JIS C 6122-3-1-2011 光學放大器.試驗方法.第3-1部分-噪音指數參數.光學頻譜分析儀方法_第1頁
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C6122-3-1:2011(IEC序文 1 12引用規格 23略語 2 25試料 46手順 4 4 67計算 7 8 9この規格は,工業標準化法第12條第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協會(OITDA)及び財団法人日本規格協會(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査會の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該當するおそれがあるので,留意する。上記の,特許権等の権利書は,非類別的かつ合理的な條件でいかなる書に対しても當該特許権等の欠施の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対しては,同様の條件でその実施が許諾されることを條件としている。この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公州を意味するものではないことに注意する必要があこの規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵觸する可能性がある。経済産業大は及び日本工業標準調査會は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。JISC6122-1第1部:利得パラメータ測定方法JISC6122-1-1第1-1部:パワーパラメータ及び利得パラメーター光スペクトラムアナライザ法JISC6122-3第3部:雑音指數パラメータJISC6122-3-1第3-1部:雑音指數パラメーター光スペクトラムアナライJISC6122-3-2第3-2部:雑音指數パラメ一夕一電気スペクトラムアナライザ試験方法JISC6122-5-1第5-1部:光反射率パラメータ測定方法一光スペクトラムアナライザを用いた測定方法JISC6122-6第6部:漏れ勵起光パラメータ測定方法JISC6122-7第7部:波長帶域外捕入損失測定方法JISC6122-10-1第10-1部:マルチチャネルパラメーター光スイッチ及び光スペクトラムアナライザを用いたパルス法JISC6122-10-2第10-2部:マルチチャネルパラメーターゲート付き光スペクトラムアナライザを用いたパルス法JISC6122-10-3第10-3部:マルチチャネルパラメータープローブ法(予定)JISC6122-11-1第11-1部:偏波モード分散パラメータージョーンズマトリクス固有値解析(JME)法日本工業規格JIS光增幅器一測定方法一第3-1部:雑音指數Part3-1:Noisefigureparam序文の測定に対して,必要條件を明確にすること,及びISC6121の簡條3(用語,定義及び略語)で定義す2次に揭げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。注記対応國際規格:IEC61291-1,Opticalfibreamplifiers—Part1:GenericSpecification(IDT)JISC6122-1-1光増幅器一測定方法一第1-1部:パワーパラメータ及び利得パラメーター光スペクト注記対応國際規格:IEC61290-1-1,Opticalfibreamplifiers—Basicspecification—Part1-1:Test略語分布ブラッグ反射形(半導體レーザ)分布帰還形(半導體レーザ)外部共振器形半導體レーザ(ダイオード)発光ダイオード光増幅器光ファイバ増幅器光スペクトラムアナライザ偏波消光法(補間件用法)平面導波路形光増幅器光源の自然放出光(Planeropticalwavegui(Semicomductoroptica4裝置必要な測定機器及びその所要性能は,次のとおりである。a)狹帯域光源光源は,次の波長固定又は波長可変とする。一波長固定光源この光源は,個別規格で規定する波長及び光パワーの光を発生する。別途規定がない限り,光源はスペクトル半値全幅が1nm(*)以下の連続波を出力する。例えば,DFBレーザ,DBRは光源の出力側に光アイソレータを接続すれば容易に達成できる。レーザ光源の場合,発振スペク3光子光源bA光子光源bA光減衰器光源モジュール狹帶域光源偏波偏波制御器狹帶域光源偏波偏波制御器光スペクトラム偏光子光減衰器光源モジュール偏波消光系のとする。偏波制御器は,光ファイバだけで構成する場合,又は90°以上回転可能な四分の一波長板い。入力信號パワーを最大化するためには,偏光角度の回転機能をもつことが望ましい。た反射率は,一50dB(*)以下とする。注記光パワーメータは,校正の目的だけに用いる。以內とする。例えば,光を入力しない狀態で動作させたOAから出力されるASEを使用することがで4C6122-3-1:2011(IEC61は,50dB(*)以上とする。光ファイバコード長はなるべく知くする(2m未満)。測定する場合,被測ァイバコードには,測定中はじょう(擾)亂を與えないのがよい。狹帯域光源,偏光子,可変光減衰器及び入力用偏波制御器を組み合わせた系を,光源モジュールという。光源モジュールの偏波制御器は,偏波依存性をもつ特性を測定する場合に使用し,その他の測定では使用出力用偏波制御器及び偏光子を組み合わせた系を,偏波消光系という。偏波消光系は,偏波消光法を適用する場合にだけ使用し,補間法を適用する場合は使用する必要はない。5試料測定の間,人力光の偏波狀態は一定に維持しなければならない。入力光の偏波狀態が変化すると,測定系に使用する光部品のもつ僅かな偏波依存性によって被測定OAへの入力光パワーが変動し,測定誤差の次に示すパラメータを測定することによって,雑音指數パラメータを求める。袖川法又は佩波消光法と川法とを紅み合わせた佩波消光法によって號光波長におけるASEパワーの測定ができる。補間法は,素早く容易に行うことができる。しかし,信號光スペクトルの裾野の広がりによる誤差によって正確に測定することができない場合がある。一方,偏波消光法は,一般に時間がかかるが,誤差が最小に近いという利點がある。偏波消光法の原理は,光増幅器によるASEの偏波狀態がランダムであるのに対し,信號光の偏波狀態はある一定の狀態にあることを活用している。信號光と直交する直線偏波狀態に設定することで,信號光の影響による誤差を含まないASEの測定が可能となる。ASEはパワーへの影響を個別に測定し,補正する。偏波消光法は,SSEの影響を直接取り除くため,補正量は少又は広帯域光源を用いる方法のいずれか一方を用いて校正する。両校正法とも補5C6122-3-1:2011(IEC61a)狹帯域光源を用いる校正手順を次に示す。3)OSAのスパンを0に設定する。5)狹帯域光源波長λ;をλ=λs±(RBW+δとなるように設定する。ただし,?は測定波長範囲の幅がOSA6)OSAで測定した信號パワーP(A)を線形表記で記録する。7)狹帯域光源の波長を波長範囲內で変化させて5及びのを繰り返す。8)式(1)によって波長帯域Aagw(ls)を決定する。この測定の確度は,狹帯域光源の可変間隔(A)及び波長範囲內でのパワー平たん性に依存している。可変間隔は,0.1nm以下であることが望ましい。光パワーの変動幅は,波長範囲內で0.4未満であることが望ましい。b)広帯域光源を用いる校正この方法では,RBWを最大値に設定したときに帯域制限フィルタが長方1)狹帯域光源(ECL又はDFBレーザ)の出力をOSAに直接接続する。調整可能ならば(例えば,ECLの場合),狹帶域光源の波長を特定の波長λsに設定する。3)OSAを使川し,狹帶域光源からの出力信號の半値全幅Aを測定する。4)広帯域光源の出力をOSAに直接接続する。6)OSAを使用L,沒定波長As仁掃ける出力7-PRBWmax(W)を測定する。8)OSAを使用し,設定波長λgにおける出カパワーPRBw(W)を測定する。9)式(2)によって波長帯域△gw(Is)を決定する。いずれの校正方法においても,近似式(3)を用いると,光帯域を波長領域△gw(ls)から周波數領域含まれている場合には,そのフィルタ帯域も考慮して校正する。狹帯域の光フィルタがOAに含まれている場合には,光源とOSAとの間にOAを捕入した上でBo(λs)を校正することが望ましい。OSAのRBWの設定は,OA內の光フィルタの帯域幅よりも小さくしな6RBWを取大値とした場合のAλの測定は,±5%以內の確度をもつことを前提とする。モジュールの偏波制御器を調整して,入力信號の偏波狀態を所望の狀態に設定する(オプション)。L(as)=Ps—Ppoi……………6.1.3OSAパワ一補正係數の校正図1に示した測定系を參照しながら,OAのASE雑音レベルを信號光波長及び入力信號光パワーの関數去される。6.2.1補間法7C6122-3-1:2011(IEC6129g)波長の関數としてSSEスペクトルPsse(X)(dBm)を測定する。式(6)によって,SSEトータルパワーレベルPL(A)(dBm)を波長の四數として求める。h)光源モジュールの出力をOSAから切り離し,図1a)に示すようにOAを接続する。)増幅した信號光の近傍において,順方向ASEパワーレベルを測定する。適切な多項式によるフィッティングを用いて,信號光波長付近での校正前の順方向ASEパワーレベルPs(A)(dBm)を求める。j)式(7)によって,校正前の順方向ASE)(dBm)を波長の関數として求めk)JISC6122-1-1に規定する方法を用いて,OAの利得G(線形表示)を測定する。D式(8)によって,校正前の順方向ASEパワーレベルからSSEパワーレベルを差し引くことによって,信號光波長における光増幅器の順方向ASEトータルパワーレベルへの寄與分波長の関數として求める。6.2.2偏波消光法偏波消光法を用いた測定手順は,次による。a)OSAのRBWを校正した値に設定する。雑音レベルの測定が完了するまで設定を変更してはならない。b)信號光波長を詳細仕様書で規定する波長に設定する。c)信號光レベルが最大となるように,光源モジュールの偏光子を調整する。d)光源モジュールの個波制御器を調節して,入力光信號の佩波狀態を洋細仕様具で規定する狀態に沒定e)光源モジュールの可変光減衰器を用いて,信號光パワーを詳細仕様書で規定する値に調整する。)図1b)に示すようにOAを接統する。g)偏波消光系の偏波制御器及び偏光子を調節して,信號光出力が最大となるようにする。h)偏光子は手順g)の設定のまま動かさずに,偏波消光系の偏波制御器だけを調節して,OAの信號光出力が最小となるようにする。i)増幅した信號光の近傍において,順方向ASEパワーレベルを測定する。適切な多項式によるフィッティングを用いて,信號光波長付近での校正前の順方向ASEパワーレベルPsE(As)(dBm)を求める。PAsB(A)=P(A)+L+PCF+3………k)JISC6122-1-1に規定する方法を用いて,OAの利得G(線形表示)を測定する。順方向ASEパワーレベルは,測定手順の中で直接求める。信號光一ASE間雑音指數NFgpの算出方法を,次に示す。得G(線形表示),及び光帯域幅Bo(λs)(周波數表示)の測定値を用いて,入力信號光パワーPn及び信號光波長λsの関數として,式(10)で求める。8注記この測定法の測定精度は,光コネクタの接続損失再現性及びOSAの偏波依存性に強く依存すa)測定系(簡條4の規定と異なる場合)g)勵起光パワー(測定可能な場合)h)周囲溫度(必要な場合)i)入力信號光パワーPm9C6122-3-1:2011(IEC61SSEによる補間法の限界ぁる條件の下では,括弧の中の二つの項は非常に近い値となる可能性がある。その場合,いずれかの値の僅かな測定誤差は差分を計算することによって拡大する。その誤差は,入力パワーが高い條件で小さなこの誤差の大きさは,測定する雑音指數,SSEレベル及び雑音レベル測定の不確定性から計算される。測定した校正前のトータルの雑首の線形表示は,次の式で求める。R(linear)=10/10…

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