1、二部分 超聲波檢測一、是非題(在括號內(nèi)，正確的畫O，錯(cuò)誤的畫X)1超聲波的頻率取決于晶片振動的頻率。( O )*2超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移連續(xù)變化來傳遞的。( O )3超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與頻率成正比。( X )4超聲波在鋁中傳播時(shí)，頻率愈低，波長愈短。( X )5表面波亦可在液體表面?zhèn)鞑ァ?X )*6薄板中傳播非對稱型蘭姆波時(shí)。上下表面質(zhì)點(diǎn)振動相位相同。( O )7超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動速度。( X )*8如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒(直徑Z1的界面時(shí)，聲壓透過率大于1說明界面有增強(qiáng)聲能的作用。( X )21超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透過率與聲強(qiáng)透

2、過率在數(shù)值上相等。( O )22超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透過率愈低。( x )*23當(dāng)鋼中的氣隙(如裂紋)厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。( O )24超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角。( X )25超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)同種波型的折射角總大于入射角。( X )26超聲波以10角入射至水鋼界面時(shí)，反射角等于100。( O )27超聲波入射至鋼水界面時(shí)，第一臨界角約為1450( X )28第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。( X )29有機(jī)玻璃鋁界面的第一臨界角大干有機(jī)玻璃鋼界面第一臨界角則前者的第二

3、臨界角也一定大于后者。( x )*30只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會有第三臨界角。（ O ) 31橫波斜入射到鋼空氣界面時(shí)，入射角在300左右時(shí)橫波聲壓反射率最低。( O )32。超聲縱波斜入射到端角時(shí)，端角反射率總是很高的，( X )33探測根部未焊透缺陷時(shí)，一般不宜選用折射角為600的斜探頭。（ O ）34超聲波入射到C1C2的凸曲面時(shí)其透過波集聚。( O )36以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭。有機(jī)玻璃水界面為凹曲面。( X )37介質(zhì)的聲阻抗愈大引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。( x )38聚焦探頭輻射的聲波在材質(zhì)中的衰減小。( X )39超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用。(

4、 X )40超聲平面波不存在材質(zhì)衰減(X)41聲源面積不變時(shí)，超聲波頻率愈高超聲場的近場長度愈短。( X )42面積相同。頻率相同的圓晶片和方晶片超聲場的近場長度一樣長。（ O ）43面積相同頻率相同的圓晶片和方晶片其聲束指向角亦相同。(X )44超聲場的近場長度愈短，聲束指向性愈好。( X )45聲源輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。( O )46聲源輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲匝為最高。( X )47低頻探傷是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。( X )*48超聲場中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。( x )49在超聲場的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲

5、壓不變( O )50斜角探傷橫波聲場中假想聲源的面積大干實(shí)際聲源面積。( X )51頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。( O )*52圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角。( x )折射角*53如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變。入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。（ O ）54理想的鏡面大平面，對聲波產(chǎn)生全反射，隨傳播距離的增加其回波聲壓不變。（ x ）55球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。( O )56同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。(O )57軸類工件外圈探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。( O )58對空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)

6、曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。( X )59通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離適用于不同規(guī)格的探頭。( O )60在通過AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。(X)61A型顯示探傷儀利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度(O)62B型顯示探傷儀不能直觀顯示出缺陷深度。( X )*63多通道探傷儀是由多個(gè)或多對探頭同時(shí)工作的探傷儀。( X ) 64探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路（ X ) 65探傷儀中的發(fā)射電路可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動。（ O ）66探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。(X)67探傷儀發(fā)射電路

7、中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。( X )68調(diào)節(jié)探傷儀深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)可連續(xù)改變掃描線掃描速度。(O)69調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大。( X )70調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變。( X )71不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。( O )72不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電晶體不能作成頻率相同的晶片。（ X ）*73壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大，則說明該晶片接收性能好。(X)*74壓電晶片的壓電電壓常數(shù)(g33)大，則說明該晶片接收性能好。(O)75探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提

8、高機(jī)械品質(zhì)因素Q。，減少機(jī)械損耗；(X)76工件表面比較粗糙時(shí)為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜(X)77斜探頭楔塊前部和上部開有消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能失。( X ) 78由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷(X)79雙晶直探頭傾角越大交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，復(fù)蓋區(qū)愈大。( X )80有機(jī)玻璃聲透鏡水浸取焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。(O)81利用llW試塊上聲50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。( O )82當(dāng)斜探頭對準(zhǔn)IIW2試塊上R50曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的(x)83中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波

9、總是等距離出現(xiàn)(O)84RB一2對比試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔是不能添加或改變布置形式的。( X )85調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性。(X)86測定儀器的“動態(tài)范圍”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。( O )87盲區(qū)與始波寬度是同一概念(X)88測定組合靈敏度時(shí)可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕。使電噪聲電平10，再進(jìn)行測試。( X )89測定“始波寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。( X )90為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。（ O ）91串列式雙探頭法探傷即為穿透法( X )*92厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，

10、則不存在死區(qū)。( X )93曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好(O)94實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低(X)95采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。( O )96。只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方面的尺寸均大于聲束截面時(shí)才能采用測長法確定缺陷長度( X )97絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時(shí)測長靈敏度高測得的缺陷長度大。(O)98當(dāng)試件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化( O)99常用的有機(jī)玻璃楔探頭，當(dāng)溫度升高時(shí)，其K值將增大。( O )100超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高( X )101鋼

11、板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷( X )102當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成“疊加效應(yīng)”。( X ) 103厚鋼板探傷中。若出現(xiàn)缺陷的多次反射波說明缺陷的尺寸一定較大。( O )104較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”。說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。( X ) 105復(fù)合鋼板探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷(O)106用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺陷。( O )107ZBJ7400388標(biāo)準(zhǔn)不適用于奧氏體不銹鋼板的超聲波探傷。（O)108按ZB7400388標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)板厚60mm的鋼板可選用

12、50mm厚的平底孔試塊調(diào)節(jié)探傷靈敏度。(X)109按ZBJ7400388標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)鋼板時(shí)，如發(fā)現(xiàn)缺陷的指示面積小于9cmz，鋼板可評為I級。( X )110負(fù)板探傷時(shí)，如果一個(gè)缺陷的指示長度小于40mm，該缺陷可不作記錄。( X )111小口徑鋼管采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)時(shí)，屬于縱波垂直法探傷。(X)112采用斜探頭對鋼管作周向接觸法探傷時(shí)，鋼管內(nèi)外徑之比愈大，入射角允許范圍愈大。( O )1135010mm的鋼管，亦可采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向探傷。(X)114鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)、不宜采用線聚焦探頭探測較短缺陷。( O )115采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為2的整數(shù)倍。(

13、O )116鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。( O )117鋼管水浸探傷時(shí)水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性。( X )1188l0mm的鋼管亦可JB115173標(biāo)準(zhǔn)作超聲波探傷。(X)119鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。(O)120.用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。( O )121軸類鍛件，一般來說以縱波直探頭作徑向探測效果最佳( O )122使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時(shí)，探頭應(yīng)作正反兩個(gè)方向掃查。( O )123對餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測是最佳的探傷方法。( X )124

14、調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級。（ X )125鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。（ O ）126鍛件探傷時(shí)如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按密集缺陷評定鍛件等級。( X )127采用25P14Z探頭，按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)對200mm軸類鋼鍛件作徑向探傷，可不進(jìn)行曲面補(bǔ)償。(O)128按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)對簡形鍛件作橫波探傷時(shí)，凡缺陷反射波幅超過50距離波幅曲線時(shí)均不合格。(X)129外徑400mm，內(nèi)徑320mm壓力容器用低合金鋼筒形鍛件可按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)檢 驗(yàn)。( X )130JB 3

15、96385標(biāo)準(zhǔn)所劃分的三種鍛件等級應(yīng)一一對應(yīng)使用。( X )131焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的。( X )132焊縫斜角探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響。(O)133采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。(O)134焊縫探傷所用斜探頭當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小(O)135焊縫斜角探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說明橫波可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層。( X)136對焊縫中與聲束成一定角度的缺陷，探測頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收。( O )137焊縫探傷中，依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準(zhǔn)確地判定

16、缺陷性質(zhì)。( X )138GB 1134589標(biāo)準(zhǔn)串列法掃查時(shí)采用的絕對靈敏度測長法，規(guī)定以定量線為測長靈 敏度。( X )139電渣焊縫探傷中，如發(fā)現(xiàn)“八字裂紋”缺陷，應(yīng)按GB 1134589標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于缺陷密集程度的規(guī)定進(jìn)行評定。( X )140按GB 1134589標(biāo)準(zhǔn)的要求，探測橫向缺陷時(shí)，距離波幅曲線中原評定線將成為定量線。( O )二、填空題141超審波在介質(zhì)中的傳播過程，是(能量)傳播過程，沒有(物質(zhì))的遷移。142超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，其波長與(聲速)成正比，與(頻率)成反比。143表面波在介質(zhì)表面?zhèn)鞑r(shí)，介質(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)作( )運(yùn)動，這種運(yùn)動可視為振動與( )振動的合成。（ ）144

17、表面波只能在( )表面?zhèn)鞑ィ砻娌ǖ? ) 隨傳播深度增加而迅速( )145橫波是波的傳播方向與質(zhì)點(diǎn)振動方向( )的一種波動類型，它只能在( )中傳播。146在板厚與波長相當(dāng)?shù)膹椥员“逯袀鞑サ牟ǚQ為( )。根據(jù)質(zhì)點(diǎn)振動方向的不同可將這種波分為( )波和( )波。*147對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作( )振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作( )運(yùn)動，振動相位( )并對稱于中心。*148非對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作( )振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作（ ）運(yùn)動，振動相位( )，不對稱。149波的傳播方向稱為( )，它恒垂直于( )。150波陣面為( ， )的波稱為球面波，球面波各質(zhì)點(diǎn)的振幅與( )成反比。1

18、51超聲波探頭中的波源近似( )振動，在各向同性的介質(zhì)中輻射的波稱為( ) 波。當(dāng)距探頭的距離足夠遠(yuǎn)時(shí)，它類似于( )。 152超聲波探傷中廣泛采用的是脈沖波，脈沖波是波源振動( ) )很短，( )輻射的波。 153固體介質(zhì)的( )愈大，密度( ),則縱波聲速愈大。*154板波的波速是隨頻率不同而( )的，具有( )性質(zhì)。155在相同的聲壓下，材料的聲阻抗愈大，質(zhì)點(diǎn)( )就愈小，因此聲阻抗表示超聲場中介質(zhì)對( )的阻礙作用。156超聲場中，聲壓與超聲波頻率成( )比，聲強(qiáng)與聲壓( )成正比，與頻率( )成正比。157超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波和透過波的聲能(聲強(qiáng))分配比例由( )和(

19、)來表示，它僅與界面兩側(cè)介質(zhì)的( )有關(guān)。158超聲波垂直入射到某界面，如第一介質(zhì)聲阻抗遠(yuǎn)大于第二介質(zhì)聲阻抗，則聲壓反射率趨于( )，透過率趨于( )。159超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透過率僅與( )*160超聲波通過異質(zhì)薄層時(shí)聲壓反射率和透過率不僅與( )有關(guān)，而且與( )與( )之比有關(guān)。161超聲波通過兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相同的異質(zhì)薄層時(shí)，如薄層厚度為( )整數(shù)倍，聲波透射率最大，這種透聲層稱為( )。162。超聲波在介質(zhì)中的傳播方向通常用波的( )與( )的夾角來描述。傳播方向的改變由( )和( )來確定。163超聲縱波傾斜入射至鋼水界面時(shí)，縱波反射角( )入射角，橫波反射角( )

20、入射角。164超聲縱波斜入射至異質(zhì)界面，使縱波折射角為90時(shí)的( )稱為第一臨界角，此時(shí) 第二介質(zhì)中只有( )。 165為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應(yīng)選擇在( )和( )之間。 166超聲橫波傾斜入射至鋼空氣界面時(shí)，縱波反射角( )入射角，橫波反射角( )入射角。*167橫波斜入射到異質(zhì)界面使縱波反射角為90時(shí)的橫波入射角稱為( )，它的大小只與第一介質(zhì)的( )和( )有關(guān)。168超聲波傾斜入射到界面上時(shí)，不同類型聲波的聲壓反射率和透過率，不僅與( ) 有關(guān)，而且與入射波的類型及( )的大小有關(guān)。169超聲波入射到曲界面時(shí)，反射波與透過波的聚散情況主要取決于( )和（ ）170超聲波

21、入射到曲界面時(shí)，反射波波陣面的形狀取決于( )。171超聲波入射到曲界面時(shí)，凹曲面的反射波( )，凸曲面的反射波( )*l72超聲波平面波入射到球界面時(shí)凹球面上的反射波好像是從( )發(fā)出的( )波；凸球面上的反射波好像是從( )發(fā)出的( )波。 173透鏡式水浸聚探頭，在水中的焦距隨透鏡曲率半徑的減小而( )，隨聲速比值C2Cl的增加而( )。 174超聲波擴(kuò)散衰減主要取決于( )，與( )的性質(zhì)無關(guān)。超聲柱面波的衰減規(guī)律為；柱面波的聲壓與( )成反比。 175超聲衰減的定量表示方法是采用衰減系數(shù)。介質(zhì)的材質(zhì)衰減系數(shù)為( )與( )之和。 176介質(zhì)的吸收衰減與( )成正比；對( )材料吸收衰

22、減可忽略不計(jì)。*177介質(zhì)的散射衰減與( )、( )和( )有關(guān)。因此探傷晶粒較粗大的工件時(shí)。常常選用較低的( )。 178依據(jù)波源軸線上聲壓變化規(guī)律不同，可把超聲場分為( )區(qū)和( )區(qū)，軸線上最后一個(gè)聲壓極大值位置至波源的距離稱為( )。179圓晶片超聲場的近場長度與頻率成( )比與( )成正比。180在超聲遠(yuǎn)場聲束軸線上的聲壓與聲源面積成( )比，隨( )的增加而單調(diào)地減少。181超聲場中未擴(kuò)散區(qū)長度b約等于( )N聲程xb時(shí)聲束開始擴(kuò)散，X3N時(shí)，聲束按( )規(guī)律擴(kuò)散。 182晶片直徑( )，頻率( )指向角愈小。 183矩形狀源縱波聲場的近場長度與波長成( )比，與( )成正比。*1

23、84固體介質(zhì)中的脈沖波聲場的近場區(qū)，其聲壓極值點(diǎn)數(shù)量較理想聲場( )且極大極小值幅度差異( )。*185斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在( )介質(zhì)中，近場區(qū)長度隨入射角的增大而( )。186聲程X3N時(shí)平底孔的回波聲壓與干底孑L面積成( )比，與聲程的( )成反比。1875平底孔，聲程從100mm增加到200mm時(shí)，如不計(jì)材質(zhì)衰減。則回波聲壓為原來的( )，回波幅度下降( )dB。188聲程x3N時(shí)，長橫孔的回波聲壓與孔徑的( )成正比，與聲程的( )成反比。191聲程200mm。6長橫孔的回波聲壓是3橫孔的( )倍，回波幅度較后者高( )dB。192聲程x3N時(shí)，球孔的回波聲壓與( )成正比，與(

24、 )成反比193d=3的球孔，聲程從150mm增加到300mm時(shí)，如不計(jì)材質(zhì)衰減，則回波聲壓為原來的( )。回波幅度下降( ) dB。194超聲波徑向探測J3N的實(shí)心圓柱體時(shí)，類似于球面波在( )面上的反射，圓柱體曲底面回波聲壓與( )相同。 195AyG曲線又稱為( )( )( )曲線，其中A代表( )，y代表( )，G代表( )。 196A型顯示探傷僅熒光屏的橫坐標(biāo)代表聲波的( )，縱坐標(biāo)代表( )*197召型顯示探傷儀熒光屏的橫坐標(biāo)代表( )縱坐標(biāo)代表( ) 198C型顯示探傷儀熒光屏上可顯示出工件內(nèi)部缺陷的( )，但不能顯示( )。 199A型脈沖反射式超聲波探傷儀的主要組成部分有(

25、)、( )、( )、( )，( )、( )等。 200探傷儀掃描電路又稱( )，用來產(chǎn)生( )電壓加至示波管的( )偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條掃描線。 201。CTS一22型探傷儀面版上，屬于接收電路的控制旋鈕有( )、( )、( )等 202探傷儀顯示電路中的示波管由( )、( )和( )等三部分組成。 203探傷儀接收電路中，衰減器的作用是調(diào)節(jié)( )和測量( )。 ， 204探傷儀面版上的“延遲旋鈕”用于調(diào)節(jié)( )時(shí)刻與( )時(shí)刻的時(shí)間差，使掃描線上的回波位置左右移動。 205探傷儀上，“深度補(bǔ)償”的作用是改變( )的性能，使位于不同深度相同尺寸缺陷的回波高度差異( )。 206壓電晶體分為單晶體

26、和多晶體，一般來說，單晶體( )靈敏度較高，多晶體的()靈敏度較高。207壓電晶片的諧振頻率與晶片厚度的乘積為( )，稱為( )。其單位是( )208探頭中的阻尼塊亦稱為( )，其作用是( )和( )。209聚焦探頭的聚焦性能，通常用( )和( )來描述210雙晶探頭由于( )和( )分開，并使用了( )，所以減小了( )，有利于近表面缺陷的探測。*211聚焦探頭的焦點(diǎn)尺寸與晶片直徑、波長和焦距有關(guān)，晶片直徑( )，波長( ) 。焦距( )，則焦點(diǎn)小。 212超聲波探傷中所用的試塊，通常可分為( )試塊和( )試塊兩大類213利用CS1和CS2型試塊，可繪制直探頭( )波幅曲線和( )波 幅曲

27、線。214國產(chǎn)斜探頭多以K值標(biāo)稱，它等于斜探頭在( )中折射角的( )。215CSKIB試塊上，50和44兩孔的臺階可用來測定( )的( )。216超聲波探傷方法，按原理分類可分為( )法，( )法和( )法217脈沖反射法按照判斷缺陷情況的回波性質(zhì)分類，可分為( )法、( )法和( )法。218大型工件水浸法探傷時(shí)常采用局部水浸法，局部水浸法可分為( )式，（ ）式和（ ）式。219鍛件探傷時(shí)，一般對定量要求較高，因此應(yīng)選擇( )好，( )精度高的超聲波探傷儀。220斜探頭通常是經(jīng)過( )來實(shí)現(xiàn)橫波探傷的。主要用于探測與探測面( )或( )的缺陷。221超聲波探傷中頻率的高低對探傷有很大影響

28、。一般在保證( )的前提下，應(yīng)盡量選擇( )頻率。222探測表面不太平整，曲率較大的工件時(shí)，為減少( )，宜選用( )探頭。 223超聲耦合是超聲波在探測面上的( )。超聲耦合好說明( )高。 224探傷中通常在工件表面施加一層耦合劑，其作用是排除探頭與工件表面間的( )，使超聲波能有效的傳入工件。此外耦合劑還有減少( )的作用。 225探傷前，探傷儀調(diào)節(jié)的主要內(nèi)容是調(diào)節(jié)儀器的( )和探傷系統(tǒng)的( )。 226橫波探傷時(shí)，掃描速度的調(diào)節(jié)方法有：( )，( )和( )三種。*227表面波探傷時(shí)，掃描速度調(diào)節(jié)一般是按( )調(diào)節(jié)時(shí)基線掃描比例。 228利用CSKIB試塊R50，R100兩曲面回波按水

29、平1：1調(diào)掃描速度時(shí)，如探頭K值為1，則R50，R100的回波應(yīng)分別對準(zhǔn)水平刻度的( )和( )。229采用試塊法調(diào)節(jié)探傷靈敏度時(shí)，應(yīng)考慮進(jìn)行( )補(bǔ)償和( )補(bǔ)償。230影響缺陷定位精度的因素中，屬于探頭的因素有：( )，( )，( )( )等。231在影響定量精度的因素中，頻率偏差不僅影響用( )法調(diào)節(jié)探傷靈敏度，而且影響用( )法對缺陷定量。232縱波垂直法探傷中，為減少工件側(cè)壁對缺陷定量的影響，宜選用( )高，( )大的探頭進(jìn)行探傷。*233縱波垂直法探傷中，由于側(cè)壁干涉的結(jié)果，側(cè)壁附近的缺陷，靠近側(cè)壁探測時(shí)回波( )，遠(yuǎn)離側(cè)壁探測時(shí)回波( )。234用底波法調(diào)節(jié)探傷靈敏度時(shí)，如底面粗

30、糙或粘有水跡將會使底波( )，這樣利用底波調(diào)節(jié)的靈敏度將( )，缺陷定量將會( )。235缺陷的形狀對缺陷回波幅度有較大影響，當(dāng)聲程和直徑都相等時(shí)，缺陷波高以( )形為最高，( )形次之，( )形最低。236超聲波探傷中，缺陷的特征是指缺陷的( )，( )，( )和( )。237超聲波探傷中，時(shí)常依據(jù)缺陷波形分析缺陷性質(zhì)。缺陷波形分為( )大類。238缺陷的靜態(tài)波形是指探頭對準(zhǔn)缺陷不動時(shí)缺陷波的( ) 、（ ）和（ ）。239影響缺陷靜態(tài)波形的因素中，就缺陷本身而言主要包括( )、（ ）和（ ）等。240缺陷動態(tài)波形圖的縱坐標(biāo)表示( )，橫坐標(biāo)表示探頭( )241鋼板中常見的缺陷有( )，(

31、)，( )等。242鋼板手工垂直法探傷中，采用的主要耦合方式有：( )法和( )法。243鋼板探傷多采用底波多次反射法，這樣不僅可以根據(jù)( )來判定缺陷情況，而且可以根據(jù)( )判定缺陷情況。244鋼板探傷中，采用的主要掃查方式有( )掃查、( )掃查、( )掃查和( )掃查等。245鈦碳鋼復(fù)合板探傷時(shí)由于兩種材料的( )相差較大，即使復(fù)合良好，熒光屏上也會出現(xiàn)( )回波。*246利用板波對薄板探傷時(shí)如發(fā)現(xiàn)端頭信號( )有反射信號出現(xiàn)時(shí)，應(yīng)( )確定缺陷確切位置。 247ZB J7400388標(biāo)準(zhǔn)對探傷儀的特殊要求是：垂直線性誤差應(yīng)( )；始波占寬對25MHz探頭應(yīng)( )、對5MHz探頭應(yīng)( )

32、。 248檢驗(yàn)板厚75mm的鋼板時(shí)，按ZBJ74003標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。應(yīng)將試塊上直徑( )平底孔的第一次反射波高調(diào)到滿刻度的( )作為探傷靈敏度。249。按ZBJ7400388標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，作為缺陷的三種顯示情況是：F1( )FlB1、( ) (BlCSCL BCsCLCR C、CLCsCR D以上都不對287在下列不同類型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變?( B )A表面波 B、板波 C疏密波 D剪切波288超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生；( D ) A反射 B。折射 C、波型轉(zhuǎn)換 D以上都可能289超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生( B ) A只繞射無反射 B

33、既反射又繞射 C只反射無繞射290在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將( C ) A一樣 B、傳播橫波時(shí)大 C、傳播縱波時(shí)大 D似上A和C291當(dāng)溫度升高時(shí)，水的聲阻抗將( B ) A不變 B增大 C變小 D無規(guī)律變化292超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過波聲能的分配比例取決于( C ) A界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速 B界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù) C界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗 D以上全部293在同一界面上，聲強(qiáng)透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是( B )AT=r2 BT=1-r2 C.T=l+ r2 D.T=1-r294在同一界面上，聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率r之間的關(guān)系是( D ) AR

34、+T1 B丁1-R CR=1-T D以上全對295超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于( B ) A界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗 B界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速 C、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù) D以上全部296超聲波在水鋼界面上的反射角( B ) A等于入射角的14 B等于入射角 C、縱波反射角橫波反射角 D以上B和C297超聲波橫波傾斜入射至鋼水界面，則( D ) A縱波折射角大于入射角 且縱、橫波折射角均小于入射角 C、橫波折射角小于入射角 D以上全不對 ，298檢驗(yàn)鋼材用的K；2斜探頭，探測鋁材時(shí)，其K值將( C ) A大于2 B等于2 C小于2 D以上都可能299第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃(CL=

35、2700ms)，第二介質(zhì)為銅(CL4700ms；Cs=2300ms)則第II臨界角的表達(dá)式為( D ) A1=sin12700/4700 B、1=sin12700/2300 c。1=sin12300/2700 O以上都不對。*300當(dāng)超聲橫波入射至端角時(shí)，下面的敘述哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的?( B ) A反射橫波與入射波平行但方向相反 B入射角為30時(shí)反射率最高 C、入射角為45時(shí)，反射率高 D入射角為60時(shí)，皮射率最低301用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗(yàn)鋼板時(shí)，聲束進(jìn)入工件后將( B ) A因折射而發(fā)散 B、進(jìn)一步集聚 C、保持原聚焦?fàn)顩r D以上都可能302超聲波的擴(kuò)散衰減主要取決于( A ) A波陣面的

36、幾何形狀 B、材料的晶粒度 C材料的粘滯性 D以上全部303活塞波聲源，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極小值到聲源的距離為( B )：(N為近場區(qū)長度)AN BN2 C。N3 DN4304下列直探頭，在鋼中指向性最好的是( C ) A25P20Z B3P14Z C4P20Z D5P14Z305：下面有關(guān)半擴(kuò)散角的敘述中，哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的( B )? A、用第一零輻射角表示 B、為指向角的一半 C、與指向角相同 D是主聲束輻射錐角之半306超聲場的未擴(kuò)散區(qū)長度( C )?A。約等于近場長度 B、約等于近場長度06倍 C、約為近場長度16倍 D以上都可能307在探測條件相同的情況下，面積比為2的兩個(gè)平底孔，其

37、反射波高相差( A ) A6dB B12dB C9dB D3dB308在探測條件相同的情況下孔徑比為4的兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差( B ) A6dB B12dB C24dB D18dB309在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差( B ) A12dB B9dB C6dB D3dB310外徑在D，內(nèi)徑為d的空心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測如忽略耦合差異?則底波高度比為( D )。A.1 B.根號下D/d C.根號下(D一d)/2 D.D/d311一種超聲波探傷儀可直觀顯示出被檢工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，這種儀器顯示是( B )AA型顯示

38、 BB型顯示 CC型顯示 D以上都不是312A型顯示探傷儀，從熒光屏上可獲得的信息是( C )A缺陷取向 B、缺陷指示：長度 C、缺陷波幅和傳播時(shí)間 D以上全部313脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做( C )： A、發(fā)射電路 B、掃描電路 C、同步電路 D標(biāo)距電路314脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做( A )： A掃描電路 B觸發(fā)電路 C、同步電路 D發(fā)射電路315發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通常可達(dá)( A )：A幾百伏到上千伏 B.幾十伏 C.幾伏 D.1V316接收電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有( D )：A。幾百伏 B.100V左右 C.1

39、0V左右 D00011V317同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為( B )：A12個(gè) B數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè) C.與工作頻率相同 D以上都不對318調(diào)節(jié)儀器面版上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的( D ) A.垂直線性 B動態(tài)范圍 C.靈敏度 D以上全部319探頭中壓電晶片的基頻取決于( C )A .激勵(lì)電脈沖的寬度 B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小 C.晶片材料和厚度 D晶片的機(jī)電耦合系數(shù)320下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜( B )?A鈦酸鋇(CL=5470ms) B.鈮酸鋰(CL=7400ms) C.PZT(CL4400m/S)D鈦酸鈷(CL=4200ms)321下列壓電晶體中哪一種作高溫探頭較為

40、適合( C )?A。鈦酸鋇(丁c1)B.PZT-5(Tc365)C鈮酸鋰(Tc1200) D硫酸鋰(Tc75)322表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是( C ) A壓電電壓常數(shù)g33， B.機(jī)電耦合系數(shù)K C. 壓電應(yīng)變常數(shù)d33 D以上全部323窄脈沖探頭和普通探頭相比(D ) AQ值較小 B靈敏度較低 C.頻帶較寬 D以上全部324采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用于凹透鏡的條件是( C )：BAZlZ2 BC1C2 D，Z115Omm平方雙晶直探頭。放在試塊12mm處.把第一次底波調(diào)至熒屏50%.再提高10dB作為探傷靈敏度.有補(bǔ)償時(shí)加上。428按ZB

41、J7400388標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。對B150，F(xiàn)1亦很小的缺陷，如何測定缺陷邊界?答:應(yīng)向缺陷區(qū)外移動探頭、第一次底波升到5O%時(shí).探頭中心為邊界。429ZBJ7400388標(biāo)準(zhǔn)對缺陷的評定方法中依據(jù)哪些評定規(guī)則?答:有單個(gè)缺陷指示長度、單個(gè)缺陷指示面積、缺陷面積占有率430小口徑鋼管水浸探傷時(shí)，如何調(diào)節(jié)聲束入射角度?答:依靠調(diào)節(jié)偏心距來調(diào)整聲束入射角度,必須滿足CL1/CL2*RxCL1/CL2*r431小口徑管水浸聚焦法探傷時(shí)，為什么一般要求聲束在水中的焦點(diǎn)要落在管子的中心軸線上?答:為了獲得最佳入射條件,調(diào)節(jié)最佳水聲程實(shí)現(xiàn)(H=F一根號下R平方一x平方)432采用手工接觸法檢驗(yàn)鋼管時(shí)，JB 1

42、15073標(biāo)準(zhǔn)有什么要求?答:探頭與工件表面接觸良好、用試塊將人工缺陷波調(diào)至5O%、每根鋼管從兩個(gè)相反方向各探一次。433鍛件探傷中利用鍛件底波調(diào)節(jié)探傷靈敏度有什么好處?對鍛件有何要求?答:優(yōu)點(diǎn).不考慮探傷面耦合差補(bǔ)償、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償、不使用試塊。要求有工件厚度大于3N、工件底面與探傷面應(yīng)平行及光滑平整。434鍛件探傷時(shí)，什么情況下用當(dāng)量法定量?當(dāng)量法有幾種?答:對于尺寸小于聲束截面的缺陷。方法有:當(dāng)x3N區(qū)域內(nèi),可用當(dāng)量計(jì)算法或AVG曲線法。435.按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)的定義什么是密集缺陷?答:5Omm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷、在50X5Omm探測面同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)

43、或5個(gè)以上的缺陷。436按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)鋼鍛件時(shí)，如何記錄密集性缺?如何測定缺陷密集區(qū)面積?答:記錄當(dāng)量最大缺陷的位置和分布,餅形記錄大于&4mm當(dāng)量直徑的,其它鍛件記錄&3mm當(dāng)量直徑的。面積按50X50mm算。437何謂三角反射波?它有什么特征？答:用縱波直探頭徑向探測實(shí)心園柱體鍛件或棒材時(shí),由于探頭平面與柱面接觸面小,聲束擴(kuò)散角璔大,可能會在園柱面上形成三角反射路徑,在熒光屏上特定位置出現(xiàn)反射波為三角反射波。一般出現(xiàn)二次都在一次底波之后且位置固定。438。按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。檢驗(yàn)探傷面是曲面的鍛件時(shí)，什么情況下可不作曲面補(bǔ)償?答:釆用曲率與工件相同或相近的參考試塊

44、校正靈敏度、釆用NR/4的小直徑晶片的探頭。 439按JB 396385標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，鍛件探傷結(jié)束重新校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，如發(fā)現(xiàn)靈敏度有變化，應(yīng)如何處理?答:應(yīng)對以前所檢鍛件重檢,對所有記錄信號進(jìn)行重新評定。440焊縫檢驗(yàn)中，“一次波法”與“直射法”是否為同一概念?答:是,指在斜角探傷中,超聲束不經(jīng)工件底面反射而直接對準(zhǔn)缺陷的探測方法亦稱直射法。441.有人說，焊縫檢驗(yàn)中的“一次波法”與“一次反射法”是一回事。這種說法對嗎?答:不是,一次反射法又稱次波法。442“前沿距離”這一術(shù)語是否表示缺陷前沿距離?答:不是。前沿是斜探頭入射點(diǎn)到探頭底面前端的距離。缺陷前沿是斜探頭前端到缺陷在探傷面上投影點(diǎn)的距離。

45、443“水平距離”與“探頭焊縫距離”在數(shù)值上相等嗎?答:除非缺陷定位在焊縫中心線上,否則一般兩者數(shù)值不同。444簡述焊縫探傷中，選擇探頭K值應(yīng)依據(jù)哪些原則?答:能使聲束掃查整個(gè)焊縫截面、能使聲束中心線盡量與焊縫中主要缺陷垂直、保證有足夠的探傷靈敏度。445焊縫探傷時(shí)，斜探頭的基本掃查方式有哪些?各有什么主要作用?答:1.左右掃查可推斷縱向缺陷長度2.前后掃查可推斷缺陷深度和自身高度3.轉(zhuǎn)角掃查可判定缺陷方向性(以上結(jié)合可判定缺陷位置)4.環(huán)繞掃查可推斷缺陷形狀5.平行、斜平行或交叉掃查可探橫向缺陷6.串列式掃查可探平面狀缺陷446什么是距離一波幅曲線?簡述GBll34589標(biāo)準(zhǔn)“距離一波幅”曲

46、線的組成及作用?答:由判廢線、定量線、評定線組成。作用調(diào)整探傷靈敏度,判定缺陷大小、評級依據(jù),比較缺陷大小。447GB 1134589標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的缺陷指示長度的測定方法有幾種?各用于什么情況?答:6dB法用于只有一個(gè)缺陷反射波,端點(diǎn)峰值法用于波峰起伏變化有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),絕對靈敏度法用于最大反射波幅位于II區(qū)的缺陷、測長靈敏度用評定線靈敏度。448。板厚了66mm的鋼制壓力容器對接焊縫，按GB 1134589標(biāo)準(zhǔn)作B級檢驗(yàn)，試綜述哪些缺陷按I級驗(yàn)收不合格?五、計(jì)算題449鋁(A1)的縱波聲速為6300ms，橫波聲速為3100ms，試計(jì)算2MHz的聲波在鋁(A1)中的縱、橫波波長? *450銅(Cu)

47、的縱波聲速為4700ms，泊松比為035，試求其橫波聲速? 451甘油的密度為1270kgm3，縱波聲速為1900ms，試計(jì)算其聲阻抗?*452有機(jī)玻璃中縱波聲速為2730ms，鋼的表面波聲速為2980ms，如制作表面波斜探頭，入射角應(yīng)為多少度? 4535P2010K2斜探頭，楔塊中聲速CL12700ms，鋼中聲速C12=5900ms，；Cs23200ms，求探頭入射角為多少度? 454某種耐磨尼龍材料的聲速CL2200ms，如用該材料作斜探頭楔塊，檢驗(yàn)鋼焊縫(CL=5900ms，Cs=3200ms)試計(jì)算第一，第二臨界角各為多少度?*455鈦(Ti)材聲速CL=5990ms，Cs2960ms

48、，空氣中聲速CL340ms，試計(jì)算鈦材中 第臨界角為多少度? 456試計(jì)算5P14SJ探頭，在水中(CL1500ms)的指向角和近場區(qū)長度? 457。試計(jì)算頻率f5MHz，邊長13mm的方晶片，在鋼中(CL=5900ms)主聲束半擴(kuò)散角為多少度? ， 。 458不銹鋼與碳素鋼的聲阻抗差約為1，試計(jì)算聲波由不銹鋼進(jìn)入碳鋼時(shí)，復(fù)合界面上的聲壓反射率? 459超聲波垂直入射至水鋼界面，已知水的聲速CL11500ms，鋼中聲速CL2=5900ms，鋼密度27800kgm3，試計(jì)算界面聲強(qiáng)透過率? 460試計(jì)算25P1310K15斜探頭(楔中CLl=2700ms，聲程上LL1=15mm)，在鋼中(CL5

49、900msCs=3200ms)的近場長度? 461某工件厚度T240mm，測得第一次底波為屏高90，第二次底波為15，如忽略反射損失，試計(jì)算該材料的衰減系數(shù)? 462用25P20Z探頭，在CS一1型16號試塊上測得孔的反射波高為10dB，(測距250mm，孔徑4mm)。將探頭移到22#試塊上(測距250mm，孔徑6mm)，試通過計(jì)算估計(jì)該孔反射波高應(yīng)為多少dB? *463用2P 14K15斜探頭，探測鋼中(Cs3200ms)聲程均為200mm(楔塊中聲程忽略不計(jì))孔徑均為2mm的干底孔；橫孔、球孔。試計(jì)算說明哪個(gè)反射體的回波最高?反射波高各相差多少dB? 464用2P20Z直探頭，檢驗(yàn)厚度為3

50、40mm的餅形鋼鍛件，要求探傷靈敏度為4mm，如利用通過型AVG曲線以底波調(diào)整探傷靈敏度，試計(jì)算A和G? 465PZT一4的聲速CL4000ms，如制作頻率為25MHz的晶片，晶片的厚度應(yīng)為多少mm?*466。鈮酸鋰的聲速CL7400ms，PZT的頻率常數(shù)N，2200Hzm。如制成頻率相同的晶片，兩者的厚度比為多少? 467用充水探頭，采用三次重合法檢驗(yàn)T60mm厚的鋼板，水層厚度應(yīng)調(diào)節(jié)為大約多少mm? 468用25P 20Z探頭，按ZBJ740088標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)T150mm厚鋼板(CL=5900ms)，如何用鋼板完好部位底波調(diào)整探傷靈敏度?*469采用充水探頭(25MHz20mm)，用三次重合法

51、檢驗(yàn)T80mm厚鋼板已知水中CL1500ms，鋼中CL=5900ms，求鋼中近場長度?*470采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼板，已知水中CL2=1500ms，鋼中CL3=5900ms，水層厚度H60mm。欲使超聲束聚焦于鋼板上表面以下10mm處，選用聲速CL1=2600ms的環(huán)氧樹脂作聲透鏡，試計(jì)算透鏡曲徑? 471對鈦鋼復(fù)合板，在復(fù)層一側(cè)作接觸法檢驗(yàn)已知鈦與鋼，的聲阻抗差約為40試計(jì)算復(fù)合層界面回波與底波相差多少dB? 472直徑300mm，壁厚20mm的鋼管，作周向斜角探傷，采用K2的斜探頭合適嗎? 473采用K=2的斜探頭，對外徑為600mm的鋼管作接觸法周向探傷，能掃查到的最大壁厚為多少mm?

52、 474對外徑60mm的鋼管，作水浸法周向探傷。欲使鋼中橫波折射角400求偏心距應(yīng)為多少mm?(鋼中CL5900ms，Cs3200ms；水中CL=1500ms)。 475對605mm鋼管作水浸聚焦法周向探傷，調(diào)節(jié)偏心距J9mm是否合適?(鋼；CL=5900ms，Cs=3200m/S；水：CL=1500ms)。*476用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)50 50mm的鋼管，透鏡材料為環(huán)氧樹脂(CL=2650ms)，要求水層厚度15mm，偏心距X=8mm，試計(jì)算透鏡的曲率半徑?(水中CL=1500ms)。*477用水浸聚焦法檢驗(yàn)42 5mm小口徑鋼管，有機(jī)玻璃透鏡曲率半徑為22mm試求偏心距(平均值)和水層距離?

53、 (有機(jī)玻璃：CL2700ms；水CL1500ms；鋼：CL5900ms，CL3200ms)。*478規(guī)格為32020mm的大口徑鋼管，用單斜探頭作周向檢驗(yàn)。楔塊底面磨成與鋼管曲面相吻合后，探測鋼管內(nèi)表面校準(zhǔn)槽，測得一次波聲程為30mm。試計(jì)算修磨后探頭折射角為多少度? 479用25P 20Z探頭檢驗(yàn)厚度為335mm的餅形鋼鍛件(C5900ms)。(1)如用工件底波調(diào)節(jié)探傷靈敏度(5c2mm)，底波應(yīng)調(diào)節(jié)到多少dB? (2)檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，深215mm，波幅27dB。缺陷的當(dāng)量多大?480用25P 14Z直探頭，對直徑為600mm的鋼軸鍛件作徑向檢驗(yàn)，鋼中CL=5900ms材料衰減系數(shù)=0005dBmm。(1)如何用工件底波調(diào)節(jié)探傷靈敏度(=2mm)? (2)檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷：深200mm波幅30dB，求其當(dāng)量多大?481.用25P4Z直探頭檢驗(yàn)外徑1100mm，壁厚200mm筒形鋼鍛件(Cl5900ms)。 (1)在外圓周作徑向探傷時(shí)，如何用內(nèi)壁曲面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度(2mm)。 (2)在內(nèi)壁作徑向探傷時(shí)，如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度(2mm)?482用25P 20Z直探頭檢驗(yàn)厚300mm的鋼鍛件鋼的CL5900ms衰減系數(shù)001dBo 如用試塊(衰減可忽略)上的深20