ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標準

GB/T51701—2016

代替.

GB/T5170.1—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法

第1部分總則

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments

forelectricandelectronicroducts—Part1General

p:

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T51701—2016

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

檢驗條件

4…………………11

檢驗用儀器及要求

5………………………11

檢驗周期

6…………………11

檢驗負載

7…………………11

對受檢設備的外觀和安全要求

8…………12

檢驗記錄表

9………………12

檢驗結果的處理

10………………………12

Ⅰ

GB/T51701—2016

.

前言

分為以下部分

GB/T5170:

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法第部分總則

———GB/T5170.1—20161:

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

———GB/T5170.2—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法第部分濕熱試驗設備

———GB/T5170.5—20165:

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備

———GB/T5170.8—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備

———GB/T5170.9—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

———GB/T5170.10—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

———GB/T5170.11—2008

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.13—2005()

用機械振動臺

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法振動正弦試驗

———GB/T5170.14—2009()

用電動振動臺

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.15—2005()

用液壓振動臺

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗

———GB/T5170.16—2005

用離心機

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕

———GB/T5170.17—2005//

熱綜合順序試驗設備

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循

———GB/T5170.18—2005/

環(huán)試驗設備

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度振動正弦

———GB/T5170.19—2005/()

綜合試驗設備

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法水試驗設備

———GB/T5170.20—2005

電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法振動隨機試驗用

———GB/T5170.21—2008()

液壓振動臺

本部分是的第部分

GB/T51701。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則與

GB/T5170.1—2008《》,GB/T5170.1—

相比主要技術內容變化如下

2008,:

在規(guī)范性引用文件中增加了

———GB/T2298—2010、GB/T2422—2012、GB/T23715—2009;

溫度偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測最高

———“(),

溫度和最低溫度與標稱溫度的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點

”,“(),

在規(guī)定時間內實測最高溫度和最低溫度與設定溫度的上下偏差見

”(3.2.4);

相對濕度偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測

———“(),

最高相對濕度和最低相對濕度與標稱相對濕度的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下

”,“(),

工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測最高相對濕度和最低相對濕度與設定相對濕度的上下偏

差見

”(3.2.5);

術語每溫度平均變化速率修改為溫度平均變化速率定義由原來的試驗箱

———“5min”“5min”,“

Ⅲ

GB/T51701—2016

.

室工作空間幾何中心點測得的兩個規(guī)定溫度之間每的平均轉變速率用表

()5min,℃/min

示修改為試驗箱室工作空間幾何中心點測得的兩個規(guī)定溫度之間任意時間的平

”,“()5min

均轉變速率用表示見

,℃/min”(3.2.11);

氣壓偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測量點在規(guī)定時間內實測最高氣

———“(),

壓和最低氣壓與標稱氣壓的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測量點在規(guī)

”,“(),

定時間內實測最高氣壓和最低氣壓與設定氣壓的上下偏差見

”(3.2.12);

刪除了術語頻率范圍頻率穩(wěn)定度本底噪聲加速度臺面漏磁

———“”、“”、“”、“”;

增加了術語輻照度偏差二氧化硫濃度偏差硫化氫濃度偏差降雨強度雨滴直

———“”、“”、“”、“”、“

徑振動發(fā)生器振動臺激振器振動發(fā)生器系統(tǒng)電動振動發(fā)生器電動振動臺電

”、“//”、“”、“/”、“

磁振動發(fā)生器電磁振動臺液壓式振動發(fā)生器機械式振動發(fā)生器掃頻速率線性

/”、“”、“”、“”、“

掃頻速率對數(shù)頻率掃頻速率振幅掃頻精度

”、“()”、“”、“”;

檢驗用儀器及要求由原來的使用的測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度k不大于被測

———“(=2)

參數(shù)允許偏差的三分之一二次儀表與一次儀表應一同校驗修改為由各部分具體規(guī)定見

,”,“”(

第章

5);

檢驗報告增加了至少應包含的信息見

———(10.3)。

本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國電器科學研

:、、

究院有限公司中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術研究所廣東電網有限責任公司電力科學

、、

研究院無錫蘇南試驗設備有限公司

、。

本部分主要起草人伍偉雄謝晨浩黃開云呂國義蘇偉倪一明賴文光呂旺燕鄭術力

:、、、、、、、、、

謝凱鋒

。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.1—1985、GB/T5170.1—1995、GB/T5170.1—2008。

Ⅳ

GB/T51701—2016

.

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法

第1部分總則

:

1范圍

的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設備以下簡稱設備檢驗所用術語和定義檢驗條件檢

GB/T5170(“”)、、

驗用儀器及要求檢驗周期檢驗負載外觀和安全檢驗記錄表檢驗結果處理等

、、、、、。

本部分適用于電工電子產品進行環(huán)境試驗所用設備的檢驗其他產品進行環(huán)境試驗所用設備的檢

,

驗亦可參照使用

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

機械振動沖擊與狀態(tài)監(jiān)測詞匯

GB/T2298、

電工電子產品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1