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文檔簡介

X線頭影測量11X線頭影測量是測量X線頭顱側位定位片所得的影象，對牙頜、顱面各標志點描繪出一定的線角進行測量分析，從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結構，使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態深入到內部的骨骼結構中去X線頭影測量的主要應用1、研究顱面生長發育2、牙頜、顱面畸形的診斷分析3、確定錯合畸形的矯治設計4、矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態結構變化5、外科正畸的診斷和矯治設計描圖軟硬組織側貌、上下頜骨輪廓、顱底顱后部輪廓、篩板、蝶鞍輪廓、蝶骨斜坡、翼上頜輪廓、枕骨大孔前緣、樞軸齒狀突、眶側緣和下緣、上下中切牙和上下第一恒磨牙常用的x線頭影測量標志點8839常用的基準平面1前顱底平面2眼耳平面3Bolton平面常用的測量平面1顱底平面2腭平面3合平面1下頜角點與頦頂點間的連線(Go-Gn)2通過頦下點與下頜下緣相切的線條3下頜下緣最低部的切線1下頜升枝平面2Y軸3面平面常用的硬組織測量項目SNA角SNB角ANB角面角22Y

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