ICS31200

CCSL.55

中華人民共和國國家標準

GB/T43061—2023

半導體集成電路

PWM控制器測試方法

Semiconductorintegratedcircuits—TestmethodsofPWMcontroller

2023-09-07發布2024-04-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T43061—2023

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

一般測試要求

4……………5

測試環境要求

4.1………………………5

測試注意事項

4.2………………………5

測試儀器和設備

4.3……………………6

測試條件和測試程序

5……………………6

基準源單元

5.1…………………………6

基準電壓V

5.1.1(REF)…………………6

電壓調整變化量S

5.1.2(V)…………7

電流調整變化量S

5.1.3(I)…………8

基準電壓溫度系數S

5.1.4(T)………………………9

輸出電壓總體變化范圍V

5.1.5(TOT)………………9

輸出噪聲電壓V

5.1.6(NO)…………10

輸出短路電流I

5.1.7(OS)……………11

振蕩器單元

5.2…………………………12

初始頻率f

5.2.1(I)…………………12

電壓穩定性f

5.2.2(V)………………13

溫度穩定性f

5.2.3(T)………………14

頻率總體變化范圍f

5.2.4(TOT)……………………15

最低工作頻率f

5.2.5(min)…………16

最高工作頻率f

5.2.6(max)…………17

輸出脈沖高電平電壓V

5.2.7[OH(osc)]………………18

輸出脈沖低電平電壓V

5.2.8[OL(osc)]………………19

輸出脈沖電壓幅度V

5.2.9[OA(osc)]…………………19

輸出脈沖寬度t

5.2.10(W)…………20

鋸齒波峰值電壓V

5.2.11[P(ramp)]…………………21

鋸齒波谷值電壓V

5.2.12[V(ramp)]…………………22

鋸齒波谷峰值電壓幅度V

5.2.13-[A(ramp)]…………22

同步端輸入電流I

5.2.14[I(sync)]……………………23

同步閾值電壓V

5.2.15[TH(sync)]……………………24

Ⅰ

GB/T43061—2023

誤差放大器單元

5.3……………………25

輸入失調電壓V

5.3.1(IO)…………25

輸入偏置電壓V

5.3.2(IB)……………25

輸入失調電流I

5.3.3(IO)……………25

輸入偏置電流I

5.3.4(IB)……………25

開環電壓增益A

5.3.5(VD)…………25

共模抑制比K

5.3.6(CMR)……………25

電源電壓抑制比K

5.3.7(SVR)………………………25

共模輸入電壓范圍V

5.3.8(ICM)……………………25

輸出電壓轉換速率S

5.3.9(R)………………………25

單位增益帶寬f

5.3.10(BWG)………………………25

輸出電流I

5.3.11(SOURCE)…………25

輸入電流I

5.3.12(SINK)……………26

輸出高電平電壓V

5.3.13(OH)………………………27

輸出低電平電壓V

5.3.14(OL)………………………28

比較器單元

5.4PWM…………………29

占空比調節范圍q

5.4.1()…………29

零占空比閾值電壓V

5.4.2[TH(zq)]…………………30

最大占空比閾值電壓V

5.4.3[TH(mq)]………………31

輸出延遲時間tt

5.4.4[dr(pwm)/df(pwm)]………………33

輸出驅動單元

5.5………………………34

輸出低電平電壓V

5.5.1[OL(drv)]……………………34

輸出高電平電壓V

5.5.2[OH(drv)]……………………35

輸出上升下降時間tt

5.5.3/(r/f)…………………36

輸出漏電流I

5.5.4[O(off)]……………38

軟啟動單元

5.6…………………………38

充電電流I

5.6.1(CHG)………………38

放電電流I

5.6.2(DCG)………………39

限流保護關斷單元

5.7/………………40

關斷閾值電壓V

5.7.1[TH(sd)]………………………40

關斷輸出延遲時間t

5.7.2-[d(sd)]……………………41

欠壓鎖定單元

5.8………………………43

啟動電壓V

5.8.1[CC(st)]……………43

最小工作電壓V

5.8.2[CC(min)]………………………44

遲滯電壓V

5.8.3(ΔCC)………………45

功耗

5.9…………………46

啟動電源電流I

5.9.1[CC(st)]…………46

電源電流I

5.9.2(CC)…………………46

Ⅱ

GB/T43061—2023

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中華人民共和國工業與信息化部提出

。

本文件由全國半導體器件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC78)。

本文件起草單位中國航天科技集團有限公司第九研究院第七七一研究所成都華微電子科技有限

:、

公司西安電子科技大學

、。

本文件主要起草人穆永杰鄧些鵬賈寧剛閆永超楊曉萍王策包軍林楊博胡巧玉

:、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T43061—2023

半導體集成電路

PWM控制器測試方法

1范圍

本文件描述了半導體集成電路脈沖寬度調制控制器以下簡稱器件參數測試方法

(PWM)()。

本文件適用于半導體集成電路領域中控制器參數的測試

PWM。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

半導體器件集成電路第部分模擬集成電路

GB/T17940—20003:

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

。