1、1.簡介（適用范圍）本文件適用于RJ45集成磁性組件連接器（簡稱ICM） 0例如：單口，單排多口，雙層多口，USB/RJ45, POE系列的RJ45電子連接器。（目的）本文件描述了 ICM產品耐壓的測試原理、基本原則和判定標準，以便設計、生產和檢驗三方統一思想，消除誤解，達成共識，從而進一步規范耐壓測試的標準和檢驗方法。（對于各測試儀器的操作方法,夾治具的連接和使用方法以及產線測試作業方法，請見相應的文件）2. 進行耐壓測試的原因：耐壓測試就是檢測產品絕緣結構是否能夠承受電力系統的內部過電壓，正常情況下，電力系統中的電壓波形是正弦波.電力系統在運行中由于雷擊，操作，故障或電氣設備的參數配合不當

2、等原因，引起 系統中某些部分的電壓突然升高，大大超過其額定電壓，這就是過電壓。過電壓按其發生的原因可分為 兩大類，一類是由于直接雷擊或雷電感應而引起的過電壓，稱為外部過電壓。雷電沖擊電流和沖擊電壓 的幅值都很大，而且持續時間很短，破壞性極大。另一類是因為電力系統內部的能量轉換或參數變化引 起的，例如切合空載線路，切斷空載變壓器，系統內發生單相弧光接地等，稱為內部過電壓。內部過電 壓是確定電力系統中各種電氣設備正常絕緣水平的主要依據。也就是說，產品的絕緣結構的設計不但要 考慮額定電壓而且要考慮產品使用環境的內部過電壓，一般來講，耐壓測試主要目的是檢查絕緣耐受工作電壓或過電壓的能力，進而檢驗產品設

3、備的絕緣性能是否符合安全標準，是檢驗設備電氣安全性能 的重要指標之一。3. RJ45集成磁性連接器的耐壓測試標準，規格符合標準所定，如下所示：8.3.2 MAU electrical characteristics8.3.2.1 Electrical isolation1500Vrms at 50 to 60 Hz for 60s,a pp lied as sp ecified in 5.3.2 of IEC60950:1991;2250Vdc for 60s, appi ied as sp ecified in 5.3.2 of IEC60950:1991.A sequenee of ten

4、 2400V impuIses of alternating polarity, applied at intervals of not less than 1 s. The shape of the impuIses shall be 50 卩 s s virtual front time,50 svirtual time of half value), as defi ned in IEC 60060.shall be no isolationbreakdown, as definedThe MAU must p rovide isolati on betwee n the AUl cab

5、le and the coaxial trunk cable. This isolati on shall withsta nd at least one of the follow ing electrical stre ngth tests:a)b)c)in 5.3.2 of lEC 60950:1991, during the test.Q measured at 500Vdc. In addition, thecable shield shall be less than 15Q betweenThereThe resista nee after the lest shall be a

6、t least 2 Misolationimpedanee between the DTEand the coaxial3MHz and 30MHz.4. 耐壓測試原理及方框圖4. 1 耐壓測試原理：把一個高于正常工作的電壓加在被測設備的絕緣體上，并持續一段規定的時間， 如果其間的絕緣性足夠好，加在上面的電壓就只會產生很小的漏電流。如果一個被測設備絕緣體在規定的時間內，其漏 電電流保持在規定的范圍內，就可以確定這個被測設備可以在正常的運行條件下安全運行。進行耐壓測 試時（如下圖所示），技術規格不同的被測試品，測量標準也就不同。對一般被測設備，耐壓測試是測 量火線與機殼之間的漏電流值。測試系統有

7、三大模塊：程控電源模塊、信號采集調理模塊和計算機控制系統MEti 0WAVOfA&hAfJlF廉爐5. 通用耐壓測試程序介紹 測試程序南5.1.15.1.25.1.35.1.45.1.55.1.6打開電源。選擇AC或DC耐壓測試。設置測試電壓值。交流1500V或直流設置測試電流值。最高測試電流限定值最低測試電流限定值設置上升時間。上升時間=交流，設置保持時間.2250V.每個port交流1mA,或所有port直流1mA. 交流,或直流0mA.或直流5s.5.1.7保持時間=交流和直流60s。設置電弧偵測功能。耐壓測試 （以華儀EXTECH714為例：）程序設置及儀器操作方法詳見華儀 EXTEC

8、H714操作指電弧偵測靈敏度等級=5 關閉電弧偵測功能5.1.8設置連續測試。打開連接5.1.9用校準盒校驗耐壓機5.1.9.1 連接方式Hi-pot tester（而寸壓機）Calibrate n Box（校準盒）HV Term in al（高壓端子）Return Terminal（ 低壓返回端子）Ground（連續測試端子）AC/DC Continuity測試夾具僅 供參考5.1.9.2校驗耐壓機，所有測試應當提示不良。當轉到AC/DC fail測試檔時，耐壓機器立即提示不良 當轉到AC/DC pass測試檔時，耐壓機待電壓爬升至，或，時,提示不良。（Remove the High Vol

9、tage Test lead from the Hi-pot Test Failure box and retest. The Low level Failure will come on AC or DC）5.1.10耐壓測試方法及連接首先，使用RJ45插頭組（其終端被短接在一起）將產品的每個 Port連接起來，然后再把它 連接到耐壓機的紅色高壓測試表筆。另一方面，把耐壓機的黑色低壓（零電位）測試表筆連 接到產品外殼的一端，黑色連續掃描測試表筆連接到產品外殼的另一端。5.1.11高壓測試典型的連接線路高壓端 （Hi-pot ）耐壓機（Hi-pot tester厶低壓端 （GNDShorted

10、RJ1-RJ8Shortedpin1-10TDOTOO- IITD1+TD2+FUyTD2- TD1- RJ-6 HTD3t| RJ-7|TD3- RJ-a 1=_ cij.JC円 J .1I CT-ICT.ic-r3 1CT 麗=ai-iJ-WWI CUC3UUU -UW=Ji_ 叱._3EZZmjirICTJCIII ClT hC2卄CJC4 MXO- MX0+ J(3)MX1- = MX1 +Ti) MX2+ J(7)MX3- -一 WX3+ -TJ) VCC TGMDI shieldC1 - lOOOpf .3kV.1DVX7n D血upl科亡總p= 75 Ohmi. 1/16 riS

11、 ftanMori5.1.12執行耐壓測試并確認是合格還是不良。合格-下列條件出現表示合格：綠燈亮，而且沒有爆破聲。不良-下列任何一個條件出現就表示不良：a）紅色不良指示燈亮起，b）耐壓測試機提示電壓崩潰，c）產品有爆破聲，d）蜂鳴器隨即發出響聲.備注在這里，所有的測試是使用 RJ45插頭組（其終端被短接在一起） 將產品的每個Port連接起來。 因此應當注意：RJ45插頭磨損，接觸不可靠而引起電弧。如果客戶指定了耐壓測試設備的，嚴格按客戶要求操作。而針對所有POE勺產品，原則上都用AR5560DT（樣品測試）或 AR7550DT（批量生產）或相近精度的儀器。6. ICM產品耐壓測試的基本原則:

12、產品類型ProductType測試工位Stati on耐壓測試條件Hi-pot Test Con diti on連接方法ConnectionPOE半成品(PCBA, Module)1500Vac,50/60HZ,1mAcutoff current per high voltage cap, ramp , dwell 1s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins in cludi ng power pins : Chip side pins in cludi ng HV Cap成品(Fini shed Goods)1500Vac,50/60HZ,1mAcut

13、off current per high voltage cap, ramp , dwell 60s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins in cludi ng po wer pins : Chip side pins includingHV Cap andshieldNON-POE不帶高壓 去藕電容 的產品（Part w/o HV cap）半成品(PCBA, Module)1500Vac,50/60H Z,cutoff current,ramp ,dwell 1s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins : Ch

14、ip side pins成品(Fini shed Goods)1500Vac,50/60H Z,cutoff curre nt per p ort, ramp , dwell 60s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins : Chip side pins in cludi ng the shield帶咼壓去 藕電容的 產品（Part with cap）半成品(PCBA, Module)2250Vdc,50uA cutoffcurrent, ramp 5s, dwell 2s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins :

15、 Chip side pins in cludi ngHVCap成品(Fini shedGoods)2250Vdc,1mA cutoffcurre nt per p roduct ra mp 5s, dwell 60s, arc off.Hi-V : Lo-V =RJ con tact pins : Chip side pins in cludi ngHVCap and shieldHV般情況下，工程樣板必須經過QA根據CD圖的Hi-pot要求（即60S）測試后方能出貨。對于量產產品（即出貨量必須已達100K ports的產品），基于量產的合格率狀況，ME或QA可以另行發文更改測試保持時間和測

16、試項目，但不能與下列要求相抵觸或超出下列要求。對于需DCHi-pot（2250Vdc 60s（有其他耐壓值要求的根據客戶要求）測試的量產產品，以port為單位，當Hi-pot測試不良率 4000PPM時，且保證能將其中 80%以上的Hi-pot不良品挑選 出來，根據生產線實際Hi-pot測試時間的合格率數據，我們可以選擇一個合適的耐壓測試保持 時間作為測試規格，但最終測試保持時間不能少于2s；對于有特殊要求做 AC Hi-pot（1500Vac 60s）測試的量產產品，Hi-pot測試如滿足以上條件同樣 可以更改測試保持時間，但最終不能少于2s ；對需同時做AC和DC Hi-pot測試的量產產

17、品，Hi-pot測試如滿足以上條件,可以選擇其中一 種比較嚴格的Hi-pot測試方式（AC或DC來更改測試保持時間，但最終不能少于2s；Module完全相同，且這個成熟產品的耐壓測試要求已經根據以 那么這個新產品可以直接引用更改后的規格作為測試要求。不依據第6條ICM產品的耐壓測試的基本原則所列條件。如一個新產品與一個成熟產品的上條件更改了耐壓測試保持時間， 特殊要求的產品：客戶有特殊要求的，比如1、指定了耐壓上升時間；2、指定了漏電流的數值等；都需要嚴格按照客戶指定要求操作，但耐壓測試保持時間可依照所列的各條件做適當地調整。以上所有的產品（POE、NoN-POEwithout Hi volt

18、age decoupling cap、NoN-POEvith Hi voltage decoupling cap 、Dell Parts），更改后的測試條件/要求是必須滿足的最基本的要求（除非該文件改版做了更新），它以不降低產品的 HI-POT承受能力，減少不安全產品交付給客戶的風險為宗旨。對一個產品來說，無論是交流還是直流的耐壓測試都是一個破壞性實驗，所以在設計和大量生產時我們都要特別小心。7. 相關問題解釋:耐壓測試說明7.1.1交流耐壓測試測試中止（Abort ）假如交流耐壓測試正在運行之中如下圖.ABORT,而按“ RESET開關或使用遙控裝置中斷測試，LCD顯示器會顯示 ACWAbo

19、rt,*屆緩升測試（RamD UP如交流耐壓測試設定有緩升 （Ramp Up）測試程序,在本分析儀讀到第一筆測試結果之前，測試的結果會不斷的被更新，LCD顯示器會顯示ACW RampUp,如右圖。緩降測試（RamP DN）如果交流耐壓測試設定有緩降（Ram P DN）測試程序,在本分析儀讀到第一筆測試結果之前，液晶顯胡FT 從LOMkvIQ.0Dm7. QDriAFAIL耐壓崩潰（Breakdown）如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍，并且電弧的電流量也速超過本分析儀所能夠量測的正常數值之外,會被程式判定為耐壓崩潰造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示ACWBrea

20、kdow n，如下圖。LEMkv 2 %or豁BreNkdbvwn i. qsJFAIL漏電電流下限（Min Lmt）如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量低于下限設定值,會被程式判定為漏電電流下限造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示MinFail ，如下圖。oror0.000FAIL電弧測試失敗（Arc Fail）LCD顯示器會顯示 Arc FaiI ,如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量在設定的漏電電流上限值以內，但是電弧的電流量超過電弧電流 的設定值，造成的測試失敗，會被程式判定為被測物的電弧造成的測試失敗,如下圖。oror0.002FAIL測試通過（Pass）被設定為通過測試，LCD顯

21、示器會PASSLEMkv 乙09orDCU Pas J；1 OS1.2 DK假如被測物在做交流耐壓測試時的整個過程都沒有任何異常的現象發生時, 顯示Pass,如下圖。直流耐壓測試:測試中止（Abort）如直流耐壓測試正在運行之中，而按RESET開關或使用遙控裝置中斷測試時,LCD顯示器會顯示 DCW Abort,如下圖。CJ Abortt 旖1-1. 】_)!)聘I0-0 mAABORT緩升測試（Ramp UP如果直流耐壓測試設定有緩升（Ram P Up）測試程序,DOI Ramp UP ni I 帖在本分析儀讀到第一筆測試結果之前,LCD顯示器會顯示 DCW Ramp Up如右圖緩降測試（R

22、amp DN如果直流耐壓測試設定有緩降（Ram P DN測試程序,在本分析儀讀到第一筆測試結果之前,LCD顯示器會顯示 DCW Ramp DN如右圖。1-2 Hkv OOuA測試時間（Dwell）在直流耐壓測試運行時，測試的結果會不斷的被更新,I.2Hkv *QD曲會被程式判定為漏電電流上限造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示 Max - Fail，如下圖1.2帕orEC hl Max-1. IDEHi-U仁別e 2丄：.心肩orI 0 .0 Q mAFAIL在本分析儀讀到第一筆測試結果之前,LCD顯示器會顯示 DCW Dwell，如右圖。漏電電流上限（Max Lmt）如被測物在做直流耐壓測試時

23、的漏電電流量超過上限設定值,短路（Short）如被測物在做直流耐壓測試時，漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍之外，再加上本分析儀特殊的短路判定電路動作，會被程式判定為短路造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示DCW short，如下圖。E?匚W Wh rt ；三 1.fl;ororao.FAIL耐壓崩潰（Breakdown）如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍,并且電弧的電流量速也超過本分析儀所能夠量測的正常數值之外，會被程序判定為耐壓崩潰造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示 DCWBreakdown,如下圖。LeMiv 、1 Q朋FAILi漏電電流下限（Mm Lm

24、t）如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量低于下限設定值,會被程式判定為漏電電流下限造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示MinFail，如下圖。FAIL訓卜 FellTITn1=i I；電弧測試失敗（Arc Fail）如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量在設定的漏電電流上限值以內，但是電弧的電流量超過電弧電流的設定值,造成的測試失敗，會被程式判定為被測物的電弧造成的測試失敗,LCD顯示器會顯示Arc Fail,如下圖。eg 斗匕尸胡創-I |不LEMkv02識叫 FAIL測試通過（Pass）假如被測物在做直流耐壓測試時的整個過程都沒有任何異常的現象發生時,被認定為通過測試，LCD顯示器會顯示DCW Pas,如下圖。PASS0-rI記 H KV OLO gIkuDCiii Pajs Ml-i. L 討心IR ParsHl-3 1 QQKM會較大,而使得真實測試電流相對變小。在AC耐壓測試時，為何需要 real current 的判斷 電流在輸出時，若受到較大容抗時，反應電流（reactive）若無法準確測量輸出電流給加以補償，會造成測試上的盲點在DC耐壓測試時，為何需要緩升