1、統(tǒng)計(jì)過程控制SPCISO/TS 16949：2002技術(shù)規(guī)范培訓(xùn)五本參考手冊(cè)之一.本課程目錄一、什么是SPC？二、控制圖的目的三、 SPC與TS16949：2002的關(guān)系四、部分概念五、兩種過程模型和控制戰(zhàn)略六、變差七、控制圖的分類八、控制圖制造九、控制圖判穩(wěn)準(zhǔn)那么十、過程才干計(jì)算十一、P控制圖.一、 什么是SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制SPC是statistics process control的字母簡寫，運(yùn)用諸如控制圖等統(tǒng)計(jì)技術(shù)來分析過程及其輸出以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣淼竭_(dá)并堅(jiān)持統(tǒng)計(jì)控制形狀從而提高過程才干。注：這里統(tǒng)計(jì)技術(shù)泛指任何可以運(yùn)用的數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法，以控制圖實(shí)際為主。 .二、控制圖的目的1.1 初

2、始過程才干研討1.2 長期過程才干研討判穩(wěn)預(yù)防.三、SPC與TS16949：2002的關(guān)系7.5.1 消費(fèi)和效力提供-組織必需謀劃并執(zhí)行在受控條件下進(jìn)展消費(fèi)和效力提供。適用時(shí)，受控條件包括：7.5.1.1 控制方案-在過程變得不穩(wěn)定或從統(tǒng)計(jì)的角度不具備才干時(shí)啟動(dòng)規(guī)定的反響方案7.5.1.3 作業(yè)預(yù)備的驗(yàn)證-適用時(shí)組織應(yīng)運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)展驗(yàn)證7.6.1 丈量系統(tǒng)分析-為分析每種丈量和實(shí)驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)得出的結(jié)果中出現(xiàn)的變差,應(yīng)進(jìn)展統(tǒng)計(jì)研討.SPC與TS16949：2002的關(guān)系8.1.1統(tǒng)計(jì)工具確實(shí)定-在質(zhì)量先期謀劃中應(yīng)確定每一過程適用的統(tǒng)計(jì)工具,并應(yīng)包括在控制方案中8.1.2 根底統(tǒng)計(jì)概念知識(shí)-整個(gè)組

3、織應(yīng)了解和運(yùn)用根底統(tǒng)計(jì)概念,如變差,控制穩(wěn)定性,過程才干和過度調(diào)整8.2.3.1制造過程的監(jiān)視和丈量- 組織應(yīng)對(duì)一切新的制造過程進(jìn)展過程研討,以驗(yàn)證其過程才干.-組織應(yīng)對(duì)統(tǒng)計(jì)才干缺乏或不穩(wěn)定的特性啟動(dòng)控制方案中的反響方案.適當(dāng)時(shí),反響方案應(yīng)包括對(duì)產(chǎn)品的限制和100%檢驗(yàn),為保證過程變得穩(wěn)定和有才干,組織隨后應(yīng)完成明確進(jìn)度和責(zé)任要求的糾正措施8.5.1.2 制造過程的改良-關(guān)注于產(chǎn)品特性及制造過程參數(shù)變差的控制和減少-繼續(xù)改良是當(dāng)制造過程有才干并穩(wěn)定或當(dāng)產(chǎn)品特性可預(yù)測(cè)并滿足客戶要求時(shí)實(shí)施.SPC與TS16949：2002的關(guān)系ISO/TS16949：2002的目的本技術(shù)規(guī)范的目的在于在供應(yīng)鏈中提

4、供繼續(xù)改良、加強(qiáng)缺陷預(yù)防和減少變差和浪費(fèi)的質(zhì)量管理體系的開發(fā)；本技術(shù)規(guī)范與適當(dāng)?shù)念櫩鸵笙嗯浜希x了簽署這項(xiàng)文件的組織的根本質(zhì)量管理體系要求；本技術(shù)規(guī)范是為了防止多重認(rèn)證，并為汽車消費(fèi)件和相關(guān)效力件消費(fèi)的組織，提供了質(zhì)量管理體系的共同方法。.四、部分概念4.1 什么是隨機(jī)景象？ 在一定條件下，能夠發(fā)生也能夠不發(fā)生的景象。4.2 概率：隨機(jī)事件在一次實(shí)驗(yàn)中能夠發(fā)生，也能夠不發(fā)生，就有一個(gè)能夠性大小的問題。這個(gè)能夠性大小的定量表示稱為概率。4.3 隨機(jī)變量：隨機(jī)事件中的特性值。4.4 計(jì)數(shù)型Attributes：可用來記錄和分析的定性數(shù)據(jù)。凡是不能延續(xù)取值的，或者說即使運(yùn)用丈量工具也得不到小數(shù)點(diǎn)

5、以下的數(shù)據(jù)，而只能得到0、1、2、3等整數(shù)的這類數(shù)據(jù)。如：不合格數(shù)、缺陷數(shù)等。 又分為計(jì)件型如不合格品數(shù)和計(jì)點(diǎn)型如缺陷數(shù)。4.5 計(jì)量型Variables：定量的數(shù)據(jù)，可用丈量值來分析。凡是可以延續(xù)取值的，或者說可以用丈量工具詳細(xì)丈量出小數(shù)點(diǎn)以下數(shù)值的這類數(shù)據(jù)。如：長度、容積、分量、溫度、產(chǎn)量、職工工資總額等。.4.5 母體：又叫總體，它是指在某一次統(tǒng)計(jì)分析中研討對(duì)象的全體。4.6 個(gè)體：組成總體的每個(gè)單元產(chǎn)品叫個(gè)體。4.7 抽樣：就是指從總體中隨機(jī)抽取樣品組成樣本活動(dòng)的過程。4.7 隨機(jī)抽樣：就是要使總體中的每一個(gè)個(gè)體產(chǎn)品具有同等時(shí)機(jī)被抽取出來的組成樣本的活動(dòng)過程。4.8 樣本：也叫“子樣，

6、它是從總體中隨機(jī)抽取出來并且要對(duì)它進(jìn)展詳細(xì)研討分析的一部分個(gè)體產(chǎn)品。4.9 樣本容量：樣本中所含的樣品數(shù)目，普通叫樣本大小或樣本容量。用n表示。4.10 抽樣頻率：單位時(shí)間抽樣次數(shù)的多少。.4.11 均值X：一個(gè)子組內(nèi)數(shù)值的平均值4.12 中位數(shù)X：一個(gè)子組內(nèi)數(shù)值的中位數(shù)4.13 極差R：一個(gè)子組內(nèi)樣本或總體中最大值與最小值的差4.14 規(guī)范差 ：過程輸出的分布寬度或從過程統(tǒng)計(jì)抽樣值的分布寬度的量度。 普通用極差估算規(guī)范差：R/d2Sn2345678910d21.1281.6932.0592.3262.5342.7042.8472.9703.078.4.15方差：.例如：有一組數(shù)據(jù)：2，4，5

7、，8，9，.4.16 過程：是共同任務(wù)以產(chǎn)生輸出的組織、消費(fèi)者、設(shè)備、輸入資料、方法和環(huán)境以用運(yùn)用輸出的顧客之集合。一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互作用的活動(dòng) ISO9001：2000定義任務(wù)方式/資源的交融人機(jī)料法環(huán)顧客產(chǎn)品效力輸入過程/系統(tǒng)輸出.五、兩種過程模型和控制戰(zhàn)略缺陷檢測(cè)過程模型4M1E過程檢驗(yàn)產(chǎn)品/效力能否合格？顧客報(bào)廢/返工控制戰(zhàn)略：控制輸出，事后把關(guān)。.具有反響的過程控制模型預(yù)防統(tǒng)計(jì)方法4M1E過程產(chǎn)品/效力顧客識(shí)別變化的需求與期望顧客的呼聲過程呼聲控制戰(zhàn)略：控制過程，預(yù)防缺陷。.兩種模型的比較檢驗(yàn)?zāi)Ｐ头答伳Ｐ涂刂泣c(diǎn)輸出過程方法檢查統(tǒng)計(jì)經(jīng)濟(jì)性存在浪費(fèi)無浪費(fèi)產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定/

8、差穩(wěn)定/好.六、變差預(yù)測(cè)時(shí)間隨著時(shí)間的推移，過程的輸出構(gòu)成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè)。僅存在普通緣由變差的過程.特殊緣由與普通緣由變差共同作用的過程預(yù)測(cè)時(shí)間隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定，也可預(yù)測(cè)。.一致性、離散性與互換性A說：我有3個(gè)平均年齡只需24歲的女朋友。B說：哇！交了桃花運(yùn)啊！A說：一點(diǎn)也不，年齡差距太大，一點(diǎn)也不起勁。B說：還好吧，他也才28歲而已！只衡量數(shù)據(jù)集中的程度還不夠，還要衡量離散的程度！ 60歲6歲6歲.一致性、離散性與互換性1、一致性2、離散性互換性.七、控制圖的分類 1計(jì)量值控制圖 XR：均值與極差圖 XR：中位數(shù)圖 XMR：單值與挪動(dòng)極差圖 Xs：均值與規(guī)范差圖注：這

9、一類控制圖用于產(chǎn)品可丈量的質(zhì)量特性，如：長度、分量、面積、溫度、時(shí)間等延續(xù)性數(shù)值的數(shù)據(jù)。.2計(jì)數(shù)值控制圖 PChart:不合格品率控制圖 nPChart:不合格品數(shù)控制圖 CChart:不合格數(shù)控制圖 UChart:單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖注：這一類控制圖用于非可丈量的產(chǎn)質(zhì)量量特性，如：不合格品數(shù)，不合格數(shù)等延續(xù)性數(shù)據(jù)。.八、控制圖的制造 1、XR控制圖由X圖和R圖構(gòu)成 X圖：表現(xiàn)的是不同組間的平均值的變化； R圖：表現(xiàn)的是同一組的樣品的范圍的變化。 1控制界限的計(jì)算 X圖： X=(X1+X2+.+Xn)/n X=(X1+X2+.+Xn)/K CL=X UCL=X+A2R LCL=X-A2R .

10、 R圖: R=Xmax-Xmin UCL=D4R LCL=D3R.2控制圖的制造步驟： 搜集數(shù)據(jù)，普通不少于100個(gè)單值讀數(shù)。依測(cè)定時(shí)間或群體區(qū)分陳列。對(duì)數(shù)據(jù)加以分組，普通 2-6個(gè)數(shù)據(jù)分為一組。 組內(nèi)個(gè)別數(shù)據(jù)以n表示。 分成幾個(gè)組的個(gè)別組數(shù)以K表示。 剔除異常數(shù)據(jù)。記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。分別計(jì)算X 、R、X 、R 。計(jì)算控制界限。.劃出控制界限。在圖上打點(diǎn)。記入其它有關(guān)事項(xiàng)。檢查： 過程能否在控制形狀下。 檢查過程才干。 最后比較控制界限與產(chǎn)品規(guī)格。.控制圖制造及運(yùn)用程序圖完成預(yù)備任務(wù)搜集數(shù)據(jù)選擇刻度畫圖計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限將中心線和控制限畫出分析控制圖能否需求重新采取數(shù)據(jù)能否有特殊緣由變差計(jì)算才干指數(shù)才

11、干指數(shù)是否滿足要求堅(jiān)持和改良減少普通緣由變差是是是否否否.控制圖原理產(chǎn)質(zhì)量量特性落在+3，-3范圍外的概率為1-99.73%=0.27%,而落在大于+3一側(cè)的概率為0.27/2=0.%1。休哈特就是根據(jù)這一點(diǎn)發(fā)明了控制圖。99.73%要牢記。.九、控制圖判穩(wěn)準(zhǔn)那么 1、判異準(zhǔn)那么： 點(diǎn)子出界 界內(nèi)點(diǎn)子陳列不隨機(jī) 方式1：超出控制限的點(diǎn) UCL CL LCL.方式2：鏈延續(xù)七點(diǎn)在平均值一側(cè) .方式2：傾向 有7個(gè)或是7個(gè)以上的點(diǎn)有上升或是下降的傾向那么判異。.方式3：明顯的非隨機(jī)圖形 規(guī)定：點(diǎn)子在中心線1的范圍內(nèi)稱為“中心 線附近。 普通情況下，在約三分之二的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限三分之一的中間區(qū)域

12、內(nèi)。.2、判穩(wěn)準(zhǔn)那么 1延續(xù)25點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù)d=0。 2延續(xù)35點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù)d1。 3延續(xù)100點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù)d2。.十、過程才干的計(jì)算Short-Term Capability IndicesLong-Term Capability IndicesTUSLLSLProcess WidthDesign Width+3s-3s.過程才干與過程才干指數(shù)1、過程才干：是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)規(guī)范的能 力，它是衡量加工內(nèi)在一致性的。與消費(fèi)才干不同。短期過程才干固有過程才干：僅是指由偶因所因起的這部分變異所構(gòu)成的過程才干，它實(shí)踐上反映了“短期差別。長期過程才干：是指由異因與偶因之和所因起的總的變異，它實(shí)

13、踐上反映了“長期差別。可用控制圖或研討過程的樣本規(guī)范差來估算。2、過程才干指數(shù)：以往稱工序才干指數(shù)。無偏移雙側(cè)規(guī)范情況下的短期過程才干指數(shù)Cp.過程才干與過程才干指數(shù)無偏移單側(cè)規(guī)范情況下的短期過程才干指數(shù)CpU與CPL有偏移況下的短期過程才干指數(shù)CpKCp與CpK的區(qū)別無偏移情況的Cp表示過程加工的一致性，即“質(zhì)量才干， Cp越大，那么質(zhì)量特性值分布越“苗條，質(zhì)量才干越強(qiáng)。而有偏移情況的CpK表示過程中心與規(guī)范中心M的偏移情況下的過程才干指數(shù)， CpK越大，那么二者偏離越小，也即過程分布中心對(duì)規(guī)范中心越“瞄準(zhǔn)，是“過程才干與“管理才干二者共同作用的結(jié)果。.L程度的不合格品率K不合格品率P說明C

14、p值10.31732=31.710-2合格品率為68 10-20.3320.045500=4.55 10-2合格品率為95.4 10-20.6730.0226996=0.0227 10-3合格品率為99.73 10-21.0463.3ppm合格品率為99.994 10-21.3350.573ppm合格品率為99.9999 10-21.6762ppm合格品率為100%2.結(jié)合運(yùn)用Cp與Cpk所代表的合格品率 CpCPK0.330.671.001.331.672.000.3366.368%84.000%84.134%84.134%84.13447%84.13447%0.6795.450%97.77

15、2%97.725%97.72499%97.72499%1.0099.730%99.865%99.86501%99.86501%1.3399.994%99.99683%99.99683%1.6799.99994%99.99997%2.0099.99998%.Pp與PPK有人將其譯為“性能指數(shù)，實(shí)績是不恰當(dāng)?shù)模瑧?yīng)譯為“實(shí)績指數(shù)或“長期過程才干指數(shù)。Cp:無偏移短期過程才干指數(shù)。CPU:無偏移上側(cè)短期過程才干指數(shù)。CPL:無偏移下側(cè)短期過程才干指數(shù)。CPK:有偏移短期過程才干指數(shù)。PP:無偏移實(shí)績長期過程才干指數(shù)。PPU:無偏移上側(cè)實(shí)績長期過程才干指數(shù)。PPL:無偏移下側(cè)實(shí)績長期過程才干指數(shù)。PPK

16、:有偏移長期實(shí)績長期才干指數(shù)。.Cp圖解.Cpk圖解，這下看明白了吧?.L控制方式的PPM與均值偏移1.5 情形的PPML控制方式均值無偏移情形的不合格率均值偏移1.5 情形的ppm1控制方式31.710-26976702控制方式4.55 10-23087703控制方式2.7 10-3668704控制方式63.3 10-6=63.3ppm62105控制方式0.573 10-6=0.573ppm2336控制方式2 10-9=2ppb3.47控制方式0.003 10-9=0.003ppb0.0196 與3的比較無偏移條件下， 6 比3小135萬倍偏移1.5 條件下， 6 比3小2萬倍.十一、P控制圖 PChart用于控制產(chǎn)品不良率、人員缺勤率等方面 1控制界限