標準解讀

GB/T 23729-2009 是一項國家標準,主要針對用于閃爍探測器中的光電二極管的試驗方法進行了詳細規定。該標準涵蓋了光電二極管的關鍵性能參數測試方法及其條件要求,旨在確保這些器件在不同應用場景下能夠滿足特定的技術指標。

標準首先明確了適用范圍,指出其適用于所有類型(包括但不限于硅基)用于閃爍探測器中將光信號轉換為電信號的光電二極管。隨后,定義了若干術語和定義,如響應度、暗電流等專業詞匯,為后續內容提供基礎理解框架。

接下來,GB/T 23729-2009 列出了多項測試項目及相應的方法。其中包括但不限于:

  • 光電轉換效率測量:通過比較輸入光功率與輸出電荷量來評估光電二極管將光能轉化為電能的能力。
  • 響應時間測試:采用脈沖光源照射光電二極管,并記錄從光照開始到產生最大電流所需的時間,以此來衡量設備對快速變化光線的反應速度。
  • 溫度特性分析:考察不同工作溫度下光電二極管各項性能的變化情況,以確定其在實際使用環境中的穩定性。
  • 噪聲水平檢測:測量無光照條件下光電二極管輸出端存在的隨機波動大小,反映其背景噪聲水平。
  • 線性動態范圍測定:研究光電二極管在不同強度光照下的輸出線性關系,了解其可準確工作的光照強度區間。

此外,還提供了關于如何設置實驗裝置、選擇合適的測量儀器以及處理數據的具體指導。例如,在進行某些敏感性較高的測試時,需采取措施避免外界干擾;對于需要長時間穩定運行的實驗,則強調了預熱時間和環境溫濕度控制的重要性。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2009-05-06 頒布
  • 2009-12-01 實施
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GB/T 23729-2009閃爍探測器用光電二極管試驗方法_第1頁
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文檔簡介

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犉88

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜23729—2009/犐犈犆62088:2001

閃爍探測器用光電二極管試驗方法

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(IEC62088:2001Nuclearinstrumentation—

Photodiodesforscintillationdetectors—Testprocedures,IDT)

20090506發布20091201實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局

發布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜23729—2009/犐犈犆62088:2001

前言

本標準等同采用IEC62088:2001《核儀器———閃爍探測器用光電二極管———試驗方法》(Nuclear

instrumentation—Photodiodesforscintillationdetectors—Testprocedures,英文第1版)。

為便于使用,本標準做了下列編輯性修改:

———刪去IEC62088:2001的前言和目次;

———調整了少數參量符號的上、下標,并用小數點符號“.”代替作為小數點的逗號“,”;

———在計算公式的參量說明中,用長破折號“———”代替“是”;

———第8章標題“一般要求———數據表”改為“供應商應提供的數據”,并在“工作溫度范圍犜max~

犜min和貯存溫度范圍”一項后增加“工作濕度范圍犎max~犎min和貯存濕度范圍”以及“工作氣壓

范圍犘max~犘min和貯存氣壓范圍”(在4.2中增加相應符號)。

本標準由中國核工業集團公司提出。

本標準由全國核儀器儀表標準化技術委員會歸口。

本標準起草單位:核工業標準化研究所、中國原子能科學研究院、北京核儀器廠。

本標準主要起草人:熊正隆、何高魁、肖晨、姚秋果、嚴陳昌。

犌犅/犜23729—2009/犐犈犆62088:2001

引言

光電二極管閃爍探測器是采用半導體光電二極管(通常是硅PD)的閃爍探測器,當入射輻射(帶電

粒子、γ射線、X射線)在閃爍體中放出能量時,用于探測在閃爍體(通常是晶體)中產生的閃爍光(見

圖1)。

光電倍增管(PMT)通常已經用于這個目的(對十進制計數),但隨著低噪聲和相對大面積光電二極

管的最新出現,后者在增加應用數量、取得某些固有性能的優點等方面正在與光電倍增管激烈競爭:

———小體積;

———對磁場不敏感;

———低工作電壓和很低的功率消耗;

———稍高的抗震能力。

犌犅/犜23729—2009/犐犈犆62088:2001

閃爍探測器用光電二極管試驗方法

1范圍

本標準適用于在閃爍探測器或切倫科夫探測器中使用的固態光電二極管(PD)或光電二極管陣列

(PDA)。本標準推薦的試驗方法也適用于雪崩二極管(APD),但需要附加本標準描述的特殊試驗

方法。

本標準中描述的試驗不是強制性的,但宜按這里描述的程序進行規定性能的試驗。

本標準的目的是為閃爍探測器中使用的光電二極管建立標準試驗方法,同時規定了供應商應提供

的每種型號光電二極管的數據。

2一般原則

硅光電二極管容易得到并廣泛用于閃爍探測器。然而,它們圍繞900nm的峰響應與常用閃爍體

[NaI(TI)、CsI(TI)、BGO、CdWO4、ZnSe(Te)]在較短波長的最大發射不相匹配。正在進行的研究是開

發具有較長波長光發射的閃爍體和較寬帶隙的半導體。

光電二極管閃爍探測器沒有內部放大器(APD的情況除外),因而需要耦合到類似用于半導體探測

器的低噪聲前置放大器。光電二極管/前置放大器組合的噪聲限制它在低能γ射線和X射線能譜測定

中的使用。這個噪聲由隨其面積而增加的PD電容的串聯噪聲以及前置放大器的漏電流和輸入阻抗的

并聯噪聲來確定。為優選光電二極管/前置放大器的組合,有時將前置放大器與PD集成在一起。在這

種情況下,這里描述的某些試驗可能難于執行。

固態光電二極管也能用作直接電離的半導體探測器,但本標準不適用于已由IEC60333包括的這

種應用。

本標準不適用于混合光電探測器,即帶有常規光陰極、加速電場和固態器件的真空

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