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文檔簡介

1、第二章 原子發射光譜法應用化學系第二章第二章 原子發射光譜法原子發射光譜法l1 概述l2 原子發射光譜分析基本原理l3 激發光源l4 光譜儀l5 光譜分析方法l6 準確度、靈敏度與檢出限1 概述l一、發射光譜分析的特點l1.多元素同時分析、分析速度快l2.靈敏度高(檢出限低)l 0.110ppm, 110-8 110-9 gl3.選擇性好l4.準確度高l 相對誤差 5 20 % ,適用于痕量元素分析l5.用樣量少l 幾毫克 幾十毫克1 概述l二、發射光譜分析發展簡史l1859年德國學者基爾霍夫(Kirchhoff)和本生(Bensen) 分光鏡;l隨后30年定性分析; l二十世紀初,光譜理論發

2、展;l1930年以后定量分析;l二十世紀50年代,發展緩慢;l二十世紀70年代,ICP發展。2 原子發射光譜分析基本原理l一、原子結構l二、原子能級和能級圖l三、譜線強度l四、光譜背景一、原子結構l原子由原子核與核外電子所組成。l根據量子力學原理,原子的運動狀態可用薛定諤方程來描述。l電子的運動狀態可用四個量子數來描述。l 主量子數:nl 角量子數:ll 磁量子數:ml 自旋磁量子數:ms二 原子能級和能級圖l原子處于一定的狀態,具有一定的能量(能級)l 原子一般處于基態。激發態不穩定,壽命約 10-8sl 原子由高能級返回低能級,釋放出多余的能量hEEE12l原子發射的譜線有其特征性,是由其

3、能級所決定的,這是進行定性分析的基礎l 原子線-原子外層電子躍遷l 離子線-離子外層電子躍遷l均可用于發射光譜分析二 原子能級和能級圖氫原子的能級圖二 原子能級和能級圖l線系:l 萊曼系、巴爾末系、帕邢系、布喇開系、封特系。l共振線:l主共振線:l例:求氫原子由第三能級(n=3)躍遷至基態(n=1)時發射譜線的波長。二 原子能級和能級圖l解:)53.13(50. 113EEE)eV(03.12)erg(10927. 111erg)10602. 1eV1 (12271110625. 610927. 1hE)Hz(1091. 215)nm( 1 .103)m(10031. 11091. 21037

4、158c二 原子能級和能級圖鈉原子的能級圖二 原子能級和能級圖鎂原子的能級圖三 譜線強度l1.玻爾茲曼分布定律kTEiiieggNN00ijijiijhANIkTEijijiijieNhAggI00bacI l在一定條件下,基態原子與元素濃度成正比,譜線強度與元素濃度成線性關系-定量分析的基礎l影響因素較多-穩定性較差l實際分析采用相對(比較)的方法l2.譜線強度四、光譜背景 光譜背景產生的原因 1.分子輻射; 2.固體發射的連續光譜; 3.離子復合過程產生輻射; 4.譜線的擴散; 5.雜散光。3 激發光源l一、概述l 提供使試樣變成原子蒸氣和使原子激發所需要的能量。l1.蒸發l2.激發l 包

5、括離子線。l對發射光譜分析的性能有很大的影響。一 概述基本要求l1.檢出限低l2.靈敏度高l3.有良好的穩定性和再現性l4.光譜背景小l5.基體干擾小l6.對試樣破壞性小l7.分析速度快 l二 火焰l火焰光譜法 火焰光度計l1.優點l 設備簡單,穩定性好,分析速度快,可直接分析溶液。l2.缺點l 溫度低,測定元素少,干擾嚴重。三 電弧l1.氣體中的電流l 電弧-在大氣壓下兩電極間的一種氣體放電現象。l(1)非自持放電l(2)自持放電l等離子體:包含有分子、原子、離子、電子等各種粒子的集合體。三 電弧l2.直流電弧l2.1基本線路l高壓直流電弧l低壓直流電弧l 引燃方式:l (1)直接引燃l (

6、2)間接引燃l (3)高頻火花引燃三 電弧高頻火花引燃線路三 電弧l2.直流電弧l2.2直流電弧的特性l(1)電弧放電的伏安特性三 電弧l2.直流電弧l2.2直流電弧的特性l(2)穩定性l 加入鎮流電阻RGVVEIREVGGRREIl電弧在電極表面不停移動三 電弧l2.直流電弧l2.2直流電弧的特性l(3)溫度 弧溫較低(40007000K)l(4)陽極斑與陰極層效應l 陽極斑l在直流電孤中,由于電子受到極間電場的加速不斷以高速轟擊陽極,使陽極白熱,產生溫度很高的陽極斑”,使陽極溫度比陰極高。例如炭弧陽極溫度為4300K,陰極為3300K。三 電弧l(4)陽極斑與陰極層效應l 陰極層效應 l在

7、直流電孤中,原子處于離子狀態時,受電場作用會向陰極遷移。當試樣放在陰極激發時,因質子受電場作用向下遷移的速度往往比因熱傳導而向上運動的速度要快,所以就造成待測元素在陰極附近聚集,濃度提高。這種現象稱為陰極層效應。三 電弧l2.直流電弧l2.3直流電弧的特點及應用l特點:l 蒸發能力強,檢出限低(30004000K)l 干擾小l 穩定性差l 自吸嚴重l 弧溫較低(40007000K)l適用于純金屬及合金、礦物礦石的分析。三 電弧l3.交流電弧l3.1基本線路l高壓交流電弧l低壓交流電弧l 高頻引燃線路必須始終工作,保證每半個周期至少有一次引燃電弧。三 電弧l3.交流電弧l3.2交流電弧的放電特性

8、l (1)放電呈間歇性l 等離子體溫度高,激發能力強l 電極溫度低,檢出限差l 穩定性好l (2)試樣具有交替的極性三 電弧l3.交流電弧l3.3交流電弧的特點及應用l特點:介于直流電弧和火花之間l 溫度l 檢出限l 穩定性l 自吸四四 火花火花l電極間不連續的氣體放電-與電弧有區別l電容積蓄能量,擊穿氣體放電221cVW l1.高壓火花l基本線路l特點l 線路簡單l 溫度高l 自吸小 l 穩定性差四四 火花火花l2.控制火花3.高頻火花四四 火花火花l4.低壓火花四四 火花火花l5.火花放電的特點l5.1穩定性優于電弧,l5.2電流密度大,溫度高(10000K以上)l5.3自吸比較小,l5.

9、4電極頭溫度比較低,可分析金屬、合金,l5.5檢出限差,l5.6背景較大,l5.7預燃時間較長,分析速度較慢。l 穩定性l 電極溫度(弧溫)l 電極頭溫度l 弧層厚度(自吸)l直流電弧-交流電弧-低壓火花-高壓火花 電光源性能的比較電光源性能的比較五五 ICP光源光源l電感耦合等離子體(ICP)光源lICP(Inductively coupled plasma)l1.概述l經典光源的缺點:l (1)檢出能力差 110ppml (2)精密度差 相對標準偏差(RSD)l 金屬、合金 57%l 巖石、礦物 1020%l 痕量元素 2030%五五 ICP光源光源l優點:l 激發能力強,檢出限低l 精密

10、度好l 線性范圍寬l 干擾少l 不用電極l2.工作原理 l2.1 ICP炬五五 ICP光源光源l 冷卻氣l 等離子氣l 載氣2.2 ICP放電特性l(1)趨膚效應與環狀結構l(2)溫度分布l 感應區(約10000K)l 預熱區l 初輻射區(約8000K)l 標準分析區(約6500K)l 尾焰五五 ICP光源光源l3.儀器裝置l3.1 炬管部分l冷卻氣l等離子氣l載氣五五 ICP光源光源l3.2高頻電源 高頻發生器l (1)頻率:27.120MHzl (2)輸出功率:5002000Wl (3)穩定:波動小于0.3%l3.3進樣系統l (1)氣動霧化器l (2)超聲霧化器五五 ICP光源光源l氣動

11、霧化器五五 ICP光源光源4 光譜儀光譜儀一 概述二 照明系統三 棱鏡攝譜儀四 光柵色散原理五 光柵光譜儀的光學特性六 光柵光譜儀一一 概述概述l 能夠把復合光分解為按照波長順序排列的單色光(光譜),并進行觀測或記錄的儀器-光譜儀(攝譜儀)l一般分為三個部分:l照明系統l色散系統l成像系統 照明系統 準光系統 色散系統 聚焦系統二二 照明系統照明系統l作用:使光源所發出的光均勻照明狹縫。l要求:l(1)充分利用光能;l(2)均勻照明狹縫;l(3)能夠截取光源的某一部分照明;l(4)使進入狹縫的光充滿準光鏡和色散元件。l1.直接照明 “漸暈”現象二二 照明系統照明系統l2.單透鏡照明系統二二 照

12、明系統照明系統l3.三透鏡照明系統l消色差透鏡三三 棱鏡攝譜儀棱鏡攝譜儀l光譜儀的光學特性l 色散率l 分辨率l 集光本領l棱鏡光譜儀l (攝譜儀)l棱鏡三三 棱鏡攝譜儀棱鏡攝譜儀l1.棱鏡的色散l折射定律rninsinsin21 42CBAn 42sinsinCBAnri三三 棱鏡攝譜儀棱鏡攝譜儀l2.光譜儀的光學特性l2.1棱鏡光譜儀的色散率l(1)棱鏡的角色散率ddl(2)棱鏡光譜儀的線色散率ddll單位:mm/nm。l與棱鏡的角色散率和聚焦物鏡的焦距有關。l也常用倒數線色散率,單位:nm/mm。三三 棱鏡攝譜儀棱鏡攝譜儀l2.棱鏡光譜儀的光學特性l2.2棱鏡光譜儀的分辨率l瑞利判據:l

13、分辨率R的定義:dR 三三 棱鏡攝譜儀棱鏡攝譜儀l2.棱鏡光譜儀的光學特性l2.3集光本領l 表示光譜儀光學系統傳遞輻射能的能力。l 一般用入射狹縫的光源亮度為一個單位時在焦面上所得到的照度來表示(單位面積上的輻射通量),與聚焦物鏡的相對孔徑的平方成正比。2fd四四 光柵色散原理光柵色散原理l1.光柵l透射光柵 反射光柵l2.光柵色散原理l 干涉:l - 入射角;l - 衍射角;l d - 光柵常數;l n - 光譜級次。l光柵方程:l 干涉 明nd)sin(sin四四 光柵色散原理光柵色散原理l 衍射l 暗masin四四 光柵色散原理光柵色散原理l綜合效果四四 光柵色散原理光柵色散原理l對兩

14、束不同波長的單色光:l3.閃耀光柵l 3.1平面閃耀光柵四四 光柵色散原理光柵色散原理l譜線的位置由干涉現象所決定,強度由衍射現象所決定。l3.2 閃耀角和閃耀波長id sin2四四 光柵色散原理光柵色散原理l光柵的性質由i、d、a等所決定,光強最大的位置出現在=- 的方向上。l光柵方程:cossin2)(idnnbl3.3 閃耀光柵的光強分布)1()1(122122bbnn四四 光柵色散原理光柵色散原理l1.光柵光譜儀的色散率l1.1 光柵的角色散率cosdnddcosdnfddlnfddldcos五五 光柵光譜儀的光學特性光柵光譜儀的光學特性l 1.2 光譜儀的線色散率l 倒數線色散率 l

15、 特點 l2. 光柵光譜儀的分辨率l 分辨率的定義RnNR 五五 光柵光譜儀的光學特性光柵光譜儀的光學特性l 光柵的分辨率l 特點l 實際分辨率 l 提高實際分辨率的措施五五 光柵光譜儀的光學特性光柵光譜儀的光學特性l 實際分辨率往往小于理論分辨率,可通過實際譜線的測定來確定實際分辨率。l 如鐵三線:Fe310.067、310.030、309.997nm,410033. 000.310dRl 提高實際分辨率的措施:l (1)減小狹縫寬度;l (2)盡量使光充滿光柵;l (3)使用乳劑顆粒細而均勻的感光板。l1.常見光路結構l1.1立特魯型(自準式)六六 光柵光譜儀光柵光譜儀l1.常見光路結構l

16、1.2艾伯特-法斯提型六六 光柵光譜儀光柵光譜儀l1.常見光路結構l1.3卻尼-特爾納型六六 光柵光譜儀光柵光譜儀l1.常見光路結構l1.4 WPG-100型一米平面光柵攝譜儀六六 光柵光譜儀光柵光譜儀l2.譜級重疊與譜級分離l 譜級重疊nd)sin(sin六六 光柵光譜儀光柵光譜儀l 譜級分離l 濾光片l 感光板l 分級器l3.光柵轉角與中心波長l 光柵轉角-入射光與光柵平面法線的夾角即入射角。l 中心波長l 對于自準式或垂直對稱式光路結構:中心六六 光柵光譜儀光柵光譜儀sin2dn中心l3.光柵轉角與中心波長l 例:某一光柵,閃耀角為20,刻線數為1200條/mm,當光柵轉角為10 、 2

17、0時其一級光譜的中心波長分別為多少?l解:六六 光柵光譜儀光柵光譜儀nm4 .28910sin101200126中心mmd12001nm0 .57020sin101200126中心一、照相檢測法二、光源中的過程三、光譜定量分析四、光譜定性和半定量分析5 光譜分析方法1.感光板的組成 片基-玻璃片 乳劑層-鹵化銀、明膠、增感劑組成。厚度為1025m,鹵化銀粒徑0.13m。 常用溴化銀晶體。 防暈層-吸收透過玻璃片的譜線。一、照相檢測法2.感光作用曝光形成顯影中心;在顯影劑作用下,含有顯影中心的溴化銀晶體迅速被還原為金屬銀,形成清晰的像。eBrhBrAgeAg一、照相檢測法3.乳劑的特性3.1黑度

18、tEH0iiT iiTS0lg1lg一、照相檢測法3.乳劑的特性3.2乳劑特性曲線l 黑度l 反襯度iHHHSilg)lg(lgl 展度l 霧翳黑度l 惰延量一、照相檢測法3.乳劑的特性3.3乳劑的靈敏度 一般靈敏度 光譜靈敏度 以達到一定黑度所需的曝光量為依據。2 . 0OST01SHS1 . 0DIN049. 0lg10SHS一、照相檢測法乳劑的分類 末增感乳劑或普通乳劑 一般250500nm 正色和等正色乳劑 加入增感劑,可達580nm 等色乳劑 加入增感劑,可達640nm 全色和等全色乳劑 可達670700nm 紅外乳劑 I,II,III,可達 750,800,840nm 紫外增感乳劑

19、 在紫外方向可擴展到200nm一、照相檢測法3.乳劑的特性3.4相板的分辨率 相板上1mm寬度內可以分辨開的等距離的平行線條的數目。 與乳劑層中鹵化銀晶粒的大小有關。 相板的分辨率應與光譜儀的分辨率相適應。一、照相檢測法4.乳劑特性曲線的制作4.1譜線組法 以lgI代替lgH作圖,繪制乳劑特性曲線,對曲線形狀沒有影響。 選取一組波長相近、相對強度已知的譜線,測其黑度,繪制S lgI 關系曲線。 譜線的相對強度應不受溫度波動的影響,而且自吸很小。一、照相檢測法一、照相檢測法4.乳劑特性曲線的制作4.2階梯減光板法 階梯減光板是在一塊水晶薄片的不同部位噴涂上不同密度的鉑層制成的,有三階、六階、九階

20、等幾種,其中九階梯減光板適用于制作乳劑特性曲線。 制作特性曲線時,將九階減光板插在狹縫前,然后以較長的曝光時間攝譜,曝光時間應延長為正常曝光的810倍。一、照相檢測法4.乳劑特性曲線的制作4.2階梯減光板法 攝譜時應采用電弧光源,并以純鐵作電極,因為純鐵譜線豐富,可根據要求,作出各個波段的特性曲線。 九階減光板的第一階和第九階不涂鉑層,其透光率為100,可用來考察照明的均勻性,中間七階分別噴涂上不同密度的鉑層,因而每一條譜線可以測得八個黑度值(一、九階譜線黑度應相同)。一、照相檢測法4.乳劑特性曲線的制作4.2階梯減光板法 以lgT代替lgH作圖,繪制乳劑特性曲線,對曲線形狀沒有影響。 通常,

21、測量一條譜線的九個階梯只能制作特性曲線的一部分,因此應選擇波長接近、黑度相差較大的幾條譜線,分別作出特性曲線的各部分,然后接成完整的特性曲線。一、照相檢測法一、照相檢測法l 哈特曼光欄一、照相檢測法l5.感光板的暗室處理l5.1顯影l5.1.1顯影作用l 還原劑還原。一、照相檢測法l5.1.2顯影液的成分和作用l(1)顯影劑l 即還原劑,常用米多爾、海德爾。l 對硫酸鉀氨基酚 對苯二酚l(2)促進劑l 堿性物質,氫氧化鈉、碳酸鈉、硼砂等。l(3)保護劑l 保護顯影劑,常用亞硫酸鈉。l(4)抑制劑l 抑制霧翳,常用溴化鉀。一、照相檢測法l5.感光板的暗室處理l5.1顯影l5.1.3顯影液的選擇一

22、、照相檢測法l 5.感光板的暗室處理l5.1顯影l5.1.4顯影液的配制l(1)順序l(2)溫度l(3)容器l(4)保存一、照相檢測法l5.1.5注意的問題l(1)時間l(2)溫度l 一般 1821l(3)攪拌l 5.感光板的暗室處理l5.2定影l5.2.1定影液的成分和作用l(1)定影劑l 溶解剩余的鹵化銀,常用硫代硫酸鈉。l(2)酸l 中和顯影液帶來的堿;使堅膜劑充分發揮作用。常用醋酸、硼酸等。一、照相檢測法l 5.感光板的暗室處理l5.2定影l5.2.1定影液的成分和作用l(3)保護劑l 保護硫代硫酸鈉,常用亞硫酸鈉。l(4)堅膜劑l 使乳劑層硬化,常用明礬、鉻礬等。O24HSOKSOA

23、l242342一、照相檢測法l 5.2.2注意的問題l(1)時間:一般為通透時間的兩倍。l 通透時間:從定影開始至可見痕跡完全消失、乳劑透明所需的時間。l(2)溫度l 一般 20左右l(3)攪拌一、照相檢測法l 5.感光板的暗室處理l5.3水洗及干燥l 流水沖洗。l 無塵、自然干燥。l 如需加熱,溫度不能過高。一、照相檢測法l 6.照相檢測法的優點l6.1可同時記錄一定波長范圍的所有譜線。l6.2可延長曝光時間,降低檢出限。l6.3在紫外、可見光區有較高的靈敏度。l6.4價格低。l6.5缺點:操作煩瑣,分析速度慢;l 應嚴格控制操作條件。一、照相檢測法 1. 蒸發過程 1.1蒸發曲線二二 光源

24、中的過程光源中的過程 分餾效應 1. 蒸發過程 1.2預燃曲線 (燃燒曲線) 預燃時間二二 光源中的過程光源中的過程 1. 蒸發過程 1.3元素及其化合物的揮發性 可從蒸發曲線了解各元素的揮發性。 對氧化物,可分為四類: (1)極易揮發元素(沸點500C) (2)易揮發元素(沸點2300C)二二 光源中的過程光源中的過程 (3)中等揮發元素(沸點3500C) (4)難揮發元素(沸點 3500C) 1.4電極形狀對蒸發過程的影響二二 光源中的過程光源中的過程 2. 激發過程 2.1解離平衡YXXYmYXdnnnK mXXnnn 對譜線強度的影響不大。二二 光源中的過程光源中的過程 2. 激發過程

25、 2.2電離平衡eXXaeiinnnK aiinnn 對激發平衡和譜線強度有很大影響。二二 光源中的過程光源中的過程 2. 激發過程 2.3激發平衡 玻爾茲曼分布定律kTEiiieggNN00kTEijijiijieNhAggI00二二 光源中的過程光源中的過程 2. 激發過程 2.4譜線強度miannnniainnnmaannn)1 (1)1 (nna)1 (1nninegghAIKTEiijijiji0)1 (1)1 (二二 光源中的過程光源中的過程 3. 基體效應 所有成分(元素)對被測元素干擾效應的總和。 3.1蒸發干擾 分餾效應的影響。經典光源中主要的干擾之一。 3.2解離干擾 因光

26、源溫度很高,一般影響不大。二二 光源中的過程光源中的過程 3. 基體效應 3.3電離干擾 影響電離平衡,從而影響原子和離子的濃度,也是主要的干擾之一。 3.4激發干擾 主要是溫度的影響。 經典光源中主要的干擾之一。二二 光源中的過程光源中的過程 4. 光譜添加劑 減小基體效應,提高分析結果的靈敏度和準確度。 4.1光譜緩沖劑 使試樣和基體成分趨于一致,揮發性質趨于一致,穩定電弧溫度(電極溫度和等離子體溫度),改進光譜分析的準確度。二二 光源中的過程光源中的過程 4. 光譜添加劑 4.2揮發劑 提高待測元素揮發性的物質,常用的是鹵化物和硫化物。 去揮發劑:降低元素的揮發性,常用碳粉。 4.3載體

27、 易揮發的物質,促進微量待測元素的揮發,主要用于難熔物質的分析。 4.4稀釋劑二二 光源中的過程光源中的過程 4.5對光譜添加劑的要求 (1)光譜簡單; (2)增強譜線強度,維持等離子體溫度; (3)具有較好的物理、化學性質; (4)易于研磨,價格低; (5)用量:一般1:11:10(1:50 1:100) 載體一般小于25%。 需要通過實驗確定。二二 光源中的過程光源中的過程 5. 譜線的自吸和自蝕 原子發射的譜線又被同類原子所吸收的現象。 5.1自吸 自吸-相同溫度 發射線強度降低,半寬度增大二二 光源中的過程光源中的過程 5.2自蝕 自蝕-不同溫度 (吸收原子的溫度較低) 譜線中心強度反

28、轉 a.高溫發射 b.低溫吸收 c.低溫發射 d.綜合效果二二 光源中的過程光源中的過程 1. 光譜定量分析基本關系式 賽伯-羅馬金公式三三 光譜定量分析光譜定量分析bacI cbaIlglglg 2. 內標法 2.1基本原理 抵消光源波動所帶來的影響。 在標準樣品和試樣中加入相同量的內標元素,測量分析線和內標線的強度比。1111bcaI 22222acaIbbbaccaaIIR112121cbaRlglglg三三 光譜定量分析光譜定量分析 2. 內標法 攝譜法1111lgiISIEH2222lgiISRIIIISSSlglglglg21221121cbaSlglg三三 光譜定量分析光譜定量分

29、析 2. 內標法 2.2內標元素的選擇 (1)內標元素與分析元素的蒸發行為相同; (2)內標元素的含量一定(試樣及標樣中不含內標元素); (3)內標元素應不含分析元素; (4)內標元素與分析元素的電離能相同(近); (5)有時可選擇基體元素作為內標元素。三三 光譜定量分析光譜定量分析 2. 內標法 2.3分析線對的選擇 (1)內標線與分析線具有相近的激發能; (2)內標線與分析線同為原子線或離子線; (3)內標線與分析線應不受其它譜線的干擾,沒有自吸或自吸很小; (4)用照相法檢測時,內標線與分析線波長應盡量接近。三三 光譜定量分析光譜定量分析 3. 定量分析方法 3.1(三)標準試樣法 常用

30、的方法,使用三個或三個以上的標準樣品。cbaIlglglgcbaRlglglgcbaSlglg三三 光譜定量分析光譜定量分析 3. 定量分析方法 3.2標準加入法 對少量樣品或低含量樣品,可采用標準加入法。 優點:可消除基體干擾。三三 光譜定量分析光譜定量分析 4. 光譜干擾及其扣除 4.1光譜背景產生的原因 (1)分子輻射; (2)固體發射的連續光譜; (3)離子復合過程產生輻射; (4)譜線的擴散; (5)雜散光。三三 光譜定量分析光譜定量分析 4. 光譜干擾及其扣除 4.2扣除背景 按照強度相減的方法扣除背景。 I l = I l+B I B 對于照相檢測法,不能按黑度相減,應由黑度求得

31、強度后再扣除。iIrs lg risI10三三 光譜定量分析光譜定量分析 1. 光譜定性分析 1.1元素的靈敏線、最后線、分析線 1.2標準試樣光譜比較法 1.3鐵光譜比較法 標準光譜圖-波長標尺四四 光譜定性及半定量分析光譜定性及半定量分析四四 光譜定性及半定量分析光譜定性及半定量分析 2. 光譜半定量分析 2.1比較黑度法(目視比較法) 標準系列與試樣同時攝譜 2.2譜線出現法 當某元素的濃度逐漸增加時,該元素的譜線強度增加,且譜線的數目亦增多。找出這些譜線剛出現時的濃度,制做譜線出現表。 例如Pb元素的譜線出現表:四四 光譜定性及半定量分析光譜定性及半定量分析四四 光譜定性及半定量分析光譜定性及半定量分析 一、光譜定量分析的靈敏度和檢出限 1.靈敏度 靈敏度:校正曲線的斜率 2.檢出限 檢出限:以適當的置信度檢測的被測物的最低濃度或最低量。置信度一般為99.7%(3) 測定限: 6106 準確度、靈敏度與檢出限 二、光譜定量分析的準確度和精密度 1.準確度: 2.精密度 6 準確度、靈敏度與檢出限l 映譜儀l 哈特曼光欄全譜直讀等離子體光譜儀 采用CID陣列檢測器,可同時檢測165800nm波長范圍內出現的全部譜線;lCID:電荷注入式檢測器(charge injection detector,CID), 28

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