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文檔簡介
1、2021-6-18承壓設備無損檢測承壓設備無損檢測第第3 3部分:超聲檢測部分:超聲檢測山東省特種設備檢驗研究院山東省特種設備檢驗研究院淄博分院淄博分院劉鐵民劉鐵民20152015年年0404月月2021-6-18JB中中 華華 人人 民民 共共 和和 國國 行行 業業 標標 準準JB 4730.32005代替代替JB 47301994 承壓設備無損檢測承壓設備無損檢測第第3部分:超聲檢測部分:超聲檢測Nondestructive testing of pressure equipmentsPart 3:UItrasonict testing2005-07-26發布發布 2005-11-01實
2、施實施 國家發展和改革委員會國家發展和改革委員會 發布發布2021-6-18目目 次次前言前言 1 1 范圍范圍 2 2 規范性引用文件規范性引用文件 3 3 一般要求一般要求 4 4 承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測和質量分級承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測和質量分級 5 5 承壓設備熔化焊對接焊接接頭超聲檢測和質量分級承壓設備熔化焊對接焊接接頭超聲檢測和質量分級6 6 承壓設備管子、壓力管道環向對接焊接接頭超聲檢測承壓設備管子、壓力管道環向對接焊接接頭超聲檢測和質量分級和質量分級 7 7 在用承壓設備超聲檢測在用承壓設備超聲檢測8 8 超聲檢測報告超聲檢測報告2021-6-18附錄附錄
3、A A(規范性附錄)(規范性附錄) 雙晶直探頭性能要求雙晶直探頭性能要求附錄附錄B B(規范性附錄)(規范性附錄) 承壓設備用鋼板超聲橫波檢承壓設備用鋼板超聲橫波檢 測測附錄附錄C C(規范性附錄)(規范性附錄) 承壓設備用鋼鍛件超聲橫波承壓設備用鋼鍛件超聲橫波 檢測檢測附錄附錄D D(規范性附錄)(規范性附錄) 承壓設備全熔化焊用高壓無承壓設備全熔化焊用高壓無 縫鋼管軸向橫波檢測縫鋼管軸向橫波檢測附錄附錄E E(規范性附錄)(規范性附錄) 承壓設備用奧氏體鋼鍛件斜承壓設備用奧氏體鋼鍛件斜 探頭檢測探頭檢測附錄附錄F F(規范性附錄)(規范性附錄) 聲能傳輸損耗差的測定聲能傳輸損耗差的測定附錄
4、附錄G G(規范性附錄)(規范性附錄) 6mm6mm8mm8mm鋼制承壓設備對接鋼制承壓設備對接 焊接接頭超聲檢測和質量分焊接接頭超聲檢測和質量分 級級附錄附錄H H(規范性附錄)(規范性附錄) 回波動態波形回波動態波形2021-6-18附錄附錄I I(規范性附錄)(規范性附錄) 缺陷測高方法(一)缺陷測高方法(一) 采用超聲端點衍射波法測定缺采用超聲端點衍射波法測定缺 陷自身高度陷自身高度附錄附錄J J(規范性附錄)(規范性附錄) 缺陷測高方法(二)缺陷測高方法(二) 采用端部最大回波法測定缺陷采用端部最大回波法測定缺陷 自身高度自身高度附錄附錄K K(規范性附錄)(規范性附錄) 缺陷測高方
5、法(三)缺陷測高方法(三) 采用采用6dB6dB法測定缺陷自身高度法測定缺陷自身高度附錄附錄L L(規范性附錄)(規范性附錄) 缺陷類型識別和性質估判缺陷類型識別和性質估判附錄附錄M M(資料性附錄)(資料性附錄) 鈦制承壓設備對接焊接接頭超鈦制承壓設備對接焊接接頭超 聲檢測和質量分級聲檢測和質量分級附錄附錄N N(資料性附錄)(資料性附錄) 奧氏體不銹鋼對接焊接接頭超奧氏體不銹鋼對接焊接接頭超 (計(計1414個個附錄附錄) 聲檢測和質量分級聲檢測和質量分級2021-6-18前前 言言 JB/T 4730.1JB/T 4730.14730.6-20054730.6-2005承壓設備無損檢測承
6、壓設備無損檢測分為六個部分:分為六個部分:第第1 1部分:通用要求;部分:通用要求;第第2 2部分:射線檢測;部分:射線檢測;第第3 3部分:超聲檢測;部分:超聲檢測;第第4 4部分:磁粉檢測;部分:磁粉檢測;第第5 5部分:滲透檢測;部分:滲透檢測;第第6 6部分:渦流檢測。部分:渦流檢測。本部分為本部分為JB/T 4730.1JB/T 4730.14730.6-20054730.6-2005的第的第3 3部分:部分:超聲檢測。本部分主要根據國內多年的研究成果和超聲檢測。本部分主要根據國內多年的研究成果和應用經驗,參考應用經驗,參考ASMEASME鍋爐壓力容器規范鍋爐壓力容器規范第第卷卷和和
7、JISJIS標準規范以及行業反饋意見進行修訂。本部分標準規范以及行業反饋意見進行修訂。本部分與與JB 47301994JB 47301994相比,主要變化如下:相比,主要變化如下: 2021-6-181. 1. 對壁厚小于對壁厚小于3 3倍近場區工件材質衰減系數公倍近場區工件材質衰減系數公式進行修正;增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹式進行修正;增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材超鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材超聲檢測內容;統一了爆炸和軋制復合鋼板超聲聲檢測內容;統一了爆炸和軋制復合鋼板超聲檢測內容。檢測內容。2. 2. 將鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測范圍
8、將鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測范圍擴大到擴大到 6mm6mm400mm400mm,對對接焊接接頭超聲檢測,對對接焊接接頭超聲檢測試塊進行了局部調整;增加了鋼制承壓設備對試塊進行了局部調整;增加了鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測等級分類的內容;增加了接焊接接頭超聲檢測等級分類的內容;增加了T T型焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓設備對接焊型焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓設備對接焊接接頭的超聲檢測內容。接接頭的超聲檢測內容。 2021-6-183. 3. 增加了壁厚大于或等于增加了壁厚大于或等于4mm4mm,外徑為,外徑為32mm32mm159mm159mm或壁厚為或壁厚為 4 mm4 mm6 mm
9、6 mm,外徑大于或等于,外徑大于或等于159mm159mm的鋼制承壓設備管子、壓力管道環向對接的鋼制承壓設備管子、壓力管道環向對接接頭超聲檢測內容;增加了壁厚大于或等于接頭超聲檢測內容;增加了壁厚大于或等于5mm5mm,外徑為外徑為80mm80mm159mm159mm或壁厚為或壁厚為5mm5mm8 mm8 mm,外徑,外徑大于或等于大于或等于159mm159mm的鋁及鋁合金環向對接焊接接的鋁及鋁合金環向對接焊接接頭超聲檢測內容。頭超聲檢測內容。4. 4. 增加了在用承壓設備超聲檢測內容。增加了在用承壓設備超聲檢測內容。2021-6-18本部分附錄本部分附錄A A至附錄至附錄L L為規范性附錄
10、;附錄為規范性附錄;附錄M M、附、附錄錄N N為資料性附錄。為資料性附錄。本部分由全國鍋爐壓力容器標準化技術委員會本部分由全國鍋爐壓力容器標準化技術委員會(SAC/TC262SAC/TC262)提出。)提出。本部分由全國鍋爐壓力容器標準化技術委員會本部分由全國鍋爐壓力容器標準化技術委員會(SAC/TC262SAC/TC262)歸口。)歸口。本部分主要起草人:袁榕、姚志忠、康紀黔、閻本部分主要起草人:袁榕、姚志忠、康紀黔、閻長周、蕭家偉、許遵言、潘榮寶、陳程玉。長周、蕭家偉、許遵言、潘榮寶、陳程玉。2021-6-18承壓設備無損檢測承壓設備無損檢測第第2 2部分:超聲檢測部分:超聲檢測 1 1
11、 范圍范圍JB/T 4730JB/T 4730的本部分規定了承壓設備采用的本部分規定了承壓設備采用A A型脈沖型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質量分級要求。和質量分級要求。本部分適用于金屬材料制承壓設備用原材料、零本部分適用于金屬材料制承壓設備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測,也適用于金屬材料制部件和焊接接頭的超聲檢測,也適用于金屬材料制在用承壓設備的超聲檢測。在用承壓設備的超聲檢測。與承壓設備有關的支承件和結構件的超聲檢測,與承壓設備有關的支承件和結構件的超聲檢測,也可參照本部分使用。也可參照本部分使用。2021-6-182
12、 2 規范性引用文件規范性引用文件下列文件中的條款通過下列文件中的條款通過JB/T 4730JB/T 4730的本部分的引的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。用于本部分。2021-6-18
13、JB/T 4730.1 JB/T 4730.1 承壓設備無損檢測承壓設備無損檢測 第第1 1部分:部分:通用要求通用要求JB/T 79131995 JB/T 79131995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法制作與校驗方法JB/T 92141999 AJB/T 92141999 A型脈沖反射式超聲波探傷系型脈沖反射式超聲波探傷系統工作性能測試方法統工作性能測試方法JB/T 100611999 AJB/T 100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀型脈沖反射式超聲波探傷儀 通用技術條件通用技術條件JB/T 100621999 JB/T 100621999 超
14、聲探傷用探頭性能測試方法超聲探傷用探頭性能測試方法JB/T 100631999 JB/T 100631999 超聲探傷用超聲探傷用1 1號標準試塊號標準試塊 技技術條件術條件 2021-6-183 3 一般要求一般要求3.1 3.1 超聲檢測人員超聲檢測人員 超聲檢測人員的一般要求應符合超聲檢測人員的一般要求應符合JB/T 4730.1JB/T 4730.1的有的有關規定。關規定。2021-6-183.2 3.2 檢測設備檢測設備3.2.1 3.2.1 超聲檢測設備均應具有產品質量合格證或合超聲檢測設備均應具有產品質量合格證或合格的證明文件。格的證明文件。3.2.2 3.2.2 探傷儀、探頭和
15、系統性能探傷儀、探頭和系統性能3.2.2.1 3.2.2.1 探傷儀探傷儀采用采用A A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍為為0.5MHz0.5MHz10MHz10MHz,儀器至少在熒光屏滿刻度的,儀器至少在熒光屏滿刻度的80%80%范圍內呈線性顯示。探傷儀應具有范圍內呈線性顯示。探傷儀應具有80dB80dB以上的連續以上的連續可調衰減器,步進級每檔不大于可調衰減器,步進級每檔不大于2dB2dB,其精度為任意,其精度為任意相鄰相鄰 12dB12dB誤差在誤差在1dB1dB以內,最大累計誤差不超過以內,最大累計誤差不超過1dB1dB。水平線性誤差不大
16、于。水平線性誤差不大于1%1%,垂直線性誤差不大于,垂直線性誤差不大于5%5%。其余指標應符合。其余指標應符合JB/T 10061JB/T 10061的規定。的規定。2021-6-181. 1. 檢測設備檢測設備 探傷儀探傷儀a a、頻率范圍改為:、頻率范圍改為:0.5MHZ0.5MHZ10MHZ,10MHZ,主要考慮粗晶主要考慮粗晶材料采用低頻,薄工件采用高頻。故頻率范圍擴大材料采用低頻,薄工件采用高頻。故頻率范圍擴大(原為(原為1 15MHZ5MHZ)。)。b b、熒光屏滿刻度的、熒光屏滿刻度的8080范圍內呈線性顯示概念:表范圍內呈線性顯示概念:表示利用試塊上產生幅度比為示利用試塊上產生
17、幅度比為2 2:1 1的兩個互不干擾信的兩個互不干擾信號,改變增益,在整個熒光屏范圍內觀察兩回波比號,改變增益,在整個熒光屏范圍內觀察兩回波比值的誤差變化,并使其限制在值的誤差變化,并使其限制在5 5范圍內,由此得到范圍內,由此得到的垂直極限范圍不小于熒光屏滿刻度的的垂直極限范圍不小于熒光屏滿刻度的8080,是動,是動態范圍和垂直線性的綜合反映。態范圍和垂直線性的綜合反映。2021-6-183.2.2.2 3.2.2.2 探頭探頭3.2.2.2.1 3.2.2.2.1 晶片面積一般不應大于晶片面積一般不應大于500mm500mm2 2,且,且任一邊長原則上不大于任一邊長原則上不大于25mm25
18、mm。3.2.2.2.2 3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于大于2 2,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。2021-6-18 探頭探頭 對探頭面積,晶片任一邊長、主聲束偏離角對探頭面積,晶片任一邊長、主聲束偏離角及雙峰等主要參數作出規定。主要考慮對缺及雙峰等主要參數作出規定。主要考慮對缺陷定位和發現缺陷的能力等因素。陷定位和發現缺陷的能力等因素。2021-6-183.2.2.3 3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統性能超聲探傷儀和探頭的系統性能3.2.2.3.1 3.2.2.3.1 在達到所探工件的最大檢測聲程
19、時,其在達到所探工件的最大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應不小于有效靈敏度余量應不小于10dB10dB。3.2.2.3.2 3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于不得大于10%10%。3.2.2.3.3 3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下):對于頻率為準靈敏度下):對于頻率為5MHz5MHz的探頭,寬度不大于的探頭,寬度不大于10mm10mm;對于頻率為;對于頻率為2.5MHz2.5MHz的探頭,寬度不大于的探頭,寬度不大于15mm15mm。3.2.2.3.4 3.2.2.3
20、.4 直探頭的遠場分辨力應不小于直探頭的遠場分辨力應不小于30dB30dB,斜,斜探頭的遠場分辨力應不小于探頭的遠場分辨力應不小于6dB6dB。3.2.2.3.5 3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統性能應按儀器和探頭的系統性能應按JB/T 9214JB/T 9214和和JB/T 10062JB/T 10062的規定進行測試。的規定進行測試。2021-6-18 探傷儀和探頭的系統性能探傷儀和探頭的系統性能a a、始脈沖寬度在基準靈敏度對不同頻率分頻測、始脈沖寬度在基準靈敏度對不同頻率分頻測試。因同一頻率在不同靈敏度下及同一靈敏度對試。因同一頻率在不同靈敏度下及同一靈敏度對不同頻率探頭和儀器組合
21、后始脈沖寬度均不同。不同頻率探頭和儀器組合后始脈沖寬度均不同。b b、組合頻率誤差與公稱頻率誤差、組合頻率誤差與公稱頻率誤差1010 探頭與儀器組合后的實際頻率不等于探頭公稱探頭與儀器組合后的實際頻率不等于探頭公稱頻率,也不等于探頭本身頻率,必須實際測試,頻率,也不等于探頭本身頻率,必須實際測試,故作規定。故作規定。c c、遠場分辨率可利用、遠場分辨率可利用CSK-ACSK-A試塊測試。試塊測試。2021-6-18具體測試方法為:具體測試方法為: 直探頭遠場分辨力測試方法:直探頭遠場分辨力測試方法:將直探頭放將直探頭放在在CSK-ACSK-A試塊上探測深度分別為試塊上探測深度分別為85mm85
22、mm,91mm91mm和和100mm100mm底面反射,分別得到底面反射,分別得到A A、B B、C C三個回波,三個回波,移動探頭,將移動探頭,將A A波(波(85mm85mm)底面反射)和)底面反射)和B B波波(91mm91mm底面反射)或底面反射)或B B波和波和C C波(波(100mm100mm底面反底面反射)調到基準波高(如射)調到基準波高(如5050滿幅),然后調節衰滿幅),然后調節衰減器,使兩回波的波谷升至基準波高(減器,使兩回波的波谷升至基準波高(5050滿滿幅),此時衰減器減少的讀數必須幅),此時衰減器減少的讀數必須30dB30dB。 2021-6-18具體測試方法為:具體
23、測試方法為:斜探頭遠場分辨力測試方法:斜探頭遠場分辨力測試方法:將斜探頭放將斜探頭放在在CSK-ACSK-A試塊上,探測試塊上,探測50mm50mm,44mm44mm和和40mm340mm3個孔的外園弧面,分別得到個孔的外園弧面,分別得到A A波波(50mm50mm孔回波),孔回波),B B波(波(44mm44mm孔回波)孔回波)和和C C波(波(40mm40mm孔回波),移動探頭,將孔回波),移動探頭,將ABAB兩波或兩波或BCBC兩波調至基準波高(如兩波調至基準波高(如5050滿幅),滿幅),然后調節衰減器,使兩回波的波谷升至基準波然后調節衰減器,使兩回波的波谷升至基準波高(高(5050滿
24、幅),此時衰減器減少的讀數必須滿幅),此時衰減器減少的讀數必須6dB6dB。2021-6-183.3 3.3 超聲檢測一般方法超聲檢測一般方法3.3.1 3.3.1 檢測準備檢測準備3.3.1.1 3.3.1.1 承壓設備制造安裝和在用檢測中,超聲檢承壓設備制造安裝和在用檢測中,超聲檢測的時機及抽檢率的選擇等應按法規、標準及有關測的時機及抽檢率的選擇等應按法規、標準及有關技術文件的的規定。技術文件的的規定。3.3.1.2 3.3.1.2 所確定的檢測面應保證工件被檢部分均能所確定的檢測面應保證工件被檢部分均能得到充分檢查。得到充分檢查。3.3.1.3 3.3.1.3 焊縫的表面質量應經外觀檢測
25、合格。所有焊縫的表面質量應經外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應予以清除,影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應予以清除,其表面粗糙度應符合檢測要求。表面的不規則狀態其表面粗糙度應符合檢測要求。表面的不規則狀態不得影響檢測結果的正確性和完整性,否則應做適不得影響檢測結果的正確性和完整性,否則應做適當的處理。當的處理。2021-6-182. 2. 檢測一般方法檢測一般方法 增加檢測時機和檢測率按相關法規、標準及技術增加檢測時機和檢測率按相關法規、標準及技術文件規定。文件規定。 對檢測面的確定,焊縫表面質量,檢測表面要求對檢測面的確定,焊縫表面質量,檢測表面要求提出了明確的要求。提
26、出了明確的要求。 規定掃查靈敏度不低于基準靈敏度(不是原標準規定掃查靈敏度不低于基準靈敏度(不是原標準比基準靈敏度提高比基準靈敏度提高6dB6dB) 主要是儀器性能比以前提高的原因。主要是儀器性能比以前提高的原因。 將原標準偶合補償改為靈敏度補償,其內容包括:將原標準偶合補償改為靈敏度補償,其內容包括:偶合補償、衰減補償和曲面補償,這三方面均影響偶合補償、衰減補償和曲面補償,這三方面均影響靈敏度。靈敏度。2021-6-183.3.2 3.3.2 掃查覆蓋率掃查覆蓋率為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區域,探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的域
27、,探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的15%15%。3.3.3 3.3.3 探頭的移動速度探頭的移動速度探頭的掃查速度不應超過探頭的掃查速度不應超過150mm/s150mm/s。當采用自動報警。當采用自動報警裝置掃查時,不受此限。裝置掃查時,不受此限。3.3.4 3.3.4 掃查靈敏度掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。3.3.5 3.3.5 耦合劑耦合劑應采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如應采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如機油、漿糊、甘油和水等。機油、漿糊、甘油和水等。2021-6-183.3.6 3.3.6 靈敏度補償靈敏度補償a
28、) a) 耦合補償。在檢測和缺陷定量時,應對由表面耦合補償。在檢測和缺陷定量時,應對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。粗糙度引起的耦合損失進行補償。b) b) 衰減補償。在檢測和缺陷定量時,應對材質衰衰減補償。在檢測和缺陷定量時,應對材質衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。c) c) 曲面補償。對探測面是曲面的工件,應采用曲曲面補償。對探測面是曲面的工件,應采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊,通過對比試驗進率半徑與工件相同或相近的試塊,通過對比試驗進行曲率補償。行曲率補償。2021-6-183.4 3.4 系統校準和復核系統校準和復核
29、3.4.1 3.4.1 一般要求一般要求校準應在標準試塊上進行,校準中應使探頭主聲束校準應在標準試塊上進行,校準中應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面,以獲得穩定的和最大的垂直對準反射體的反射面,以獲得穩定的和最大的反射信號。反射信號。3.4.2 3.4.2 儀器校準儀器校準每隔每隔3 3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定,測定方法按次測定,測定方法按JB/T 10061JB/T 10061的規定進行。的規定進行。 3.4.3 3.4.3 新購探頭測定新購探頭測定新購探頭應有探頭性能參數說明書,新探頭使用前新購探頭應有探頭性能參數說明書,新探
30、頭使用前應進行前沿距離、應進行前沿距離、K K 值、主聲束偏離、靈敏度余量值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數的測定。測定應按和分辨力等主要參數的測定。測定應按JB/T 10062JB/T 10062的有關規定進行,并滿足其要求。的有關規定進行,并滿足其要求。2021-6-183.4.4 3.4.4 檢測前儀器和探頭系統測定檢測前儀器和探頭系統測定3.4.4.1 3.4.4.1 使用儀器使用儀器- -斜探頭系統,檢測前應測定前斜探頭系統,檢測前應測定前沿距離、沿距離、K K 值和主聲束偏離,調節或復核掃描量程值和主聲束偏離,調節或復核掃描量程和掃查靈敏度。和掃查靈敏度。3.4.4.2
31、3.4.4.2 使用儀器使用儀器- -直探頭系統,檢測前應測定始直探頭系統,檢測前應測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力,調節或復核掃描脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力,調節或復核掃描量程和掃查靈敏度。量程和掃查靈敏度。2021-6-183.4.5 3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統的復核檢測過程中儀器和探頭系統的復核遇有下述情況應對系統進行復核:遇有下述情況應對系統進行復核:a) a) 校準后的探頭、耦合劑和儀器調節旋鈕發生校準后的探頭、耦合劑和儀器調節旋鈕發生改變時;改變時;b) b) 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時;時;c) c) 連續工作連續
32、工作4h4h以上時;以上時;d) d) 工作結束時。工作結束時。2021-6-183.4.6 3.4.6 檢測結束前儀器和探頭系統的復核檢測結束前儀器和探頭系統的復核a) a) 每次檢測結束前,應對掃描量程進行復核。如每次檢測結束前,應對掃描量程進行復核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數的果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數的10 10 % %,則掃描量程應重新調整,并對上一次復核以來,則掃描量程應重新調整,并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。所有的檢測部位進行復檢。b) b) 每次檢測結束前,應對掃查靈敏度進行復核。每次檢測結束前,應對掃查靈敏度進行復核。一般對距離一般對
33、距離- -波幅曲線的校核不應少于波幅曲線的校核不應少于3 3點。如曲線點。如曲線上任何一點幅度下降上任何一點幅度下降 2dB2dB,則應對上一次復核以來,則應對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢;如幅度上升所有的檢測部位進行復檢;如幅度上升 2dB2dB,則應,則應對所有的記錄信號進行重新評定。對所有的記錄信號進行重新評定。2021-6-183. 3. 校核與復核校核與復核 儀器校準水平線性和垂直線性應每儀器校準水平線性和垂直線性應每3 3個月校準個月校準一次并作好記錄。一次并作好記錄。 規定新購探頭使用前測試參數:前沿距離,規定新購探頭使用前測試參數:前沿距離,K K值,主聲束偏離,靈敏度
34、余量和分辨力。值,主聲束偏離,靈敏度余量和分辨力。 明確規定探傷前測試項目(明確規定探傷前測試項目(3.4.43.4.4)和探傷過)和探傷過程(程(3.4.53.4.5)及探傷結束的復核要求()及探傷結束的復核要求(3.4.63.4.6) 2021-6-183.4.7 3.4.7 校準、復核的有關注意事項校準、復核的有關注意事項校準、復核和對儀器進行線性檢測時,任何影響校準、復核和對儀器進行線性檢測時,任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都應儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都應放在放在“關關”的位置或處于最低水平上。的位置或處于最低水平上。2021-6-183.5 3.5 試塊
35、試塊3.5.1 3.5.1 標準試塊標準試塊3.5.1.1 3.5.1.1 標準試塊是指本部分規定的用于儀器探頭標準試塊是指本部分規定的用于儀器探頭系統性能校準和檢測校準的試塊,本部分采用的標系統性能校準和檢測校準的試塊,本部分采用的標準試塊有:準試塊有: a) a) 鋼板用標準試塊:鋼板用標準試塊:CBCB、CBCB; b) b) 鍛件用標準試塊:鍛件用標準試塊:CSCS、CSCS、CSCS; c) c) 焊接接頭用標準試塊:焊接接頭用標準試塊:CSK-A CSK-A 、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A。2021-6-183.5.1.2 3.5.1.2 標準試
36、塊應采用與被檢工件聲學性能相標準試塊應采用與被檢工件聲學性能相同或近似的材料制成,該材料用直探頭檢測時,不同或近似的材料制成,該材料用直探頭檢測時,不得有大于或等于得有大于或等于2mm2mm平底孔當量直徑的缺陷。平底孔當量直徑的缺陷。3.5.1.3 3.5.1.3 標準試塊尺寸精度應符合本部分的要求,標準試塊尺寸精度應符合本部分的要求,并應經計量部門檢定合格。并應經計量部門檢定合格。3.5.1.4 3.5.1.4 標準試塊的其它制造要求應符合標準試塊的其它制造要求應符合JB/T JB/T 1006310063和和JB/T 79131995JB/T 79131995的規定。的規定。2021-6-
37、183.5.2 3.5.2 對比試塊對比試塊3.5.2.1 3.5.2.1 對比試塊是指用于檢測校準的試塊。對比試塊是指用于檢測校準的試塊。3.5.2.2 3.5.2.2 對比試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的對比試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的特征,試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果特征,試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測,試塊的厚度應由其最大厚度來確定。測,試塊的厚度應由其最大厚度來確定。3.5.2.3 3.5.2.3 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數量應符對比試塊反射體的形狀、尺寸和數量應符合本
38、部分的規定。合本部分的規定。 2021-6-184. 4. 試塊試塊 規定了標準試塊的型號規定了標準試塊的型號 將將 a) a) 鋼板用標準試塊:鋼板用標準試塊:CBCB、CBCB; b) b) 鍛件用標準試塊:鍛件用標準試塊:CSCS、CSCS、CSCS; c) c) 焊接接頭用標準試塊:焊接接頭用標準試塊:CSK-A CSK-A 、CSK-CSK-AA、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A。均規定為標準試塊。均規定為標準試塊。 規定了對比試塊的定義和制作要求。規定了對比試塊的定義和制作要求。2021-6-184 4 承壓設備用原材料、零部件的承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測和質量分
39、級超聲檢測和質量分級4.1 4.1 承壓設備用鋼板超聲檢測和質量分級承壓設備用鋼板超聲檢測和質量分級4.1.1 4.1.1 范圍范圍本條適用于板厚為本條適用于板厚為6mm6mm250mm250mm的碳素鋼、低合金鋼的碳素鋼、低合金鋼制承壓設備用板材的超聲檢測和質量分級。制承壓設備用板材的超聲檢測和質量分級。奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執行。材的超聲檢測也可參照本章執行。2021-6-18(二)(二) 原材料、零部件超聲檢測原材料、零部件超聲檢測1. 1. 鋼板超聲檢測:鋼板超聲檢測: 適用范圍增加了奧氏體鋼板,
40、鎳及鎳合金板適用范圍增加了奧氏體鋼板,鎳及鎳合金板及雙相不銹鋼板,因試驗和實際應用主要針對及雙相不銹鋼板,因試驗和實際應用主要針對50mm50mm以下;對以下;對50mm50mm以上厚度大的此類鋼板,以上厚度大的此類鋼板,因晶粒粗大,各向異性較復雜,對檢測的影響還因晶粒粗大,各向異性較復雜,對檢測的影響還不完全清楚,故規定參照執行。不完全清楚,故規定參照執行。2021-6-184.1.2 4.1.2 探頭選用探頭選用4.1.2.1 4.1.2.1 探頭的選用應按表探頭的選用應按表1 1的規定進行的規定進行 4.1.2.2 4.1.2.2 雙晶直探頭性能應符合附錄雙晶直探頭性能應符合附錄A A(
41、規范性附(規范性附錄)的要求。錄)的要求。2021-6-18 探頭選用明確規定:探頭選用明確規定: 不同板厚選用的型式,頻率和晶片尺寸(見表不同板厚選用的型式,頻率和晶片尺寸(見表1 1),), 主要是因為:為了得到檢測結果的一致性,因主要是因為:為了得到檢測結果的一致性,因不同頻率不同型式的探頭對不同板厚中同一大小缺不同頻率不同型式的探頭對不同板厚中同一大小缺陷,可能會出現不同指示長度或指示面積的數值。陷,可能會出現不同指示長度或指示面積的數值。避免用戶和供方意見不一致。避免用戶和供方意見不一致。2021-6-184.1.3 4.1.3 標準試塊標準試塊4.1.3.1 4.1.3.1 用雙晶
42、直探頭檢測厚度不大于用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm20mm的鋼板的鋼板時,采用如圖時,采用如圖1 1所示的所示的CBCB標準試塊。標準試塊。2021-6-184.1.3.24.1.3.2 用單直用單直探頭檢測厚度大探頭檢測厚度大于于20mm20mm的鋼板時,的鋼板時,CBCB標準試塊應標準試塊應符合圖符合圖 2 2和表和表2 2 的規定。試塊厚的規定。試塊厚度應與被檢鋼板度應與被檢鋼板厚度相近。如經厚度相近。如經合同雙方同意,合同雙方同意,也可采用雙晶直也可采用雙晶直探頭進行檢測。探頭進行檢測。2021-6-18 表表2 CB2 CB標準試塊標準試塊 mm2021-6-184.1.4 4.
43、1.4 基準靈敏度基準靈敏度4.1.4.1 4.1.4.1 板厚不大于板厚不大于20mm20mm時,用時,用CBCB試塊將工件等試塊將工件等厚部位第一次底波高度調整到滿刻度的厚部位第一次底波高度調整到滿刻度的50%50%,再提高,再提高10dB10dB作為基準靈敏度。作為基準靈敏度。4.1.4.2 4.1.4.2 板厚大于板厚大于20mm20mm時,應將時,應將CBCB試塊試塊 5 5平底平底孔第一次反射波高調整到滿刻度的孔第一次反射波高調整到滿刻度的50%50%作為基準靈敏作為基準靈敏度。度。4.1.4.3 4.1.4.3 板厚不小于探頭的板厚不小于探頭的3 3倍近場區時,也可取倍近場區時,
44、也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準靈敏度,鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準靈敏度,其結果應與其結果應與4.1.4.24.1.4.2的要求相一致。的要求相一致。2021-6-18 基準靈敏度基準靈敏度 20mm 20mm時用雙晶直探頭時用雙晶直探頭CBCB試塊校正靈敏試塊校正靈敏度,主要是因為雙晶直探頭直徑小,盲區小,只有度,主要是因為雙晶直探頭直徑小,盲區小,只有3mm3mm4mm4mm。 20mm20mm時用單晶直探頭在時用單晶直探頭在CBCB試塊試塊55平平底孔試塊上校正,由于底孔試塊上校正,由于CB CB 試塊上試塊上 5 5平底孔到平底孔到檢測距離固定,標準中表檢測距離固定
45、,標準中表 2 2規定選用試塊是利用某規定選用試塊是利用某一深度的平均靈敏度檢測,操作和對比比較方便準一深度的平均靈敏度檢測,操作和對比比較方便準確,但是會造成靠近檢測面一側驗收偏嚴,在遠離確,但是會造成靠近檢測面一側驗收偏嚴,在遠離檢測面的另一側靈敏度偏低,驗收偏松的現象。檢測面的另一側靈敏度偏低,驗收偏松的現象。 用鋼板第一次底波校準靈敏度規定適用于用鋼板第一次底波校準靈敏度規定適用于3N3N,這是為獲得穩定的底波,更為合適。,這是為獲得穩定的底波,更為合適。2021-6-184.1.5 4.1.5 檢測方法檢測方法4.1.5.1 4.1.5.1 檢測面檢測面可選鋼板的任一軋制表面進行檢測
46、。若檢測人員認可選鋼板的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或設計上有要求時,也可選鋼板的上、下兩為需要或設計上有要求時,也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進行檢測。軋制表面分別進行檢測。4.1.5.2 4.1.5.2 耦合方式耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。2021-6-184.1.5.3 4.1.5.3 掃查方式掃查方式 a) a) 探頭沿垂直于鋼板壓延方向,間距不大于探頭沿垂直于鋼板壓延方向,間距不大于100mm100mm的平行線進行掃查。在鋼板剖口預定線兩側各的平行線進行掃查。在鋼板剖口預定線兩側各50mm50mm(當板厚超過(當板厚超過1
47、00mm100mm時,以板厚的一半為準)內時,以板厚的一半為準)內應作應作100%100%掃查,掃查示意圖見圖掃查,掃查示意圖見圖3 3; b) b) 根據合同、技術協議書或圖樣的要求,也根據合同、技術協議書或圖樣的要求,也可采用其它形式的掃查。可采用其它形式的掃查。 2021-6-18圖圖3 3 探頭掃查示意圖探頭掃查示意圖2021-6-184.1.6 4.1.6 缺陷的測定與記錄缺陷的測定與記錄4.1.6.1 4.1.6.1 在檢測過程中,發現下列三種情況之一即在檢測過程中,發現下列三種情況之一即作為缺陷:作為缺陷: a) a) 缺陷第一次反射波(缺陷第一次反射波(F1F1)波高大于或等于
48、滿刻)波高大于或等于滿刻度的度的50%50%,即,即F150%F150%; b) b) 當底面第一次反射波(當底面第一次反射波(B1B1)波高未達到滿刻度,)波高未達到滿刻度,此時,缺陷第一次反射波(此時,缺陷第一次反射波(F1F1)波高與底面第一次)波高與底面第一次反射波(反射波(B1B1)波高之比大于或等于)波高之比大于或等于50%50%,即,即B1100%B1100%,而而F1/B150%F1/B150%; c) c) 底面第一次反射波(底面第一次反射波(B1B1)波高低于滿刻度的)波高低于滿刻度的50%50%,即,即B1B150%50%。2021-6-184.1.6.2 4.1.6.2
49、 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法 a) a) 檢出缺陷后,應在它的周圍繼續進行檢測,以檢出缺陷后,應在它的周圍繼續進行檢測,以確定缺陷的延伸。確定缺陷的延伸。 b) b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時,探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直,并時,探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為之比為50%50%。此時,探頭中
50、心的移動距離即為缺陷的。此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。法測得的結果以較嚴重者為準。2021-6-18 c) c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時,用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時,移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準靈敏度移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的條件下熒光屏滿刻度的25%25%或使缺陷第一次反射波與底或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為面第一次反射波高之比為50%50%。此時,探頭中心的移動。此時,探頭
51、中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心即為缺陷的邊界距離即為缺陷的指示長度,探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。 d) d) 確定確定4.1.6.1 c4.1.6.1 c)中缺陷的邊界范圍或指示長度)中缺陷的邊界范圍或指示長度時,移動探頭(單直探頭或雙直探頭)使底面第一次時,移動探頭(單直探頭或雙直探頭)使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的反射波升高到熒光屏滿刻度的50%50%。此時探頭中心移動。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。界點。e) e)
52、當板厚較薄,確需采用第二次缺陷波和第二次底當板厚較薄,確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時,基準靈敏度應以相應的第二次反射波來評定缺陷時,基準靈敏度應以相應的第二次反射波來校準。波來校準。2021-6-184.1.7 4.1.7 缺陷的評定方法缺陷的評定方法4.1.7.1 4.1.7.1 缺陷指示長度的評定規則缺陷指示長度的評定規則單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個缺陷的指示長度小于若單個缺陷的指示長度小于40mm40mm時,可不作記錄。時,可不作記錄。4.1.7.2 4.1.7.2 單個缺陷指示面積的評定規則單個缺陷
53、指示面積的評定規則 a) a) 一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積。示面積。b) b) 多個缺陷其相鄰間距小于多個缺陷其相鄰間距小于100mm100mm或間距小于相鄰或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度(取其較大值)時,以各缺陷面較小缺陷的指示長度(取其較大值)時,以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。積之和作為單個缺陷指示面積。c c) 指示面積不計的單個缺陷見表指示面積不計的單個缺陷見表3 3。2021-6-18表表3 3 鋼板質量分級鋼板質量分級2021-6-18 4.1.7.3 4.1.7.3 缺陷面積百分比的評定規則缺陷面積百分比的評定
54、規則在任一在任一1m1m1m1m檢測面積內,按缺陷面積所占的百分比檢測面積內,按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于來確定。如鋼板面積小于1m1m1m1m,可按比例折算。,可按比例折算。4.1.8 4.1.8 鋼板質量分級鋼板質量分級4.1.8.1 4.1.8.1 鋼板質量分級見表鋼板質量分級見表3 3。4.1.8.2 4.1.8.2 在坡口預定線兩側各在坡口預定線兩側各50mm50mm(板厚大于(板厚大于100mm100mm時,以板厚的一半為準)內,缺陷的指示長度大于或時,以板厚的一半為準)內,缺陷的指示長度大于或等于等于50mm50mm時,應評為時,應評為級。級。4.1.8.3 4.
55、1.8.3 在檢測過程中,檢測人員如確認鋼板中有白在檢測過程中,檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時,應評為點、裂紋等危害性缺陷存在時,應評為級。級。4.1.9 4.1.9 橫波檢測橫波檢測4.1.9.1 4.1.9.1 在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術協議中有規定時,可采用橫波檢測。術協議中有規定時,可采用橫波檢測。4.1.9.2 4.1.9.2 鋼板橫波檢測見附錄鋼板橫波檢測見附錄B B(規范性附錄)。(規范性附錄)。 2021-6-18 增加了耦合方式的規定。增加了耦合方式的規定。 當板厚較薄,確需采用第二次缺陷波和第二次當板厚較薄
56、,確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時,基準靈敏度應以相應第二次反底波來評定缺陷時,基準靈敏度應以相應第二次反射波來校準,其原因是考慮到多次疊加效應的影響。射波來校準,其原因是考慮到多次疊加效應的影響。 關于單個缺陷指示面積不計的規定關于單個缺陷指示面積不計的規定 表表3 3規定了不計單個缺陷指示面積的數值,主要規定了不計單個缺陷指示面積的數值,主要針對鋼板中小分層缺陷,因小分層缺陷對鋼板強度針對鋼板中小分層缺陷,因小分層缺陷對鋼板強度影響不大,且產生較大數量小分層缺陷的幾率也比影響不大,且產生較大數量小分層缺陷的幾率也比較低,為統一評定,故規定進行缺陷相加計算面積較低,為統一評定,故
57、規定進行缺陷相加計算面積百分比時,一律不考慮。百分比時,一律不考慮。 但對非金屬氧化物夾雜物類缺陷應注意,實際但對非金屬氧化物夾雜物類缺陷應注意,實際評定時不應簡單不計。評定時不應簡單不計。2021-6-18 鋼板橫波檢測鋼板橫波檢測厚鋼板在軋制成型過程中,由于軋制能力或軋制比厚鋼板在軋制成型過程中,由于軋制能力或軋制比不夠,則可能產生與檢測表面成一定角度的缺陷,不夠,則可能產生與檢測表面成一定角度的缺陷,這種缺陷比平行于檢測面的夾層類缺陷具有更大的這種缺陷比平行于檢測面的夾層類缺陷具有更大的危險性,對受壓部件用鋼板,檢測這類缺陷更為重危險性,對受壓部件用鋼板,檢測這類缺陷更為重要,因此本標準
58、規定了采用橫波檢測的要求,可由要,因此本標準規定了采用橫波檢測的要求,可由供需雙方協商或按技術文件要求進行橫波檢測。橫供需雙方協商或按技術文件要求進行橫波檢測。橫波檢測方法按附錄波檢測方法按附錄B B規定進行。規定進行。 鋼板的質量分級鋼板的質量分級表表3 3中中、級適用于受壓件鋼板,級適用于受壓件鋼板,級適用于級適用于支承件和結構件的制造和安裝。支承件和結構件的制造和安裝。級為發現白點、級為發現白點、裂紋類危險性缺陷及其他缺陷超過裂紋類危險性缺陷及其他缺陷超過者,均為不合者,均為不合格。格。2021-6-18鋼板超聲波探傷應掌握的要點:鋼板超聲波探傷應掌握的要點: a. a. 對奧氏體鋼板材
59、、鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼對奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼板材可采用本標準規定的常規檢測方法進行檢測,但板材可采用本標準規定的常規檢測方法進行檢測,但主要是針對板厚在主要是針對板厚在50mm50mm以下的板材。以下的板材。 b. b. 檢測用探頭一定要按照表檢測用探頭一定要按照表1 1規定要求選用。規定要求選用。 c. c. 鋼板檢測缺陷波按鋼板檢測缺陷波按4.1.6.14.1.6.1規定確定,缺陷測定方法規定確定,缺陷測定方法按按4.1.6.24.1.6.2規定執行。規定執行。 d. d. 對缺陷測定時,只測缺陷指示長度,指示面積,不對缺陷測定時,只測缺陷指示長度,指示面積,不測
60、缺陷當量。測缺陷當量。 e. e. 應重視坡口預定線兩側各應重視坡口預定線兩側各50mm50mm(板厚大于(板厚大于100mm100mm時,以板厚一半為準)范圍內的缺陷指示長度時,以板厚一半為準)范圍內的缺陷指示長度50mm50mm時均應評為時均應評為級。級。 f. f. 是否需要作橫波檢測,應根據對直探頭檢測發現的是否需要作橫波檢測,應根據對直探頭檢測發現的缺陷有疑問,或由雙方技術協議規定做出決定缺陷有疑問,或由雙方技術協議規定做出決定 2021-6-184.2 4.2 承壓設備用鋼鍛件承壓設備用鋼鍛件超聲檢測和質量分級超聲檢測和質量分級 4.2.1 4.2.1 范圍范圍 本條適用于承壓設備
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