1本規程適用于α、β表面污染儀的首次檢定、后續檢定和使用中檢查，包括α表面本規程不適用于固定式α、β個人表面污染測量監測裝置以及最大能量小于60keVGB/T4960.1—2010核科學技術術語第1部分：核物理與核化學GB/T4960.6—2008核科學技術術語第6部分：核儀器儀表凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單位)適用于本規程。JJF1001—2011、GB/T4960.1—2010、GB/T4960.6—2008界定的及以3.1.1表面發射率響應surfaceemissionrateresponse在確定的條件下，測量儀器或裝置(系統)對激勵作用的反應特性稱為響應，以儀器示值與激勵量的商表示。當放射源的量值以表面發射率表示時，稱為表面發射率3.2計量單位3.2.1[放射性]活度：貝可[勒爾];符號：Bq.3.2.2[源]表面發射率：每分鐘2π粒子數；符號：(min·2πsr)-1。由探測器、信號處理與顯示等部件組成，通常采用閃爍體探測器或氣體探測器，用于開2放性放射性工作場所操作臺、地面、墻面、物件表面以及工作人員皮膚和衣物表面α、當放射性平面源距探測器窗表面5mm時，對于241Am或239Pu核素α粒子的表面發射率響應不低于0.20;當放射性平面源距探測器窗表面10mm時，對于204T1或3Cl核素β粒子的表面發射率響應不低于0.156.1外觀α、β表面污染儀外觀不應有銹蝕、裂紋和破損等缺陷以及影響正常工作的機械損傷，控制面板或系統界面上所設置的功能鍵應能完成該鍵指令下的功(1)α標準平面源：表面發射率范圍(103~10?)/(min·2πsr),相對擴展不確定度不超過5%(k=2);平面源表面發射率的不均勻性不超過10%。(2)β標準平面源：表面發射率范圍(10?~10?)/(min·2πsr),相對擴展不確定度不超過5%(k=2);平面源表面發射率的不均勻性不超過10%。如果探測器用于測量最大能量小于200keV的(3)其他檢定用設備定位支架：定位偏差不超過±0.5mm。(1)環境溫度：(15～30)℃;(2)相對濕度：不大于75%;3(3)環境γ本底輻射小于0.25μGy/h;(4)周圍無明顯影響正常工作的機械振動和電磁干擾。7.2檢定項目α、β表面污染儀首次檢定、后續檢定和使用中檢查項目見表2。檢定項目首次檢定后續檢定外觀及標識十 十十十十十十十十十十十注：“+”為需檢定的項目，“—”為不需檢定的項目。7.3檢定方法7.3.1外觀及標識目測與通電檢查α、β表面污染儀是否滿足第6章的要求。7.3.2本底計數率開機預熱，連續測量本底計數率至少10次，取其算術平均值。7.3.3表面發射率響應分別用α、β系列標準平面源測定α、β表面污染儀對α、β粒子的響應。檢定測量時，探測器窗與標準平面源應保持平行，標準平面源活性區面積應覆蓋探測器窗。α標準平面源距探測器窗表面距離為5mm,β標準平面源距探測器窗表面距離為10mm。用α、β表面污染儀依次分別對α、β系列標準源測量，每一系列標準源至少包括3個相鄰量級的標準源，每一個標準源重復讀數不少于5次，取平均值。a、β表面污染儀扣除本底后的凈計數，與探測器窗對應的標準平面源活性區面積上表面發射率的商，即為被檢儀器的表面發射率響應，按公式(1)和公式(2)計算。R;——被檢儀器對i系列標準源中第j個源的表面發射率響應，無量綱；No——被檢儀器對i放射性的本底計數率，s-1;qi?！猧系列標準源中第j個源與探測器窗對應面積上的表面發射率，s-1。4R;——被檢儀器對i放射性的表面發射率響應，無量綱；n——被檢儀器測量i系列標準源的個數，n≥3。7.3.4重復性用α、β表面污染儀分別對表面發射率約為104/(min·2πsr)的α、β系列標準源連續重復測量10次，被檢儀器的重復性以相對實驗標準差表示，按公式(3)計算。V;——被檢儀器的重復性，%;Nm——被檢儀器對i放射性標準源的第m個讀數，s-1;N:——被檢儀器對i放射性標準源的讀數平均值，s-1;n——被檢儀器對i放射性標準源的測量次數，n=10。7.3.5相對固有誤差由7.3.2測定的α、β表面污染儀的表面發射率響應，按公式(4)計算各檢定測量點的相對固有誤差。E;;——被檢儀器測量i放射性時第j個測量點的相對固有誤差，%。取E,中絕對值最大者為儀器對i放射性的相對固有誤差(E)。判定相對固有誤差檢定結果應考慮標準平面源的不均勻性。如果α、β表面污染儀相對固有誤差檢定結果同時滿足：1)相對固有誤差E的測量結果不超過±35%;2)任意兩個檢定測量點相對固有誤差E;的測量值之差不超過±50%。則判定為符合相對固有誤差的技術要求。7.4檢定結果的處理按本規程檢定合格的α、β表面污染儀發給檢定證書(推薦內頁格式見附錄B);檢定結果中有一項不符合本規程的技術要求即為檢定不合格，檢定不合格的α、β表面污染儀發給檢定結果通知書(推薦內頁格式見附錄C),并注明不合格項目。7.5檢定周期α、β表面污染儀的檢定周期一般不超過1年。5附錄A 2.檢定環境條件：溫度;相對濕度;其他 3.檢定結果(1)本底計數率測量擋儀器讀數N,(s-1或min-1)αβ(2)表面發射率響應、重復性、相對固有誤差測量擋儀器讀數N(s-|或min-l)αβ6測量擋%%αβ7測量擋%%Qβ其中，的檢定結果不符合檢定規程的技術要求( ),故判定為檢定不合格。8附錄D表面活度響應及其計算方法α、β表面污染儀對標準平面源的計數率除以標準平面源單位面積的活度即為α、N——a、β表面污染儀對標準平面源的計數率，s-1;實際應用時，以計數率顯示的α、β表面污染儀讀數除以其表面活度響應，即可得到被測對象單位面積上的放射性活度(Bq/cm2平面源效率e與粒子類型、平面源基材、平面源的制作方法等眾多因素相關，其準確值需要通過實驗方法獲得。通常情況下平面源效率e常用的推薦值為：根據α、β表面污染儀的表面發射率響應R?,可按公式(D.2)計算其表面活度響應R?:校準因子的測量方法測定α、β表面污染儀對標準平面源相應核素的校準因子K,測量條件同7.3.2。根