標準解讀

《YS/T 85-2006 光譜分析用銠基體》是一項針對用于光譜分析中的銠基體材料的標準。該標準詳細規(guī)定了用于制備光譜分析樣品的銠基體的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及包裝、標志、運輸和貯存等方面的要求。

在技術要求部分,標準明確了銠基體的純度等級及其雜質元素的最大允許含量,確保其適用于高質量的光譜分析工作。同時,還指出了不同規(guī)格尺寸下的具體物理性能指標,如密度、硬度等,以滿足多樣化的應用需求。

對于試驗方法而言,《YS/T 85-2006》列舉了一系列檢測手段來驗證銠基體是否符合既定的質量標準,包括但不限于化學成分分析(采用ICP-AES或AAS法)、物理性能測試(如密度測量)及外觀檢查等。這些測試旨在全面評估材料的品質,保證其作為光譜分析載體時能夠提供準確可靠的數(shù)據(jù)支持。

此外,標準還制定了詳細的檢驗規(guī)則,明確了抽樣方案、合格判定準則等內容,為生產商與使用者之間提供了統(tǒng)一的質量控制依據(jù)。最后,在包裝、標志、運輸和貯存方面也給出了明確指導,強調了保護產品不受污染或損壞的重要性,并提出了相應的安全措施建議。通過遵循本標準的各項規(guī)定,可以有效提升銠基體材料在光譜分析領域的適用性和可靠性。


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  • 2006-05-25 頒布
  • 2006-12-01 實施
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文檔簡介

ICS77.120.99YSH68中華人民共和國有色金屬行業(yè)標準YS/T85—2006代督丫S/T85—1004光譜分析用銘基體Basisrhodiumasspectralanalysis2006-05-25發(fā)布2006-12-01實施中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會發(fā)布

YS/T85—2006前本標準是對YS/T85—1994《光譜分析用鎧基體)的修訂本標準與YS/T85—1994相比,主要有如下變動:-需要測定的雜質元素由原標準規(guī)定的14個增加到16個,新增加元素為Mn、Zn.-對原標準的試驗方法進行了細化。本標準自實施之日起,同時代替YS/T85—1994.本標準由全國有色金屬標準化技術委員會提出并歸口本標準由貴研鉑業(yè)股份有限公司負責起草,本標準主要起草人:譚文進、石紅、柴湖軍、劉文。本標準由全國有色金屬標準化技術委員會負責解釋。本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:YB1709-78;YS/T85-1994.

YS/T85-2006光譜分析用能基體1范圍本標準規(guī)定了光譜分析用銘基體的要求、試驗方法、檢驗規(guī)則和標志、包裝、運輸、財存本標準適用于光譜分析純度為99.9%~99.99%的銘時所用銘基體。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版均不適用于本標準.然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。GB/T1419—2004海綿鉑GB/T1421—2004銘粉要求3.1化學成分3.1.1能基體的化學成分應符合表1的規(guī)定表1化學成分SM-Rh99.999佬含量不小于99.999P0.000020.000020.00010.00010.00005雜質含量0.000020.000020.00002(質量分數(shù))0.00002不大于0.00010.000050.000050.000020.00010.000030.0001雜質總

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