1、ASME員爐及壓力容器規國際性規V無損檢測2004 版泄漏檢、八、刖言“ ASME鍋爐及壓力容器規”是美國機械工程師協會于1911年成立的鍋爐及壓力容 器委員會所制定的，目的在于提供控制設計、制造和檢測等質量的有關規則。這些規則 平衡了用戶、制造商和檢測師的要求，并為鍋爐和壓力容器在使用中保留了一定的安全 裕度，為防止破損和對生命財產安全提供合理可靠的保證。一、第V卷容第V卷分為A B兩個分卷。A分卷無損檢測方法第1章通用要求第2章射線照相檢測第3章金屬鑄件的射線照相檢測第4章在役檢查的超聲檢測方法第5章材料和制造的超聲檢測方法第6章液體滲透檢測第7章磁粉檢測第8章管材制品的渦流檢測第9章目視

2、檢測第10章泄漏檢測第11章纖維一增強環氧樹脂容器聲發射檢測第12章加壓試驗時金屬容器的聲發射檢測二、第1章通用要求注：通用要求即是對第2章12章都適用的要求。T 110適用圍注：本章所包含的無損檢測是其它規篇章或參照文件特別提到和要求引用的方法和規 要求。這些無損檢測方法是：(1) 射線照相檢測(2) 超聲波檢測(3) 液體滲透檢測(4) 磁粉檢測(5) 渦流檢測(6) 目視檢測(7) 泄漏檢測(8) 聲發射檢測以上這些無損檢測方法用于檢測的對象是： 材料、焊縫和加工零部件的 表面和在的 瑕疵(或叫缺陷)。T120總則注：從10個方面提出了 A (或B)分卷的使用原則和有關規定。T130設備

3、注：規無損檢測單位和無損檢測人員應負責保證使用本規要求的檢驗設備。T150規程(a) 本規所涉及的無損檢驗方法在正常情況下對制造過程中遇到的大部分幾何形狀和材料都是適用的。(b) 當本規的其它篇章要求按本篇章規定進行檢驗時，制造廠、生產廠或安 裝廠有責任按規有關卷的要求制定出無損檢驗規程及人員資格鑒定規程。(c) 當本規的有關篇章提出要求時，所有按本篇進行無損檢驗都必須按照書面的 規程執行。注：規是指“ ASME鍋爐及壓力容器規”。T160校驗(a) 制造廠、制造商、安裝單位應保證所有設備按 A分卷和/或B分卷要求進行校 驗。(b) 在編制專用規和時，當要求校驗時，生產廠、制造商或安裝單位要規

4、定什么 校驗是必須的。注：設備、計量器具都必須按要求進行校驗。 T170 檢驗與檢查(a) 與容器和受壓部件制造有關的檢查員應有責任作出充分核實，確證根據規 有關篇章的要求進行的全部檢驗工作已按本篇和規有關篇章的要求執行。他有權要 求見證本規有關篇章所提出的任一項檢驗。在本篇章中檢查員一詞是指具備本規各 有關篇章中所規定資格的授權檢驗師。(b) “檢查”這個術語用于授權檢驗師的職責，而“檢驗”這個術語用于制造廠所 雇用的人員進行質量控制的職責。注：“檢驗”是無損檢測人員的職責，而“檢查”是授權檢驗師的職責，他對無損 檢測人員和無損檢測工作進行監督和見證。T180評定注：每種無損檢測方法必須依據

5、驗收標準進行檢測結果的評定，因此，規的各有關 篇章中都應有驗收標準的容。T190記錄/文件記錄/文件應符合規各有關篇章及本篇規中 A和/或B分卷的有關要求。規無損 檢測單位和無損檢測人對記錄/文件負責。三、第10章泄漏試驗本章中包括了正文和10個強制性附錄和一個非強制性附錄。正文規定了采用ASME規進行各種泄漏檢測時的總要求。對各種泄漏檢測技術在相應的強制性附錄中有詳細的 規定，而有關檢測規程、設備、檢定、評定，檢測文件等正文中都作了一般性的規定。T 1010適用圍注：當本規的有關卷規定采用第 10章的泄漏方法或技術時，應同時采用第 1 章的一般要求。即只要采用第10章的泄漏方法或技術時，必須

6、和第 1章同時采用。本章的強制性附錄如下：附錄I氣泡試驗一一直接加壓法附錄U氣泡試驗一一真空罩法附錄川鹵素二極管檢漏儀探頭試驗附錄w氦質譜試驗一一檢漏儀探關技術附錄V氦質譜試驗一一示蹤探頭技術附錄切壓力變更試驗附錄術語匯總附錄毗熱電導檢測儀探頭試驗附錄區氦質譜試驗一一護罩技術附錄X超聲波泄漏試驗公式符號附錄A增補的泄漏試驗公式符號T1020總則注：規定泄漏檢測應按書面檢測規程進行。T1021書面規程要求T1021.1 要求書面規程必須詳細、實用。書面檢測規程的要最低要求，其容詳見相應的強制性附 錄。書面規程要求對重要變素和非重要變素應規定單一值或數值圍。T1021.2要求的修改T1021.3規

7、程鑒定書面規程應予鑒定，如果規程中重要變素有變化，應予重新鑒定。T1022有關規注：當有關規規定對受檢的部件采用泄漏檢測方法及其技術時，有關規中的下列要求應在檢測及其管理中予以考慮：(a)人員的資格/證書；(b)技術/校準標準(c)檢驗圍(d)可接受的試驗靈敏度或泄漏率(e)報告要求記錄的保存T1030設備注：對設備的一般規定僅僅是對壓力計的要求。T1031 壓力計壓力計要：量程：刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的 1倍半至4倍。位置：無論與檢測對象連接較近，還是較遠，都應該保證檢測人員在對檢測部件充 壓、抽空、或者檢測過程中能夠全面觀察到壓力計的變化，以便安全地控制檢測全過程。 對于大型容器或者

8、復雜系統等檢測對象規規定需要一個或多個壓力計時，規推薦采用記錄式壓力計，它可以替代兩個或更多個指示式壓力計中之一。T1040 其他要求注：規規定檢測部位表面清潔度、檢測系統開口處密封材料、檢測部位的濕度、檢 測部件的壓力極限等。T1041清潔度受檢部件必須作清潔處理，保持干燥，檢測部位表面無油脂、油漆等污染物。T1042開孔開孔處密封材料要求不含示蹤氣體，并在檢測后易于去除。T1043溫度檢測時的最低溫度或最高溫度應不超過所采用泄漏檢測方法或技術所允許的溫度。T1044壓力/真空（壓力極限）壓力/真空（極限壓力）要求需作泄漏檢測的部件應在 不超過設計壓力的25%勺壓 力下進行，但規有關卷另有規

9、定除外。T1050規程T1051預泄漏試驗規要求在采用高靈敏度檢漏之前可先作一次簡便的預檢，以檢出和消除一些大的泄漏，但應注意預檢不得封閉漏孔，影響正規檢漏。T 1052 試驗順序規推薦泄漏檢測應安排在水壓試驗和液壓氣動試驗之前。T1060校準注：檢漏設備的校準是泄漏檢測安全、有效的可靠保證。這里所謂“校準”應理解 為計量檢定，表示設備向高一級精度校準。T 1061 壓力/真空計注：壓力/真空計應該計量檢定，除非另有規定，每年至少重新檢定一次 。檢定結 果必須符合制造廠商所列的精度。 壓力/真空計在使用期間發生差錯，必須隨時送檢 。 T1062溫度測量裝置溫度測量裝置也應按規定送檢。 T106

10、3校準泄漏標準注：規定了標準漏孔的檢定和漏率圍T1063.1滲透型泄漏標準注：滲透型標準漏孔應是氦氣經滲透穿過薄膜的漏孔，它應具有：1x10-7pa?m/s1x 10-11pa? m/s的氦漏率，并應檢定合格。T1063.2毛細管型泄漏標準注：毛細管型標準漏孔應是使示蹤氣體穿過一個毛細管的漏孔。它應具有與所要求的檢測靈敏度和示蹤氣體的實際百分比濃度的乘積相等或更小的漏率，應檢定合格。 T1070試驗(檢測)注：這里試驗就是檢測。規對檢漏技術的具體要求分別在強制性附錄中作出了規定。T1080評定注：規對檢漏技術檢測結果評定的依據是驗收標準。T 1081 驗收標準注：各種檢漏技術的驗收標準在強制性

11、附錄中都分別給出，除非另有規定，這些驗 收標準應予采用。T1090文件注：文件主要是指試驗報告或叫檢測報告。T1091試驗報告注：規規定了檢漏試驗報告至少應括以下容：(a) 檢測日期；(b) 操作者的資格等級和；(c) 檢測規程(編號)和修訂號；(d) 檢測方法或技術；(e) 檢測結果；部件編號；(g) 檢測儀器、標準漏孔和材料識別號；(h) 檢測工況、檢測壓力、示蹤氣體和氣體濃度；(I ) 壓力計一一制造廠、型號、量程和編號；(j ) 溫度測量裝置和編號；(k)表示檢漏方法和技術布置的草圖。 T1092記錄保存(應按本規有關卷的要求保存)四、附錄I氣泡試驗一一直接加壓技術I1000 引言I

12、1010適用圍注：本附錄適用于受檢部件采用充壓的方法進行氣泡檢漏的技術。I1020總則I1021書面規程要求變素一一引起檢測條件、檢測方法和檢測技術變化的因素。注：規定了書面檢測規程的要求，見(表I 1021),表中列出了重要變素有：氣 泡形成溶液、表面溫度、表面制備技術、照明強度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要 變素有：溶液注施器、加壓氣體、試驗后的清洗技術、人員鑒定要求等項。此外，書面 規程還包括下列規定的要求：(a) 浸泡時間；(b) 壓力表；(c) 試驗壓力；(d) 驗收標準。書面規程的鑒定則按第10章總則的規定處理。I 1030通用要求I1031 氣體注：檢漏氣體為空氣，也可用惰性氣

13、體。當用惰性氣體時，要注意缺氧時檢測人員 的安全。I 1032起泡溶液注：起泡溶液應采用檢漏專用的溶液。形成起泡的溶液應能適應檢測條件下的溫度。I 1033浸泡池注：采用浸泡池方法檢漏時，應采用水或其他適當的溶液。浸泡池應能適應檢測條 件下的溫度。I1070試驗規定了檢漏時的具體要求。I 1071 浸泡時間注：應至少保持壓力的時間15mi n。因為壓力的變化會影響產生氣泡的大小、數量和速率，最終影響檢測結果。I 1072表面溫度注：受檢部件表面溫度應保持在 4C520C圍。只要在圍，允許對部件局部加熱或 冷卻。如果超出圍，必須驗證檢漏結果，因為表面溫度是重要變素。I 1073施加溶液注：施加溶

14、液到待檢部位應避免操作不當產生氣泡，以免與泄漏產生的氣泡混淆， 造成錯判或誤判。I 1074浸入溶池注：被檢表面應低于溶池的液面，并在易于觀察的位置。I 1075照明和目視器材注：觀察泄漏氣泡的目視要求同 ASMEfi第9章目視檢驗的要求。觀察方式分為兩 種：第一種，直接目視檢驗(T 952)要求肉眼觀察待檢表面距離不超過 610mm視角 不小于300。視角不便觀察時也可采用反光鏡改善觀察角度。待檢部位照明強度至少 1000IX。光源和光強按規定要驗證，驗證結果要記錄于文件，保存備查。第二種，遠距 離目視檢驗(T 953)可以借助適當的目視器材，如反光鏡、望遠鏡、窺鏡、光導纖維、 照相機等。但

15、應注意目視器材的分辨率與檢測要求相當。I 1076泄漏顯示注：當被檢件表面有連續氣泡出現就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。I 1077試驗后的清洗注：檢漏以后的部件應根據產品性能決定是否清洗。I1080評定I 1081 泄漏注：除非相關產品設計文件或采購技術條件另有規定，若未觀察到被檢區域有連續的氣泡形成，則可驗收。I 1082返修/重新試驗注：當觀察到有泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關產品設計文 件或采購技術條件的規定返修泄漏處。所有經返修的區域，應按要求重新檢測。五、附錄H氣泡試驗一一真空罩技術n 1000 引言n 1010適用圍注：適用于不能直接加壓的部件，采用真空罩技術對

16、部件的局部待檢部位進行氣泡 檢漏。n 1020總則n 1021書面規程要求注：規定了書面檢測規程的要求，見(表n 1021)，表中列出了重要變素有：氣 泡形成溶液、表面溫度、表面制備技術、照明強度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要 變素有：真空罩(尺寸和外形)、真空源、溶液注施器、試驗后的清洗技術、人員鑒定 要求等項。此外，書面規程還包括下列規定的要求：(a) 壓力表；(b) 真空試驗壓力；(c) 真空保持時間；(d) 真空罩重疊；(e) 驗收標準。書面規程的鑒定則按第10章總則的規定處理。n 1030設備n 1031 起泡溶液注：起泡溶液應采用檢漏專用的溶液。形成起泡的溶液應能適應檢測條件下的

17、溫度。n 1032真空罩注：應具有適當的尺寸，例如長 762mm寬152mm該尺寸應與待檢的局部區域相 適應；應具有頂視窗口，罩口應有墊圈與待檢表面密封，并配有連接頭、閥門、照明以 及測量用的真空計，真空計量程應為 0103Pa或與其相當的壓力單位0760mmHg由 于真空罩技術壓力不高，因而壓力計量程限度不受規正文T1031要求的限制。n 1033真空源注：真空罩所要求的真空可用適當的方法獲得，如空氣噴吸器、真空泵或電動機帶 動的抽氣裝置等。真空計應能指示出至少大氣壓以下13.8kPa。或按規有關卷的規定。n 1070試驗n 1071 表面溫度注：受檢部件表面溫度應保持在 4C520C圍。只

18、要在圍，允許對部件局部加熱或 冷卻。如果超出圍，必須驗證檢漏結果，因為表面溫度是重要變素。n 1072施加溶液注：在真空罩放置之前，應將起泡溶液施加到被試驗的表面上，可用流布、噴涂或 刷涂的方法施加到被檢表面。n 1073真空罩的放置注：真空罩應放置在涂有起泡溶液的被檢表面上，然后將罩抽真空至所要求的真空 度。n 1074保壓（真空）注：在檢測中，所要求的真空度（壓力差）至少應保持10s。n 1075真空罩的覆蓋注：每一相鄰區域的檢測，真空罩的放置應至少有50mm勺覆蓋。n 1076照明和目視器材注：與附錄I氣泡試驗一一直接加壓技術中的 （I 1075照明和目視器材）相同。 n 1077 泄漏

19、顯示注：當被檢件表面有連續氣泡出現就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。n 1078試驗后的清洗注：檢測后為了達到產品的使用性能，可能要進行清洗。n 1080評定 n 1081 泄漏注：除非相關產品設計文件或采購技術條件另有規定，若未觀察到被檢區域有連續的氣泡形成，則可驗收。n 1082返修/重新試驗注：當觀察到有泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關產品設計文 件或采購技術條件的規定返修泄漏處。所有經返修的區域，應按要求重新檢測。六、附錄w 氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術注：所謂“探測器探頭技術”也就是國常指的氦質譜吸氦法或嗅吸探頭法，“探測器探頭”也就是吸槍。IV1000 引言IV 1

20、010適用圍注：適用于氦質譜法用探測器探頭對充氦的部件進行檢漏的技術。探測器探頭技術是一種半定量技術，因此只能適用于定位而不能用作定量。IV1020 總則IV 1021書面規程要求注：規定了探測器探頭技術書面規程要求和規程鑒定要求。書面規程要求見T1021.1和表V 1021。表中列出了：五項重要變素，氦質譜檢漏儀和探測器探頭的制造 廠和型式、表面制備技術、受檢部件金屬溫度、人員技能鑒定；六項非重要變素，加壓 氣體（空氣或惰性氣體）、掃查速率、信號發生裝置、掃查方向、試驗后的清理技術和 人員鑒定要求。此外還規定了下列規程要求：（a）設備泄漏標準（檢漏儀標準漏孔漏率）;（b）系統泄漏標準（檢測系

21、統標準漏孔漏率）;（c）示蹤氣體；（d）示蹤氣體濃度；（e）試驗壓力（充氦壓力）;（f）浸泡時間（保壓時間）；(g) 掃查距離；(h) 壓力表；(i) 靈敏度驗證核查；(j) 驗收標準。上述規程鑒定的要求應按第10章總則的規定處理 IV1030 設備IV 1031 儀器注：應采用靈敏度比較高的氦質譜檢漏儀，并采用下述一種或幾種信號裝置來指示 泄漏現象：儀表、音響裝置、指示燈。IV 1032 輔助設備 注：一一穩壓器。當電源電壓有波動時，應在儀器上接一個穩壓器；探測器探頭。所有被檢部位都應用探測器探頭掃查。探頭用一段軟管與儀 器相連接，為了縮短響應時間和凈化時間，軟管的長度一般應不超過4570m

22、mV 1033校準泄漏標準注：校準泄漏標準(校準漏孔)應采用符合 T1063.1或T1063.2的滲透型標準 或毛細管型標準漏孔。采用校準漏孔的類型應根據檢漏儀、檢測靈敏度的要求或按本規 有關卷的規定。IV1060 校準IV 1061儀器校準注：在用已經檢定的標準漏孔對檢漏儀校準之前儀器應通電預熱，預熱的最少時間 應按照檢漏儀制造廠的規定。校準檢漏儀時用T1033.1所述的滲透型標準漏孔，使儀 器處于最佳或最合適的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1 x 10-10Pa? nVs。IV 1062系統校準注：(1) 標準漏孔大小 被檢系統校準時應采用毛細管型標準漏孔作為校準漏孔，由 于毛細管型標

23、準漏孔漏率用的是100%8濃度，因此要換算成檢測系統檢漏時所用的氦濃度，則檢測系統毛細管型標準漏孔的最大漏率Q應按下式計算:QsoTG100式中Q為毛細管型標準漏孔漏率，%TG檢漏所用的氦濃度。(2) 掃描(查)速率 將探測器探頭與檢漏儀連接后，在進行檢測前的被檢系統 校準時，應將探測器探頭嘴在校準漏孔上掃查，掃查時，探測器探頭嘴與校準漏孔應保 持在3.2mm以，以測得泄漏率為Q時掃查速率為準。對被檢系統的掃查應不超過能檢出 校準漏孔泄漏率為Q的速率。(3) 探測時間(響應時間)在被檢系統校準時，應記錄檢漏儀輸出信號達到穩定所需要的時間，即響應時間。這是對部件檢漏確定漏孔的定位時間，應該越短越

24、好， 以減少確定泄漏位置所需的時間(4) 校準頻度和靈敏度指被檢系統靈敏度的校準次數，規定在檢測前和檢測后應該校準，檢測中間應每隔2小時校準一次。若不能檢出V 1062 .2所述的泄漏Q 則儀器要重新校準，并且從上一次合格的校準核查以及所有檢測部位均應重作檢測。 IV 1070試驗(檢測) IV 1071試驗場所注：檢測場所應注意避免過分通風，以免使檢測所需的靈敏度降低。IV 1072示蹤氣體濃度注：除非本規有關卷另有規定， 氦示蹤氣體的濃度在檢測壓力下，應至少為10%體積濃度。IV 1073保壓時間注：檢測之前，檢測壓力應至少先保持30min,保壓的目的是被檢件氦氣濃度均勻。 當出現下述情況

25、時，氦氣會迅速擴散，這時允許保壓時間少于30mi n。（a）采用特殊的臨時性密封裝置（例如抽氣罩）檢測開口部件。（b）充氦加壓前已部分抽空的部件。V1074掃描（查）距離注：在達到要求的保壓時間后，探測器探頭嘴應在被檢件表面上方通過。掃查時探 頭嘴與被檢表面的距離應保持在 3.2mm以。若被檢系統校準時采用更小的距離，貝U掃查 時的距離不應超過該距離。IV1075掃描（查）速率注：最大的掃查速率應按V 1062 .2確定。IV1076掃描（查）方向注：檢測時，掃查應從被檢件最下部開始，然后漸次向上，因為氦氣比空氣輕。IV 1077泄漏檢出注：采用檢漏儀的（儀表、音響裝置、指示燈）中一種或幾種信

26、號裝置來指示泄漏 檢出。IV1078應用（略）IV1080 評定V 1081 泄漏注：除本規有關卷另有規定之外，若檢出的泄漏率 不超過1 x 10-5Pa? nVs的允許 漏率，則該被檢測的區域應可驗收。IV 1082 返修/復檢注：當檢測出不能驗收的泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關產 品設計文件或采購技術條件的規定返修泄漏處。所有經返修的區域，應按要求重新檢測。七、附錄V氦質譜儀試驗示蹤探頭技術注：所謂“示蹤探頭技術”也就是國常指的氦質譜噴氦法，“示蹤探頭”也就是噴槍。V 1010適用圍注：適用于氦質譜法用示蹤探頭對抽空部件進行檢漏的技術。示蹤探頭技術是一種半定量技術，因此只

27、能適用于定位而不能用作定量。V 1020總則V 1021書面規程要求注:規定了示蹤探頭技術書面規程要求和規程鑒定要求。 書面規程要求見T1021.1 和表V 1021。表中列出了：五項重要變素，氦質譜檢漏儀和示蹤探頭的制造廠和型式、 表面制備技術、受檢部件金屬溫度、人員技能鑒定；七項非重要變素，示蹤探頭流量率、 掃查速率、信號發生裝置、掃查方向、真空泵系統、試驗后的清理技術和人員鑒定要求。 此外還規定了下列規程要求：（a）設備泄漏標準（檢漏儀標準漏孔漏率）;（b）系統泄漏標準（檢測系統標準漏孔漏率）；（c）示蹤氣體；（d）真空試驗壓力；(e) 真空計量；(f) 浸泡時間；(g) 掃查距離；(h

28、) 靈敏度驗證核查；(i) 驗收標準。上述規程鑒定的要求應按第10章總則的規定處理。V 1030設備V 1031 儀器注：應采用靈敏度比較高的氦質譜檢漏儀，并采用下述一種或幾種信號裝置來指示 泄漏現象：儀表、音響裝置、指示燈。V 1032輔助設備注：(a)穩壓器。當電源電壓有波動時，應在儀器上接一個穩壓器；(b)輔助泵系統。當測試設備的大小需求使用輔助真空泵系統，真空泵系統的絕對壓力和泵速應能使檢測靈敏度和響應量時間達到要求。(c) 集流腔。 就是用作正確連接儀器真空計、輔助泵、標準漏孔和檢測部件 的管道和閥門系統。(d) 示蹤探頭。用一根輸送氦氣的導管，一端連接100%8氣源，另一端為帶 有

29、調節閥的細小開口，如同噴槍。(e) 護罩。一種適用的罩子或容器，帶有通孔以便連接接頭。(f) 真空計。真空計的量程應能測量檢漏系統的絕對壓力，真空計的位置應 在檢測系統中遠離泵系統的抽氣口。V 1033校準泄漏標準注：校準泄漏標準(校準漏孔)應采用符合 T1063.1或T1063.2的滲透型標準 或毛細管型標準漏孔。采用校準漏孔的類型應根據檢漏儀、檢測靈敏度的要求或按本規 有關卷的規定。V 1060校準V 1061儀器校準注：在用已經檢定的標準漏孔對檢漏儀校準之前儀器應通電預熱，預熱的最少時間 應按照檢漏儀制造廠的規定。校準檢漏儀時用T1033.1所述的滲透型標準漏孔，使儀 器處于最佳或最合適

30、的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1 x 10-10Pa? mVs。V 1062系統校準注：(1) 標準漏孔大小V 1033所述的已校準的標準漏孔(毛細管型標準漏孔)應 附接在待檢部件上，并盡可能遠離檢漏儀與部件的連接處，這樣才能真實反應實際漏孔的漏率。標準漏孔在校準檢測系統時應保持開放(打開)。(2) 掃描(查)速率 抽空后的被檢件達到足夠的真空度時，將氦質譜儀連接到 被檢系統。把示蹤探頭嘴橫過校準漏孔(探頭嘴應離校準漏孔6mm以)對被檢系統進行 校準。在實際檢測中，對于示蹤探頭中純氦(100%的已知流速，被檢系統的掃查速率 不應超過能檢出校準漏孔泄漏率的速度。(3) 檢測時間 在被檢系統

31、校準時，應記錄檢漏儀標準漏孔輸出信號達到穩定所 需要的時間叫檢測時間(即響應時間)。這是對部件檢漏確定漏孔的定位時間，應該越 短越好，以減少確定泄漏位置所需的時間。(4) 校準頻度和靈敏度指被檢系統靈敏度的校準次數，規定在檢測前和檢測后 應該校準，檢測中間應每隔4小時校準一次。若不能檢出W 1062 .2所述的泄漏Q 則儀器要重新校準，并且從上一次合格的校準核查以及所有檢測部位均應重作檢測。V 1070試驗（檢測）V 1071 掃描（查）速率注：最大的掃查速率應V 1062 .2確定。V 1072掃描（查）方向注：檢測時，掃查應從被檢件最上部開始，然后漸次向下掃查，因為氦氣比空氣輕。V 107

32、3掃描（查）距離注：示蹤探頭應在被檢件表面上掃過，掃查時探頭嘴與被檢件表面距離應保持在 6mm以。若被檢系統校準時米用更小的距離，貝U掃查時的距離不應超過該距離。V 1074泄漏探測（檢出）注：采用檢漏儀的（儀表、音響裝置、指示燈）中一種或幾種信號裝置來指示泄漏 檢出。V 1075流率（氦流量）注：最小流率（可由示蹤探頭閥門調節） 應如V 1062 .2設置。V 1080評定V 1081 泄漏注：除本規有關卷另有規定之外，若檢出的泄漏率 不超過1 x 10-6Pa? nVs的允許 漏率，則該被檢測的區域應可驗收。V 1082 返修/復檢注：當檢測出不能驗收的泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件

33、降壓，按相關產 品設計文件或采購技術條件的規定返修泄漏處。所有經返修的區域，應按要求重新檢測。八、附錄區氦質譜儀試驗一一護罩技術IX 1010適用圍注：適用于氦質譜法用充氦護罩對抽空部件進行檢漏的技術。護罩技術是一種定量 測量技術。X1020總則注：書面規程要求規定了護罩技術書面規程要求和規程鑒定要求。書面規程要求見T1021.1和表X1021。表中列出了：五項重要變素，設備制造和型號、表面制備技術、受檢部件金屬 溫度、確定護罩中示蹤氣體最小濃度的技術、人員技能鑒定；四項非重要變素，護罩材 料、真空泵系統、試驗后的清理技術和人員鑒定要求。此外還規定了下列規程要求：（a）設備泄漏標準（檢漏儀標準

34、漏孔漏率）；（b）系統泄漏標準（檢測系統標準漏孔漏率）；（c）真空計量；（d）驗收標準。上述規程鑒定的要求應按第10章總則的規定處理。X1030設備注：關于氦質譜檢漏儀的要求與上述附錄W或附錄V樣。關于輔助設備同樣有對（a）穩壓器；（b）輔助泵系統；（c）集流腔；（d）護罩；（e）真空計等項要求。關于標準漏孔則明確規定應采用滲透型標準漏孔。標準漏孔的最大漏率應為：1x 10-7pa? m/s。除非本規有關卷另有規定。X1050工藝注：規定了護罩檢漏技術的工藝要求。其一，對于低的氦質譜儀流率（氦漏率低）、長響應時間的被檢系統(體積較大或管路較長的被檢系統)，氦氣會滲透進入非金屬密 封部位(例如橡

35、膠密封墊圈)導致檢測結果不符合實際情況(造成本底增大或非漏孔泄 漏)。如果可能，推薦在上述密封部位進行護罩技術檢漏，以排除護罩氦氣因被檢系統 密封不好而影響檢測結果。其二，對于重復檢漏或先前檢漏的對比檢漏，此時初步系統 靈敏度校準可以省略。IX1060 校準注：關于氦質譜檢漏儀的校準要求與上述附錄W或附錄V樣。系統校準(1) 標準漏孔 應帶有100%屯氦氣，經計量檢定或校準后與待檢部件連接，連接 部位應有遠離儀器與部件的連接處，這樣才能真實反應實際漏孔的漏率。(2) 響應時間 應記錄系統的響應時間，即打開標準漏孔至檢漏儀有穩定讀數的 時間，此時穩定讀數刻度記為 M。(3) 本底讀數 測定響應時

36、間后應記錄系統的本底讀數，即系統的背景噪聲讀數。這是儀器在關閉標準漏孔后的穩定讀數刻度，記為M。(4) 初始靈敏度校準 系統初始靈敏度應按下式計算：M1 M 2式中：S1 初始靈敏度，Pa m3/s/刻度;CL 標準漏孔的泄漏率，Pa m / s。如檢測系統設備設置有變化，輔助泵旁路氦氣分壓有變化，標準漏孔有變化等都應 重新校準。初始校準后標準漏孔關閉。(5) 最終靈敏度校準 在被檢系統完成檢測后，且被檢件仍處于護罩中，在標準 漏孔關閉的情況下，記下儀器在響應時間后穩定的輸出讀數記為M。然后再次打開標準漏孔可得到一個增大的儀器穩定讀數 M。最終系統靈敏度S2應按下式計算：S2CLM 4 M 3

37、式中：S2 最終靈敏度，Pa m3/s/刻度;CL 標準漏孔的泄漏率，Pa m / s。如果最終靈敏度S2減小到初始靈敏度S的35%以下，儀器應進行清洗或修理，并重 新校準，然后對被檢件重新檢測。X 1070試驗(檢測)注：護罩技術用于檢漏分為標準技術和替代技術兩種。X 1071 標準技術注：規定單壁部件或零件可用塑料材料制作護罩。初始校準后護罩充以示蹤氣體氦 氣，氦氣的濃度應予確定或估計。測量系統的持續時間應等于或大于系統的響應時間。 最終校準后的系統所測到的泄漏率分為三種檢漏情況確定。(a)當M=M時，系統泄漏率應記為：“低的系統可探測圍”(小于被檢系統可檢測 圍)，檢漏項目合格。（b）當

38、M3M2 （被檢系統泄漏率大于本底值）時，被檢系統泄漏率Q按下式計算確疋:S2 M 3 M 21000TG3Pa m /s式中：%T（是護罩中示蹤氣體氦氣的濃度。（c）當M超過被檢系統可探測圍時，亦即輸出信號離開儀表分度區，此時被檢系統 泄漏率應記為“大于系統可探測圍”（大于被檢系統可檢測圍），檢漏項目不合格。 IX 1072替代技術注：對于以泄漏率單位Pa m3/s為儀表指示的氦質譜檢漏儀，替代技術利用系統修 正因子SCF取代標準技術中所述的儀表讀數刻度。初始校準和最終校準相應的系統修正 因子PSCF和FSCF分別由下列公式計算：PSCF CL. M1 M 2FSCF CL. M 4 M 3

39、FSCF M3 M21003 ,Pa m / s同樣如FSCF=35%PSC，儀器應進行清洗或修理，并重新校準，然后對被檢件重新 檢測。可見替代技術與標準技術小異，系統測得的泄漏率同樣按下式確定：00TGX 1080評定注：護罩技術檢漏的驗收標準為：1 x 10-7 Pa? m/s，但規有關卷另有規定除外。 本附錄還規定，如果泄漏率超出允許值，所有焊縫和其他可疑部位都應采用示蹤探頭技 術重檢。所作的重檢部位標記（或密封處）應易于清除。泄漏的部件應按規定要求處理, 如部件返修，所有經返修的區域，應按要求重新檢測。九、附錄W壓力變更試驗注：所謂“壓力變更”即為壓力變化。W 1010適用圍注：適用于

40、檢測密封容器（或被檢件的分界面）在特定的壓力或真空環境下的漏率。 當采用此方法時，可以采用諸如壓力控制、絕對壓力、壓力保持、壓力喪失、壓力衰減、 壓力升高和真空保持等方法。這些檢測規定在單位時間的壓力、體積百分比的最大許可 改變或單位時間的質量改變。1020總則注：書面規程要求規定了壓力變更技術書面規程要求和規程鑒定要求。書面規程要求見T1021.1和表1021。表中列出了：五項重要變素，壓力計或真空計制造廠商和型號、表面制備 技術、受檢部件金屬溫度、使用的溫度測量設備制造廠商和型號、人員技能鑒定；三項 非重要變素，使用的抽真空系統、試驗后的清理技術和人員鑒定要求。此外還規定了下 列規程要求：

41、（a）試驗/真空試驗壓力；（b）浸泡時間（保壓時間）;（c）試驗持續時間；（d）記錄（時間）間隔；（e）驗收標準。上述規程鑒定的要求應按第10章總則的規定處理。1030設備1031壓力測量儀表注：（a）壓力計量程 刻度指示和記錄型壓力計的量程應符合 T 1013（a）的要求, 液柱式壓力計或波登管式壓力表的整個量程均可使用。（b）壓力計位置 壓力計的位置應按T 1031（b）所述。（c）壓力計類型壓力變更檢測中可采用常規或絕對壓力計（指示式和記錄式 壓力表/真空表）。當要求更高精度時，可采用液柱式壓力計或波登管式壓力表。所采用 的壓力表應具有與驗收標準相適應的精度、分辨力和重復性。1032溫度

42、測量儀注：當用干球或露點溫度測量儀時，應具有與泄漏驗收標準相適應的精度。分辨力 和重復性。1060校準W 1061壓力測量儀注：所有刻度指示、記錄型和波登管式壓力計應按 T 1061（b）校準。液體壓力計的 標定應由已經國家標準校準的標準來校準（如果有這樣的國家標準）。1062溫度測量儀注干球或露點溫度測量儀應由已經國家標準校準的標準來校準（如果有這樣的國家標準）。1070試驗（檢測）1071 加壓注：若被檢件需在高于大氣壓力的情況下檢測時，應按T1044規定加壓。W 1072抽真空注：若被檢件需在真空情況下檢測時，應至少抽真空至絕對壓力13.8kPa或按照本規有關卷的要。W 1073試驗（檢

43、測）持續時間注：保持檢測壓力（或真空）的持續時間應按本規有關卷的規定。若無規定，則應 根據被檢件或被檢系統的漏率大小、且在本規有關卷所要求的精度來確定檢測持續時 間。對于很小的部件或系統，幾分鐘的持續時間可能已經足夠；但對于大的部件或系統， 需要作出溫度和水蒸氣校正，則可能要求若干小時的持續時間。1074小的加壓系統注：對于很小的加壓系統，如密封墊空隙，僅能測量其系統（金屬）的溫度，為達 到溫度穩定，在加壓完成后、開始檢測以前，應至少有15min的保持時間。1075大的加壓系統注：對于大的加壓系統的溫度穩定，其部氣體溫度是在加壓完成后測量的，在檢測 開始之前應測定部氣體的溫度是否已經穩定。10

44、76試驗（檢測）開始注：檢測開始時應記錄最初的溫度和壓力（或真空），然后每隔一定時間（不超過 60mi n）均作記錄，真到規定的檢測時間結束。1077主要變素（注意事項）注：(a)當要求對大氣壓的變化進行補償時，就采用絕對壓力表或常規壓力表和氣 壓計作檢測壓力的測量。(b)當本規有關卷有要求時，或水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結果時，應測 量部的露點或相對濕度。1080評定1081可驗收的檢測注：若壓力變化或泄漏率等于或小于本規有關卷規定，則被檢件可以驗收。1082應拒收的檢測注：若壓力變化或泄漏率超過本規有關卷規定，則檢測的結果不能認為滿意，則該 被檢件拒收。并可用強制性附錄上所述的其他方法確

45、定泄漏的位置。在確定漏率超標的 原因、并按本規有關卷進行返修之后，應重新進行原先的檢測。F面進行復習ASME鍋爐及壓力容器規復習容問答題:1“ ASME鍋爐及壓力容器規”是由哪個國家制定的，目的是什么 ？答：“ ASME鍋爐及壓力容器規”是美國機械工程師協會于1911年成立的鍋爐及壓力容器委員會所制定的，目的在于提供控制設計、制造和檢測等質量的有關規則。2. ASM第V卷“第1章 通用要求”規定的無損檢測方法有哪些 ？答：這些無損檢測方法是：（1）射線照相檢測；（2）超聲波檢測；（3）液體滲透檢測；（4）磁粉檢測；（5）渦流檢測；（6）目視檢測；（7）泄漏檢測；（8）聲發射檢測。3. ASM第

46、V卷“第1章通用要求”規定的無損檢測方法用于檢測的對象是什么 ？答：用于檢測的對象是：材料、焊縫和加工零部件的表面和在的瑕疵（缺陷） 。4. ASM標準中的“檢驗”與“檢查”怎樣理解 ？答：“檢驗”是無損檢測人員的職責，而“檢查”是授權檢驗師的職責，他對無損檢測人員和無損檢測工作進行監督和見證。5. ASME“第10章 泄漏試驗”要求壓力計應安放在什么位置 ？答：無論與檢測對象連接較近，還是較遠，都應該保證檢測人員在對檢測部件充壓、 抽空、或者檢測過程中能夠全面觀察到壓力計的變化。6. “ ASM氣泡試驗一一直接加壓技術”怎么樣判定受檢部位有穿透性針孔泄漏 ？答：當被檢件表面有連續氣泡出現就表

47、示受檢部位有穿透性針孔泄漏。7. ASME“氦質譜儀試驗一一護罩技術”系統校準有哪些容？答：（1）測響應時間；（2）測本底讀數；（3）初始靈敏度校準；（4）最終靈敏度 校準。8. 簡述ASME“壓力變更試驗”適用圍。答：適用于檢測密封容器在特定的壓力或真空環境下的漏率。判斷題：1. ASM要求每種無損檢測方法必須依據驗收標準進行檢測結果的評定。（+）2. ASME第10章泄漏試驗”包括了正文和10個強制性附錄和一個非強制性附錄。（+）3. ASME“第10章 泄漏試驗”規定檢測時的最低溫度或最高溫度應不超過所采用泄漏 檢測方法或技術所允許的溫度。（+）4. ASM“第10章 泄漏試驗”要求需作

48、泄漏檢測的部件應在不超過設計壓力的 25%勺壓 力下進行。（-）5. ASM“第10章 泄漏試驗”要求需作泄漏檢測的部件應在不超過設計壓力的 25%勺壓 力下進行，但規有關卷另有規定除外。（+）6. ASME第 10章 泄漏試驗”推薦泄漏檢測應安排在水壓試驗和液壓氣動試驗之前。（+）7. ASM“第10章 泄漏試驗” 規定毛細管型標準漏孔應具有與所要求的檢測靈敏度和示蹤氣體的實際百分比濃度的乘積相等或更小的漏率，應檢定合格。（+）8“ ASM氣泡試驗一一直接加壓技術”適用于受檢部件采用充壓的方法進行氣泡檢漏的 技術。（+）9. “ASM氣泡試驗直接加壓技術”規定應至少保持壓力的時間15min。

49、（+）10“ASME氣泡試驗一一直接加壓技術”規定受檢部件表面溫度應在4C520C圍。（+）11 “ ASM氣泡試驗一一真空罩技術”適用于不能直接加壓的部件。（+）12“ ASME氣泡試驗一一真空罩技術” 在檢測中，所要求的真空度（壓力差）至少應保 持 10s。（ +）13“ASME氣泡試驗一一真空罩技術”每一相鄰區域的檢測，真空罩的放置應至少有50mm 的覆蓋。（+）14. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術”適用于氦質譜法用探測器探頭對充氦的部件進行檢漏的技術。（+）種定量技術。（-）種半定量技術。（+）探頭用一段軟管與儀器相連接，軟管規定被檢系統靈敏度的校準在檢測前 次。（+）除非本

50、規有關卷另有規定，氦示蹤氣（+）規定檢測時，掃查應從被檢件最上部規定檢測時，掃查應從被檢件最下部15. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術”是16. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術”是17. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術” 的長度一般應不超過4570mm （+）18. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術” 和檢測后應該校準，檢測中間應每隔 2小時校準19. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術”體的濃度在檢測壓力下，應至少為10淋積濃度。20. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術” 開始，然后漸次向下。（-）21. ASM“氦質譜儀試驗一一探測器探頭技術”開始，

51、然后漸次向上。（+）22. ASM“氦質譜儀試驗一一示蹤探頭技術”適用于氦質譜法用示蹤探頭對抽空部件 進行檢漏的技術。（+）23. ASM“氦質譜儀試驗一一示蹤探頭技術”是一種半定量技術。（+）24. ASM“氦質譜儀試驗 示蹤探頭技術”在被檢系統校準時，檢漏儀標準漏孔輸 出信號達到穩定所需要的時間叫檢測時間（即響應時間）。（+）25. ASM“氦質譜儀試驗示蹤探頭技術”被檢系統靈敏度的校準規定在檢測前和 檢測后應該校準，檢測中間應每隔 4小時校準一次。（+）26. ASM“氦質譜儀試驗一一示蹤探頭技術”檢測時，掃查應從被檢件最上部開始， 然后漸次向下掃查。（+）27. ASM“氦質譜儀試驗一

52、一示蹤探頭技術”掃查時探頭嘴與被檢件表面距離應保持在6mm以。（+）28. ASM“氦質譜儀試驗一一護罩技術”適用于氦質譜法用充氦護罩對抽空部件進行 檢漏的技術。（+）29. ASM“氦質譜儀試驗一一護罩技術”是一種半定量測量技術。（-）29. ASM“氦質譜儀試驗一一護罩技術”是一種定量測量技術。（+）30. ASM“氦質譜儀試驗一一護罩技術”明確規定應采用滲透型標準漏孔。（+）31. ASM“氦質譜儀試驗一一護罩技術”規定如果最終靈敏度S減小到初始靈敏度S的35%下，儀器應進行清洗或修理，并重新校準，然后對被檢件重新檢測。（+）32. ASM“壓力變更試驗”規定在加壓完成后、開始檢測以前，應至少有15min的保持 時間。（+）33. ASM“壓力變更試驗”規定被檢容器水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結果時，應測 量部的露點或相對濕度。（+）擇題選:1. ASM“第10章 泄漏試驗”對壓力計量程的要：（A）。A:刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的1倍半至4倍；B:刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的1倍至2倍；C:刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的1倍至3倍；D:刻度圍應與檢漏所需的最大壓力相等。2. ASME“第10章 泄漏試驗” 規定，除非另有規定壓力/真空計應：（B）。A:每一年半至少重新檢定一次；B:每年至少重