1、填空題：（每空2分，共50分）1.SPC是英文StatisticalProcessControl的前綴簡稱,即統計過程控制，也稱為統計制程管制2 .SPC強調預防，防患于未然是SPC的宗旨。3 .SPC執行成功的最重要條件是Action,即針對變差的偶因和異因分別采取措施。4 .制程是SPC的焦點。5 .普通原因始終作用于穩定的過程中。特殊原因以不可預測的方式來影響過程分布。6 .CL表示_管制中心線UCL表示上控制界限LCL表示下控制界限。7 .Ca表示_準確度Cp表示精密度CPKBI示制程能力。8 .PPM是指制程中所產生之百萬分之不良數，DPM指制程中所產生之百萬分之缺點數。9 .品管七

2、大手法分別是查檢表、柏拉圖、特性要因圖、散布圖、管制圖、直方圖、層別法。10 .魚骨圖又稱特性要因圖。11 .SPC的目的是持續改進。12 .SPC的核心思想是預防。13 .實施SPC能夠幫助企業在質量控制上真正作到"事前"預防和控制。14 .控制圖的基本類型按數據類型分為計量值控制圖，計數值控制圖。15 .計量型數據，通過實際測量而取得的連續性實際值，適于使用以下控制圖進行分析：X-R均值和極差圖、X-8均值和標準差圖、X-R中位值極差圖、X-MR單值移動極差圖。16 .計數型數據，以計產品的件數或點數的方法，適于使用以下控制圖進行分析：Pchart不良率控制圖、nPch

3、art不良數控制圖、Cchart缺點數控制圖、Uchart單位缺點數控制圖。17 .直方圖是以一組無間隔的直條圖表現頻數分布特征的統計圖,能夠直觀地顯示出數據的分布情況。18 .制絲歸檔數據的時間間隔是15秒。19 .如過程歷史數據計算的AVERAGE=5,=0.2,過程目標值=5.1,則LCL（控制下限）是生生，CL（控制中心）是5.0,UCL（控制上限）是5.6。20 .使用控制圖，對數據進行分組的基本原則是組內變異小，組間變異大。21 .一般企業的瑕疵率大約是3到4個西格瑪，以4西格瑪而言，相當于每一百萬個機會里，有6210次誤差。如果企業不斷追求品質改進，達到_6_西格瑪的程度，績效就

4、幾近于完美地達成顧客要求，在一百萬個機會里，只找得出3.4個瑕疵。22 .控制上限的英文代號是UCLq23 .計算CP,CPK時數據量不得少于25組。24 .SPC的中文意思是統計過程控制。25 .影響過程的主要因素有、極、粒、法、如、遮。26 .影響過程波動的因素通常可分為普通因素和特殊因素。27 .對于普通原因的波動通常需要采取系統措施。28 .日常工作中，符X-bar控制圖與R控制圖聯合使用，較為方便有效。29 .當過程處于受控狀態時，過程只受普通因素的影響,過程特性的波動具有統計規律性。30 .當過程處于失控狀態時，過程受到特殊因素的影響;波動偏離原來的規律。31 .日常生產和服務中常

5、見的波動分布有正態分布、二項分布、泊松分布。32 .若直方圖符合正態分布，說明過程處于穩定受控狀態。33 .若直方圖出現孤島型、偏向型等非正態分布，說明過程中有異常因素作用,應查明原因。34 .當X-MR圖中有連續9個點落在中心線同一側時，說明過程處于失控狀態。35 .當控制圖中有連續14點交替升降時，說明過程處于失控狀態。36 .當控制圖中有連續6點上升或下降時，說明過程處于失控狀態。37 .“b”指標準差，是用來衡量一個總數里標準誤差的統計單位。38 .在“3/'原則下，控制點落在志3b至IJ科+3b之間的概率是99.73%。二、選擇題：（每空2分，共6分）1 .將收集的測定值或數

6、據之全距分為幾個相等區間作為橫軸，并將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積以條狀方式排列起來所產生的圖形，稱之為B。A:.柏拉圖B:直方圖C:管制圖D:層別法2 .以下哪種直方圖的形態表現為缺齒形B。A:原料之微小變異B:機械之微小振動C:儀器測定時不十分精確之作法D:新手之作業員4 .生產部生產某一產品時，用快速檢測夾具檢測高度和同軸度，應該使用（B）控制圖A.Xbar-RchartB.npchartC.cchartD.Xbar-schart5 .漏焊、未焊滿、氣孔、焊渣等指的是（B）A.不良B.缺陷C.產品D.OQAreject6 .檢驗員每小時用高度儀檢測軸的高度后，所收集的數據應該

7、用（A）控制圖。A.Xbar-RchartB.npchartC.uchartD.Xbar-schart7 .以下哪個選項不屬于過程的重要輸入（C）A.自動粘和機B.凈化室C.控制圖D.操作工8 .Sigma指的是（A）A.標準差C.方差C.公司標志D.極差9 .（a）負責組織對產品不良及過程不良進行原因分析，并制訂對策，相關部門配合執行對策,（a）對對策執行情況進行監督。a.質檢部b.生產部c.技術部d.采購部e.市場部10 .（a）負責進行過程能力統計以及數據分析。a.質檢部b.生產部c.技術部d.采購部e.市場部11 .初始能力研究時：樣本大小一般至少為（c）個數據以上。a.30b.50c

8、.100d.125e.8012 .過程能力研究時：每（a）小時抽取（e）件，每班填寫一張能力測算表單。a.1b.2c.3d.4e.513.以下過程能力要求中，（ad）符合客戶要求。a.PPK>1.67b.1.33<PPKC1.67c.PPKv1.33d.CPK>1.33e.CPK<1.3314 .在汽車行業中，不屬正態分配之數據，可依顧客之需求，采用(a)法。a.PPM值b.合格率c.柏拉圖d.直方圖15 .對過程能力進行持續不斷地改善，具體可以系統性從以下(ab)方面入手。a)調整過程加工之分布中心，減少偏移量。b)提高過程作業水平，減少分散程度。c)修正上下控制限范

9、圍。16 .當客戶有要求較高或較低之過程能力時，應在相應的(b)予以注明。a.FMEAb.控制計劃c.作業指導書d.特殊特性清單三、判斷題1. (X)做初始能力研究時，Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。2. (X)只有超出USL和LSL才需要采取措施。3. (，)SPC意思是統計過程控制。4. (X)我們的子組容量都是4。5. (X)沒有超出控制界限的點，過程能力是可接受的。6. (X)所有的特殊特性均應使用統計過程控制。7. (X)特殊特性的選擇應由企業按產品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有絕對的正確與否。8. (X)在繪制控制圖時，不管采取何種方法，均應注意控制圖應能顯示過程受

10、控，否則不能計算過程能力。9. (X)P圖控制法適用于對所有的計數型數據做統計過程控制。10. (V)1924年，美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運用于生產過程當中，并發表了著名的“控制圖法”(亦稱為：Shewhart控制圖或3b控制圖。即：一種以實際產品質量特性與依過去經驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制，為統計質量管理奠定了理論和方法基礎。11. (x)因為X(bar)-R圖最為精確和敏感，較其它方法優勢更強，因此大多數企業都選擇使用該方法。12. (，)特殊原因都是惡性的，都應該進行剔除。13.

11、 (X)當過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。14. (，)當過程能力不足時，為提高過程能力，應進一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。15. (X)Ppk用于批量生產時對過程能力分析，Cpk用于批產前對過程能力的分析。16. (V)正確使用統計技術，能達到早期預防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。17. (X)控制計劃規定的特殊特性應做統計過程控制一SPC18. (V)當控制計劃要求對相關工序尺寸進行SPC統計過程控制時，公司相關部門進行回-R圖控制并進行過程能力研究。19. (，)重要過程事件(如工具變更，機器修理等)須摘記于相應之可|-R控制圖及/或直方圖上。四、概念題，

12、請簡要敘述下列術語的意義：1 .變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。1.1 固有變差：僅由普通原因造成的過程變差，由？=R/d2來估計。1.2 總變差：由普通原因和特殊原因共同造成的變差，用？s來估計。2、特殊特性：可能影響安全性或法規的符合性、配合、功能、性能或產品后續生產過程的產品特性或制造過程參數。3、標準差：過程輸出的分布寬度或從過程中統計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母或字母s（用于樣本標準差）表示。4、控制限：控制圖上的一條線（或幾條線），作為制定一個過程是否穩定的基礎。如有超出了控制極限變差存在，則證明過程受特殊因

13、素的影響。控制限是通過過程數據計算出來的，不要與工程的技術規范相混淆。5、過程能力：一個穩定過程的固有變差（6?:R/d2）的總范圍。1.3 Cpk（穩定過程的能力指數）：為一穩定過程【某一天、某一班次、某一批、某一機臺其組內的變差（R-bar/d2orS-bar/C4）】下的“能力指數”，計算時須同時考慮過程數的趨勢及該趨勢接近于規格界限的程度。即：通常定義為CPUKCPL中的最小值。7、Ppk（性能指數，即初期過程的性能指數）：為試生產階段一項類似于Cpk的能力指數，某一產品長期監控下的“能力指數”；但本項指數的計算，是以新產品的初期過程性能研究所得的數據為基礎。即：通常定義為PPU或PP

14、L中的最小值。8、PPM（質量水準，即每百萬零件不合格數）：指一種根據實際的有缺陷材料來反映過程能力的一種方法。PPMB據常用來優先制定糾正措施。9、過程（Process）:一組將輸入轉化為輸出的相互關聯或相互作用的活動。過程是向過程的顧客（內部的和外部的）提供產品或服務的增值活動鏈。注：A）一個過程的輸入通常是其它過程的輸出。B）組織為了增值通常對過程進行策劃并使其在受控條件下運行。C）過程的資源通常包括：人員、資金、設施、設備、材料、技術和方法。10、第I類錯誤：拒絕一個真實的假設。例如：采取了一個適用于特殊原因的措施而實際上過程還沒有發生變化；即過度控制。11、UCL,LCL:上下控制限

15、：IxIx|12、SPC:StatisticalProcessControl的簡稱，即統計過程控制。它能科學地區分出生產過程中產品質量的偶然波動與異常波動，從而對生產過程的異常及時告警，以便采取措施，消除異常，恢復過程的穩定。13、USL,LSL:上下規格限，一般指標準要求。14、Cpk,Ppk:CPK:過程能力指數，指長期的。PPK性能能力（初始能力）指數，指短期的能力。15、Xbar,R,（T:Xbay：均值（一般指子組均值）；R:極差，I=JI門標準差，三16、正態分布：呈以標稱值為中心、左右對稱的倒鐘形分布。一般地說，計量值質量特性，如尺寸、重量、強度、溫度、時間等，都有相似的分布狀態

16、：正態分布五、問答題1、控制圖應用在什么條件下可以由分析階段轉入控制階段？答：控制圖應用由分析階段轉入控制階段應滿足的條件：、控制圖是受控的；、過程能力能夠滿足生產要求。2、什么時候應該重新計算控制圖的控制界限？答：、控制圖是根據穩定狀態下的條件（人員、設備、原材料、工藝方法、測量系統、環境）來制定的。如果上述條件變化，則必須重新制定控制圖；、一定時間后檢驗控制圖還是否適用；、過程能力值有大的變化時。3、請寫出控制圖中常見的八種過程不受控的表現情況？答：控制圖中常見的八種過程不受控的表現情況為：、不能有點子超出上、下控制限（即：檢定規則1:1界外一有1點在A區以外）；、連續3點中不能有2點落在

17、A區或A區以外之區域（即：檢定規則2:2/3A一連續3點中有2點在A區或A區以外）；、連續5點中不能有4點落在B區或B區以外之區域（即：檢定規則3:4/5B一連續5點中有4點在B區或B區以外）；、不能有連續9點（或更多點）落在控制中心線的同一側（即：檢定規則4:9單側一連續9點在控制中心的同一側）；、不能有連續7點（或更多點）持續上升或下降（即：檢定規則5:7連串一連續7點（或更多點）持續上升或下降）；、不能有連續14點交互著一升一降（即：檢定規則6:14升降一連續14點交互著一升一降）；、不能有連續8點在中心線的兩側，但C區并無點子（即：檢定規則7:8缺8連續8點在中心線的兩側，但C區并無點子）。、不能有連續15點在中心線上下兩側的C區（即：檢定規則8:15C一連續15點在中