ICS31.200

CCSL56

團體標準

T/CESAXXX—202X

半導體集成電路低功耗雙倍數據速率同步

動態隨機存儲器（LPDDR5）應用場景測試方

法

Semiconductorintegratedcircuits-

Testmethodsforthe5thLowPowerDoubleDataRateSDRAMinapplication

scenario

征求意見稿

在提交反饋意見時，請將您知道的相關專利連同支持性文件一并附上。

已授權的專利證明材料為專利證書復印件或扉頁，已公開但尚未授權的專利申請

證明材料為專利公開通知書復印件或扉頁，未公開的專利申請的證明材料為專利申請

號和申請日期。

2023-XX-XX發布2023-XX-XX實施

中國電子工業標準化技術協會發布

T/CESAXXXX—202X

半導體集成電路低功耗雙倍數據速率同步動態隨機存儲器（LPDDR5）

應用場景測試方法

1范圍

本文件規定了LPDDR5SDRAM芯片在消費級、工業級和汽車級三種應用場景條件下的測試項、測試條

件，描述了相應的測試方法。

本文件適用于LPDDR5SDRAM產品選型測試。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T2323.63-2019環境試驗第2部分:試驗方法試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)

綜合

GB/T2423.1-2008電工電子產品環境試驗第2部分∶試驗方法試驗A∶低溫

GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分∶試驗方法試驗B∶高溫

GB/T2423.3-2006電工電子產品環境試驗第2部分∶試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T2423.4-2008電工電子產品環境試驗第2部分∶試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環)

GB/T2423.50環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

GB/T5170.1-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件

GB/T17574—1998半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路

JESD209-5B第5代低功耗雙倍速率同步動態隨機存儲器（LowPowerDoubleDataRate(LPDDR)5/5X）

JESD22-A101D穩態溫度濕度偏差壽命測試（SteadyStateTemperature-HumidityBiasLife

Test）

AEC-Q100-REV-H基于集成電路應力測試認證的失效機理（FAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTEST

QUALIFICATIONFORINTEGRATEDCIRCUITS）

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件。

3.1

雙倍數據速率doubledatarate;DDR

在單個時鐘周期內的時鐘上升沿和下降沿分別采樣數據的數據傳輸技術。

3.2

同步動態隨機存取存儲器synchronousdynamicrandomaccessmemory;DRAM\SDRAM。

43

T/CESAXXXX—202X

以時鐘為數據同步接口，需要周期性的刷新存儲數據，并能隨機指定存儲地址的半導體存儲器。

3.3

低功耗雙倍速率同步動態隨機存取存儲器lowpowerdoubledatarateSDRAM;LPDDRSDRAM.

用于移動電子產品的低功耗同步動態隨機存取存儲器。

3.4

內存memory

用于暫時存放CPU中的運算數據，以及與硬盤等外部存儲器交換數據的同步動態隨機存取存儲器組

成的存儲陣列。

3.5

存儲單元及行、列、庫cell，row,column,bank

SDRAM中的一個存儲單元（cell）可以存儲1個bit數據，多個存儲單元橫向排列組成行（row）,

縱向排列組成列（Row），多個行和列交叉組成庫（Bank）。

3.6

刷新與自刷新refresh&self-refresh

SDRAM為了持續保存數據需要定期給存儲單元的電容進行充電，充電的過程稱為刷新。刷新是由控

制器通過刷新命令發送給SDRAM進行刷新，自刷新是SDRAM內部通過內部的計數器執行定時刷新。

3.7

內存行錘攻擊rowhammer,侵略行aggressorrow,受害行victimrow

SDRAM在固定的行上進行反復訪問會對相鄰的行進行干擾，使其存儲的電荷發生泄漏而致使存儲的

數據發生翻轉，該行為稱為內存的行錘攻擊（rowhammer）。反復訪問的行稱為侵略行（aggressorRow），

其發生數據翻轉的行稱為受害行（victimrow）。

3.8

行錘攻擊緩和rowhammermitigation

針對SDRAM行錘攻擊的緩解方案，系統廠商、內存廠家等采取的緩和措施統稱為行錘攻擊緩和（Row

hammerMitigation）。

3.9

控制器controller

控制器是主控芯片內部用于控制內存并負責內存與CPU之間數據交換的模塊，其物理接口電路決定

了主控芯片所能使用的最大內存容量、內存類型、速率及數據寬度等參數。

3.10

啟動裝載bootLoader

BootLoader是嵌入式操作系統內核運行之前運行的程序。可以初始化硬件設備、建立內存空間映

射圖，從而將系統的軟硬件環境帶到一個合適狀態，以便為最終調用操作系統內核準備好正確的環境。

3.11

試驗樣機experimentprototype

系統應用測試中，系統廠商生產的用于在產品未上市之前進行系統驗證測試用的樣機，其系統已經

完整安裝，并包含用于測試的芯片樣品且具備完整的讀寫功能，但不具備完整的配件或缺少的部件與被

測的芯片樣品無相關性的測試用樣機稱為測試工程機。系統應用測試中，系統廠商生產的用于準備測試

的樣機已經安裝了完整的系統，和準備的上市的產品一樣具備完整的配件和功能的樣機稱作測試整機。

測試工程機和測試整機統稱為試驗樣機。

3.12

睡眠/喚醒測試sleep/awaketest

2

T/CESAXXXX—202X

系統的睡眠/喚醒測試是使SDRAM反復進入和退出自刷新的過程，用以評估內存的電荷保持能力和

相關時序的可靠性。

3.13

重啟測試reboottest

重啟測試包含斷電重啟和不斷電重啟。斷電重啟測試又稱為冷重啟（ColdReboot）測試，其測試

過程中將整個系統的電源徹底斷開。不斷電重啟測試又稱為熱重啟（WarmReboot）測試，其測試過程

保持電源供電，只是從系統層面做了系統重新加載。

3.14

角點測試cornertest

設置不同溫度、電源電壓等作為邊界條件時對樣品進行測試。

3.15

亂動測試monkeytest

對測試樣機進行隨機亂動操作的測試。

4縮略語

下列縮略語適用于本文件。

ACT：激活命令（ActiveakaActivatecommand）

AP：自動預充電（AutoPrecharge）

BA:內存庫地址（bankaddress）

BG：內存庫群組(BankGroup)

BL：突發長度（BurstLength）

CA：命令及地址總線（CommandandAddress）

CAS：列地址選通（CAS）

CK：時鐘（Clock）

CS：片選（ChipSelect）

DM：數據掩碼（DataMask）

DQ：數據序列（DataQueue;Data-in,QueryOutput）

DQS：數據選通（DataStrobe）

FAIL：測試樣品未通過測試，判定不合格。

HTHV:高溫高電壓條件（hightemperature&highvoltage）

HTLV:高溫低電壓條件（hightemperature&lowvoltage）

IDD：操作電流（IDDCurrent，）

LTHV：低溫高電壓條件（lowtemperature&highvoltage）

LTLV：低溫低電壓條件（lowtemperature&lowvoltage）

NTNV：常溫常規電壓條件（normaltemperature&normalvoltage）

ODT：片上阻抗截止（On-DieTermination）

PASS:測試樣品通過測試，判定合格；

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PHY：物理層（PhysicalLayer）

RAS：行地址選通（RowAddressStrobe）

RAS：可靠性、可使用性、可服務性（Reliability,Availability,Serviceability）

RCD：行選通到列選通延時（RAS-to-CASDelay）

REF：刷新命令（Refreshcommand）

tCK：時鐘周期（TimeforonetickofCK）

tXXX：關鍵時序標準（JEDECtimingspecXXX）

UI：間隔單元，一個節拍(UnitInterval，singlehalf-clockbittime)

VCC：電源（Power(notforDRAM)）

VDD：核心電源（CorePower）

VDDx：輸入緩存電源（InputBufferPower）

VDDQ：輸入輸出總線緩存電源（IOBufferPower）

VREF：參考電壓（ReferenceVoltage）

5一般要求

5.1測試項目選擇

本文包含的系統測試項目分為實驗室環境下的可靠性測試和現場環境下的穩定性測試兩大類。

可靠性測試主要在特定條件下對器件的特性做生命周期的保障測試，穩定性測試主要是在標準條件

下對器件的性能參數及功能穩定的合格測試，針對商業級、工業級和汽車級不同應用場景，表1規定了

必測項和建議測試項。

表1不同應用場景的測試項

應用場景

測試類別測試項目

商業級工業級汽車級

環境關機必選必選必選

雙85測試必選必選必選

功耗測試必選必選必選

可靠性測試溫循測試必選必選必選

Corner測試必選必選必選

數字眼圖必選必選必選

冷重啟測試必選必選必選

睡眠/喚醒測試必選必選可選

熱重啟測試必選必選可選

Monkey測試必選必選可選

穩定性測試頻率切換測試必選必選可選

壓力測試必選必選可選

Rowhammer測試必選必選可選

電源相關時序、上下電必選必選可選

5.2測試條件要求

除非另外規定，應在下列條件下進行測試：

4

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a)環境溫度：15~35℃；

b)相對濕度：40%~70%；

c)大氣壓：85kPa~106kPa；

d)電壓測試條件的分類應符合表2的規定；

e)試驗溫度測試條件的分類應符合表3的規定。

表2電壓測試條件分類

電壓條件符號電壓（V）

VDD1=1.95,

高壓HVVDD2H=1.12

VDDQ=0.57

VDD1=1.8

常壓NVVDD2H=1.06

VDDQ=0.53

VDD1=1.7

低壓LVVDD2H=1.01

VDDQ=0.47

表3溫度測試條件分類

溫度（℃）

溫度條件符號

商業級工業級汽車級注

等級0:150

等級1:125

高溫HT65105

等級2:105

等級3:85

常溫NT15-3515-3515-35

低溫LT-40/-25-40/-45-40

注：汽車級測試溫度條件按照AEC-Q1000-REV-H1.3.4表1溫度等級定義

5.3測試樣品要求

a)樣品整機操作系統要求能夠正常啟動，具有能夠完成讀寫操作的能力；

b)測試溫箱要求滿足高低溫驗證溫度；且具有循環溫度控制能力；

c)多路程控電源，為測試樣品整機提供復雜的電控需求；

d)濾波板：程控電源連接測試樣品需要通過濾波板以保證系統運行在穩定電壓下；

e)其他測試要求根據具體的測試項目的不同，額外補充要求。

5.4測試結果驗收

所有樣品在規定的測試環境、時間條件下未出現異常或Error，判斷結果Pass，視為驗收；若有任

意一個樣品出現未知異常，判斷結果為不合格，需要對失效樣品分析確認失效原因后重新安排測。

5.5測試報告

測試報告記錄詳細測試過程及記錄的測試結果，以及測試的結論，判定測試結果等。

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測試報告應至少包含以下信息：

a)樣品信息，包括送樣單位、樣品序列號、樣品規格等信息。

b)測試的環境條件、測試軟件設定條件等；

c)測試的預置條件，樣本數量；

d)測試結果的數據及判斷驗收的標準；

e)報告的文件編號、測試日期時間、測試負責人。

6可靠性測試項目

6.1高低溫老化測試

6.1.1測試目的

驗證高低溫存儲條件對測試樣品的影響。

6.1.2測試原理

將測試樣品關機，放在高低溫試驗箱的架子上。溫度控制在固定的高溫/低溫環境，持續24h然后

取出，放置2h，恢復到室溫，然后=確認測試結果。溫箱、溫度變化及設定等參考標準GB/T10586-2006

濕熱試驗箱技術條件，GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件。

6.1.3測試條件

測試條件應符合表4規定。

表4高低溫老化測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

環境測試條件高、低溫各24hrs高、低溫各24hrs高、低溫各24hrs

關機

Stressapptest/MemtesrterStressapptest/Memtesrter

測試軟件Stressapptest/Memtesrter

或同等級別測試軟件或同等級別測試軟件

試驗設備高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱

5pcs5pcs5pcs5pcs

樣品數量高溫3pcs，低溫3pcs高溫，低溫高溫，低溫

測試時長24hrs24hrs24hrs

驗收測試全空間讀寫0xAAAA,全空間讀寫0xAAAA,全空間讀寫0xAAAA,

內容0x55550x55550x5555

6.1.4測試步驟

a)將處于室溫的試驗樣品，確認全部關機；在“準備使用”狀態按照高溫環境和低溫環境分別放

入試驗溫箱。

b)低溫測試環境準備；將試驗溫箱溫度調控到試驗規定的溫度，箱內溫度下降速度為不大于1℃

/min(不超過5min的平均值)；達到條件試驗規定溫度后，使試驗樣品溫度達到穩定。

c)高溫測試環境準備；將試驗溫箱溫度調控到試驗規定的溫度，箱內溫度提升速度為不大于1℃

/min(不超過5min的平均值)；達到條件試驗規定溫度后，使試驗樣品溫度達到穩定。

d)試驗樣品暴露在規定的溫度條件下，持續24hrs后，條件試驗結束。

e)條件試驗結束時，試驗樣品仍保持在試驗想內，將溫度恢復到正常試驗大氣條件范圍的溫度值

上，箱內溫度變化速率試驗箱的溫度升降變化速率不大于1℃/min(不超過5min的平均值).

6

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f)試驗結束時，試驗樣品需要經受恢復程序，即靜置2hrs.恢復程序結束后，馬上進行最后檢測。

g)帶Socket測試的檢查：檢查樣品表面及邊角是否有壓壞，錫球有無壓變形。On-board測試的檢

查：檢查樣品表面有無損傷或裂痕.

h)記錄試驗數據，梳理測試報告。

6.1.5結果驗收

樣品各項功能正常，所有樣品測試通過驗收測試無報錯。

6.2雙85試驗

6.2.1測試目的

評估試驗樣機在高溫高濕條件下的運行可靠性。

6.2.2測試原理

雙85老化試驗是指在溫度85°C和濕度85%RH的條件下老化產品后，對比產品老化前后的性能變化，

主要檢驗產品在高溫高濕的惡劣環境下所能承受的極限。另外，通過對比產品在經過“雙85”測試前后

的老化和一些特性轉變，然后根據這些轉變缺陷來加以改進產品。

在本試驗中，樣品在較長時間內承受很高的未飽和濕熱蒸汽壓力作用，通常要施加偏壓。

水蒸氣加速滲入試驗樣品是加速濕熱試驗最重要的物理因素，其加速作用由非氣密性試驗樣品內部

與試驗環境間的水蒸氣分壓力差而引起的。通過雙85試驗可對集成電路加速腐蝕，驗證系統運行在極度

嚴酷環境下的運行狀況。本試驗在相對濕度為85%RH,溫度為85℃的條件下，進行預設的程序讀寫測試，

確保產品滿足極度惡劣環境下的功能正常，以保證正常工作。試驗方法見GB/T2423電工電子產品環境

試驗。

6.2.3測試條件

測試條件應符合表5規定。

表5雙85試驗測試條件

測應用商業級工業級汽車級

試

環測試

相對濕度85%，溫度85℃相對濕度85%，溫度85℃相對濕度85%，溫度85℃

境環境

關測試Stressapptest/MemtesrterStressapptest/Memtesrter

Stressapptest/Memtesrter

機軟件或同等級別測試軟件或同等級別測試軟件

試驗

恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕試驗箱

設備

樣品55

3

數量

測試

480hrs1000hrs1000hrs

時長

驗收重啟測試，喚醒測試重啟測試，喚醒測試重啟測試，喚醒測試

測試

內容

6.2.4測試步驟

a)測試樣品準備；

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b)測試溫箱準備；

c)將測試樣品放入溫箱，電源接通，運行測試軟件，啟動讀寫測試；

d)封閉試驗箱，

e)將試驗箱的溫度和相對濕度升調控到試驗規定的溫度和濕度值，即溫度85°C和濕度85%RH。在

此期間，溫度與相對濕度不應該超出規定的限值。箱內溫度提升速度為不大于1℃/min(不超過

5min的平均值)；試驗期間，試驗樣品上不允許有冷凝水，通常先升溫，再升濕，溫度和濕度

應在3h內達到穩定。

f)試驗樣品暴露在規定的環境條件下，持續運行測試480hrs后，條件試驗結束。

g)條件試驗結束時，試驗樣品仍保持在試驗箱內，將溫度濕度恢復到正常試驗大氣條件范圍，箱

內溫度變化速率試驗箱的溫度升降變化速率不大于1℃/min(不超過5min的平均值)。降溫降濕

（Ramp-down)要在3小時內完成，同時避免冷凝水，這里有寫在ramp-down過程中始終保持干球

溫度高于濕球溫度，通常做法為先降低濕度，再降低溫度。

h)試驗結束時，試驗樣品需要經受恢復程序，即靜置2hrs.恢復程序結束后，馬上進行最后檢測。

i)檢查樣品表面有無損傷或裂痕，檢測樣品能否正常開機進入系統.

j)記錄試驗數據，梳理測試報告。

6.2.5驗收標準

樣品各項功能正常，外觀無異變。

6.3功耗測試

6.3.1測試目的

通過整機功耗分解測試內存功耗，評估內存對整機待機時長的影響，以判斷LPDDR5在系統工作中的

功耗情況是否滿足廠家給定的功耗標準以及終端客戶應用要求的標準。廠家給定的功耗標準參考規格書

給定的IDD電流情況。

6.3.2測試原理

多場景下的功耗對比測試，主要分為睡眠模式功耗測試（飛航行模式熄屏功耗），社交應用功耗測

試（微信后臺待機、視頻聊天）；重載場景功耗測試（大型游戲、高幀多線程場景測試）；日常應用場

景功耗測試（系統應用、在線視頻、網頁瀏覽、網絡下載，音樂、視頻、小游戲）和拍攝場景功耗測試

（攝像、拍照、人像、虛化）。通過拆分場景的電流來統計測試數據，并計算出內存的功耗，用以評估

LPDDR5的功耗指標。

6.3.3測試條件

測試條件應符合表6規定。

表6功耗測試條件

測試應用消費類電子汽車人工智能

功耗測試環境標準大氣條件測試標準大氣條件測試標準大氣條件測試

測試

試驗設備功率測試儀功率測試儀功率測試儀

樣品數量333

測試時長0.5hrs0.5hrs0.5hrs

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系統測試場景：1.待機系統測試場景：1.待機系統測試場景：1.待機

模式；2.大型游戲模模式，2.讀寫模式，3.模式，2.讀寫模式，3.

測試內容

式；3.文件讀寫模式；高負荷運算模式高負荷運算模式

4.拍攝模式

6.3.4測試步驟

a)將軟件測試環境安裝在被測樣品設備上，準備假電池提供電源供電，準備好樣品放置于待測區

域；

b)接通功率測試儀，準備測試。線路連接主要是整機供電VPP,內存核心供電VDD1,VDD2H,VDD2L、

VDDQ進行測量。

c)按照不同的測試場景，分別在睡眠模式，社交應用模式，重載游戲場景模式，日程應用場景模

式，拍攝場景模式進行功耗測試數據采集。

d)測試場景功耗測試前，需要穩定在測試場景10min以上再安排采樣。每次測試采樣1000次，每

次間隔40ms（整機）或160ms（DRAM）功耗測試結果分解及統計。

e)對比功耗測試結果差異，按照客端標準判斷總體功耗測試項和單一測試項是否均能滿足各場景

功耗要求。

f)分析數據，給出測試結論。

6.3.5驗收標準

通常功耗測試是對比前一代產品的功耗測試，故測試的原則是具體分解功耗不能高于前一代產品功

耗。元器件功耗測試各場景功耗之和總體不超過客端標準的10%，對比前一代產品，單項測試功耗不超

過客端標準的30%。同時對單一功耗超標的測試項進行優化。

6.4溫度循環

6.4.1測試目的

驗證模擬溫度交替變化環境對試驗樣機的機械性能及電氣性能影響的試驗，考核電子元器件在短期

內反復承受溫度變化的能力及不同結構材料之間的熱匹配性能，暴露元器件潛在的材料缺陷和制造質量

缺陷，消除早期失效，提高產品可靠性。

6.4.2測試原理

電子元器件在實際使用中可能會遇到溫差變化比較大的環境條件。溫度循環試驗通過設定的試驗應

力曲線，使元器件在短期內反復承受極端高、低溫變化應力，以及極端溫度交替突變影響，從而暴露出

元器件因材料熱脹冷縮性能不匹配、內引線和管芯涂料溫度系數不匹配、芯片裂紋、接觸不良和制造工

藝等原因而造成的失效以驗證LPDDR5芯片可靠性。

溫度循環的技術指標包括：高溫溫度、高溫保持時間、下降速率、低溫溫度、低溫保持時間、上升

速率、循環次數。試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續時間。。

測試參考標準有GB/T2423.3，IEC60068-2-78，GB/T2423.4，IEC60068-2-30，EIA364，

MIL-STD-810F等。常見溫循試驗曲線，見圖1。

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T/CESAXXXX—202X

圖1溫度循環試驗曲線

6.4.3測試條件

測試條件應符合表7規定。

表7溫度循環測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

溫度24hrs,1℃/min,25℃

10℃/min,85℃/-40℃10℃/min,105℃/-40℃

循環soak60mins

測試環境for15minsfor15mins

65℃/-25℃for

30*24hrs30*24hrs

120mins

試驗設備高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱

樣品數量3pcs5pcs5pcs

測試時長24hrs48hrs48hrs

測試內容讀寫0xAAAA,0x5555讀寫0xAAAA,0x5555讀寫0xAAAA,0x5555

6.4.4測試步驟

a)測試樣品準備；

b)測試環境準備；

c)將測試樣品放入溫箱，電源接通，運行測試軟件，啟動讀寫測試；

d)封閉溫箱，啟動溫箱對環境溫度開始預置。之后按照預先設定好的溫度曲線對測試溫度進行控

制變化。

e)測試完成后檢查測試結果并記錄。

f)試驗數據總結，梳理測試報告。

6.4.5驗收標準

所有樣品測試PASS，外觀無異變。

10

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6.5Corner測試

6.5.1測試目的

針對系統穩定運行的工作的電壓邊界和溫度邊界設定的四象限邊界的測試，通過對存儲芯片電壓電

壓拉偏，并在極限溫度環境進行正常的系統操作，來驗證系統運行可靠性。

6.5.2測試原理

根據芯片特性，其性能極限高溫環境為低電壓環境最差（電荷保持最差），低溫環境為高電壓環境

最差（時序參數最差）。測試中4個Cornertest，其中HTLV和LTHV必做,HTHV和LTLV選做。通過平臺管

理接口自動控制電源電壓，溫度控制實現測試條件可控。根據測試條件設定溫度電壓，使用測試樣品整

機自身的系統進行測試。

6.5.3測試條件

測試條件應符合表8規定。

表8Corner測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

4HTLV6hrs,HTLV6hrs,HTLV6hrs,

CornerHTHV6hrsHTHV6hrsHTHV6hrs

測試環境

TestLTHV6hrsLTHV6hrsLTHV6hrs

LTLV6hrsLTLV6hrsLTLV6hrs

高低溫冷熱沖擊試驗

試驗設備高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱

箱

每corner5pcs,共每corner5pcs,共20pcs每corner5pcs,共20pcs

樣品數量

20pcs

測試時長24hrs24hrs24hrs

測試內容RandomPatternTest.RandomPatternTest.RandomPatternTest.

6.5.4測試步驟

a)測試樣品準備；

b)測試環境準備；

c)將測試樣品放入溫箱，電源接通，運行測試軟件，啟動讀寫測試；

d)封閉溫箱，啟動溫箱對環境溫度開始預置。之后按照預先設定好的溫度曲線對測試溫度進行控

制變化。

e)接通電源，按測試條件，通過軟件設定條件要求的電壓，執行測試。

f)測試完成后檢查測試結果并記錄。

g)試驗數據總結，梳理測試報告。

6.5.5驗收標準

所有樣品測試PASS，外觀無異變。

6.6數字眼圖

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6.6.1測試目的

通過數字眼圖的測試評估系統信號的時序裕量,來判斷是否滿足系統平臺的要求。

6.6.2測試原理

在HTLV，NVNT，LTHV三個測試條件下通過眼圖測試工具掃描眼圖。從系統上不斷的調整信號的參

考電壓Vref，在每一檔位的Vref設定值下面按照平臺廠商預先設定的指標去掃每一個測試信號的pass

window。所測信號包含命令、地址及數據信號。參考電壓Vref設定基于JEDEC標準JESD209-5B版本6.3.1

模式寄存器定義章節，表格85Vref_CAsetting和表90Vref_DQsetting定義來調整。

6.6.3測試條件

測試條件應符合表9規定。

表9數字眼圖測試條件

測試應用消費類電子汽車人工智能

數字眼HTLVHTLVHTLV

圖測試測試環境NTNVNTNVNTNV

LTHVLTHVLTHV

試驗設備高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱高低溫冷熱沖擊試驗箱

corner2pcs,6pcscorner2pcs,6pcs

樣品數量每corner2pcs,6pcs每每

測試周期每個DQ測試5次每個DQ測試5次每個DQ測試5次

測試內容眼圖掃描工具掃描眼圖眼圖掃描工具掃描眼圖眼圖掃描工具掃描眼圖

6.6.4測試步驟

a)測試環境準備；

b)將測試樣品放入溫箱，電源接通，運行測試軟件，啟動讀寫測試；

c)封閉溫箱，啟動溫箱對環境溫度開始預置。之后按照預先設定好的溫度曲線對測試溫度進行控

制變化。

d)按測試條件，通過軟件設定條件要求的電壓，執行眼圖掃描測試。

e)測試完成后檢查測試結果并記錄。

f)試驗數據總結，梳理測試報告。

6.6.5驗收標準

基于各平臺廠商的眼圖窗口指標，設定眼圖測試標準。該測試標準假定平臺廠商的數字眼圖測試對

信號的時序裕量有足夠的參考價值。所有所測信號的passwindow滿足指標要求，判斷樣品測試pass；

所有樣品測試均pass可驗收。

6.7冷重啟測試

6.7.1測試目的

針對系統的上電下電進行的測試，模擬開機關機測試，驗證開關機過程的穩定性。

6.7.2測試原理

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基于系統環境的完全關機的重啟測試，在電源供應上要求徹底斷電。測試需要使用到的電源需要通

過繼電器實現固定周期的關斷和開啟。

6.7.3測試條件

測試條件應符合表10規定。

表10冷重啟測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

冷重啟

測試環境標準大氣環境標準大氣環境標準大氣環境

測試

系統測試環境系統測試環境系統測試環境

測試軟件

重啟測試管理腳本重啟測試管理腳本重啟測試管理腳本

完整操作系統安裝就完整操作系統安裝就

預置條件完整操作系統安裝就緒

緒緒

試驗設備空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺

樣品數量51010

測試時長1000輪2000輪5000輪

測試內容系統重啟測試系統重啟測試系統重啟測試

6.7.4測試步驟

a)測試樣品準備；

b)搭建測試環境，電源接通，通過運行測試軟件，設定系統重復關閉和啟動，在此過程中結合

電源供電的關斷和開啟狀態，保證測試周期內系統運行在電源開啟的周期內；

c)按測試條件，執行循環測試。

d)測試完成后檢查測試結果并記錄。

e)試驗數據總結，梳理測試報告。

6.7.5驗收標準

所有樣品測試結果PASS，未有黑屏死機等現象，測試完成后均能保持正常穩定工作。

7穩定性測試項目

7.1睡眠/喚醒測試（Sleep/Awake）

7.1.1測試目的

針對系統的睡眠喚醒測試，模擬在現場環境下的睡眠喚醒操作過程，驗證系統睡眠（待機）喚醒過

程的穩定性。

7.1.2測試原理

基于系統環境的自動睡眠喚醒測試，在電源供應上要求保持通電。睡眠喚醒過程需要穩定的供電。

整個操作過程通過系統軟件實現，同時提供背景操作數據保證測試應力能夠覆蓋現場應用場景。

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T/CESAXXXX—202X

7.1.3測試條件

測試條件應符合表11規定。

表11睡眠/喚醒測試條件

睡眠/喚醒測試

測試環境標準大氣環境標準大氣環境標準大氣環境

(Sleep/Awake)

系統測試環境系統測試環境系統測試環境

測試軟件睡眠喚醒測試管理工睡眠喚醒測試管理工睡眠喚醒測試管理工

具具具

完整操作系統安裝就完整操作系統安裝就完整操作系統安裝就

預置條件緒緒緒

結合Monkey測試執行結合Monkey測試執行結合Monkey測試執行

試驗設備空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺

樣品數量51010

測試時長24hrs24hrs24hrs

系統睡眠喚醒測試系統睡眠喚醒測試系統睡眠喚醒測試

測試內容

結合Monkey測試執行結合Monkey測試執行結合Monkey測試執行

7.1.4測試步驟

a)測試樣品準備；

b)搭建測試環境，電源接通，通過運行測試軟件，設定系統休眠喚醒的時間間隔，確保系統每次

睡眠開始前，系統已經完成上一次的喚醒測試。

c)按測試條件，執行循環測試。

d)測試完成后檢查測試結果并記錄。

e)試驗數據總結，梳理測試報告。

7.1.5驗收標準

所有樣品測試結果PASS，未有黑屏死機等現象，測試完成后均能保持正常穩定工作。

7.2熱重啟測試

7.2.1測試目的

針對系統的重啟的測試，模擬在現場環境下的重啟操作過程，驗證重啟機過程的穩定性。。

7.2.2測試原理

基于系統環境的自動重啟測試，在電源供應上要求保持通電。重啟過程需要穩定的供電，無需斷電。

整個操作過程通過系統軟件實現，無需額外的電源控制系統。

7.2.3測試條件

測試條件應符合表12規定。

表12熱重啟測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

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熱重啟

測試環境標準大氣環境標準大氣環境標準大氣環境

測試

系統測試環境系統測試環境系統測試環境

測試軟件

重啟測試管理工具重啟測試管理工具重啟測試管理工具

完整操作系統安裝就完整操作系統安裝就

預置條件完整操作系統安裝就緒

緒緒

試驗設備空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺

樣品數量51010

測試時長1000輪2000輪5000輪

測試內容系統重啟測試系統重啟測試系統重啟測試

7.2.4測試步驟

a)測試樣品準備；

b)搭建測試環境，電源接通，通過運行測試軟件，設定系統重復啟動的時間間隔，確保系統每次

重啟開始前，系統已經完成上一次的重啟測試。

c)按測試條件，執行循環測試。

d)測試完成后檢查測試結果并記錄。

e)試驗數據總結，梳理測試報告。

7.2.5驗收標準

所有樣品測試結果PASS，未有黑屏死機等現象，測試完成后均能保持正常穩定工作。

7.3Monkey測試

7.3.1測試目的

Monkey測試是一種為了測試軟件的穩健性、健壯性的一種測試方法；其目的是模擬用戶使用習慣，

而進行的隨機操作行為，用以評估系統穩定性。monkey測試是運行在模擬器或設備上的一段程序，它產

生偽隨機事件流（點擊、觸摸、手勢等一些系統級別的事件），主要用于app壓力測試，來觀察被測應

用程序的穩定性和可靠性。

7.3.2測試原理

Monkey測試是通過向系統發送偽隨機的用戶事件流（如按鍵輸入、觸摸屏輸入、手勢輸入等），

實現對應用程序客戶端的穩定性測試；通俗來說，Monkey測試即“猴子測試”，是指像猴子一樣，不知

道程序的任何用戶交互方面的知識，就對界面進行無目的、亂點亂按的操作；

Monkey測試工具是系統自帶的，通過腳本運行后在系統界面進行的測試。

7.3.3測試條件

測試條件應符合表13規定。

表13Monkey測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

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Monkey測

測試環境標準大氣環境標準大氣環境標準大氣環境

試

系統測試環境系統測試環境系統測試環境

測試軟件

Monkey測試工具軟件Monkey測試工具軟件Monkey測試工具軟件

系統Monkey測試系統Monkey測試

預置條件系統Monkey測試

試驗設備空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺

樣品數量555

測試時長24hrs24hrs24hrs

測試內容Monkey測試Monkey測試Monkey測試

7.3.4測試步驟

a)測試樣品準備

b)搭建測試軟件環境：安裝并配置好系統環境，并通過系統連接好設備，即測試樣品整機。

c)獲取被測應用的包名；

d)通過系統界面或終端控制界面運行測試腳本，執行Monkey命令測試；

e)按測試條件，執行測試。

f)測試完成后檢查測試結果并記錄。

g)試驗數據總結，梳理測試報告。

7.3.5驗收標準

通過Monkey測試的日志分析，判斷測試結果是否PASS；所有樣品無fail方可驗收。

7.4頻率切換測試（DVFS）

7.4.1測試目的

通過頻率切換測試驗證模擬系統在現場環境下整個操作過程中出現頻率切換場景時的系統穩定性。

7.4.2測試原理

頻率切換測試需要系統開啟DVFS功能，通過系統命令可以查看DVFS是否打開。DVFS測試可通

過系統測試的腳本運行頻率切換測試，在應用系統環境下，通過開發環境執行測試腳本在bootloader

下進行測試。

7.4.3測試條件

測試條件應符合表14規定。

表14DVFS測試條件

測試應用商業級工業級汽車級

頻率切換測試標準大氣環境

標準大氣環境標準大氣環境

(DVFS)測試環境電壓要求：HV，NV，

電壓要求：HV，NV，LV.電壓要求：HV，NV，LV.

LV.

測試軟件DVFS測試工具DVFS測試工具DVFS測試工具

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系統測試環境系統測試環境系統測試環境

預置條件

DVFS測試工具軟件DVFS測試工具軟件DVFS測試工具軟件

試驗設備空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺空氣循環試驗臺

樣品數量51010

測試時長24hrs24hrs24hrs

測試內容DVFSTestDVFSTestDVFSTest

7.4.4測試步驟

a)測試樣品準備

b)搭建測試軟件環境：通過系統自帶的調試工具，設定調試環境。連接好設備，即測試樣品整機。

c)測試前先通過測試腳本設定要測試的電壓：高壓