

7、DF分辨率（nm）0.199、STEM放大倍數范圍 150 -230Mx10、能譜分辨率 136 eV11、能量過濾器分辨率: 0.9 eV應用范圍：FEI公司Tecnai G2 F30場發射透射電子顯微鏡是一個真正多功能，多用戶環境的300 kV場發射透射電子顯微鏡，它將各種透射電鏡技術，包括CTEM, SAED, STEM, EDX, EELS有機組合，形成強大的分析功能，可在原子尺度上提供納米材料的內部結構、電子結構及化學環境等信息，同時可對材料組成元素進行線分布和面分布分析，獲得高空間分辨率的定性、定量信息。樣品(yngpn)要求：樣品(yngpn)厚度需低于200 nm。微細粒狀樣品

8、可以通過介質分散法并直接滴樣。由于該儀器是高分辨分析(fnx)型電鏡，為確保儀器高空間分辨率的特性，目前主要接受材料領域的樣品，暫不接受磁性樣品、易揮發、有毒及帶有輻射性樣品。聯系方式梁超倫 老師(銳影)X射線衍射儀型 號：Empyrean X射線衍射儀生產廠家：荷蘭帕納科公司生產的Empyrean（銳影）X射線衍射儀廣泛用于無機物、有機物（部分）、高分子、藥物及礦物等多晶樣品的分析。可進行物相定性、晶粒度測定、納米材料顆粒分布、長周期測定、取向度測定、晶型鑒別、K1射線數據測量以及其它參數測定。 主要技術指標：1、功率3 kW2、最小掃描步長0.00013、2q線

9、性0.014、角度重現性0.00015、測角范圍(2) 0.1140。應用范圍：廣泛用于無機物、有機物（部分）、高分子、藥物及礦物等多晶樣品的分析。可進行物相定性、晶粒度測定、納米材料顆粒分布、長周期測定、取向度測定、晶型鑒別、K1射線數據測量以及其它參數測定。樣品(yngpn)要求：送檢樣品(yngpn)可為粉末狀、塊狀、薄膜、鍍膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.5 g（視其密度和衍射(ynsh)能力而定）；塊狀樣品要求具有一個面積小于1.8 cmX1.8 cm 的近似平面；薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于1.8cm1.8 cm。聯系方式小龍 老師120kV

10、透射電子顯微鏡型 號：Tecnai G2 Spirit 生產廠家：美國FEI公司主要技術指標：1、加速電壓20 kV120 kV2、點分辨率 TWIN 0.34 nm，3、線分辨率 TWIN 0.20 nm ，4、最大全對中傾角 TWIN +/- 70o ，5、TEM放大倍數 TWIN 18.5倍 650,000倍。應用范圍：加速電壓20 kV120 kV屬于輕元素生物體研究的理想范圍，最大程度地減少了對脆弱生物結構的射束損壞；可自動執行眾多常規操作程序，操作簡單；側面和底部都安裝有嵌入式 CCD 相機，能瞬間生成高品質圖像。樣品要求：除微細粒狀樣品可以通過介質分散法并直接滴樣外，其它樣品的制

11、備方法主要有物理減薄法（包括離子和雙噴減薄等）和超薄切片法。一般情況下，物理減薄法的樣品制備過程須由用戶自己完成，不具備此制樣條件的院系，可預先與本儀器室聯系；超薄切片樣品的制備周期較長，需一個月左右。聯系方式張浩 老師(losh)微區X射線(shxin)熒光光譜儀 型 號：Eagle III XXL Probe微區能量色散X射線(shxin)熒光光譜儀生產廠家：美國EDAX公司主要技術指標：1、可檢測元素 11Na - 92U2、光斑直徑100m，300m3、濃度范圍在ppm級至100%的范圍4、可以在真空下或大氣壓下進行檢測5、超大型樣品室700mm700mm7

12、00mm；可以進行面掃描與線掃描元素分布分析應用范圍：主要用于金屬材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品質量控制、寶玉石鑒定、考古和文物鑒定、公安刑偵物證元素分析等。優勢在于可以對上述樣品局部進行最小到100微米局部范圍內元素定性和半定量無損分析。聯系方式：84110782馮小龍老師X-射線單晶衍射儀型 號：Smart 1000 CCD X-射線(shxin)單晶衍射儀（Single Crystal Diffractometer）型號(xngho)：Smart 1000 CCD生產廠家：德國Bruker公司(n s)主要技術指標：1、功率 3kW2、Mo 靶應用范圍：用于測定各種無機物、有機

13、物的晶體結構。可以獲得樣品的晶胞參數、鍵長、鍵角、構象、氫鍵、分子間堆積作用等信息。樣品要求：1、送檢樣品必須為單晶2、選擇晶體時要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致3、不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷4、晶體長、寬、高的尺寸均為0.1 0.4mm ，即晶體對角線長度不超過0.5 mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）聯系方式 場掃描電鏡型 號：JSM-6330F 冷場(lng chng)發射掃描電子顯微鏡 （Field Emission Scanning Eletron Microscope）生產廠家：日本(r bn)電子株式

14、會社主要(zhyo)技術指標：1、分辨率：1.5nm2、放大倍數：x10 x500,0003、樣品尺寸： 8 mm x 5 mm4、最大尺寸： 100 mm x 6 mm應用范圍：廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數字化圖像處理技術，提供高倍數、高分辨掃描圖像，并能即時打印或存盤輸出，是納米材料粒徑測試和形貌觀察最有效儀器。也是研究材料結構與性能關系所不可缺少

15、的重要工具。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可2、應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形；無磁性、放射性和腐蝕性3、含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進行臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理，最后由本室進行臨界點干燥處理4、觀察圖像樣品應預先噴金膜。一般情況下，樣品盡量小塊些（ 10 x 10 x 5 mm較方便）5、粉末樣品每個需1克左右6、納米樣品一般需超聲波分散，并鍍鉑金膜送樣須知(xzh)：送樣檢測請先到測試中心業務辦公室登記。需自己上機觀察者，請與電鏡室預約機時。技術(jsh)問題可直接與

16、電鏡室聯系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請提前半天到電鏡室制樣。按中心規定，請在辦理(bnl)繳費手續后取結果。未經同意，三個月以上未結帳的用戶，將會影響該單位用機預約安排。聯系方式子探針 型 號：JXA-8800R電子探針（Electron Probe Micro-analyzer）生產廠家：日本電子株式會社主要技術參數：1、元素范圍： 5 B 92 U2、波長范圍： 0.087 nm 9.3 nm3、分 辨 率： 6 nm（(二次電子像）4、樣品尺寸： 8 mm x 5 mm5、最大尺寸： 25 mm x 10 mm6、薄片樣品： 50 x 25 x

17、 1 mm應用范圍：電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析；可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）；還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，故在冶金、地質、電子材料、生物、醫學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。樣品(yngpn)要求:1、定量分析(fnx)的樣品必須磨平拋光、清洗干凈，如樣品不能進行表面磨平拋光（將影響分析精度）處理應事先說明2、為

18、測試方便和節約(jiyu)機時，樣品應先切成小薄片，不能切割制樣，必須先與測試人員商量3、應先標記好分析面上的測試點，無標記測試位置時，測試時只選有代表性、較平整位置測試4、液體樣必須先濃縮干燥5、分析的樣品必須是在高能電子轟擊下物理和化學性能穩定的固體、不分解、不爆炸、不揮發、無放射性、無磁性6、送樣時最好注明樣品可能包含什么元素7、樣品必須噴涂一層碳膜送樣須知：送樣檢測請先到測試中心業務辦公室登記。需自己上機觀察者，請與電鏡室預約機時。技術問題可直接與電鏡室聯系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請提前半天到電鏡室制樣。按中心規定，請在辦理繳費手續后取結果。未經同意，三個月以上未結帳

19、的用戶，將會影響該單位用機預約安排。聯系電話-520 掃描電鏡/能譜 型 號：S-520 / ISIS-300掃描電子顯微鏡/ X-射線能譜儀（Scanning Electron Microscope/Energy Dispersive X-ray Spectrometer)生產廠家：Hitachi/Oxford主要(zhyo)技術指標：1、分辨率：6 nm 2、放大(fngd)倍數：20 200,000 3、樣品(yngpn)尺寸： 8 mm x 5 mm4、最大尺寸： 100 mm x 6 mm5、元素范圍：11 Na 92 U6、含量一般要求大于0.5%應用范

20、圍：掃描電子顯微鏡/X-射線能譜聯用儀，是一種多功能、多用途、超顯微、形貌與成份分析相結合的現代顯微分析儀器。廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定、公安刑偵物證分析等。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、亞微米局部范圍內的表面特征和微米區域成份的定性和半定量分析。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀、顆粒或粉末狀均可2、應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形；無磁性、放射性和腐蝕性3、對含水份較多的生物軟組織樣品，要求用戶預先進行臨界點干燥前的固定、清洗、脫

21、水及用醋酸（異）戊酯置換等處理。最后再由本室進行臨界點干燥處理4、圖像觀察樣品應預先鍍金膜，成份分析樣品必需鍍碳膜5、一般情況下 ,樣品體積不宜太大（ 5 x 5 x 2 mm 較適合）送樣須知：送樣檢測請先到測試中心業務辦公室登記。需自己上機觀察者，請與電鏡室預約機時。技術問題可直接與電鏡室聯系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請提前半天到電鏡室制樣。按中心規定，請在辦理繳費手續后取結果。未經同意，三個月以上未結帳的用戶，將會影響該單位用機預約安排。聯系方式： 020-84110783200kV 透射電子顯微鏡 型 號：JEM-2010HR 生產廠家：日本(r bn)電子株式會社 技術參數：1、點分辨率0.23 nm，2、晶格(jn )分辨率0.14 nm，3、最高電壓(diny)200 kV，4、放大倍數2,000 1,500,000倍，5、附件：雙軸傾斜樣品臺和冷凍樣品臺應用范圍：該型號電子顯微鏡，屬中高壓、高分辨率透射電子顯微鏡，最高加速電壓為 200kV 。是研究各種材料的超顯微結構與性能關